CN109374632A - 一种显示面板的检测方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板的检测方法及系统，其中方法包括，控制拍摄装置对被测显示面板表面进行拍摄；根据拍摄结果获取显示面板的缺陷信息；根据缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取缺陷种类中的黑缺陷；判断黑缺陷是否满足被标记条件；若黑缺陷满足被标记条件，对黑缺陷进行标记；控制修复装置修复所标记的黑缺陷。通过识别缺陷信息中的黑缺陷，并判断黑缺陷是否满足被标记条件，若黑缺陷满足被标记条件，对黑缺陷进行标记，并修复标记的黑缺陷。从而可直接在获取显示面板缺陷信息时识别需要进行修复的黑缺陷，减少后续人力及设备产能的损失，提高显示面板制程的效率。

Description

一种显示面板的检测方法及系统

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的检测方法及系统。

背景技术

在现有显示面板生产中，如彩膜基板(Color Filter)制程，难免会出现各种缺陷，现有方案通过对彩膜基板表面进行拍照，再对照片进行自动或者人眼的判别来对缺陷进行分类及判定识别。在缺陷中有超过80％的缺陷都属于黑缺陷，而在实际生产中，60％左右的黑缺陷均在规格以内无需修补，但是以现有的图面信息，无法对是否需要修复进行判断，所以所有的黑缺陷均需要经过修补设备进行二次判断，造成人力及设备产能的损失。

发明内容

本发明提供了一种显示面板的检测方法及系统，可直接在获取显示面板缺陷信息时识别需要进行修复的黑缺陷，减少后续人力及设备产能的损失。

一方面，本发明提供了一种显示面板的检测方法，其包括：

控制拍摄装置对被测显示面板表面进行拍摄；

根据拍摄结果获取所述显示面板的缺陷信息；

根据所述缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取所述缺陷种类中的黑缺陷；

判断所述黑缺陷是否满足被标记条件；

若所述黑缺陷满足被标记条件，对所述黑缺陷进行标记；

控制修复装置修复所标记的黑缺陷。

另一方面，本发明提供了一种显示面板的检测方法，其包括：

控制拍摄装置对被测显示面板表面进行拍摄；

根据拍摄结果获取显示面板表面的灰阶图像；

根据所述灰阶图像获取所述显示面板表面各检测点对应的灰阶值；

根据所述灰阶值获取所述显示面板的缺陷信息；

根据所述缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取所述缺陷种类中的黑缺陷；

控制测高模组获取所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度；

判断所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度是否超过预设高度阈值；

若所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度超过预设高度阈值，对所述黑缺陷进行标记；

控制修复装置修复所标记的黑缺陷。

又一方面，本发明提供了一种显示面板的检测系统，其包括：

拍摄单元，用于控制拍摄装置对被测显示面板表面进行拍摄；

获取单元,用于根据拍摄结果获取所述显示面板的缺陷信息；

识别单元，用于根据所述缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取所述缺陷种类中的黑缺陷；

判断单元，用于判断所述黑缺陷是否满足被标记条件；

标记单元，用于若所述黑缺陷满足被标记条件，对所述黑缺陷进行标记；

执行单元，用于控制修复装置修复所标记的黑缺陷。

本发明实施例通过控制拍摄装置对被测显示面板表面进行拍摄，根据拍摄结果获取显示面板的缺陷信息，根据缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取缺陷种类中的黑缺陷，并判断黑缺陷是否满足被标记条件，若黑缺陷满足被标记条件，对黑缺陷进行标记，并修复标记的黑缺陷。从而可直接在获取显示面板缺陷信息时识别需要进行修复的黑缺陷，减少后续人力及设备产能的损失，提高显示面板制程的效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例一提供的一种显示面板的检测方法的示意流程图；

图2为本发明实施例二提供的一种显示面板的检测方法的示意流程图；

图3为本发明实施例一提供的一种显示面板的检测系统的示意框图；

图4为本发明实施例二提供的一种显示面板的检测系统的示意框图；

图5为本发明实施例提供的一种显示面板的检测装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。各实施步骤的顺序并不限定于按照本说明书中排列的顺序依次进行，也可以根据具体需要对实施步骤进行调整，改变实施步骤的顺序。

