CN110115595A - 一种正畸x线头影测量相对线距分析法 - Google Patents

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王天鸽
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Abstract

本发明公开了一种正畸X线头影测量相对线距分析法，该分析方法包含以下步骤：步骤1：在X线头颅定位侧位照相所得影像上选取标志点及基准平面，并仅进行线距测量；步骤2：计算所得线距与身高或全颅底长的百分比，得到相对线距。本发明能够最大程度消除个体差异对X线头影测量长度指标的影响，使相关长度指标更准确地反映患者的临床情况，更准确地指导正畸及正颌诊治过程。

Description

一种正畸X线头影测量相对线距分析法
技术领域
本发明涉及正畸X线头影测量技术领域，具体涉及一种正畸X线头影测量相对线距分析法
背景技术
X线投影测量分析是目前正畸诊治过程中必不可少的一个步骤，主要用于帮助正畸及正颌外科医生完成对患者牙列状况、面型、骨型及生长型的分析和预测，辅助诊断和矫治设计。根据不同的治疗理念和研究内容，头影测量的分析方法种类繁多。目前临床常用的有：
Downs分析法：以眶耳平面为基准平面，测量了10项测量指标，包括骨骼间关系、牙牙合与骨骼间关系，以辅助诊断治疗；
Tweed三角分析法：主要测量由眼耳平面、下颌平面、下中切牙长轴所组成的代表面部形态结构的颌面三角形的三角，用于评估矫治效果；
Wylie分析法：是对牙颌面形态结构深度及高度的测量，是以线距计测为主的分析法；
Coben分析法：一种适用于形态及生长分析的线距比例分析法，常用于形态诊断及生长分析：
Wits分析法：一种线距测量分析法，用于评估上下颌骨的矢状向相互关系；
神山分析法：主要用于鉴别是否存在功能性错牙合的一种分析法；
Ricketts分析法：对上下牙间关系、颌骨间关系、牙与颌骨的关系、口唇位置、颌面关系及内部结构的相互关系进行综合性研究的分析法；
McNamara分析法：采用鼻根点垂线作为参考线以分析上颌、下颌及上切牙前后位置。
但是，上述现有的X线投影测量分析法无法消除个体差异对X线头影测量长度指标的影响，无法准确地了解患者牙颌、颅面的结构。
发明内容
本发明的目的是提供一种正畸X线头影测量相对线距分析法，以最大程度消除个体差异对X线头影测量长度指标的影响，使相关长度指标更准确地反映患者的临床情况，更准确地指导正畸及正颌诊治过程。
为达到上述目的，本发明提供了一种正畸X线头影测量相对线距分析法，其包含以下步骤：
步骤1：在X线头颅定位侧位照相所得影像上选取标志点及基准平面，并仅进行线距测量；
步骤2：计算所得线距相对于身高的百分比，得到相对线距。
上述的正畸X线头影测量相对线距分析法，其中，步骤1中，所述标志点包括：颅底点、耳点、蝶鞍中心点、鼻根点、眶点、翼上颌裂点、前鼻棘点、后鼻棘点、上牙槽座点、颏前点、颏顶点、颏下点、下颌角点、髁顶点、上颌中切牙点、下颌中切牙点、上颌第一磨牙点及下颌第一磨牙点。
上述的正畸X线头影测量相对线距分析法，其中，步骤1中，所述基准平面包括：由所述眶点和所述耳点连线构成的眶耳平面；由所述下颌角点和所述颏顶点连线构成的下颌平面；由所述前鼻棘点和所述后鼻棘点连线构成的腭平面。
上述的正畸X线头影测量相对线距分析法，其中，步骤1中，测量以下线距：通过颅底点和鼻根点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到全颅底长；通过蝶鞍中心点和鼻根点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到前颅底长；通过颅底点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到中面部深度；通过颅底点和蝶鞍中心点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到颅底点-蝶鞍中心点；通过翼上颌裂点和蝶鞍中心点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到蝶鞍中心点-翼上颌裂点；通过翼上颌裂点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到翼上颌裂点-上牙槽座点；通过蝶鞍中心点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到蝶鞍中心点-上牙槽座点；通过翼上颌裂点和前鼻棘点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到上颌长度；通过髁顶点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到髁顶点-上牙槽座点；通过颅底点和颏前点