CN109918254A - 一种AEP内存Error Detection功能测试方法、系统、终端及存储介质 - Google Patents

一种AEP内存Error Detection功能测试方法、系统、终端及存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种AEP内存Error Detection功能测试方法、系统、终端及存储介质,包括:利用Intel XDP对所述AEP内存进行模拟注错并获取模拟错误信息;查看BMC中的AEP错误信息;通过校验模拟错误信息与BMC错误信息的一致性获取Error Detection功能测试结果。本发明能够自动对AEP内存的Error Detection功能进行测试,测试严谨性符合市场要求,且测试方法简单,测试效率高,不依赖人工操作,省时省力。

Description

一种AEP内存Error Detection功能测试方法、系统、终端及存 储介质
技术领域
本发明属于服务器测试技术领域,具体涉及一种AEP内存Error Detection功能测试方法、系统、终端及存储介质。
背景技术
目前Intel开发了一款AEP内存,这款AEP内存容量大;功能多。目前此款AEP内存是可以当硬盘使用,可以用来做存储使用。目前很多大客户已经逐渐导入开发,比如:阿里、腾讯、百度等。
AEP内存的Error Detection功能能够及时对AEP内存出现的异常情况进行报错,将包含错误参数和错误发生位置的报错信息上报服务器BMC,便于操作人员及时发现和处理AEP内存的异常。若Error Detection功能无法正常使用,则会导致AEP内存报错延误,严重的可能导致AEP内存异常情况扩大化,甚至丢失重要数据。因此对Error Detection功能的检测是AEP性能检测的一项重要指标。
然而,由于AEP内存目前是处于开发阶段,针对AEP内存Error Detection这一功能还没有相关较完善的测试方法。基于此,本发明提供一种对Error Detection功能的检测方法。
发明内容
针对现有技术还没有相关较完善对Error Detection功能的测试方法,本发明提供一种AEP内存Error Detection功能测试方法、系统、终端及存储介质,以解决上述技术问题。
第一方面,本发明提供一种AEP内存Error Detection功能测试方法,包括:
利用Intel XDP对所述AEP内存进行模拟注错并获取模拟错误信息,包括:获取AEPmemory mode模式;根据memory mode模式对AEP报错引发参数进行设置;获取AEP内存报错信息数量;设置AEP内存的错误模拟位置;控制测试服务器进入正常运行状态;
查看BMC中的AEP错误信息;
通过校验模拟错误信息与BMC错误信息的一致性获取Error Detection功能测试结果,包括:判断模拟错误信息与BMC错误信息是否一致:是,则判定AEP内存ErrorDetection功能正常;否,则判定AEP内存Error Detection功能异常。
此外,方法还包括识别测试服务器的AEP内存,即:控制测试服务器进入halt状态;查看AEP识别检测信息并通过所述识别检测信息获取AEP在位情况;对AEP进行Refresh操作。
第二方面,本发明提供一种AEP内存Error Detection功能测试系统,包括:
错误注入单元,包括:模式获取模块,配置用于获取AEP memory mode模式;报错设置模块,配置用于根据memory mode模式对AEP报错引发参数进行设置;数量获取模块,配置用于获取AEP内存报错信息数量;位置设置模块,配置用于设置AEP内存的错误模拟位置;状态切换模块,配置用于控制测试服务器进入正常运行状态;
错误查看单元,配置用于查看BMC中的AEP错误信息;
结果获取单元,包括:一致判断模块,配置用于判断模拟错误信息与BMC错误信息是否一致;正常判定模块,配置用于判定AEP内存Error Detection功能正常;异常判定模块,配置用于判定AEP内存Error Detection功能异常。
此外,系统还包括内存识别单元,包括:暂停切换模块,配置用于控制测试服务器进入halt状态;信息查看模块,配置用于查看AEP识别检测信息并通过所述识别检测信息获取AEP在位情况;内存唤醒模块,配置用于对AEP进行Refresh操作。
第三方面,提供一种终端,包括:
处理器、存储器,其中,
该存储器用于存储计算机程序,
该处理器用于从存储器中调用并运行该计算机程序,使得终端执行上述的终端的方法。
第四方面,提供了一种计算机存储介质,所述计算机可读存储介质中存储有指令,当其在计算机上运行时,使得计算机执行上述各方面所述的方法。
本发明的有益效果在于,
本发明提供的AEP内存Error Detection功能测试方法、系统、终端及存储介质,通过利用Intel XDP对AEP内存进行模拟注错并获取模拟错误信息,注错成功后查看测试服务器BMC中的AEP错误信息,从模拟错误信息和BMC错误信息的一致性验证信息中即可获取Error Detection功能测试结果。本发明能够自动对AEP内存的Error Detection功能进行测试,测试严谨性符合市场要求,且测试方法简单,测试效率高,不依赖人工操作,省时省力。
此外,本发明设计原理可靠,结构简单,具有非常广泛的应用前景。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明一个实施例的方法的示意性流程图。
图2是本发明一个实施例的系统的示意性框图。
图3为本发明实施例提供的一种终端的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本发明保护的范围。
图1是本发明一个实施例的方法的示意性流程图。其中,图1执行主体可以为一种AEP内存Error Detection功能测试系统。