还应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。

参见图1，是本发明实施例一提供的一种显示面板的检测方法的示意流程图，其包括以下步骤S11～S16：

步骤S11：控制拍摄装置对被测显示面板表面进行拍摄。

具体地，在对显示面板进行检测时，为获取显示面板的缺陷信息，首先控制拍摄装置对显示面板表面进行拍摄以获取所需的图像信息。

步骤S12：根据拍摄结果获取所述显示面板的缺陷信息。

具体地，通过对拍摄的图片进行比对以获取缺陷信息，缺陷信息例如为，识别其为何种种类的缺陷，如白缺陷、黑缺陷等。其中，步骤S12包括子步骤S12a、S12b和S12c：

步骤S12a：获取显示面板表面的灰阶图像。

具体地，以彩膜基板(ColorFilter，以下简称CF基板)为例，在具体实现中，采用自动光学检查机(Automatic Optic Inspection，以下简称AOI)对CF基板进行检测，AOI设备至少可包括背光源以及拍摄装置。其中，拍摄装置用于对放入AOI设备的CF基板进行拍照，以获取CF基板的灰阶图像。在具体实现中，AOI设备的拍摄装置可以为电荷耦合相机(charge coupled device camera，以下简称CCD相机)，通过CCD相机采集到的灰阶图像具有较高的分辨率。

步骤S12b：根据灰阶图像获取显示面板表面各检测点对应的灰阶值。

具体地，以CF基板为例，CF基板可包括不同的色彩区域，例如包括R(红)、G(绿)、B(蓝)三种不同的色彩区域。当然，具体实现中，CF基板并不仅限于包括R、G、B这三种色彩区域的情况，本发明实施例也适用于包括两种、四种、五种或者其他更多数量的不同色彩区域的CF基板。对于包括R、G、B三种色彩区域的CF基板，其有256种不同的灰阶值、即0～255，CCD从被背光源照射的CF基板上的不同色彩区域获取不同的灰阶值。对应每个检测点的位置都可以获得一个对应的灰阶值。

步骤S12c：根据灰阶值获取显示面板的缺陷信息。

具体地，每个正常区域都会有一个预先设定好对应的预设正常灰阶值，具体可设置为一个预设正常灰阶值范围，将每个检测点的灰阶值与预设正常灰阶值范围进行比对，若检测点的灰阶值在这个预设正常灰阶值范围内，则判定为正常，无缺陷，如果不在这个范围内，则判定为有缺陷。当灰阶值高于预设正常灰阶值范围时，则判定为白缺陷，当灰阶值低于预设正常灰阶值范围时，则判定为黑缺陷。

步骤S13：根据所述缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取所述缺陷种类中的黑缺陷根据缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取缺陷种类中的黑缺陷。

具体地，在本实施例中，可根据检测点的灰阶值来识别出缺陷的种类，当灰阶值高于预设正常灰阶值范围时，则判定为白缺陷，当灰阶值低于预设正常灰阶值范围时，则判定为黑缺陷，即识别出灰阶值低于预设正常灰阶值范围的缺陷为黑缺陷。

步骤S14：判断黑缺陷是否满足被标记条件。

具体地，判断黑缺陷是否满足标记条件可例如为判断黑缺陷超过显示面板表面的高度是否满足被标记条件，在具体实现中，可利用结构光模组通过拍摄直接来获取显示面板表面的高度信息，以获知黑缺陷超过显示面板表面的高度，一旦黑缺陷超过显示面板表面的高度超过预设高度阈值，则判定为满足被标记条件。在具体实现中，也可根据黑缺陷所在位置的灰阶值大小来判断黑缺陷超过显示面板表面的高度信息，例如，将对应预设高度阈值的黑缺陷通过拍照对应获得的灰阶值作为灰阶值阈值，当检测点处的黑缺陷对应的灰阶值不低于预设灰阶值阈值，则判定为黑缺陷的高度在预设高度阈值内，若低于预设灰阶值阈值，则判定为满足被标记条件。