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到下面部深度；通过测量下颌角点和颏下点间的距离得到下颌角点-颏下点；通过颏前点向下颌平面作垂线，测量垂足与下颌角点间的距离得到下颌角点-颏前点；通过髁顶点和颏顶点向下颌平面作垂线，测量两垂足间的距离得到髁顶点-颏顶点；通过颏顶点向下颌平面作垂线，测量垂足与下颌角点间的距离得到下颌角点-颏顶点；通过髁顶点和颏前点向下颌平面作垂线，测量两垂足间的距离得到下颌长度；通过鼻根点和颏下点作眶耳平面的平行线，测量两平行线间的距离得到全面高；通过鼻根点和前鼻棘点作眶耳平面的平行线，测量两平行线间的距离得到上面高；通过前鼻棘点和颏下点作眶耳平面的平行线，测量两平行线间的距离得到下面高；通过鼻根点和下颌角点作眶耳平面的平行线，测量两平行线之间的距离得到后面高；通过髁顶点和下颌角点作眶耳平面的平行线，测量两平行线之间的距离得到髁顶点-下颌角点；通过蝶鞍中心点和下颌角点作眶耳平面的平行线，测量两平行线之间的距离得到蝶鞍中心点-下颌角点；通过测量上颌中切牙点到腭平面的垂直距离得到上颌中切牙点-腭平面；通过测量下颌中切牙点到下颌平面的垂直距离得到下颌中切牙点-下颌平面；通过测量上颌第一磨牙点到腭平面的垂直距离得到上颌第一磨牙点-腭平面；通过测量下颌第一磨牙点到下颌平面的垂直距离得到下颌第一磨牙点-下颌平面。
上述的正畸X线头影测量相对线距分析法，其中，步骤2中，依据身高长，计算如下相对线距：全颅底长/身高％；前颅底长/身高％；中面部深度/身高％；颅底点-蝶鞍中心点/身高％；蝶鞍中心点-翼上颌裂点/身高％；翼上颌裂点-上牙槽座点/身高％；蝶鞍中心点-上牙槽座点/身高％；上颌长度/身高％；髁顶点-上牙槽座点/身高％；下面部深度/身高％；下颌角点-颏下点/身高％；下颌角点-颏前点/身高％；髁顶点-颏顶点/身高％；下颌角点-颏顶点/身高％；下颌长度/身高％；全面高/身高％；上面高/身高％；下面高/身高％；后面高/身高％；髁顶点-下颌角点/身高％；蝶鞍中心点-下颌角点/身高％；切牙点-腭平面/身高％；下颌中切牙点-下颌平面/身高％；上颌第一磨牙点-腭平面/身高％；下颌第一磨牙点-下颌平面/身高％。
本发明还提供了另一种正畸X线头影测量相对线距分析法，其包含以下步骤：
步骤1：在X线头颅定位侧位照相所得影像上选取标志点及基准平面，并仅进行线距测量；
步骤2：计算所得线距相对于全颅底长的百分比，得到相对线距。
上述的正畸X线头影测量相对线距分析法，其中，步骤1中，所述标志点包括：颅底点、耳点、蝶鞍中心点、鼻根点、眶点、翼上颌裂点、前鼻棘点、后鼻棘点、上牙槽座点、颏前点、颏顶点、颏下点、下颌角点、髁顶点、上颌中切牙点、下颌中切牙点、上颌第一磨牙点及下颌第一磨牙点。
上述的正畸X线头影测量相对线距分析法，其中，步骤1中，所述基准平面包括：由所述眶点和所述耳点连线构成的眶耳平面；由所述下颌角点和所述颏顶点连线构成的下颌平面；由所述前鼻棘点和所述后鼻棘点连线构成的腭平面。
上述的正畸X线头影测量相对线距分析法，其中，步骤1中，测量以下线距：通过颅底点和鼻根点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到全颅底长；通过蝶鞍中心点和鼻根点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到前颅底长；通过颅底点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到中面部深度；通过颅底点和蝶鞍中心点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到颅底点-蝶鞍中心点；通过翼上颌裂点和蝶鞍中心点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到蝶鞍中心点-翼上颌裂点；通过翼上颌裂点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到翼上颌裂点-上牙槽座点；通过蝶鞍中心点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到蝶鞍中心点-上牙槽座点；通过翼上颌裂点和前鼻棘点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到上颌长度；通过髁顶点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到髁顶点-上牙槽座点；通过颅底点和颏前点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到下面部深度；通过测量下颌角点和颏下点间的距离得到下颌角点-颏下点；通过颏前点向下颌平面作垂线，测量垂足与下颌角点间的距离得到下颌角点-颏前点；通过髁顶点和颏顶点向下颌平面作垂线，测量两垂足间的距离得到髁顶点-颏顶点；通过颏顶点向下颌平面作垂线，测量垂