CN110049588A - 电磁炉的锅具检测方法、装置及电磁炉 - Google Patents

电磁炉的锅具检测方法、装置及电磁炉 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种电磁炉的锅具检测方法、装置及电磁炉，该电磁炉的锅具检测方法包括以下步骤：电磁炉的加热功能开启后，控制电压比较电路获取电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压，并将所述IGBT管的集电极电压与预设参考电压进行比较；记录预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数；根据所记录的预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数，判断所述电磁炉上有无锅具。本发明电磁炉的锅具检测方法缩短了电磁炉的检锅时间，同时还提高了电磁炉检锅的通用性。

Description

电磁炉的锅具检测方法、装置及电磁炉
技术领域
本发明涉及电磁炉领域，尤其涉及一种电磁炉的锅具检测方法、装置及电磁炉。
背景技术
现有的电磁炉的锅具检测方法通常都是通过检测电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的工作电流的变化来判断电磁炉上有无锅具，即在所述IGBT管的固定开通宽度条件下，通过比较所述IGBT管的工作电流的大小来判断电磁炉上有无锅具。然而，为了使所述IGBT管的工作电流达到相同的目标电流，需要一直增加所述IGBT管的开通宽度，在达到最大开通宽度时验证所述IGBT管的工作电流是否能够达到目标电流来判断电磁炉上有无锅具。现有的该电磁炉的锅具检测方法，由于改变所述IGBT管的开通宽度需要一定的时间，从而使得电磁炉无法快速(如1S内)识别有无锅具；并且，由于该电磁炉的锅具检测方法应用于不同谐振参数的加热平台时，所述IGBT管的开通宽度和所述IGBT管的工作电流的关系不相同，因此，当该电磁炉的锅具检测方法应用于不同谐振参数的电磁炉的加热平台时，需要重新调试验证，导致该检锅方法的通用性较差。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种电磁炉的锅具检测方法，旨在缩短电磁炉的检锅时间以及提高电磁炉检锅的通用性。
为了实现上述目的，本发明提供一种电磁炉的锅具检测方法，所述电磁炉的锅具检测方法包括以下步骤：
S10，电磁炉的加热功能开启后，控制电压比较电路获取电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压，并将所述IGBT管的集电极电压与预设参考电压进行比较；
S20，记录预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数；
S30，根据所记录的预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数，判断所述电磁炉上有无锅具。
优选地，所述步骤S30包括：
S31，判断预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数是否小于预设次数；
S32，若预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数小于所述预设次数，则判断所述电磁炉上无锅具；
S33，若预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数大于或等于所述预设次数，则判断所述电磁炉上有锅具。
优选地，所述预设参考电压大于310V且小于800V。
优选地，所述预设时间段大于或等于100ms且小于或等于150ms；所述预设次数大于或等于2次且小于或等于3次。
此外，为实现上述目的，本发明还提供一种电磁炉的锅具检测装置，所述电磁炉的锅具检测装置包括：电压比较电路、MCU以及存储在所述MCU内并可在所述MCU上运行的电磁炉的锅具检测程序，其中：
所述电压比较电路，用于获取电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压，并将所述IGBT管的集电极电压与预设参考电压进行比较；
所述电磁炉的锅具检测程序被所述MCU执行时实现以下步骤：
S10，电磁炉的加热功能开启后，控制电压比较电路获取电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压，并将所述IGBT管的集电极电压与预设参考电压进行比较；
S20，记录预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数；
S30，根据所记录的预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数，判断所述电磁炉上有无锅具。
优选地，所述电磁炉的锅具检测程序程序被所述MCU执行时实现以下步骤：
S31，判断预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数是否小于预设次数；
S32，若预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数小于所述预设次数，则判断所述电磁炉上无锅具；
