CN109883467A - 多输入自调节检测器及多输入自调节检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种多输入自调节检测器,包含多个感测器、运算器、后端处理装置及系统资料库。多个感测器用于分别感测待测物的各感测物理量。运算器电性连接感测器且用以比对并判断该些感测物理量是否与基准数据相符,以判断待测物的品质状态。后端处理装置电性连接运算器且用于执行关联于待测物的品质状态的动作。系统资料库电性连接运算器且储存有初始参考数据。系统资料库用于当待测物的品质状态符合标准时,将该些感测物理量纪录为新参考数据,且依据新参考数据及初始参考数据产生更新基准数据,并将更新基准数据传送至运算器以更新基准数据。
Description
技术领域
本发明是关于一种多输入自调节检测器及多输入自调节检测方法,特别是一种针对多种不同感测值进行统计的多输入自调节检测器及多输入自调节检测方法。
背景技术
一般来说,在生产各类的产品时,为了确保产品的品质,通常会使用检测设备以对产品进行检测/比对。检测设备通常包含各项的检测仪器,可针对产品的各项参数进行量测,以确认产品的品质状态是否有符合预期,例如使用电压感测器量测产品的电压参数或是使用电阻感测器量测产品的电阻参数等。
然而,这一类的检测仪器均是产生单一功能的量测数据,因此若要量测得产品的所有数据,将会耗费大量时间且仅能做单一功能的比对。再者,这些通过量测而得到的各项数据还需要经过逐步的确认/分析,才可判断其品质状态,其过程既繁琐且复杂。
发明内容
本发明提出一种多输入自调节检测器及多输入自调节检测方法,整合待测物的多种物理量以进行收敛判定,藉此提高待测物的品质/良率。
依据本发明的一实施例揭露一种多输入自调节检测器,适于一待测物。所述的多输入自调节检测器包含多个感测器、运算器、后端处理装置及系统资料库。每个感测器用于感测待测物的一种感测物理量。运算器电性连接该些感测器且用以比对并判断该些种感测物理量是否与基准数据相符,以判断待测物的品质状态。后端处理装置电性连接运算器且用于执行关联于待测物的品质状态的动作。系统资料库电性连接运算器且储存有初始参考数据。系统资料库用于当待测物的品质状态符合标准时,将该些种感测物理量纪录为新参考数据,且依据新参考数据及初始参考数据产生更新基准数据,并将更新基准数据传送至运算器以更新基准数据。其中所述的基准数据是依据初始参考数据的至少一部份所产生。
综上所述,于本发明所提出的多输入自调节检测器及多输入自调节检测方法中,主要藉由多种感测器量测待测物的多种物理量,且将该些种物理量与基准数据比对以判断待测物的品质状态。且进一步透过系统资料库将该些种物理量整合至初始参考数据以形成更新基准数据,并且回传该更新基准数据以对原本的基准数据进行更新。藉此,可达到藉由整合待测物的多种物理量进行收敛判定,以提高待测物的品质/良率的目的,更可以藉由适时地回传更新的基准数据,进一步地提升判断品质状态的精准度。
以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述,但不作为对本发明的限定。
附图说明
图1是依据本发明的一实施例所绘示的多输入自调节检测器的功能方块图。
图2A~2E是依据本发明的一实施例所绘示的用于产生基准数据的参考数据所包含的各种感测物理量的分布示意图。
图3A是依据本发明的一实施例所绘示的初始参考数据所包含的感测物理量的分布示意图。
图3B是依据本发明的一实施例所绘示的更新基准数据所包含的感测物理量的分布示意图。
图4是依据本发明的另一实施例所绘示的多输入自调节检测器的功能方块图。
图5是依据本发明的一实施例所绘示的多输入自调节检测方法的方法流程图。
图6是依据本发明的另一实施例所绘示的多输入自调节检测方法的方法流程图。
其中,附图标记
1 多输入自调节检测器
10~14 感测器
20 运算器
30 后端处理装置