足与下颌角点间的距离得到下颌角点-颏顶点；通过髁顶点和颏前点向下颌平面作垂线，测量两垂足间的距离得到下颌长度；通过鼻根点和颏下点作眶耳平面的平行线，测量两平行线间的距离得到全面高；通过鼻根点和前鼻棘点作眶耳平面的平行线，测量两平行线间的距离得到上面高；通过前鼻棘点和颏下点作眶耳平面的平行线，测量两平行线间的距离得到下面高；通过鼻根点和下颌角点作眶耳平面的平行线，测量两平行线之间的距离得到后面高；通过髁顶点和下颌角点作眶耳平面的平行线，测量两平行线之间的距离得到髁顶点-下颌角点；通过蝶鞍中心点和下颌角点作眶耳平面的平行线，测量两平行线之间的距离得到蝶鞍中心点-下颌角点；通过测量上颌中切牙点到腭平面的垂直距离得到上颌中切牙点-腭平面；通过测量下颌中切牙点到下颌平面的垂直距离得到下颌中切牙点-下颌平面；通过测量上颌第一磨牙点到腭平面的垂直距离得到上颌第一磨牙点-腭平面；通过测量下颌第一磨牙点到下颌平面的垂直距离得到下颌第一磨牙点-下颌平面。
上述的正畸X线头影测量相对线距分析法，其中，步骤2中，依据全颅底长，计算如下相对线距：前颅底长/全颅底长％；中面部深度/全颅底长％；颅底点-蝶鞍中心点/全颅底长％；蝶鞍中心点-翼上颌裂点/全颅底长％；翼上颌裂点-上牙槽座点/全颅底长％；蝶鞍中心点-上牙槽座点/全颅底长％；上颌长度/全颅底长％；髁顶点-上牙槽座点/全颅底长％；下面部深度/全颅底长％；下颌角点-颏下点/全颅底长％；下颌角点-颏前点/全颅底长％；髁顶点-颏顶点/全颅底长％；下颌角点-颏顶点/全颅底长％；下颌长度/全颅底长％；全面高/全颅底长％；上面高/全颅底长％；下面高/全颅底长％；后面高/全颅底长％；髁顶点-下颌角点/全颅底长％；蝶鞍中心点-下颌角点/全颅底长％；切牙点-腭平面/全颅底长％；下颌中切牙点-下颌平面/全颅底长％；上颌第一磨牙点-腭平面/全颅底长％；下颌第一磨牙点-下颌平面/全颅底长％。
相对于现有技术，本发明具有以下有益效果：
首先，个体身高是人类最为明显的外部基本特征之一，是一旦成年后就相对稳定并且可以准确量化的表型，也是描述和识别个体特征的常用标记。身高是由遗传和环境因素共同决定的，现代人面型的生长发育同样受遗传和环境的双重影响，且二者具有同时性，即在生长发育高峰期，面型和身高都处于快速增长阶段，个体面部的相关长度指标常常与身高密切相关。个体的差异不能仅仅通过绝对指标来反映，更应该考虑到个体发育型的差异，这将有助于口腔正畸医生和正颌医生更准确掌握颅颌面和口腔的发育规律，对牙颌颅面畸形做出正确的诊断，为正畸和正颌治疗计划的制定和愈后疗效的判断奠定坚实的基础。因此，本发明所提供的第一种分析法以身高消除个体发育型的差异，建立了适用范围更广泛的分析方法，能够更准确地指导临床诊治疗过程。
此外，前颅底平面相对稳定，常作为面部结构对颅底关系的定位平面，可视为颅部与颌面部的分界线；全颅底长代表前颅底前后的范围。不同人种由于特有的面型特征，X线头影测量长度指标标准范围不尽相同。而同一种群的病人又可能由于个体发育型的差异，导致长度指标波动明显，超出正常范围。但是由于世界一体化的发展，大都市往往有来自多样化的群体的病人，因此设计出适用范围更广泛的X线头影测量分析法上变得越来越重要。有研究表明颅面部各部分之间关系紧密，相关性高，各长度指标与全颅底长更是密切相关。因此，本发明所提供的第二种分析法以全颅底长消除个体的差异，能够建立适用范围更广泛的分析方法，更准确地指导临床诊治疗过程。
正常牙合人的颅面各解剖结构有正常的测量值，同时它们间应具有协调的关系，即一个正常个体，其各测量值的各种变异应有正确的组合和相应的补偿与协调。由于线距比角度更为直观，更易理解，具有充分的可比性，因此本发明以线距分析为主，通过计测相对于身高或全颅底长的线距百分数，该值比一般直接通过测量得出的线距更符合个体情况。当然地，同时还可以建立回归方程，通过个体身高或全颅底长得出其他相关测量值补偿和协调后的正常理论值。由于个体的差异，单纯参考绝对正常范围可能难以判断问题所在，在制定治疗方案时，以绝对正常值作为矫治目标往往不适合个体情况，而以自身身高或全颅底长的协调值来修正矫治目标，往往更符合患者的个体实际。
综上所述，本发明通过计测相对于身高或全颅底长的线距百分数，提高了X线头影测量的准确性，更准确地了解患者牙颌、颅面的结构，对正畸及正颌病例分析、方案制定起到更有力的指导；同时，本发明以线距测量分析为主，比角度测量更直观、更利于理解；选取了最优的标志点、基准平面，测量指标囊括矢状向和垂直向的相对线距，全面且具有代表性。
附图说明
图1为本发明中标志点的选取示意图；
图2为本发明中基准平面的选取示意图；
图3A为本发明中线距测量示意图一；
图3B为本发明中线距测量示意图二；
图3C为本发明中线距测量示意图三。
具体实施方式
以下结合附图通过具体实施例对本发明作进一步的描述，这些实施例仅用于说明本发明，并不是对本发明保护范围的限制。
本发明首先提供了一种基于身高的正畸X线头影测量相对线距分析法，其包含以下步骤：