如图1所示,该方法100包括:
步骤110,利用Intel XDP对所述AEP内存进行模拟注错并获取模拟错误信息;
步骤120,查看BMC中的AEP错误信息;
步骤130,通过校验模拟错误信息与BMC错误信息的一致性获取ErrorDetection功能测试结果。
可选地,作为本发明一个实施例,所述方法还包括:
控制测试服务器进入halt状态;
查看AEP识别检测信息并通过所述识别检测信息获取AEP在位情况;
对AEP进行Refresh操作。
可选地,作为本发明一个实施例,所述利用Intel XDP对AEP内存进行模拟注错并获取模拟错误信息包括:
获取AEP memory mode模式;
根据memory mode模式对AEP报错引发参数进行设置;
获取AEP内存报错信息数量;
设置AEP内存的错误模拟位置;
控制测试服务器进入正常运行状态。
可选地,作为本发明一个实施例,所述通过校验模拟错误信息与BMC错误信息的一致性获取Error Detection功能测试结果包括:
判断模拟错误信息与BMC错误信息是否一致:
是,则判定AEP内存Error Detection功能正常;
否,则判定AEP内存Error Detection功能异常。
为了便于对本发明的理解,下面以本发明AEP内存Error Detection功能测试方法的原理,结合实施例中对AEP内存Error Detection功能进行测试的过程,对本发明提供的AEP内存Error Detection功能测试方法做进一步的描述。
具体的,所述AEP内存Error Detection功能测试方法包括:
S1、利用Intel XDP对所述AEP内存进行模拟注错并获取模拟错误信息。
首先链接Intel XDP支具,在客户端打开XDP工具链接上测试机台对应的平台。打开Intel的测试脚本工具(测试机台的环境是可以在OS下或UEFIshell下或BIOS setup下等)。在控制端中的工具里执行halt命令,让测试机台halt:>>halt。执行以下命令,查看AEP识别检测的信息:>>nvd.set_access(‘ddrt’);>>nvd.dimminfo()。执行以下命令,进行AEP的Refresh(恢复工作):>>nvd.refresh()。到此,完成测试之前的准备工作。
以下为具体注错方法。
(1)执行以下命令,在识别的所有AEP内存中随机选定一个AEP内存进行注错:
>>nvd.show_DCPMM_DIMM_list()
>>nvd.select_sxp_controller(0)
(2)执行以下命令,进行确认检测的AEP memory mode是为1LM还是2LM:
>>nvd.get_dimm_partition_info()
1LM显示为:DIMM volatile memory(2LM)capacity:Disabled//这里是disabled
2LM显示为:DIMM volatile memory(2LM)capacity:126.00GiByte//这里是有参数的。
(3)执行以下命令,判断AEP内存各项地址参数是否有效,如果无效转换结果会报错
>>mc.addTran()
AEP内存识别到的为1LM模式时,Selection选择的如下:
Selection:1//(Translate Address)
Selection:2//(Crystal Ridge)
Selection:2//(Not Cached)
Selection:2//(Rank address)
Selection:4//(System address)
Enter the Socket(0n0-0n7):0//cpu
Enter the Imc#(0n0-0n1):0//IMC
Enter the Physical Channel#(0n0-0n2):0//channel
Enter the Logical Rank#(0n0-0n7):4//rank固定为4
Enter the Rank Address(0x0-0x3fffffffff):0x90000000//12根AEP内存固定为0x90000000
回车后结果参考如下:
Chip Select=4
Dimm=1
Rank=0
DDR4Channel Address=0×000890000000(~34.25GB)
System Address=0×000900000000(~36.00GB)
AEP内存识别到的为2LM模式时,Selection选择的如下:
Selection:1//(Translate Address)
Selection:2//(Crystal Ridge)
Selection:1//(Cached in NM)
Selection:2//(Rank address)
Selection:4//(System address)
上述地址的选择结果如下:
Enter the Socket(0n0-0n7):0//cpu
Enter the Imc#(0n0-0n1):0//IMC
Enter the Physical Channel#(0n0-0n2):0//channel
Enter the Logical Rank#(0n0-0n7):4//rank固定为4
Enter the Rank Address(0x0-0x3fffffffff):0x90000000//12根AEP内存固定为0x90000000
(4)执行以下命令,检查AEP条子当前错误数量信息等:
>>nvd.ErrorLog(0,0,1)//AEP内存的socket、channel、Dimm
(5)执行以下命令再次确认AEP内存的memory mode模式:
>>nvd.iMC_DDRT_Alert_Event_log()