S33，若预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数大于或等于所述预设次数，则判断所述电磁炉上有锅具。
优选地，所述预设参考电压大于310V且小于800V。
优选地，所述预设时间段大于或等于100ms且小于或等于150ms；所述预设次数大于或等于2次且小于或等于3次。
此外，为实现上述目的，本发明还提供一种电磁炉，所述电磁炉包括如上所述的电磁炉的锅具检测装置。
本发明提供一种电磁炉的锅具检测方法，所述电磁炉的锅具检测方法包括以下步骤：电磁炉的加热功能开启后，控制电压比较电路获取电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压，并将所述IGBT管的集电极电压与预设参考电压进行比较；记录预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数；根据所记录的预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数，判断所述电磁炉上有无锅具。本发明提出的该电磁炉的锅具检测方法，缩短了电磁炉的检锅时间，同时还提高了电磁炉检锅的通用性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明电磁炉的锅具检测方法第一实施例的流程示意图；
图2为现有技术中电磁炉上无锅具时电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压的电压波形示意图；
图3为现有技术中电磁炉上有锅具时电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压的电压波形示意图；
图4为本发明电磁炉的锅具检测方法第二实施例的流程示意图；
图5为本发明电磁炉的锅具检测装置一实施例的结构示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明提供一种电磁炉的锅具检测方法，参照图1，在一实施例中，该电磁炉的锅具检测方法包括以下步骤：
S10，电磁炉的加热功能开启后，控制电压比较电路获取电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压，并将所述IGBT管的集电极电压与预设参考电压进行比较；
具体地，本实施例电磁炉的锅具检测方法，首先是在电磁炉的加热功能开启后(也即在电磁炉接收到加热功能按键信息后)，控制电压比较电路获取电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压VC，并将所述IGBT管的集电极电压VC与预设参考电压VREF进行比较。可以理解的是，本实施例中，所述电压比较电路可以为电压比较器，具体地，本实施例将电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压VC输入至电压比较器的同相输入端，电压比较器的反相输入端输入预设参考电压VREF，电压比较器将同相输入端所输入的电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压VC与其反相输入端所输入的预设参考电压VREF进行比较。
S20，记录预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数；
S30，根据所记录的预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数，判断所述电磁炉上有无锅具。
具体地，本实施例电磁炉的锅具检测方法，在所述电压比较电路(即所述电压比较器)将所述IGBT管的集电极电压VC与预设参考电压VREF进行比较之后，记录预设时间段内所述IGBT管的集电极电压VC大于所述预设参考电压VREF的次数。本实施例中，由于电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压VC输入至所述电压比较器的同相输入端，所述电压比较器的反相输入端输入预设参考电压VREF，因此，本实施例中，当所述IGBT管的集电极电压VC大于所述预设参考电压VREF时，所述电压比较器的输出端将输出脉冲信号，即本实施例中，所述记录预设时间段内所述IGBT管的集电极电压VC大于所述预设参考电压VREF的次数的步骤就是获取所述电压比较器输出端所输出脉冲信号的个数，对所述脉冲信号的个数进行计数并记录所述脉冲信号的个数，然后根据所记录的所述脉冲信号的个数，判断所述电磁炉上有无锅具。