步骤1：在X线头颅定位侧位照相所得影像上选取标志点及基准平面，并仅进行线距测量；
1.1标志点选取
如图1所示，在X线头颅定位侧位照相所得影像上选取以下临床标志点：
颅底点(Ba)、耳点(P)、蝶鞍中心点(S)、鼻根点(N)、眶点(Or)、翼上颌裂点(Ptm)、前鼻棘点(ANS)、后鼻棘点(PNS)、上牙槽座点(A)、颏前点(Pog)、颏顶点(Gn)、颏下点(Me)、下颌角点(Go)、髁顶点(Co)、上颌中切牙点(U1)、下颌中切牙点(L1)、上颌第一磨牙点(U6)及下颌第一磨牙点(L6)。
关于上述临床标志点的定义为：颅底点：颅骨正中矢状面上枕骨大孔前缘之中点；耳点：外耳道的最上点；蝶鞍中心点：颅部正中矢状面上蝶鞍影像的中心点；鼻根点：颅部正中矢状面上鼻额缝之最前点；眶点：眶下缘之最低点；翼上颌裂点：翼上颌裂形如倒泪滴状轮廓之最下点；前鼻棘点：前鼻棘之尖；后鼻棘点：硬腭后部骨棘之尖；上牙槽座点：前鼻棘与上牙槽缘点之间的骨部影像最凹点；颏前点：下颌颏部之最突点；颏顶点：下颌颏联合外前缘线之最前下点；颏下点：颏部之最下点；下颌角点：下颌角的后下最突点；髁顶点：髁突的最上点；上颌中切牙点：上中切牙切缘点；下颌中切牙点：下中切牙切缘点；上颌第一磨牙点及下颌第一磨牙点：上下第一恒磨牙近中颊尖点。
1.2基准平面选取
如图2所示，在X线头颅定位侧位照相所得影像上选取以下基准平面：
(1)由所述眶点和所述耳点连线构成的眶耳平面(FH平面)；
(2)由所述下颌角点和所述颏顶点连线构成的下颌平面(MP平面)；
(3)由所述前鼻棘点和所述后鼻棘点连线构成的腭平面(PP平面)。
1.3线距测量
如图3A-图3C所示，测量以下线距：
(1)通过颅底点和鼻根点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到全颅底长(Ba-N)；
(2)通过蝶鞍中心点和鼻根点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到前颅底长(S-N)；
(3)通过颅底点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到中面部深度(Ba-A)；
(4)通过颅底点和蝶鞍中心点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到颅底点-蝶鞍中心点(Ba-S)；
(5)通过翼上颌裂点和蝶鞍中心点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到蝶鞍中心点-翼上颌裂点(S-Ptm)；
(6)通过翼上颌裂点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到翼上颌裂点-上牙槽座点(Ptm-A)；
(7)通过蝶鞍中心点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到蝶鞍中心点-上牙槽座点(S-A)；
(8)通过翼上颌裂点和前鼻棘点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到上颌长度(ANS-Ptm)；
(9)通过髁顶点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到髁顶点-上牙槽座点(Co-A)；
(10)通过颅底点和颏前点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到下面部深度(Ba-Pog)；
(11)通过测量下颌角点和颏下点间的距离得到下颌角点-颏下点(Go-Me)；
(12)通过颏前点向下颌平面作垂线，测量垂足与下颌角点间的距离得到下颌角点-颏前点(Go-Pog)；
(13)通过髁顶点和颏顶点向下颌平面作垂线，测量两垂足间的距离得到髁顶点-颏顶点(Co-Gn)；
(14)通过颏顶点向下颌平面作垂线，测量垂足与下颌角点间的距离得到下颌角点-颏顶点(Go-Gn)；
(15)通过髁顶点和颏前点向下颌平面作垂线，测量两垂足间的距离得到下颌长度(Co-Pog)；
(16)通过鼻根点和颏下点作眶耳平面的平行线，测量两平行线间的距离得到全面高(N-Me)；
(17)通过鼻根点和前鼻棘点作眶耳平面的平行线，测量两平行线间的距离得到上面高(N-ANS)；
(18)通过前鼻棘点和颏下点作眶耳平面的平行线，测量两平行线间的距离得到下面高(ANS-Me)；
(19)通过鼻根点和下颌角点作眶耳平面的平行线，测量两平行线之间的距离得到后面高(N-Go)；
(20)通过髁顶点和下颌角点作眶耳平面的平行线，测量两平行线之间的距离得到髁顶点-下颌角点(Co-Go)；
(21)通过蝶鞍中心点和下颌角点作眶耳平面的平行线，测量两平行线之间的距离得到蝶鞍中心点-下颌角点(S-Go)；
(22)通过测量上颌中切牙点到腭平面的垂直距离得到上颌中切牙点-腭平面(U1-PP)；
(23)通过测量下颌中切牙点到下颌平面的垂直距离得到下颌中切牙点-下颌平面(L1-MP)；