40 系统资料库
50 切换开关
60 显示平台
2 待测物
D1~D5 数据信号
ID、ID’、ID1~ID4 数据
RNG、RNG’、RNG1~RNG5 良品范围
S、S’、S1~S5 中心值
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明技术方案进行详细的描述,以更进一步了解本发明的目的、方案及功效,但并非作为本发明所附权利要求保护范围的限制。
请参照图1,图1是依据本发明的一实施例所绘示的多输入自调节检测器的功能方块图。如图1所示,多输入自调节检测器1适用于待测物2。多输入自调节检测器1包含多个感测器10~14、运算器20、后端处理装置30及系统资料库40。各个感测器10~14用于分别感测待测物2的一种感测物理量。于实务上,感测器10~14的类型及所感测的物理量的种类可以为不同。举例来说,感测器10~14可分别为电压感测器、电流感测器、温度感测器、阻抗感测器、影像感测器。感测器10可感测得待测物2的电压值、感测器11可感测得待测物2的电流值、感测器12可感测得待测物2的温度值、感测器10可感测得待测物2的色差值。图1实施例所示的感测器的类型及数量仅用于举例说明,本发明不以此为限。
运算器20电性连接于所述的多个感测器10~14。当前述的多个感测器10~14取得对应的感测物理量后,便可将包含该些感测物理量的数据信号D1~D5传送至运算器20,使得运算器20可比对并判断该些种感测物理量是否与一基准数据相符(即是否落入此基准数据所界定的数值范围中),从而判断待测物2的品质状态。于一个例子中,所述的基准数据于各种感测物理量的类型分别界定有一范围,当该些种感测物理量均落于各自对应的范围时,则运算器20判断待测物2属于良品。反之,当该些种感测物理量其中任一个未落于其对应的范围时,则运算器20判断待测物2属于不良品。
后端处理装置30电性连接运算器20,后端处理装置30用于执行关联于待测物2的品质状态的动作。以一个例子来说,后端处理装置30可以为一个显示器,其用于显示待测物2的品质状态,例如显示良品/不良品等资讯。于另一个例子中,后端处理装置30为一个输送装置,其用于依据待测物2的品质状态将待测物2输送至一个指定位置。例如,当待测物2被判定为不良品时,后端处理装置30可将其分类并派送至生产线上的一重测区进行重新量测,亦或是将其派送至生产线上的一汰换区,直接将被判定为不良品的待测物2汰除。
系统资料库40电性连接于运算器20且储存有初始参考数据。系统资料库40用于当待测物2的品质状态符合标准时,将该些种感测物理量纪录为一个新参考数据。系统资料库40进一步地依据所述的新参考数据及初始参考数据产生一个更新基准数据,并将所述的更新基准数据传送至运算器20以更新原本的基准数据。于此实施例中,所述的基准数据是依据初始参考数据的至少一部分所产生的。具体来说,系统资料库40内存的初始参考数据包含预先检测所得的不同种感测物理量的多笔参考数据,例如199笔,而系统资料库40可自该199笔参考数据中撷取前100笔以产生所述的基准数据,以供运算器20对待测物2的品质状态进行判读。
请一并参照图1与图2A~2E,图2A~2E是依据本发明的一实施例所绘示的用于产生基准数据的参考数据所包含的各种感测物理量的分布示意图。如图2A~2E所示,用于产生基准数据的参考数据可包含电压数据ID1、电流数据ID2、温度数据ID3、阻抗数据ID4及色差数据ID5。于实务上,每组数据ID1~ID5各别包含多笔数据以条状分布图呈现,且搭配有对应的曲线。每组数据ID1~ID5各别具有中心值S1~S5,而每组数据ID1~ID5以个别的中心值S1~S5为基准于分布图上具有良品范围RNG1~RNG5。于一个例子中,良品范围的选取方式于具有曲线的条状分布图上,依据中心值为基准向左右二侧各别选取一范围,使得所选取的左右二侧的范围具有大致相等的面积(例如具有相同笔数)。藉此,即可产生在电压、电流、温度、阻抗及色差等多种物理量的良品范围,以做为前述的基准数据。于图2A~2E中,所述的中心值为众数。然而,于实务上,所述的中心值可为中位数或平均数,但本发明不以此为限。