步骤S15：若黑缺陷满足被标记条件，对黑缺陷进行标记。

具体地，如果黑缺陷满足被标记条件，则对黑缺陷进行标记，后续将对标记的黑缺陷进行修复，以消除缺陷。

步骤S16：控制修复装置修复所标记的黑缺陷。

具体地，在具体实现中，可通过研磨设备对标记的黑缺陷进行研磨至黑缺陷超过显示面板表面的高度低于预设高度阈值。

具体地，通过对被测显示面板表面进行拍摄以获取显示面板的缺陷信息，根据缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取缺陷种类中的黑缺陷，并判断黑缺陷是否满足被标记条件，若黑缺陷的满足被标记条件，对黑缺陷进行标记，并修复标记的黑缺陷。从而可直接在获取显示面板缺陷信息时识别需要进行修复的黑缺陷，减少后续人力及设备产能的损失，提高显示面板制程的效率。

参见图2，是本发明实施例二提供的一种显示面板的检测方法的示意流程图，其包括以下步骤S21～S29：

步骤S21：控制拍摄装置对被测显示面板表面进行拍摄。

具体地，在对显示面板进行检测时，为获取显示面板的缺陷信息，首先控制拍摄装置对显示面板表面进行拍摄以获取所需的图像信息。

步骤S22：根据拍摄结果获取显示面板表面的灰阶图像。

具体地，以CF基板为例，在具体实现中，采用自动光学检查机(AOI)对CF基板进行检测，AOI设备至少可包括背光源以及拍摄装置。其中，拍摄装置用于对放入AOI设备的CF基板进行拍照，以获取CF基板的灰阶图像。在具体实现中，AOI设备的拍摄装置可以为CCD相机，通过CCD相机采集到的灰阶图像具有较高的分辨率。

步骤S23：根据灰阶图像获取显示面板表面各检测点对应的灰阶值。

具体地，以CF基板为例，CF基板可包括不同的色彩区域，例如包括R(红)、G(绿)、B(蓝)三种不同的色彩区域。当然，具体实现中，CF基板并不仅限于包括R、G、B这三种色彩区域的情况，本发明实施例也适用于包括两种、四种、五种或者其他更多数量的不同色彩区域的CF基板。对于包括R、G、B三种色彩区域的CF基板，其有256种不同的灰阶值、即0～255，CCD从被背光源照射的CF基板上的不同色彩区域获取不同的灰阶值。对应每个检测点的位置都可以获得一个对应的灰阶值。

步骤S24：根据灰阶值获取显示面板的缺陷信息。

具体地，每个正常区域都会有一个预先设定好对应的预设正常灰阶值，具体可设置为一个预设正常灰阶值范围，将每个检测点的灰阶值与预设正常灰阶值范围进行比对，若检测点的灰阶值在这个预设正常灰阶值范围内，则判定为正常，无缺陷，如果不在这个范围内，则判定为有缺陷。当灰阶值高于预设正常灰阶值范围时，则判定为白缺陷，当灰阶值低于预设正常灰阶值范围时，则判定为黑缺陷。

步骤S25：根据所述缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取所述缺陷种类中的黑缺陷根据缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取缺陷种类中的黑缺陷。

具体地，在本实施例中，可根据检测点的灰阶值来识别出缺陷的种类，当灰阶值高于预设正常灰阶值范围时，则判定为白缺陷，当灰阶值低于预设正常灰阶值范围时，则判定为黑缺陷，即识别出灰阶值低于预设正常灰阶值范围的缺陷为黑缺陷。

步骤S26：控制测高模组获取黑缺陷超过显示面板表面的高度。

具体地，在具体实现中，测高模组可例如为结构光模组，可利用结构光模组通过拍摄直接来获取显示面板表面的高度信息，以获知黑缺陷超过显示面板表面的高度。也可以通过其他的光学测高仪器来实现黑缺陷高度的测量。

步骤S27：判断黑缺陷超过显示面板表面的高度是否超过预设高度阈值。

具体地，将通过结构光模组测得的黑缺陷超过显示面板表面的高度与预设高度阈值进行比对，判断黑缺陷超过显示面板表面的高度是否超过预设高度阈值，预设高度阈值即为预先设定的需要被修复的缺陷高度的界值，缺陷高度超过此界值的缺陷都需要被标记修复。