(24)通过测量上颌第一磨牙点到腭平面的垂直距离得到上颌第一磨牙点-腭平面(U6-PP)；
(25)通过测量下颌第一磨牙点到下颌平面的垂直距离得到下颌第一磨牙点-下颌平面(L6-MP)。
步骤2：计算相对线距
计算所得线距相对于身高的百分比，得到相对线距。具体地，依据身高，计算如下相对线距：
(1)全颅底长/身高％(Ba-N/Body height％)；(2)前颅底长/身高％(S-N/Bodyheight％)；(3)中面部深度/身高％(Ba-A/Body height％)；(4)颅底点-蝶鞍中心点/身高％(Ba-S/Body height％)；(5)蝶鞍中心点-翼上颌裂点/身高％(S-Ptm/Bodyheight％)；(6)翼上颌裂点-上牙槽座点/身高％(Ptm-A/Body height％)；(7)蝶鞍中心点-上牙槽座点/身高％(S-A/Body height％)；(8)上颌长度/身高％(ANS-Ptm/Bodyheight％)；(9)髁顶点-上牙槽座点/身高％(Co-A/Body height％)；(10)下面部深度/身高％(Ba-Pog/Body height％)；(11)下颌角点-颏下点/身高％(Go-Me/Body height％)；(12)下颌角点-颏前点/身高％(Go-Pog/Body height％)；(13)髁顶点-颏顶点/身高％(Co-Gn/Body height％)；(14)下颌角点-颏顶点/身高％(Go-Gn/Body height％)；(15)下颌长度/身高％(Co-Pog/Body height％)；(16)全面高/身高％(N-Me/Body height％)；(17)上面高/身高％(N-ANS/Body height％)；(18)下面高/身高％(ANS-Me/Body height％)；(19)后面高/身高％(N-Go/Body height％)；(20)髁顶点-下颌角点/身高％(Co-Go/Bodyheight％)；(21)蝶鞍中心点-下颌角点/身高％(S-Go/Body height％)；(22)切牙点-腭平面/身高％(U1-PP/Body height％)；(23)下颌中切牙点-下颌平面/身高％(L1-MP/Bodyheight％)；(24)上颌第一磨牙点-腭平面/身高％(U6-PP/Body height％)；(25)下颌第一磨牙点-下颌平面/身高％(L6-MP/Body height％)。
本发明还提供了另一种基于全颅底长的正畸X线头影测量相对线距分析法，其包含以下步骤：
步骤1：在X线头颅定位侧位照相所得影像上选取标志点及基准平面，并仅进行线距测量；
1.1标志点选取
如图1所示，在X线头颅定位侧位照相所得影像上选取以下临床标志点：
颅底点(Ba)、耳点(P)、蝶鞍中心点(S)、鼻根点(N)、眶点(Or)、翼上颌裂点(Ptm)、前鼻棘点(ANS)、后鼻棘点(PNS)、上牙槽座点(A)、颏前点(Pog)、颏顶点(Gn)、颏下点(Me)、下颌角点(Go)、髁顶点(Co)、上颌中切牙点(U1)、下颌中切牙点(L1)、上颌第一磨牙点(U6)及下颌第一磨牙点(L6)。
关于上述临床标志点的定义为：颅底点：颅骨正中矢状面上枕骨大孔前缘之中点；耳点：外耳道的最上点；蝶鞍中心点：颅部正中矢状面上蝶鞍影像的中心点；鼻根点：颅部正中矢状面上鼻额缝之最前点；眶点：眶下缘之最低点；翼上颌裂点：翼上颌裂形如倒泪滴状轮廓之最下点；前鼻棘点：前鼻棘之尖；后鼻棘点：硬腭后部骨棘之尖；上牙槽座点：前鼻棘与上牙槽缘点之间的骨部影像最凹点；颏前点：下颌颏部之最突点；颏顶点：下颌颏联合外前缘线之最前下点；颏下点：颏部之最下点；下颌角点：下颌角的后下最突点；髁顶点：髁突的最上点；上颌中切牙点：上中切牙切缘点；下颌中切牙点：下中切牙切缘点；上颌第一磨牙点及下颌第一磨牙点：上下第一恒磨牙近中颊尖点。
1.2基准平面选取
如图2所示，在X线头颅定位侧位照相所得影像上选取以下基准平面：
(1)由所述眶点和所述耳点连线构成的眶耳平面(FH平面)；
(2)由所述下颌角点和所述颏顶点连线构成的下颌平面(MP平面)；
(3)由所述前鼻棘点和所述后鼻棘点连线构成的腭平面(PP平面)。
1.3线距测量
如图3A-图3C所示，测量以下线距：
(1)通过颅底点和鼻根点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到全颅底长(Ba-N)；
(2)通过蝶鞍中心点和鼻根点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到前颅底长(S-N)；
(3)通过颅底点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到中面部深度(Ba-A)；
(4)通过颅底点和蝶鞍中心点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到颅底点-蝶鞍中心点(Ba-S)；
