CN114003445B - Bmc的i2c监控功能测试方法、系统、终端及存储介质 - Google Patents

Bmc的i2c监控功能测试方法、系统、终端及存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种BMC的I2C监控功能测试方法、系统、终端及存储介质,包括:查询I2C总线的寄存器地址,并根据寄存器地址读取寄存器的时钟值;通过修改时钟值模拟I2C总线异常;监控基板管理控制器的是否在I2C总线异常状态下同步生成告警日志,若是,则判定测试通过。本发明可快速准确模拟I2C通道连通性异常及恢复的情况,有利于提高测试效率,减少资源浪费,有利于提高产品质量,符合公司利益及客户期望。

Description

BMC的I2C监控功能测试方法、系统、终端及存储介质
技术领域
本发明涉及服务器测试技术领域,具体涉及一种BMC的I2C监控功能测试方法、系统、终端及存储介质。
背景技术
在IPMI管理平台中,BMC(Baseboard Management Controller,因为多集成于主板而得名)是核心控制器,系统管理软件对各个被管理器件的管理,都是通过与BMC通信来实现的。BMC与主处理器和板上各元件相连接,监控并且在一定程度上管理各物理组件的状态。
I2C总线是服务器BMC嵌入式系统中最为常用的串行总线,BMC对其他硬件设备监控功能很多都是通过I2C通信实现的,I2C协议的优点是兼容性好,管脚占用少,芯片实现简单,但实际使用过程中问题也很多,最为常见的就是I2C总线挂死,如果当出现I2C总线连通性异常的情况,BMC要及时监控并详细记录对应I2C通道异常的告警日志,便于及时发现和解决问题。
目前关于BMC监控所有I2C通道连通性的测试,主要是通过在服务器主板上飞线的方法进行模拟触发I2C通道连通性异常。该方法需要硬件设计工程师对服务器主板上所有I2C通道进行焊线处理。该方法不仅工作量大,效率低,而且测试过程中容易出现抖动,造成误报现象,使得测试准确性变差,且飞线后的主板大概率不能继续使用,造成资源浪费。
发明内容
针对现有技术的上述不足,本发明提供一种BMC的I2C监控功能测试方法、系统、终端及存储介质,以解决上述技术问题。
第一方面,本发明提供一种BMC的I2C监控功能测试方法,包括:
查询I2C总线的寄存器地址,并根据寄存器地址读取寄存器的时钟值;
通过修改时钟值模拟I2C总线异常;
监控基板管理控制器的是否在I2C总线异常状态下同步生成告警日志,若是,则判定测试通过。
进一步的,查询I2C总线的寄存器地址,并根据寄存器地址读取寄存器的时钟值,包括:
根据I2C总线的配置文件查询I2C总线的寄存器地址;
远程登录基板管理控制器,通过基板管理控制器根据寄存器地址从寄存器读取时钟值;
判断时钟值是否为正常值,若否,则生成报错提示并终止测试。
进一步的,通过修改时钟值模拟I2C总线异常,包括:
将时钟值的比特位下的正常值修改为异常值;
修改完成后将本次异常模拟操作和相应的修改时间写入测试日志。
进一步的,监控基板管理控制器的是否在I2C总线异常状态下同步生成告警日志,若是,则判定测试通过,包括:
设置基板管理控制器的告警信息存储地址为测试日志的地址,以使基板管理控制器将生成的告警信息写入测试日志;
提取测试日志中的异常模拟操作的修改时间,根据修改时间和设定的误差范围生成告警时间范围;
判断测试日志中是否存在告警时间范围内的告警信息,若存在则判定测试通过。
进一步的,方法还包括:
将时钟值的比特位下的异常值恢复为正常值;
修改完成后将本次异常恢复操作和相应的修改时间写入测试日志;
提取测试日志中的异常恢复操作的修改时间,根据异常恢复操作的修改时间和设定的误差范围生成告警恢复时间范围;
判断在告警恢复时间范围内,测试日志中的告警信息是否消失,若告警信息消失则判定测试通过。
第二方面,本发明提供一种BMC的I2C监控功能测试系统,包括:
地址查询单元,用于查询I2C总线的寄存器地址,并根据寄存器地址读取寄存器的时钟值;
异常模拟单元,用于通过修改时钟值模拟I2C总线异常;
告警监控单元,用于监控基板管理控制器的是否在I2C总线异常状态下同步生成告警日志,若是,则判定测试通过。