步骤S28：若黑缺陷超过显示面板表面的高度超过预设高度阈值，对黑缺陷进行标记。

具体地，若测得的黑缺陷超过显示面板表面的高度值超过预设高度阈值，对黑缺陷进行标记，后续将对标记的黑缺陷进行修复，以消除缺陷。

步骤S29：控制修复装置修复所标记的黑缺陷。

具体地，在具体实现中，可通过控制研磨设备对标记的黑缺陷进行研磨，直至黑缺陷超过显示面板表面的高度低于预设高度阈值。修复标记后的黑缺陷，而未被标记的黑缺陷则被认定为无需修复，从而避免了大量无需修复的黑缺陷被反馈至后续检测环节进行额外的分类，大大降低了制程成本。

本发明实施例还提供一种显示面板的检测系统，该系统用于执行前述任一项方法的单元。具体地，参见图3，其为本发明实施例一提供的一种显示面板的检测系统的示意框图。本实施例的系统300包括：拍摄单元310、获取单元320、识别单元330、判断单元340、标记单元350以及执行单元360。

拍摄单元310，用于控制拍摄装置对被测显示面板表面进行拍摄。

具体地，在对显示面板进行检测时，为获取显示面板的缺陷信息，首先控制拍摄装置对显示面板表面进行拍摄以获取所需的图像信息。

获取单元320。用于根据拍摄结果获取显示面板的缺陷信息。

具体地，通过对拍摄的图片进行比对以获取缺陷信息，缺陷信息例如为，识别其为何种种类的缺陷，如白缺陷、黑缺陷等。

识别单元330，用于根据缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取缺陷种类中的黑缺陷根据缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取缺陷种类中的黑缺陷。

具体地，在本实施例中，可根据检测点的灰阶值来识别出缺陷的种类，当灰阶值高于预设正常灰阶值范围时，则判定为白缺陷，当灰阶值低于预设正常灰阶值范围时，则判定为黑缺陷，即识别出灰阶值低于预设正常灰阶值范围的缺陷为黑缺陷。

判断单元340，用于判断黑缺陷是否满足被标记条件。

具体地，判断黑缺陷是否满足标记条件可例如为判断黑缺陷超过显示面板表面的高度是否满足被标记条件，在具体实现中，可利用结构光模组通过拍摄直接来获取显示面板表面的高度信息，以获知黑缺陷超过显示面板表面的高度，一旦黑缺陷超过显示面板表面的高度超过预设高度阈值，则判定为满足被标记条件。在具体实现中，也可根据黑缺陷所在位置的灰阶值大小来判断黑缺陷超过显示面板表面的高度信息，例如，将对应预设高度阈值的黑缺陷通过拍照对应获得的灰阶值作为灰阶值阈值，当检测点处的黑缺陷对应的灰阶值不低于预设灰阶值阈值，则判定为黑缺陷的高度在预设高度阈值内，若低于预设灰阶值阈值，则判定为满足被标记条件。

标记单元350，用于若黑缺陷满足被标记条件，对黑缺陷进行标记。

具体地，如果黑缺陷满足被标记条件，则对黑缺陷进行标记，后续将对标记的黑缺陷进行修复，以消除缺陷。

执行单元360，用于控制修复装置修复所标记的黑缺陷。

具体地，在具体实现中，可通过研磨设备对标记的黑缺陷进行研磨至黑缺陷超过显示面板表面的高度低于预设高度阈值。

具体地，参见图4，其为本发明实施例二提供的一种显示面板的检测系统的示意框图。本实施例的系统400包括：拍摄单元410、第二获取单元420、第三获取单元430、第四获取单元440、识别单元450、第一获取单元460、第一判断单元470、标记单元480以及执行单元490。

拍摄单元410，用于控制拍摄装置对被测显示面板表面进行拍摄。

具体地，在对显示面板进行检测时，为获取显示面板的缺陷信息，首先控制拍摄装置对显示面板表面进行拍摄以获取所需的图像信息。

第二获取单元420，根据拍摄结果获取显示面板表面的灰阶图像。

具体地，以CF基板为例，在具体实现中，采用自动光学检查机(AOI)对CF基板进行检测，AOI设备至少可包括背光源以及拍摄装置。其中，拍摄装置用于对放入AOI设备的CF基板进行拍照，以获取CF基板的灰阶图像。在具体实现中，AOI设备的拍摄装置可以为CCD相机，通过CCD相机采集到的灰阶图像具有较高的分辨率。