图2为现有技术中电磁炉上无锅具时电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压的电压波形示意图，图3为现有技术中电磁炉上有锅具时电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压的电压波形示意图。一并参照图2和图3，在电磁炉的加热功能开启后，当电磁炉的加热区未放置有锅具时，电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压VC的电压波形示意图如图2所示，即当电磁炉的加热区无锅具时，电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压VC保持不变，一直保持为310V；在电磁炉的加热功能开启后，当电磁炉的加热区放置有锅具时，电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压VC的电压波形示意图如图3所示，即当电磁炉的加热区放置有锅具时，电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压VC会发生如图3所示的周期性的变化(电压最高时可达800V至1100V)，即本实施例根据电磁炉的加热功能开启后电磁炉上放置有锅具和未放置锅具时电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压VC的不同，通过将电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压VC与预设参考电压VREF进行比较，然后根据所记录的预设时间段内所述IGBT管的集电极电压VC大于所述预设参考电压VREF的次数来判断所述电磁炉上有无锅具。
可以理解的是，本实施例中，所述预设参考电压VREF和所述预设时间段均可以根据实际情况进行设定。本实施例中，所述预设参考电压VREF的范围为大于310V(310V为市电整流后的电压)且小于800V，所述预设时间段的范围为大于或等于100ms且小于或等于150ms。优选地，本实施例中，所述预设参考电压VREF为320V，所述预设时间段为100ms。即本实施例电磁炉的锅具检测方法，在电磁炉的加热功能开启后，控制电压比较电路获取电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压VC，并将所述IGBT管的集电极电压VC与预设参考电压VREF进行比较；然后记录100ms内所述IGBT管的集电极电压VC大于320V的次数；最后，根据所记录的100ms内所述IGBT管的集电极电压VC大于320V的次数，判断所述电磁炉上有无锅具。
本实施例电磁炉的锅具检测方法，由于能够在100ms内(即一个市电包络周期)即可检测到电磁炉上有无锅具，从而极大地缩短了电磁炉的检锅时间；并且，本实施例电磁炉的锅具检测方法应用于不同谐振参数的电磁炉的加热平台时，无需重新调试验证，提高了电磁炉检锅的通用性。
进一步地，参照图4，基于本发明电磁炉的锅具检测方法第一实施例，在本发明电磁炉的锅具检测方法第二实施例中，上述步骤S30包括：
S31，判断预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数是否小于预设次数；
S32，若预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数小于所述预设次数，则判断所述电磁炉上无锅具；
S33，若预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数大于或等于所述预设次数，则判断所述电磁炉上有锅具。
具体地，本实施例电磁炉的锅具检测方法在上述第一实施例中所述记录预设时间段(即100ms)内所述IGBT管的集电极电压VC大于所述预设参考电压VREF(即320V)的次数的步骤之后，判断100ms内所述IGBT管的集电极电压VC大于所述320V的次数是否小于预设次数，若100ms内所述IGBT管的集电极电压VC大于320V的次数小于所述预设次数，则判断所述电磁炉上无锅具；若100ms内所述IGBT管的集电极电压VC大于所述320V的次数大于或等于所述预设次数，则判断所述电磁炉上有锅具。
可以理解的是，所述预设次数可以根据实际情况进行设定，本实施例中，所述预设次数的范围为大于或等于2次且小于或等于3次。优选地，本实施例中，所述预设次数为2次。即本实施例中，在电磁炉的加热功能开启后，控制电压比较电路获取电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压VC，并将所述IGBT管的集电极电压VC与预设参考电压VREF进行比较，然后记录100ms内所述IGBT管的集电极电压VC大于320V的次数，接着判断100ms内所述IGBT管的集电极电压VC大于所述320V的次数是否小于2次，若100ms内所述IGBT管的集电极电压VC大于所述320V的次数小于2次，则判断所述电磁炉上无锅具；若100ms内所述IGBT管的集电极电压VC大于所述320V的次数大于或等于2次，则判断所述电磁炉上有锅具。本实施例电磁炉的锅具检测方法，由于能够在100ms内(即一个市电包络周期)即可检测到电磁炉上有无锅具，从而极大地缩短了电磁炉的检锅时间；并且，本实施例电磁炉的锅具检测方法应用于不同谐振参数的电磁炉的加热平台时，无需重新调试验证，提高了电磁炉检锅的通用性。
本发明还提供一种电磁炉的锅具检测装置，参照图5，在一实施例中，该电磁炉的锅具检测装置包括电压比较电路101、MCU 102以及存储在所述MCU 102内并可在所述MCU102上运行的电磁炉的锅具检测程序。其中，所述电压比较电路101的信号输出端与所述MCU102的信号输入端连接。
