CN110031487A - 一种涂胶无损检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种涂胶无损检测的方法。为了检测用于粘接电脑后壳的金属板与塑料板之间的涂胶状态,采用加入不同添加物的涂胶制作的电脑后壳,检测不同的胶在同一种射线设备下的检测结果;通过调整X射线设备的技术参数(管电压、管电流、曝光时间)来控制放射量的大小,对粘接好的电脑外壳进行射线检测;对X射线采集的样品图片进行图像处理,迅速的判断样品信息。该检测方法可以进行无损的检测类似的样品的涂胶质量,为不破坏性的检测涂胶样品提供快捷和迅速的方法。

Description

一种涂胶无损检测方法
技术领域
本发明属于无损检测技术领域,具体涉及用于检测一种涂胶样品的无损检测方法。
背景技术
涂胶产品广泛应用在各个方面,对于涂胶工艺和涂胶设备的研究目前已经趋于成熟,但是对于涂胶产品的检测,目前都只是停留在人工的破坏性抽检阶段。涂胶产品由于目前的检测方式没有办法对每个产品进行检测,所以会出现涂胶工件质量层次不齐,从而影响整个工件的性能。对涂胶产品主要检测力学表现和物理性能,其中力学表现是:粘接强度、拉伸性能、剪切强度等,物理性能是:均匀性、一致性、厚度、断胶、气泡、缩孔等。对每个涂胶产品在投入使用之前进行无损检测,可以及时发现涂胶不合格产品,也利于改善涂胶工艺,提高涂胶工件的质量。基于此设计一种用于涂胶产品的无损检测方法,可以迅速确定涂胶产品的缺陷和缺陷位置及时调整涂胶工艺和生产工艺。
发明内容
本发明的目的是提供一种无损检测方法,提供一种检测涂胶产品的快速无损的检测方法,检测方法简单快速,降低了人工的成本,提高了涂胶产品的品质。
本发明提出的无损检测方法是通过对胶水中添加增加胶水密度的添加物,来增强胶水的密度,从而在检测时能够吸收更多的X射线的能量,其中通过调整X射线设备的参数来控制X射线的能量,以便一次便可以获得胶水的信息。
其中X射线设备的检测原理是:X射线光源透射到工件上成像在板上,然后通过图像传输,图像处理识别出胶水的缺陷位置,然后分拣出来。
具体的本发明的涂胶样品的无损检测方法:所述的方法包含以下步骤:
1)在胶水中添加适当的胶水添加剂提高胶水的密度;
2)取两处改进后的胶水直接均匀的涂抹在金属板上,一处胶水直接裸露,一处胶水上面附上塑料板,对两处的胶水同时进行X射线拍照,观察两处胶水的形态,再调整X射线设备的参数,对两处胶水进行拍照,继续观察两处胶水的形态,如此往复,直到改进的胶水上附了塑料板还能在X射线合理的参数下可以清晰的看到为之;
3)对改进的胶水进行样品的制作,对X射线设备的参数进行优化,然后对样品进行X射线下拍照检验是否可以清晰的观察X射线下胶水的形态。
进一步的,所述的胶水添加物根据常用胶水添加物的密度大小添加到胶水中,对胶水进行性能测试看是否满足涂胶工件的工作要求。
进一步的,所述的胶水实验是对满足工件性能的胶水进行涂抹金属板实验,其中涂抹两处是为了做对照,看看胶水的密度是否能够在X射线显现,对胶水上面附上塑料板是为了模拟样品的状态观察做成样品后胶水能否透过X射线。
进一步的,所述的增加胶水的密度,要使胶水的密度大于塑料板,大于金属板,让X射线在检测的时候胶水因为其密度大于金属板和塑料板,透视过塑料板后射线的能量主要被胶水吸收,这样才能在二维X射线的透视中清楚的观察到胶水的形态。
进一步的,所述的X射线设备参数主要包括X射线源的管电压,管电流,曝光时间和焦点尺寸,其中前三者共同决定了放射量的大小。