(5)通过翼上颌裂点和蝶鞍中心点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到蝶鞍中心点-翼上颌裂点(S-Ptm)；
(6)通过翼上颌裂点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到翼上颌裂点-上牙槽座点(Ptm-A)；
(7)通过蝶鞍中心点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到蝶鞍中心点-上牙槽座点(S-A)；
(8)通过翼上颌裂点和前鼻棘点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到上颌长度(ANS-Ptm)；
(9)通过髁顶点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到髁顶点-上牙槽座点(Co-A)；
(10)通过颅底点和颏前点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到下面部深度(Ba-Pog)；
(11)通过测量下颌角点和颏下点间的距离得到下颌角点-颏下点(Go-Me)；
(12)通过颏前点向下颌平面作垂线，测量垂足与下颌角点间的距离得到下颌角点-颏前点(Go-Pog)；
(13)通过髁顶点和颏顶点向下颌平面作垂线，测量两垂足间的距离得到髁顶点-颏顶点(Co-Gn)；
(14)通过颏顶点向下颌平面作垂线，测量垂足与下颌角点间的距离得到下颌角点-颏顶点(Go-Gn)；
(15)通过髁顶点和颏前点向下颌平面作垂线，测量两垂足间的距离得到下颌长度(Co-Pog)；
(16)通过鼻根点和颏下点作眶耳平面的平行线，测量两平行线间的距离得到全面高(N-Me)；
(17)通过鼻根点和前鼻棘点作眶耳平面的平行线，测量两平行线间的距离得到上面高(N-ANS)；
(18)通过前鼻棘点和颏下点作眶耳平面的平行线，测量两平行线间的距离得到下面高(ANS-Me)；
(19)通过鼻根点和下颌角点作眶耳平面的平行线，测量两平行线之间的距离得到后面高(N-Go)；
(20)通过髁顶点和下颌角点作眶耳平面的平行线，测量两平行线之间的距离得到髁顶点-下颌角点(Co-Go)；
(21)通过蝶鞍中心点和下颌角点作眶耳平面的平行线，测量两平行线之间的距离得到蝶鞍中心点-下颌角点(S-Go)；
(22)通过测量上颌中切牙点到腭平面的垂直距离得到上颌中切牙点-腭平面(U1-PP)；
(23)通过测量下颌中切牙点到下颌平面的垂直距离得到下颌中切牙点-下颌平面(L1-MP)；
(24)通过测量上颌第一磨牙点到腭平面的垂直距离得到上颌第一磨牙点-腭平面(U6-PP)；
(25)通过测量下颌第一磨牙点到下颌平面的垂直距离得到下颌第一磨牙点-下颌平面(L6-MP)。
步骤2：计算相对线距
计算所得线距相对于全颅底长的百分比，得到相对线距。具体地，依据全颅底长，计算如下相对线距：
(1)前颅底长/全颅底长％(S-N/Ba-N％)；(2)中面部深度/全颅底长％(Ba-A/Ba-N％)；(3)颅底点-蝶鞍中心点/全颅底长％(Ba-S/Ba-N％)；(4)蝶鞍中心点-翼上颌裂点/全颅底长％(S-Ptm/Ba-N％)；(5)翼上颌裂点-上牙槽座点/全颅底长％(Ptm-A/Ba-N％)；(6)蝶鞍中心点-上牙槽座点/全颅底长％(S-A/Ba-N％)；(7)上颌长度/全颅底长％(ANS-Ptm/Ba-N％)；(8)髁顶点-上牙槽座点/全颅底长％(Co-A/Ba-N％)；(9)下面部深度/全颅底长％(Ba-Pog/Ba-N％)；(10)下颌角点-颏下点/全颅底长％(Go-Me/Ba-N％)；(11)下颌角点-颏前点/全颅底长％(Go-Pog/Ba-N％)；(12)髁顶点-颏顶点/全颅底长％(Co-Gn/Ba-N％)；(13)下颌角点-颏顶点/全颅底长％(Go-Gn/Ba-N％)；(14)下颌长度/全颅底长％(Co-Pog/Ba-N％)；(15)全面高/全颅底长％(N-Me/Ba-N％)；(16)上面高/全颅底长％(N-ANS/Ba-N％)；(17)下面高/全颅底长％(ANS-Me/Ba-N％)；(18)后面高/全颅底长％(N-Go/Ba-N％)；(19)髁顶点-下颌角点/全颅底长％(Co-Go/Ba-N％)；(20)蝶鞍中心点-下颌角点/全颅底长％(S-Go/Ba-N％)；(21)切牙点-腭平面/全颅底长％(U1-PP/Ba-N％)；(22)下颌中切牙点-下颌平面/全颅底长％(L1-MP/Ba-N％)；(23)上颌第一磨牙点-腭平面/全颅底长％(U6-PP/Ba-N％)；(24)下颌第一磨牙点-下颌平面/全颅底长％(L6-MP/Ba-N％)。
综上所述，随着正畸治疗以及正颌外科的发展，对X线头影测量分析的要求也不断提高。患者的个体差异会对X线头影测量指标，尤其是长度指标产生影响，造成诊断和矫治设计的偏差。本发明以计测相对于身高或全颅底长的线距百分数为主，最大程度消除了个体差异对X线头影测量长度指标的影响，更准确地了解患者牙颌、颅面的结构。