进一步的,地址查询单元用于:
根据I2C总线的配置文件查询I2C总线的寄存器地址;
远程登录基板管理控制器,通过基板管理控制器根据寄存器地址从寄存器读取时钟值;
判断时钟值是否为正常值,若否,则生成报错提示并终止测试。
进一步的,异常模拟单元用于:
将时钟值的比特位下的正常值修改为异常值;
修改完成后将本次异常模拟操作和相应的修改时间写入测试日志。
进一步的,告警监控单元用于:
设置基板管理控制器的告警信息存储地址为测试日志的地址,以使基板管理控制器将生成的告警信息写入测试日志;
提取测试日志中的异常模拟操作的修改时间,根据修改时间和设定的误差范围生成告警时间范围;
判断测试日志中是否存在告警时间范围内的告警信息,若存在则判定测试通过。
进一步的,系统还用于:
将时钟值的比特位下的异常值恢复为正常值;
修改完成后将本次异常恢复操作和相应的修改时间写入测试日志;
提取测试日志中的异常恢复操作的修改时间,根据异常恢复操作的修改时间和设定的误差范围生成告警恢复时间范围;
判断在告警恢复时间范围内,测试日志中的告警信息是否消失,若告警信息消失则判定测试通过。
第三方面,提供一种终端,包括:
处理器、存储器,其中,
该存储器用于存储计算机程序,
该处理器用于从存储器中调用并运行该计算机程序,使得终端执行上述的终端的方法。
第四方面,提供了一种计算机存储介质,计算机可读存储介质中存储有指令,当其在计算机上运行时,使得计算机执行上述各方面的方法。
本发明的有益效果在于,本发明提供的BMC的I2C监控功能测试方法、系统、终端及存储介质,通过查询I2C总线的寄存器地址,并根据寄存器地址读取寄存器的时钟值,然后通过修改时钟值模拟I2C总线异常,与此同时,监控基板管理控制器的是否在I2C总线异常状态下同步生成告警日志,如果BMC同步生成告警日志则判定测试通过。本发明可快速准确模拟I2C通道连通性异常及恢复的情况,有利于提高测试效率,减少资源浪费,有利于提高产品质量,符合公司利益及客户期望。
此外,本发明设计原理可靠,结构简单,具有非常广泛的应用前景。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明一个实施例的方法的示意性流程图。
图2是本发明一个实施例的方法的另一示意性流程图。
图3是本发明一个实施例的系统的示意性框图。
图4为本发明实施例提供的一种终端的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本发明保护的范围。
下面对本发明中出现的关键术语进行解释。
BMC,执行伺服器远端管理控制器,英文全称为Baseboard ManagementController.为基板管理控制器。它可以在机器未开机的状态下,对机器进行固件升级、查看机器设备、等一些操作。在BMC中完全实现IPMI功能需要一个功能强大的16位元或32位元微控制器以及用于数据储存的RAM、用于非挥发性数据储存的快闪记忆体和韧体,在安全远程重启、安全重新上电、LAN警告和系统健康监视方面能提供基本的远程可管理性。除了基本的IPMI功能和系统工作监视功能外,通过利用2个快闪记忆体之一储存以前的BIOS,mBMC还能实现BIOS快速元件的选择和保护。例如,在远程BIOS升级後系统不能启动时,远程管理人员可以切换回以前工作的BIOS映像来启动系统。一旦BIOS升级後,BIOS映像还能被锁住,可有效防止病毒对它的侵害。
I2C总线是由Philips公司开发的一种简单、双向二线制同步串行总线。它只需要两根线即可在连接于总线上的器件之间传送信息。主器件用于启动总线传送数据,并产生时钟以开放传送的器件,此时任何被寻址的器件均被认为是从器件.在总线上主和从、发和收的关系不是恒定的,而取决于此时数据传送方向。如果主机要发送数据给从器件,则主机首先寻址从器件,然后主动发送数据至从器件,最后由主机终止数据传送;如果主机要接收从器件的数据,首先由主器件寻址从器件.然后主机接收从器件发送的数据,最后由主机终止接收过程。在这种情况下.主机负责产生定时时钟和终止数据传送。
CPU中央处理器(central processing unit,简称CPU)作为计算机系统的运算和控制核心,是信息处理、程序运行的最终执行单元。