具体地，本实施例中，所述电压比较电路101包括电压比较器U1，所述电压比较器U1的同相输入端输入电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压VC，所述电压比较器U1的反相输入端输入所述预设参考电压VREF，所述电压比较器U1的输出端为所述电压比较电路101的信号输出端，所述电压比较器U1的输出端与所述MCU 102的信号输入端连接。
本实施例中，所述电压比较电路101，用于获取电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压VC，并将所述IGBT管的集电极电压VC与预设参考电压VREF进行比较；所述电磁炉的锅具检测程序被所述MCU 102执行时实现如上述实施例所述的电磁炉的锅具检测方法的步骤，此处不再赘述。
本实施例电磁炉的锅具检测装置，由于能够在100ms内(即一个市电包络周期)即可检测到电磁炉上有无锅具，从而极大地缩短了电磁炉的检锅时间；并且，本实施例电磁炉的锅具检测方法应用于不同谐振参数的电磁炉的加热平台时，无需重新调试验证，提高了电磁炉检锅的通用性。
本发明还提供一种电磁炉，该电磁炉包括电磁炉的锅具检测装置，该电磁炉的锅具检测装置的结构的工作原理可参照上述实施例，在此不再赘述。理所应当地，由于本实施例的电磁炉采用了上述电磁炉的锅具检测装置的技术方案，因此该电磁炉具有上述电磁炉的锅具检测装置所有的有益效果。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (9)

1.一种电磁炉的锅具检测方法，其特征在于，所述电磁炉的锅具检测方法，包括以下步骤：
S10，电磁炉的加热功能开启后，控制电压比较电路获取电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压，并将所述IGBT管的集电极电压与预设参考电压进行比较；
S20，记录预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数；
S30，根据所记录的预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数，判断所述电磁炉上有无锅具。
2.如权利要求1所述的电磁炉的锅具检测方法，其特征在于，所述步骤S30包括：
S31，判断预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数是否小于预设次数；
S32，若预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数小于所述预设次数，则判断所述电磁炉上无锅具；
S33，若预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数大于或等于所述预设次数，则判断所述电磁炉上有锅具。
3.如权利要求1或2所述的电磁炉的锅具检测方法，其特征在于，所述预设参考电压大于310V且小于800V。
4.如权利要求2中任一项所述的电磁炉的锅具检测方法，其特征在于，所述预设时间段大于或等于100ms且小于或等于150ms；所述预设次数大于或等于2次且小于或等于3次。
5.一种电磁炉的锅具检测装置，其特征在于，所述电磁炉的锅具检测装置包括：电压比较电路、MCU以及存储在所述MCU内并可在所述MCU上运行的电磁炉的锅具检测程序，其中：
所述电压比较电路，用于获取电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压，并将所述IGBT管的集电极电压与预设参考电压进行比较；
所述电磁炉的锅具检测程序被所述MCU执行时实现以下步骤：
S10，电磁炉的加热功能开启后，控制电压比较电路获取电磁炉内电磁加热控制电路中IGBT管的集电极电压，并将所述IGBT管的集电极电压与预设参考电压进行比较；
S20，记录预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数；
S30，根据所记录的预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数，判断所述电磁炉上有无锅具。
6.如权利要求5所述的电磁炉的锅具检测装置，其特征在于，所述电磁炉的锅具检测程序程序被所述MCU执行时实现以下步骤：
S31，判断预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数是否小于预设次数；
S32，若预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数小于所述预设次数，则判断所述电磁炉上无锅具；
S33，若预设时间段内所述IGBT管的集电极电压大于所述预设参考电压的次数大于或等于所述预设次数，则判断所述电磁炉上有锅具。
7.如权利要求5或6所述的电磁炉的锅具检测装置，其特征在于，所述预设参考电压大于310V且小于800V。
8.如权利要求6中任一项所述的电磁炉的锅具检测装置，其特征在于，所述预设时间段大于或等于100ms且小于或等于150ms；所述预设次数大于或等于2次且小于或等于3次。
9.一种电磁炉，其特征在于，所述电磁炉包括权利要求6至8中任一项所述的电磁炉的锅具检测装置。
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