当运算器20获取多个感测器10~14所量测的待测物2的各感测物理量的数据信号D1~D5时,运算器20亦从系统资料库40获取由前述电压数据ID1、电流数据ID2、温度数据ID3、阻抗数据ID4及色差数据ID5所产生的基准数据。运算器20进一步将数据信号D1~D5所包含的感测物理量分别对比于电压数据ID1、电流数据ID2、温度数据ID3、阻抗数据ID4及色差数据ID5的良品范围。于实际操作时,若是数据信号D1~D5所包含的感测物理量均落于对应的良品范围RNG1~RNG5内,则运算器20判断待测物2属于良品,亦即品质状态符合标准。反之,若是数据信号D1~D5所包含的感测物理量任一个未落于对应的良品范围RNG1~RNG5内,则运算器20判断待测物2属于不良品,亦即品质状态未符合标准。于此实施例中,当运算器20判断待测物2的品质状态符合标准时,运算器20会将该些种感测物理量纪录为一个新参考数据且将其传送至系统资料库40,从而使系统资料库40将该笔新参考数据加入初始参考数据中以形成一个更新基准数据回传至运算器对原本的基准数据进行更新。于一实施例中,当新参考数据及初始参考数据的总量累积达一预设值时,系统资料库40以所累积的该新参考数据与该初始参考数据产生该更新基准数据。
举例来说,系统资料库40可被设定为当每200、300、400、500等整数为所述预设值。当初始参考数据的笔数为399笔时,此时若是运算器20将一笔新参考数据传送至系统资料库40,则初始参考数据与所传送的该新参考数据的总量为400笔,其达到所述的预设值,系统资料库40便将新参考数据与初始参考数据合并而产生该更新基准数据。反之,当初始参考数据的笔数为465笔时,此时若是运算器20将一笔新参考数据传送至系统资料库40,则初始参考数据与所传送的该新参考数据的总量为466笔,并未达到所述的预设值。此时,系统资料库40便不会将初始参考数据及所传送的新参考数据合并产生更新基准数据。换言之,于此实施例中,仅有当新参考数据及初始参考数据的总量累积达到一定数目时,系统资料库40才会合并新参考数据与初始参考数据以产生该更新基准数据,以供基准数据的更新。其好处在于系统资料库40不需要每产生一笔新参考数据,便将其并入初始参考数据以产生该更新基准数据,从而可以减少/简化系统资料库40的运算过程。
于一实施例中,系统资料库40可依据新参考数据及初始参考数据计算在该些种感测物理量的每一种感测物理量的中心值,且依据每一种感测物理量的中心值计算对应的良品范围,接着再以每一种感测物理量的良品范围作为更新基准数据。举例来说,请进一步参照图3A,图3A是依据本发明的一实施例所绘示的初始参考数据ID所包含的感测物理量的分布示意图,而图3B是依据本发明的一实施例所绘示的更新基准数据所包含的感测物理量的分布示意图。如图3A所示,储存于系统资料库40的初始参考数据ID包含有以条状分布呈现的多笔感测物理量(例如为电压值),其具有中心值S以及以该中心值S为基准的良品范围RNG。而当系统资料库40将来自运算器20的一或多笔新参考数据加入初始参考数据ID形成后,便可透过运算产生如图3B所示的更新基准数据ID’,其同样以条状分布呈现。
比对图3A及图3B,可以得知图3A中原本的中心值S以及以该中心值S为基准的良品范围RNG转变为图3B的中心值S’以及以该中心值S’为基准的良品范围RNG’。换言之,当有新参考数据加入初始参考数据后,分布示意图的条状结构会改变,而中心值及其对应的良品范围亦可能随之改变,从而形成所述的更新基准数据。系统资料库40再进一步将所述的更新基准数据回传至运算器20,以对原本的基准数据进行更新。如此一来,可以适时地对运算器20所依据的基准数据进行更新,使得运算器20依据基准数据来判断待测物2的品质状态的准确度可以提升且改善产品的良率。