鉴于现有技术是通过在服务器主板上飞线的方法进行模拟触发I2C通道连通性异常的情况。该方法需要协调资源,工作量大,效率低,测试过程中容易出现抖动,造成误报现象,且飞线后的主板大概率不能继续使用,造成资源浪费。
为了解决通过在服务器主板上飞线的方法进行模拟I2C通道连通性异常的测试方法效率低、准确性差及资源浪费的问题。
图1是本发明一个实施例的方法的示意性流程图。其中,图1执行主体可以为一种BMC的I2C监控功能测试系统。
如图1所示,该方法包括:
步骤110,查询I2C总线的寄存器地址,并根据寄存器地址读取寄存器的时钟值;
步骤120,通过修改时钟值模拟I2C总线异常;
步骤130,监控基板管理控制器的是否在I2C总线异常状态下同步生成告警日志,若是,则判定测试通过。
本发明是通过修改寄存器的方式模拟I2C通道连通性异常的情况。根据SPEC定义查询对应I2C寄存器的地址,并查看该I2C通道对应bit位是否表示I2C的Clock功能,如果对应bit=1,则表示I2C的Clock功能,如果对应bit位为0,则表示不是I2C的Clock功能。然后SSH登陆BMC执行devmem命令,读出对应寄存器地址的值,如果该bit位为1,则表示I2C功能正常,如果该bit位为0,则表示I2C功能异常。因此,可以通过修改寄存器的值的方式,把对应通道表示I2C的Clock功能的bit位置为0,模拟I2C通道连通性异常的情况,把对应通道表示I2C的Clock功能的bit位置为1,模拟恢复I2C通道连通性的情况。
为了便于对本发明的理解,下面以本发明BMC的I2C监控功能测试方法的原理,结合实施例中对BMC的I2C监控功能进行测试的过程,对本发明提供的BMC的I2C监控功能测试方法做进一步的描述。
本实施例根据SPEC定义查询对应I2C寄存器的地址,然后SSH登陆BMC执行“devmemxxxx 32”命令,读出对应寄存器地址的值,通过设置相应的bit位,修改寄存器的值,来模拟对应I2C通道连通性异常及恢复的情况。具体的,请参考图2,BMC的I2C监控功能测试方法包括:
S1、查询I2C总线的寄存器地址,并根据寄存器地址读取寄存器的时钟值。
根据I2C总线的配置文件查询I2C总线的寄存器地址;远程登录基板管理控制器,通过基板管理控制器根据寄存器地址从寄存器读取时钟值;判断时钟值是否为正常值,若否,则生成报错提示并终止测试。
例如,根据SPEC定义查询SCL1对应SCUA4[12]=1,则表示SCL1为I2C的Clock功能,若SCUA4[12]=0,则表示SCL1不是I2C的Clock功能,并查询出SCUA4寄存器的地址为:0x1e6e20a4。SSH登录BMC,执行:"devmem 0x1e6e20a4 32"读出SCUA4的值为0x0000F000(可以看到SCUA4 bit12为1)。
S2、通过修改时钟值模拟I2C总线异常。
将时钟值的比特位下的正常值修改为异常值;修改完成后将本次异常模拟操作和相应的修改时间写入测试日志。
模拟I2C连通性异常,只需要把SCUA4 bit12设置为0,执行下面三条语句即可:
devmem 0x1e6e2000 32 0x1688A8A8;//本条语句相当于解锁寄存器设定;
devmem 0x1e6e20a4 32 0xE000;//本条语句是设定寄存器,将bit12置为0;
devmem 0x1e6e2000 32 0x00//本条语句相当于锁住寄存器设定。
S3、监控基板管理控制器的是否在I2C总线异常状态下同步生成告警日志,若是,则判定测试通过。
设置基板管理控制器的告警信息存储地址为测试日志的地址,以使基板管理控制器将生成的告警信息写入测试日志;提取测试日志中的异常模拟操作的修改时间,根据修改时间和设定的误差范围生成告警时间范围;判断测试日志中是否存在告警时间范围内的告警信息,若存在则判定测试通过。
S4、模拟I2C总线异常恢复。
恢复I2C连通性,只需要把SCUA4 bit12设置为1,执行下面三条语句即可:
devmem 0x1e6e2000 32 0x1688A8A8;//本条语句相当于解锁寄存器设定;
devmem 0x1e6e20a4 32 0xF000;//本条语句是设定寄存器,将bit12置为1;