尽管本发明的内容已经通过上述优选实施例作了详细介绍，但应当认识到上述的描述不应被认为是对本发明的限制。在本领域技术人员阅读了上述内容后，对于本发明的多种修改和替代都将是显而易见的。因此，本发明的保护范围应由所附的权利要求来限定。

Claims (10)

1.一种正畸X线头影测量相对线距分析法，其特征在于，包含以下步骤：步骤1：在X线头颅定位侧位照相所得影像上选取标志点及基准平面，并仅进行线距测量；步骤2：计算所得线距相对于身高的百分比，得到相对线距。
2.如权利要求1所述的正畸X线头影测量相对线距分析法，其特征在于，步骤1中，所述标志点包括：颅底点、耳点、蝶鞍中心点、鼻根点、眶点、翼上颌裂点、前鼻棘点、后鼻棘点、上牙槽座点、颏前点、颏顶点、颏下点、下颌角点、髁顶点、上颌中切牙点、下颌中切牙点、上颌第一磨牙点及下颌第一磨牙点。
3.如权利要求2所述的正畸X线头影测量相对线距分析法，其特征在于，步骤1中，所述基准平面包括：由所述眶点和所述耳点连线构成的眶耳平面；由所述下颌角点和所述颏顶点连线构成的下颌平面；由所述前鼻棘点和所述后鼻棘点连线构成的腭平面。
4.如权利要求3所述的正畸X线头影测量相对线距分析法，其特征在于，步骤1中，测量以下线距：通过颅底点和鼻根点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到全颅底长；通过蝶鞍中心点和鼻根点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到前颅底长；通过颅底点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到中面部深度；通过颅底点和蝶鞍中心点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到颅底点-蝶鞍中心点；通过翼上颌裂点和蝶鞍中心点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到蝶鞍中心点-翼上颌裂点；通过翼上颌裂点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到翼上颌裂点-上牙槽座点；通过蝶鞍中心点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到蝶鞍中心点-上牙槽座点；通过翼上颌裂点和前鼻棘点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到上颌长度；通过髁顶点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到髁顶点-上牙槽座点；通过颅底点和颏前点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到下面部深度；通过测量下颌角点和颏下点间的距离得到下颌角点-颏下点；通过颏前点向下颌平面作垂线，测量垂足与下颌角点间的距离得到下颌角点-颏前点；通过髁顶点和颏顶点向下颌平面作垂线，测量两垂足间的距离得到髁顶点-颏顶点；通过颏顶点向下颌平面作垂线，测量垂足与下颌角点间的距离得到下颌角点-颏顶点；通过髁顶点和颏前点向下颌平面作垂线，测量两垂足间的距离得到下颌长度；通过鼻根点和颏下点作眶耳平面的平行线，测量两平行线间的距离得到全面高；通过鼻根点和前鼻棘点作眶耳平面的平行线，测量两平行线间的距离得到上面高；通过前鼻棘点和颏下点作眶耳平面的平行线，测量两平行线间的距离得到下面高；通过鼻根点和下颌角点作眶耳平面的平行线，测量两平行线之间的距离得到后面高；通过髁顶点和下颌角点作眶耳平面的平行线，测量两平行线之间的距离得到髁顶点-下颌角点；通过蝶鞍中心点和下颌角点作眶耳平面的平行线，测量两平行线之间的距离得到蝶鞍中心点-下颌角点；通过测量上颌中切牙点到腭平面的垂直距离得到上颌中切牙点-腭平面；通过测量下颌中切牙点到下颌平面的垂直距离得到下颌中切牙点-下颌平面；通过测量上颌第一磨牙点到腭平面的垂直距离得到上颌第一磨牙点-腭平面；通过测量下颌第一磨牙点到下颌平面的垂直距离得到下颌第一磨牙点-下颌平面。
5.如权利要求4所述的正畸X线头影测量相对线距分析法，其特征在于，步骤2中，依据身高，计算如下相对线距：全颅底长/身高％；前颅底长/身高％；中面部深度/身高％；颅底点-蝶鞍中心点/身高％；蝶鞍中心点-翼上颌裂点/身高％；翼上颌裂点-上牙槽座点/身高％；蝶鞍中心点-上牙槽座点/身高％；上颌长度/身高％；髁顶点-上牙槽座点/身高％；下面部深度/身高％；下颌角点-颏下点/身高％；下颌角点-颏前点/身高％；髁顶点-颏顶点/身高％；下颌角点-颏顶点/身高％；下颌长度/身高％；全面高/身高％；上面高/身高％；下面高/身高％；后面高/身高％；髁顶点-下颌角点/身高％；蝶鞍中心点-下颌角点/身高％；切牙点-腭平面/身高％；下颌中切牙点-下颌平面/身高％；上颌第一磨牙点-腭平面/身高％；下颌第一磨牙点-下颌平面/身高％。