请参照图4,图4是依据本发明的另一实施例所绘示的多输入自调节检测器的功能方块图。相较于图1,图4所示的多输入自调节检测器1更包含有切换开关50,其电性连接于运算器20及系统资料库40之间。切换开关50用以选择性地导通以决定是否将运算器20所接收到的该些感测物理量的数据信号D1~D5传送至系统资料库40。具体来说,当多输入自调节检测器1进行在线检测时,切换开关50会选择导通运算器20与系统资料库40之间的传输路径,使得感测器10~14所感测到的各种感测物理量可以传送至系统资料库40,以适时地进行必要的数据更新。然而,当多输入自调节检测器1进行离线检测时,切换开关50会选择不导通运算器20与系统资料库40之间的传输路径。详细来说,当待测物2的品质状态被判定为不良时,切换开关50可选择导通运算器20与离线显示平台60之间的传输路径,相关工程人员可于离线显示平台60上针对待测物2的品质状态重复进行确认。然而,离线显示平台60的设置仅为选择性的,于其他实施例中,多输入自调节检测器1可不包含离线显示平台60。
请进一步参照图5,图5是依据本发明一实施例所绘示的多输入自调节检测方法的方法流程图,其适用于图1的多输入自调节检测器。如图5所示,在步骤S301中,以多个感测器10~14感测待测物2以对应获得多种感测物理量。于实务上,所述的感测物理量可以是电压、电流、阻抗、波型、频率、温度、影像色差、声音或数据传输速率等。所属领域技术人员可依据实际所欲量测的感测物理量而选择对应的感测器种类。在步骤S303中,以运算器20比对并判断该些种感测物理量是否与基准数据相符,以判断待测物2的品质状态。在步骤S305中,以后端处理装置30执行关联于待测物2的品质状态的动作。所述的动作可以显示待测物的品质状态,亦或是依据待测物的品质状态将其输送至一指定区域。在步骤S307中,当待测物2的品质状态符合标准时,以系统资料库40将该些种感测物理量纪录为新参考数据。在步骤S309中,以系统资料库40依据新参考数据及初始参考数据产生更新基准数据,且将更新基准数据传送至运算器20以更新基准数据。其中基准数据是依据初始参考数据的至少一部份所产生。于一实施例中,在该系统资料库中的该新参考数据与该初始参考数据的总量累积达预设值(例如500笔数据)时,以所累积的新参考数据与初始参考数据产生更新基准数据。于一实施例中,所述的中心值可为一中位数或一平均数,但本发明不以此为限。
请进一步参照图6,图6是依据本发明的另一实施例所绘示的多输入自调节检测方法的方法流程图。图6与图5大致具有相同的流程步骤,惟差异在于步骤S309包含有步骤S3091及步骤S3093。在步骤S3091中,以系统资料库40依据新参考数据及初始参考数据计算在该些种感测物理量的每一种感测物理量的中心值。在步骤S3093中,以系统资料库40依据每一种感测物理量的中心值计算对应的良品范围,且以每一种感测物理量的该良品范围作为该更新基准数据,且进一步回传更新基准数据至运算器20。于实务上,本发明的系统资料库40除了有储存的功能用于储存相关数据资料外,亦具有运算的功能用于执行数据的相关运算,例如中心值或良品范围的运算。
综合以上所述,于本发明所提出的多输入自调节检测器及多输入自调节检测方法中,主要藉由多种感测器量测待测物的多种物理量,且将该些种物理量与基准数据比对以判断待测物的品质状态。且进一步透过系统资料库将该些种物理量整合至初始参考数据以形成更新基准数据,并且回传该更新基准数据以对原本的基准数据进行更新。藉此,可达到藉由整合待测物的多种物理量以统计的方式进行收敛判定,以提高待测物的品质/良率的目的,更可以藉由适时地回传更新的基准数据,以进一步地提升判断待测物的品质状态的精准度。
当然,本发明还可有其它多种实施例,在不背离本发明精神及其实质的情况下,熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形,但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