devmem 0x1e6e2000 32 0x00//本条语句相当于锁住寄存器设定。
具体的,将时钟值的比特位下的异常值恢复为正常值;修改完成后将本次异常恢复操作和相应的修改时间写入测试日志;提取测试日志中的异常恢复操作的修改时间,根据异常恢复操作的修改时间和设定的误差范围生成告警恢复时间范围;判断在告警恢复时间范围内,测试日志中的告警信息是否消失,即该时间段内没有出现告警信息,若告警信息消失则判定测试通过。
如图3所示,该系统300包括:
地址查询单元310,用于查询I2C总线的寄存器地址,并根据寄存器地址读取寄存器的时钟值;
异常模拟单元320,用于通过修改时钟值模拟I2C总线异常;
告警监控单元330,用于监控基板管理控制器的是否在I2C总线异常状态下同步生成告警日志,若是,则判定测试通过。
可选地,作为本发明一个实施例,地址查询单元用于:
根据I2C总线的配置文件查询I2C总线的寄存器地址;
远程登录基板管理控制器,通过基板管理控制器根据寄存器地址从寄存器读取时钟值;
判断时钟值是否为正常值,若否,则生成报错提示并终止测试。
可选地,作为本发明一个实施例,异常模拟单元用于:
将时钟值的比特位下的正常值修改为异常值;
修改完成后将本次异常模拟操作和相应的修改时间写入测试日志。
可选地,作为本发明一个实施例,告警监控单元用于:
设置基板管理控制器的告警信息存储地址为测试日志的地址,以使基板管理控制器将生成的告警信息写入测试日志;
提取测试日志中的异常模拟操作的修改时间,根据修改时间和设定的误差范围生成告警时间范围;
判断测试日志中是否存在告警时间范围内的告警信息,若存在则判定测试通过。
可选地,作为本发明一个实施例,系统还用于:
将时钟值的比特位下的异常值恢复为正常值;
修改完成后将本次异常恢复操作和相应的修改时间写入测试日志;
提取测试日志中的异常恢复操作的修改时间,根据异常恢复操作的修改时间和设定的误差范围生成告警恢复时间范围;
判断在告警恢复时间范围内,测试日志中的告警信息是否消失,若告警信息消失则判定测试通过。
图4为本发明实施例提供的一种终端400的结构示意图,该终端400可以用于执行本发明实施例提供的BMC的I2C监控功能测试方法。
其中,该终端400可以包括:处理器410、存储器420及通信单元430。这些组件通过一条或多条总线进行通信,本领域技术人员可以理解,图中示出的服务器的结构并不构成对本发明的限定,它既可以是总线形结构,也可以是星型结构,还可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件布置。
其中,该存储器420可以用于存储处理器410的执行指令,存储器420可以由任何类型的易失性或非易失性存储终端或者它们的组合实现,如静态随机存取存储器(SRAM),电可擦除可编程只读存储器(EEPROM),可擦除可编程只读存储器(EPROM),可编程只读存储器(PROM),只读存储器(ROM),磁存储器,快闪存储器,磁盘或光盘。当存储器420中的执行指令由处理器410执行时,使得终端400能够执行以下上述方法实施例中的部分或全部步骤。
处理器410为存储终端的控制中心,利用各种接口和线路连接整个电子终端的各个部分,通过运行或执行存储在存储器420内的软件程序和/或模块,以及调用存储在存储器内的数据,以执行电子终端的各种功能和/或处理数据。所述处理器可以由集成电路(Integrated Circuit,简称IC)组成,例如可以由单颗封装的IC所组成,也可以由连接多颗相同功能或不同功能的封装IC而组成。举例来说,处理器410可以仅包括中央处理器(Central Processing Unit,简称CPU)。在本发明实施方式中,CPU可以是单运算核心,也可以包括多运算核心。
通信单元430,用于建立通信信道,从而使所述存储终端可以与其它终端进行通信。接收其他终端发送的用户数据或者向其他终端发送用户数据。
本发明还提供一种计算机存储介质,其中,该计算机存储介质可存储有程序,该程序执行时可包括本发明提供的各实施例中的部分或全部步骤。所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(英文:read-only memory,简称:ROM)或随机存储记忆体(英文:random access memory,简称:RAM)等。