>>itp.cv.smmentrybreak=1(可选,有SMI产生时候cscript会自动停止)
(6)执行以下命令,配置AEP内存的DPA值:
1LM:
>>nvd.set_poison_bit(enable=1,mem_mode=2,DPA=0x90000000)
>>go()
2LM:
>>nvd.set_poison_bit(enable=1,mem_mode=1,DPA=0x90000000)
>>go()
(7)设置具体错误位置参数
ei.readCacheFromDCPMM(socket=0,channel=0,dimm=1,rank=0,rank_addr=0x90000000),注意与selectcontroller AEPDIMM的位置对应。
在客户端中的脚本里执行命令:go();使之测试机台的不在进行halt(暂停),可以正常运行使用的状态。
S2、查看BMC中的AEP错误信息。
链接上BMC web,查看sel中是否出现对应的AEP内存插槽不可修正log,进而获取AEP内存的BMC错误信息。
S3、通过校验模拟错误信息与BMC错误信息的一致性获取Error Detection功能测试结果。
判断预设模拟错误信息与BMC错误信息是否一致,若一致则判定AEP内存ErrorDetection功能正常;若不一致,则判定AEP内存Error Detection功能异常。
测试完成后需要给已注错位置的AEP内存进行stop操作,命令如下:
1LM:
>>nvd.set_poison_bit(enable=0,mem_mode=2,DPA=0x90000000)
>>go()
2LM:
>>nvd.set_poison_bit(enable=0,mem_mode=1,DPA=0x90000000)
>>go()
如图2示,该系统200包括:
错误注入单元210,所述错误注入单元210用于利用Intel XDP对所述AEP内存进行模拟注错并获取模拟错误信息;
错误查看单元220,所述错误查看单元220用于查看BMC中的AEP错误信息;
结果获取单元230,所述结果获取单元230用于通过校验模拟错误信息与BMC错误信息的一致性获取Error Detection功能测试结果。
可选地,作为本发明一个实施例,系统还包括:
暂停切换模块,配置用于控制测试服务器进入halt状态;
信息查看模块,配置用于查看AEP识别检测信息并通过所述识别检测信息获取AEP在位情况;
内存唤醒模块,配置用于对AEP进行Refresh操作。
可选地,作为本发明一个实施例,错误注入单元包括:
模式获取模块,配置用于获取AEP memory mode模式;
报错设置模块,配置用于根据memory mode模式对AEP报错引发参数进行设置;
数量获取模块,配置用于获取AEP内存报错信息数量;
位置设置模块,配置用于设置AEP内存的错误模拟位置;
状态切换模块,配置用于控制测试服务器进入正常运行状态。
可选地,作为本发明一个实施例,结果获取单元包括:
一致判断模块,配置用于判断模拟错误信息与BMC错误信息是否一致;
正常判定模块,配置用于判定AEP内存Error Detection功能正常;
异常判定模块,配置用于判定AEP内存Error Detection功能异常。
图3为本发明实施例提供的一种终端系统300的结构示意图,该终端系统300可以用于执行本发明实施例提供的AEP内存Error Detection功能测试方法。
其中,该终端系统300可以包括:处理器310、存储器320及通信单元330。这些组件通过一条或多条总线进行通信,本领域技术人员可以理解,图中示出的服务器的结构并不构成对本发明的限定,它既可以是总线形结构,也可以是星型结构,还可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件布置。
其中,该存储器320可以用于存储处理器310的执行指令,存储器320可以由任何类型的易失性或非易失性存储终端或者它们的组合实现,如静态随机存取存储器(SRAM),电可擦除可编程只读存储器(EEPROM),可擦除可编程只读存储器(EPROM),可编程只读存储器(PROM),只读存储器(ROM),磁存储器,快闪存储器,磁盘或光盘。当存储器320中的执行指令由处理器310执行时,使得终端300能够执行以下上述方法实施例中的部分或全部步骤。
处理器310为存储终端的控制中心,利用各种接口和线路连接整个电子终端的各个部分,通过运行或执行存储在存储器320内的软件程序和/或模块,以及调用存储在存储器内的数据,以执行电子终端的各种功能和/或处理数据。所述处理器可以由集成电路(Integrated Circuit,简称IC)组成,例如可以由单颗封装的IC所组成,也可以由连接多颗相同功能或不同功能的封装IC而组成。举例来说,处理器310可以仅包括中央处理器(Central Processing Unit,简称CPU)。在本发明实施方式中,CPU可以是单运算核心,也可以包括多运算核心。
通信单元330,用于建立通信信道,从而使所述存储终端可以与其它终端进行通信。接收其他终端发送的用户数据或者向其他终端发送用户数据。
本发明还提供一种计算机存储介质,其中,该计算机存储介质可存储有程序,该程序执行时可包括本发明提供的各实施例中的部分或全部步骤。所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(英文:read-only memory,简称:ROM)或随机存储记忆体(英文:random access memory,简称:RAM)等。