Claims (10)
1.一种多输入自调节检测器,其特征在于,适于一待测物,该多输入自调节检测器包含:
多个感测器,每一感测器用于感测该待测物的一种感测物理量;
一运算器,电性连接该些感测器,该运算器用以比对并判断该些种感测物理量是否与一基准数据相符,以判断该待测物的品质状态;
一后端处理装置,电性连接该运算器,该后端处理装置用于执行关联于该待测物的品质状态的动作;以及
一系统资料库,电性连接该运算器且储存有一初始参考数据,该系统资料库用于当该待测物的品质状态符合一标准时,将该些种感测物理量纪录为一新参考数据,且依据该新参考数据及该初始参考数据产生一更新基准数据,并将该更新基准数据传送至该运算器以更新该基准数据;
其中该基准数据是依据该初始参考数据的至少一部份所产生。
2.如权利要求1所述的多输入自调节检测器,其特征在于,该系统资料库依据该新参考数据及该初始参考数据产生该更新基准数据为该系统资料库中的该新参考数据及该初始参考数据的总量累积达一预设值时,以所累积的该新参考数据与该初始参考数据产生该更新基准数据。
3.如权利要求1所述的多输入自调节检测器,其特征在于,该系统资料库依据该新参考数据及该初始参考数据计算在该些种感测物理量的每一种感测物理量的一中心值,且依据每一种感测物理量的该中心值计算对应的一良品范围,且以每一种感测物理量的该良品范围作为该更新基准数据。
4.如权利要求1所述的多输入自调节检测器,其特征在于,该后端处理装置为一显示器,用于显示该待测物的品质状态。
5.如权利要求1所述的多输入自调节检测器,其特征在于,该后端处理装置为一输送装置,用于依据该待测物的品质状态将该待测物输送至一指定位置。
6.如权利要求1所述的多输入自调节检测器,其特征在于,更包含:
一切换开关,电性连接于该运算器及该系统资料库之间,该切换开关用以选择性地导通以决定是否将该些感测物理量传送至该系统资料库。
7.一种多输入自调节检测方法,其特征在于,适于一待测物,该多输入自调节检测方法包含:
以多个感测器感测该待测物以对应获得多种感测物理量;
以一运算器比对并判断该些种感测物理量是否与一基准数据相符,以判断该待测物的品质状态;
以一后端处理装置执行关联于该待测物的品质状态的动作;
当该待测物的品质状态符合一标准时,以一系统资料库将该些种感测物理量纪录为一新参考数据;以及
以该系统资料库依据该新参考数据及一初始参考数据产生一更新基准数据,且将该更新基准数据传送至该运算器以更新该基准数据;
其中该基准数据是依据该初始参考数据的至少一部份所产生。
8.如权利要求7所述的多输入自调节检测方法,其特征在于,依据该新参考数据及该初始参考数据产生该更新基准数据的步骤包含:
在该系统资料库中的该新参考数据与该初始参考数据的总量累积达一预设值时,以所累积的该新参考数据与该初始参考数据产生该更新基准数据。
9.如权利要求7所述的多输入自调节检测方法,其特征在于,依据该新参考数据及该初始参考数据产生该更新基准数据的步骤包含:
以该系统资料库依据该新参考数据及该初始参考数据计算在该些种感测物理量的每一种感测物理量的一中心值;以及
以该系统资料库依据每一种感测物理量的该中心值计算对应的一良品范围,且以每一种感测物理量的该良品范围作为该更新基准数据。
10.如权利要求9所述的多输入自调节检测方法,其特征在于,该中心值为一中位数或一平均数。
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WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication | ||
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