6.一种正畸X线头影测量相对线距分析法，其特征在于，包含以下步骤：步骤1：在X线头颅定位侧位照相所得影像上选取标志点及基准平面，并仅进行线距测量；步骤2：计算所得线距相对于全颅底长的百分比，得到相对线距。
7.如权利要求6所述的正畸X线头影测量相对线距分析法，其特征在于，步骤1中，所述标志点包括：颅底点、耳点、蝶鞍中心点、鼻根点、眶点、翼上颌裂点、前鼻棘点、后鼻棘点、上牙槽座点、颏前点、颏顶点、颏下点、下颌角点、髁顶点、上颌中切牙点、下颌中切牙点、上颌第一磨牙点及下颌第一磨牙点。
8.如权利要求7所述的正畸X线头影测量相对线距分析法，其特征在于，步骤1中，所述基准平面包括：由所述眶点和所述耳点连线构成的眶耳平面；由所述下颌角点和所述颏顶点连线构成的下颌平面；由所述前鼻棘点和所述后鼻棘点连线构成的腭平面。
9.如权利要求8所述的正畸X线头影测量相对线距分析法，其特征在于，步骤1中，测量以下线距：通过颅底点和鼻根点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到全颅底长；通过蝶鞍中心点和鼻根点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到前颅底长；通过颅底点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到中面部深度；通过颅底点和蝶鞍中心点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到颅底点-蝶鞍中心点；通过翼上颌裂点和蝶鞍中心点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到蝶鞍中心点-翼上颌裂点；通过翼上颌裂点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到翼上颌裂点-上牙槽座点；通过蝶鞍中心点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到蝶鞍中心点-上牙槽座点；通过翼上颌裂点和前鼻棘点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到上颌长度；通过髁顶点和上牙槽座点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到髁顶点-上牙槽座点；通过颅底点和颏前点向眶耳平面作垂线，测量两垂足间的距离得到下面部深度；通过测量下颌角点和颏下点间的距离得到下颌角点-颏下点；通过颏前点向下颌平面作垂线，测量垂足与下颌角点间的距离得到下颌角点-颏前点；通过髁顶点和颏顶点向下颌平面作垂线，测量两垂足间的距离得到髁顶点-颏顶点；通过颏顶点向下颌平面作垂线，测量垂足与下颌角点间的距离得到下颌角点-颏顶点；通过髁顶点和颏前点向下颌平面作垂线，测量两垂足间的距离得到下颌长度；通过鼻根点和颏下点作眶耳平面的平行线，测量两平行线间的距离得到全面高；通过鼻根点和前鼻棘点作眶耳平面的平行线，测量两平行线间的距离得到上面高；通过前鼻棘点和颏下点作眶耳平面的平行线，测量两平行线间的距离得到下面高；通过鼻根点和下颌角点作眶耳平面的平行线，测量两平行线之间的距离得到后面高；通过髁顶点和下颌角点作眶耳平面的平行线，测量两平行线之间的距离得到髁顶点-下颌角点；通过蝶鞍中心点和下颌角点作眶耳平面的平行线，测量两平行线之间的距离得到蝶鞍中心点-下颌角点；通过测量上颌中切牙点到腭平面的垂直距离得到上颌中切牙点-腭平面；通过测量下颌中切牙点到下颌平面的垂直距离得到下颌中切牙点-下颌平面；通过测量上颌第一磨牙点到腭平面的垂直距离得到上颌第一磨牙点-腭平面；通过测量下颌第一磨牙点到下颌平面的垂直距离得到下颌第一磨牙点-下颌平面。
10.如权利要求9所述的正畸X线头影测量相对线距分析法，其特征在于，步骤2中，依据全颅底长，计算如下相对线距：前颅底长/全颅底长％；中面部深度/全颅底长％；颅底点-蝶鞍中心点/全颅底长％；蝶鞍中心点-翼上颌裂点/全颅底长％；翼上颌裂点-上牙槽座点/全颅底长％；蝶鞍中心点-上牙槽座点/全颅底长％；上颌长度/全颅底长％；髁顶点-上牙槽座点/全颅底长％；下面部深度/全颅底长％；下颌角点-颏下点/全颅底长％；下颌角点-颏前点/全颅底长％；髁顶点-颏顶点/全颅底长％；下颌角点-颏顶点/全颅底长％；下颌长度/全颅底长％；全面高/全颅底长％；上面高/全颅底长％；下面高/全颅底长％；后面高/全颅底长％；髁顶点-下颌角点/全颅底长％；蝶鞍中心点-下颌角点/全颅底长％；切牙点-腭平面/全颅底长％；下颌中切牙点-下颌平面/全颅底长％；上颌第一磨牙点-腭平面/全颅底长％；下颌第一磨牙点-下颌平面/全颅底长％。
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