进一步的,所述的金属板就是涂胶工件的金属表面。
进一步的,所述的附在胶水实验上的塑料板是涂胶工件的塑料件。
进一步的,所述的X射线设备是一台二维透视的X射线设备,采用二维X射线透射设备是因为,做二维X射线检测花费的时间短,适合在生产线上做无损检测。
进一步的,所述的涂胶样品是电脑后壳,涂胶在金属件与塑料卡扣之间的。
基于现在的涂胶产品的无损检测的空白,本发明的优点如下:解决了目前市面上对涂胶产品的无损检测的空白,对无损检测的领域是一大扩充,对无损检测在非金属产品方面的检测进行填充。本发明中无损检测方法包括涂胶的改进,二维X射线设备参数的优化,后期的对缺陷图片的图像识别处理。其中对胶水的改进是增加胶水的密度,通过提高胶水密度且最大程度的保留胶水的性能,让胶水在透视的时候吸收更多的射线的能量,以便在图像中可以清晰的看到胶水的形态。二维X射线设备一般都应用在金属的检测领域,这次应用在涂胶产品的领域,而且对二维X射线设备在涂胶检测领域的射线源参数进行了优化,是对设备的一种开发利用,并且二维X射线透视的效率比较高,可以在生产线进行涂胶产品的检测。图像识别单元是利用X射线拍摄的照片对胶水的缺陷识别定位,然后给后续工装信号,将涂胶的不合格品分拣处理。至此就完成了一套适用在流水线的涂胶无损检测的方法,大大提高了产品检测的效率和产品的质量。
具体实施方式
下面结合具体的实施例对本发明进行进一步的详细描述,本发明的无损检测方法是针对涂胶产品的内部涂胶的缺陷检测,主要检测涂胶是否有裂纹,缩孔,涂抹位置不当,缺涂的情况。下面和具体的实施方法对本发明进一步讲解。
①胶水的主要成分表
涂胶的常用添加物列表
在涂胶的常用添加物里面找寻适合样品涂胶的添加物,试验确定是否会影响涂胶的基本性能,在加了胶添加物的胶水进行密度检测,看密度是多少,记录表格中方便日后改进。
③涂胶的样品试验
对已经加好胶水添加物的胶水,分别取两份放在金属铝板上,然后分别对两处的胶水进行画线处理,在其中一处胶水上盖上塑料板,然后对金属铝板进行X射线拍照,观察两处的X射线下是否都能观察到胶水划线的状态。如此往复的进行胶水样品试验,确定最终涂胶样品。
④X射线设备参数调整试验
其中X射线设备中X射线源放置在工件传送带上方,对传送过来的待检测工件进行拍摄,然后对拍摄的图片进行传输处理。对已经涂好胶水的样品,调整X射线设备的射线量即管电压,管电流,曝光时间,再次进行试验,观察在那种参数条件下该种胶水最清晰可见。以下是表格有详细的介绍
⑤对确定的涂胶进行样品试验
对第二步确定的胶水样品进行涂胶工件的制作,按照正常的流程进行制作,然后将制作好的样品在设置好参数的X射线设备下拍照,改变几次设备参数,多拍几张对比找到最清楚的那张,观察是否能够观察到涂胶的形态,如此重复前三步直到肉眼可以清晰的观察到涂胶的形态为之。
⑥对样品的X射线图片进行图像处理,把涂胶有裂纹、气泡、缩孔、缺损,错位的区分出来,将信号传递给分拣机械手,将涂胶不合格品分拣出来。然后通过对不合格品的分析,可以改进涂胶机和涂胶生产工艺减少不合格品的出现。
⑦记录反馈
对每一次X射线参数的调整都需要记录归档胶水方案和设备参数,然后及时对X射线设备的不合格品进行复检,记录不合格品的不合格原因,以便能够判断胶水的密度是否答标和X射线设备的参数是否合适以及设备是否正常运转。还可以改进升级涂胶的技术和提高涂胶品质。
本发明并不仅限于上述实施的涂胶样品,还可以应用在其他的涂胶制品的无损检测中,在不背离本发明的实质内容范围内,本领域的技术人员所做的任何显而易见的改进、替换,毋庸置疑也应属于本发明的保护范围。