因此,本发明通过查询I2C总线的寄存器地址,并根据寄存器地址读取寄存器的时钟值,然后通过修改时钟值模拟I2C总线异常,与此同时,监控基板管理控制器的是否在I2C总线异常状态下同步生成告警日志,如果BMC同步生成告警日志则判定测试通过。本发明可快速准确模拟I2C通道连通性异常及恢复的情况,有利于提高测试效率,减少资源浪费,有利于提高产品质量,符合公司利益及客户期望。,本实施例所能达到的技术效果可以参见上文中的描述,此处不再赘述。
本领域的技术人员可以清楚地了解到本发明实施例中的技术可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解,本发明实施例中的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中如U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质,包括若干指令用以使得一台计算机终端(可以是个人计算机,服务器,或者第二终端、网络终端等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。
本说明书中各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。尤其,对于终端实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例中的说明即可。
在本发明所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的系统实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,系统或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
尽管通过参考附图并结合优选实施例的方式对本发明进行了详细描述,但本发明并不限于此。在不脱离本发明的精神和实质的前提下,本领域普通技术人员可以对本发明的实施例进行各种等效的修改或替换,而这些修改或替换都应在本发明的涵盖范围内/任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (8)

1.一种BMC的I2C监控功能测试方法,其特征在于,包括:
查询I2C总线的寄存器地址,并根据寄存器地址读取寄存器的时钟值;
通过修改时钟值模拟I2C总线异常;
监控基板管理控制器的是否在I2C总线异常状态下同步生成告警日志,若是,则判定测试通过;
查询I2C总线的寄存器地址,并根据寄存器地址读取寄存器的时钟值,包括:
根据I2C总线的配置文件查询I2C总线的寄存器地址;
远程登录基板管理控制器,通过基板管理控制器根据所述寄存器地址从寄存器读取时钟值;
判断所述时钟值是否为正常值,若否,则生成报错提示并终止测试。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过修改时钟值模拟I2C总线异常,包括:
将时钟值的比特位下的正常值修改为异常值;
修改完成后将本次异常模拟操作和相应的修改时间写入测试日志。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,监控基板管理控制器的是否在I2C总线异常状态下同步生成告警日志,若是,则判定测试通过,包括:
设置基板管理控制器的告警信息存储地址为测试日志的地址,以使基板管理控制器将生成的告警信息写入所述测试日志;
提取测试日志中的异常模拟操作的修改时间,根据所述修改时间和设定的误差范围生成告警时间范围;
判断所述测试日志中是否存在所述告警时间范围内的告警信息,若存在则判定测试通过。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
将时钟值的比特位下的异常值恢复为正常值;
修改完成后将本次异常恢复操作和相应的修改时间写入测试日志;