因此,本发明通过利用Intel XDP对AEP内存进行模拟注错并获取模拟错误信息,注错成功后查看测试服务器BMC中的AEP错误信息,从模拟错误信息和BMC错误信息的一致性验证信息中即可获取Error Detection功能测试结果。本发明能够自动对AEP内存的Error Detection功能进行测试,测试严谨性符合市场要求,且测试方法简单,测试效率高,不依赖人工操作,省时省力,本实施例所能达到的技术效果可以参见上文中的描述,此处不再赘述。
本领域的技术人员可以清楚地了解到本发明实施例中的技术可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解,本发明实施例中的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中如U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质,包括若干指令用以使得一台计算机终端(可以是个人计算机,服务器,或者第二终端、网络终端等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。
本说明书中各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。尤其,对于终端实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例中的说明即可。
在本发明所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统、系统和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的系统实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,系统或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
尽管通过参考附图并结合优选实施例的方式对本发明进行了详细描述,但本发明并不限于此。在不脱离本发明的精神和实质的前提下,本领域普通技术人员可以对本发明的实施例进行各种等效的修改或替换,而这些修改或替换都应在本发明的涵盖范围内/任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种AEP内存Error Detection功能测试方法,其特征在于,包括:
利用Intel XDP对所述AEP内存进行模拟注错并获取模拟错误信息;
查看BMC中的AEP错误信息;
通过校验模拟错误信息与BMC错误信息的一致性获取Error Detection功能测试结果。
2.根据权利要求1所述的AEP内存Error Detection功能测试方法,其特征在于,所述方法还包括:
控制测试服务器进入halt状态;
查看AEP识别检测信息并通过所述识别检测信息获取AEP在位情况;
对AEP进行Refresh操作。
3.根据权利要求1所述的AEP内存Error Detection功能测试方法,其特征在于,所述利用Intel XDP对AEP内存进行模拟注错并获取模拟错误信息包括:
获取AEP memory mode模式;
根据memory mode模式对AEP报错引发参数进行设置;
获取AEP内存报错信息数量;
设置AEP内存的错误模拟位置;
控制测试服务器进入正常运行状态。
4.根据权利要求1所述的AEP内存Error Detection功能测试方法,其特征在于,所述通过校验模拟错误信息与BMC错误信息的一致性获取Error Detection功能测试结果包括:
判断模拟错误信息与BMC错误信息是否一致:
是,则判定AEP内存Error Detection功能正常;
否,则判定AEP内存Error Detection功能异常。
5.一种AEP内存Error Detection功能测试系统,其特征在于,包括:
错误注入单元,配置用于利用Intel XDP对所述AEP内存进行模拟注错并获取模拟错误信息;
错误查看单元,配置用于查看BMC中的AEP错误信息;
结果获取单元,配置用于通过校验模拟错误信息与BMC错误信息的一致性获取ErrorDetection功能测试结果。
6.根据权利要求5所述的AEP内存Error Detection功能测试系统,其特征在于,所述系统还包括:
暂停切换模块,配置用于控制测试服务器进入halt状态;
信息查看模块,配置用于查看AEP识别检测信息并通过所述识别检测信息获取AEP在位情况;
内存唤醒模块,配置用于对AEP进行Refresh操作。
7.根据权利要求5所述的AEP内存Error Detection功能测试系统,其特征在于,所述错误注入单元包括:
模式获取模块,配置用于获取AEP memory mode模式;
报错设置模块,配置用于根据memory mode模式对AEP报错引发参数进行设置;
数量获取模块,配置用于获取AEP内存报错信息数量;
位置设置模块,配置用于设置AEP内存的错误模拟位置;
状态切换模块,配置用于控制测试服务器进入正常运行状态。
8.根据权利要求5所述的AEP内存Error Detection功能测试系统,其特征在于,所述结果获取单元包括:
一致判断模块,配置用于判断模拟错误信息与BMC错误信息是否一致;
正常判定模块,配置用于判定AEP内存Error Detection功能正常;
异常判定模块,配置用于判定AEP内存Error Detection功能异常。
9.一种终端,其特征在于,包括:
处理器;
用于存储处理器的执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为执行权利要求1-4任一项所述的方法。
10.一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-4中任一项所述的方法。
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