第三获取单元430，用于根据灰阶图像获取所述显示面板表面各检测点对应的灰阶值。

具体地，以CF基板为例，CF基板可包括不同的色彩区域，例如包括R(红)、G(绿)、B(蓝)三种不同的色彩区域。当然，具体实现中，CF基板并不仅限于包括R、G、B这三种色彩区域的情况，本发明实施例也适用于包括两种、四种、五种或者其他更多数量的不同色彩区域的CF基板。对于包括R、G、B三种色彩区域的CF基板，其有256种不同的灰阶值、即0～255，CCD从被背光源照射的CF基板上的不同色彩区域获取不同的灰阶值。对应每个检测点的位置都可以获得一个对应的灰阶值。

第四获取单元440，根据灰阶值获取显示面板的缺陷信息。

具体地，每个正常区域都会有一个预先设定好对应的预设正常灰阶值，具体可设置为一个预设正常灰阶值范围，将每个检测点的灰阶值与预设正常灰阶值范围进行比对，若检测点的灰阶值在这个预设正常灰阶值范围内，则判定为正常，无缺陷，如果不在这个范围内，则判定为有缺陷。当灰阶值高于预设正常灰阶值范围时，则判定为白缺陷，当灰阶值低于预设正常灰阶值范围时，则判定为黑缺陷。

识别单元450，用于根据缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取缺陷种类中的黑缺陷。

具体地，在本实施例中，可根据检测点的灰阶值来识别出缺陷的种类，当灰阶值高于预设正常灰阶值范围时，则判定为白缺陷，当灰阶值低于预设正常灰阶值范围时，则判定为黑缺陷，即识别出灰阶值低于预设正常灰阶值范围的缺陷为黑缺陷。

第一获取单元460，用于控制测高模组获取黑缺陷超过显示面板表面的高度。

具体地，在具体实现中，测高模组可例如为结构光模组，可利用结构光模组通过拍摄直接来获取显示面板表面的高度信息，以获知黑缺陷超过显示面板表面的高度。也可以通过其他的光学测高仪器来实现黑缺陷高度的测量。

第一判断单元470，用于判断黑缺陷超过显示面板表面的高度是否超过预设高度阈值。

具体地，将通过结构光模组测得的黑缺陷超过显示面板表面的高度与预设高度阈值进行比对，判断黑缺陷超过显示面板表面的高度是否超过预设高度阈值。

标记单元480，用于若黑缺陷超过显示面板表面的高度超过预设高度阈值，对黑缺陷进行标记。

具体地，若测得的黑缺陷超过显示面板表面的高度值超过预设高度阈值，对黑缺陷进行标记，后续将对标记的黑缺陷进行修复，以消除缺陷。

执行单元490，用于控制修复装置修复所标记的黑缺陷。

具体地，在具体实现中，可通过控制研磨设备对标记的黑缺陷进行研磨，直至黑缺陷超过显示面板表面的高度低于预设高度阈值。修复标记后的黑缺陷，而未被标记的黑缺陷则被认定为无需修复，从而避免了大量无需修复的黑缺陷被反馈至后续检测环节进行额外的分类，大大降低了制程成本

具体地，参见图5，其为本发明实施例提供的一种显示面板的检测装置的结构示意图。其包括机台10、机架11、控制装置(图中未示出)、拍摄装置30以及研磨装置40，机架11与机台10相连，机架11上设有拍摄装置30和研磨装置40，所述拍摄装置30和研磨装置40受控于所述控制装置，显示面板20安置在机台10上，通过拍摄装置30对显示面板20表面进行检测，以获取黑缺陷21的具体信息，待所找到的黑缺陷21达到需要修复的条件时，调用研磨装置40对黑缺陷21进行研磨，直至其超过显示面板20的高度不超过预设高度阈值。具体实现中，拍摄装置30可包括拍摄显示面板20表面灰阶图像的CCD相机以及获取显示面板20表面深度信息的结构光模组，以此来找到黑缺陷21的位置，以及判断黑缺陷21的高度信息。具体实现中，研磨装置40可被控制的在机架11上自由移动至所需位置，并可被控制的自由伸缩以满足对黑缺陷21进行研磨的需要。

所述控制装置包括一个或多个处理器以及存储器，存储器用于存储计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，处理器用于执行存储器存储的程序指令。其中，处理器被配置用于调用所述程序指令执行：