提取测试日志中的异常恢复操作的修改时间,根据异常恢复操作的修改时间和设定的误差范围生成告警恢复时间范围;
判断在所述告警恢复时间范围内,所述测试日志中的告警信息是否消失,若告警信息消失则判定测试通过。
5.一种BMC的I2C监控功能测试系统,其特征在于,包括:
地址查询单元,用于查询I2C总线的寄存器地址,并根据寄存器地址读取寄存器的时钟值;
异常模拟单元,用于通过修改时钟值模拟I2C总线异常;
告警监控单元,用于监控基板管理控制器的是否在I2C总线异常状态下同步生成告警日志,若是,则判定测试通过;
所述地址查询单元用于:
根据I2C总线的配置文件查询I2C总线的寄存器地址;
远程登录基板管理控制器,通过基板管理控制器根据所述寄存器地址从寄存器读取时钟值;
判断所述时钟值是否为正常值,若否,则生成报错提示并终止测试。
6.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,所述异常模拟单元用于:
将时钟值的比特位下的正常值修改为异常值;
修改完成后将本次异常模拟操作和相应的修改时间写入测试日志。
7.一种终端,其特征在于,包括:
处理器;
用于存储处理器的执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为执行权利要求1-4任一项所述的方法。
8.一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-4中任一项所述的方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN115658409B (zh) * 2022-11-11 2023-03-14 苏州浪潮智能科技有限公司 一种异常检测方法、装置、主机设备、系统及存储介质
CN115599617B (zh) * 2022-12-01 2023-07-21 苏州浪潮智能科技有限公司 总线检测方法、装置、服务器及电子设备

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104572226A (zh) * 2015-02-04 2015-04-29 浪潮(北京)电子信息产业有限公司 一种侦测主板开机异常的方法和装置
CN108459984A (zh) * 2018-02-02 2018-08-28 郑州云海信息技术有限公司 一种机柜i2c总线死锁处理方法、系统、介质及设备
CN108777639A (zh) * 2018-05-30 2018-11-09 郑州云海信息技术有限公司 一种实现i2c总线数据监控与保护的设计方法
CN111881076A (zh) * 2020-06-29 2020-11-03 苏州浪潮智能科技有限公司 一种国产cpu和bbu通信的i2c总线挂死修复方法及装置
CN112306867A (zh) * 2020-10-26 2021-02-02 苏州浪潮智能科技有限公司 一种基于层序遍历自动检测系统i2c地址异常的方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104572226A (zh) * 2015-02-04 2015-04-29 浪潮(北京)电子信息产业有限公司 一种侦测主板开机异常的方法和装置
CN108459984A (zh) * 2018-02-02 2018-08-28 郑州云海信息技术有限公司 一种机柜i2c总线死锁处理方法、系统、介质及设备
CN108777639A (zh) * 2018-05-30 2018-11-09 郑州云海信息技术有限公司 一种实现i2c总线数据监控与保护的设计方法
CN111881076A (zh) * 2020-06-29 2020-11-03 苏州浪潮智能科技有限公司 一种国产cpu和bbu通信的i2c总线挂死修复方法及装置
CN112306867A (zh) * 2020-10-26 2021-02-02 苏州浪潮智能科技有限公司 一种基于层序遍历自动检测系统i2c地址异常的方法

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