Claims (5)

1.一种涂胶无损检测方法,其特征在于,包括如下的步骤:
S1、制胶:根据常用的胶水添加物对胶水增加密度,制作胶水样品;
S2、胶水实验:根据制作好的胶水样品对待检测产品进行涂抹,在二维X射线下透视拍摄,观察射线拍摄后胶水的状态是否清晰可见;
S3、X射线设备参数调整:根据制作好的胶水样品,调整设备参数控制放射量的大小,进行拍摄记录不同参数下拍摄出来的照片情况;
S4、样品试验:根据前面的胶水实验和设备参数调整优化,取密度大且在X射线合适的参数下拍摄出清晰可见的胶水,制作成样品,再将样品放在X射线下拍摄,继续调整参数多次拍摄,直至找到一张胶水最清晰可见的;
S5、图像处理:对拍摄到的图片进行图像处理,对有缺陷的地方识别定位,传递信号给后续分拣结构,对涂胶质量不合格的产品分拣出来;
S6、记录反馈:对涂胶不合格的产品进行分类整理记录。
2.根据权利要求1所述的一种涂胶无损检测方法,其特征在于,所述步骤(2)中的二维X射线设备的电压是130KV,检测方式是X射线透视,拍摄二维照片。
3.根据权利要求1所述的一种涂胶产品的无损检测方法,其特征在于,所述步骤(3)中X射线参数调整需要先根据经验值选取几个常用的经验值进行拍摄,然后筛选出适合胶水的范围,在这个合适的范围内再试验调整拍摄。
4.根据权利要求1所述的一种涂胶无损检测方法,其特征在于,所述步骤(4)中样品实验是在步骤(2)胶水实验和步骤(3)中X射线参数的优化反复多次进行找到合适的胶水和射线参数的情况下进行。
5.根据权利要求1所述的一种涂胶无损检测方法,其特征在于,所述步骤(5)图像处理是在步骤(4)结束后有清晰的涂胶照片后方才进行的图像定位处理,图像处理包括:灰度化、二值化、去噪声、膨胀和腐蚀、特征选择、特征提取。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109852315A (zh) * 2019-03-05 2019-06-07 天材电子材料(昆山)有限公司 一种无损检测用涂胶
CN111322970A (zh) * 2020-03-04 2020-06-23 清华大学 X射线胶路测量装置和方法

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101750033A (zh) * 2008-12-16 2010-06-23 株式会社石田 X射线检查装置
CN102023171A (zh) * 2010-11-12 2011-04-20 航天材料及工艺研究所 用ct值定量表征复合材料内部夹杂缺陷类型的无损检测方法
CN102175700A (zh) * 2011-01-20 2011-09-07 山东大学 数字x射线图像焊缝分割和缺陷检测方法
CN104897698A (zh) * 2015-06-05 2015-09-09 南昌航空大学 一种涡轮叶片热障涂层层状结构微米ct成像三维表征方法
CN105020136A (zh) * 2015-08-02 2015-11-04 衢州市易凡设计有限公司 一种组合螺杆的压缩机
CN105021636A (zh) * 2015-08-07 2015-11-04 中国兵器工业集团第五三研究所 一种识别复合材料制品内部缺陷类型的无损检测方法
CN105486702A (zh) * 2015-12-07 2016-04-13 苏州科耐视智能科技有限公司 一种基于x射线的目标缺陷检测系统
CN107589131A (zh) * 2017-10-17 2018-01-16 阳江市普瑞德增材制造研究院有限公司 一种刀具x射线检测系统
CN109142396A (zh) * 2018-08-30 2019-01-04 湖北三江航天江北机械工程有限公司 一种碳纤维缠绕壳体分层、脱粘缺陷检测评定方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101750033A (zh) * 2008-12-16 2010-06-23 株式会社石田 X射线检查装置
CN102023171A (zh) * 2010-11-12 2011-04-20 航天材料及工艺研究所 用ct值定量表征复合材料内部夹杂缺陷类型的无损检测方法
CN102175700A (zh) * 2011-01-20 2011-09-07 山东大学 数字x射线图像焊缝分割和缺陷检测方法
CN104897698A (zh) * 2015-06-05 2015-09-09 南昌航空大学 一种涡轮叶片热障涂层层状结构微米ct成像三维表征方法
CN105020136A (zh) * 2015-08-02 2015-11-04 衢州市易凡设计有限公司 一种组合螺杆的压缩机
CN105021636A (zh) * 2015-08-07 2015-11-04 中国兵器工业集团第五三研究所 一种识别复合材料制品内部缺陷类型的无损检测方法
CN105486702A (zh) * 2015-12-07 2016-04-13 苏州科耐视智能科技有限公司 一种基于x射线的目标缺陷检测系统
CN107589131A (zh) * 2017-10-17 2018-01-16 阳江市普瑞德增材制造研究院有限公司 一种刀具x射线检测系统
CN109142396A (zh) * 2018-08-30 2019-01-04 湖北三江航天江北机械工程有限公司 一种碳纤维缠绕壳体分层、脱粘缺陷检测评定方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109852315A (zh) * 2019-03-05 2019-06-07 天材电子材料(昆山)有限公司 一种无损检测用涂胶
CN111322970A (zh) * 2020-03-04 2020-06-23 清华大学 X射线胶路测量装置和方法
CN111322970B (zh) * 2020-03-04 2021-07-13 清华大学 X射线胶路测量装置和方法

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