控制拍摄装置对被测显示面板表面进行拍摄；根据拍摄结果获取显示面板的缺陷信息；根据缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取缺陷种类中的黑缺陷；判断黑缺陷是否满足被标记条件；若黑缺陷满足被标记条件，对黑缺陷进行标记；控制修复装置修复所标记的黑缺陷。

控制拍摄装置对被测显示面板表面进行拍摄；根据拍摄结果获取显示面板表面的灰阶图像；根据灰阶图像获取显示面板表面各检测点对应的灰阶值；根据灰阶值获取显示面板的缺陷信息；根据缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取缺陷种类中的黑缺陷；控制测高模组获取黑缺陷超过所述显示面板表面的高度；判断黑缺陷超过显示面板表面的高度是否超过预设高度阈值；若黑缺陷超过所述显示面板表面的高度超过预设高度阈值，对黑缺陷进行标记；控制修复装置修复所标记的黑缺陷。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的内容，仅仅是示意性的，可以通过其它的方式实现。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，包括：

控制拍摄装置对被测显示面板表面进行拍摄；

根据拍摄结果获取所述显示面板的缺陷信息；

根据所述缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取所述缺陷种类中的黑缺陷；

判断所述黑缺陷是否满足被标记条件；

若所述黑缺陷满足被标记条件，对所述黑缺陷进行标记；

控制修复装置修复所标记的黑缺陷。

2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述判断所述黑缺陷是否满足被标记条件包括：

控制测高模组获取所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度；

判断所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度是否超过预设高度阈值；

若所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度超过预设高度阈值，则判定为满足被标记条件。

3.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述根据拍摄结果获取所述显示面板的缺陷信息包括：

获取所述显示面板表面的灰阶图像；

根据所述灰阶图像获取所述显示面板表面各检测点对应的灰阶值；

根据所述灰阶值获取所述显示面板的缺陷信息。

4.根据权利要求3所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述根据所述灰阶值获取所述显示面板的缺陷信息包括：

将所述灰阶值与预设正常灰阶值范围进行比对，根据比对结果来获取所述显示面板的缺陷信息。

5.根据权利要求2所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述控制修复装置修复所标记的黑缺陷包括：

控制修复装置对所标记的黑缺陷进行研磨直至所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度低于所述预设高度阈值。

6.一种显示面板的检测方法，其特征在于，包括：

控制拍摄装置对被测显示面板表面进行拍摄；

根据拍摄结果获取显示面板表面的灰阶图像；

根据所述灰阶图像获取所述显示面板表面各检测点对应的灰阶值；

根据所述灰阶值获取所述显示面板的缺陷信息；

根据所述缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取所述缺陷种类中的黑缺陷；

控制测高模组获取所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度；

判断所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度是否超过预设高度阈值；

若所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度超过预设高度阈值，对所述黑缺陷进行标记；

控制修复装置修复所标记的黑缺陷。

7.一种显示面板的检测系统，其特征在于，包括：

拍摄单元，用于控制拍摄装置对被测显示面板表面进行拍摄；

获取单元，用于根据拍摄结果获取所述显示面板的缺陷信息；

识别单元，用于根据所述缺陷信息识别每个缺陷对应的缺陷种类并获取所述缺陷种类中的黑缺陷；

判断单元，用于判断所述黑缺陷是否满足被标记条件；

标记单元，用于若所述黑缺陷满足被标记条件，对所述黑缺陷进行标记；

执行单元，用于控制修复装置修复所标记的黑缺陷。

8.根据权利要求7所述的显示面板的检测系统，其特征在于，所述判断单元包括：

第一获取单元，用于控制测高模组获取所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度；

第一判断单元，用于判断所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度是否超过预设高度阈值；

判定单元，用于若所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度超过预设高度阈值，判定所述黑缺陷满足被标记条件。

9.根据权利要求7所述的显示面板的检测系统，其特征在于，所述获取单元包括：

第二获取单元，用于获取所述显示面板表面的灰阶图像；

第三获取单元，用于根据所述灰阶图像获取所述显示面板表面各检测点对应的灰阶值；

第四获取单元，用于根据所述灰阶值获取所述显示面板的缺陷信息。

10.根据权利要求8所述的显示面板的检测系统，其特征在于，所述执行单元具体用于：

控制修复装置对所标记的黑缺陷进行研磨直至所述黑缺陷超过所述显示面板表面的高度低于所述预设高度阈值。