CN109857600A - 一种优化集成电路筛选的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种优化集成电路筛选的方法，包括以下步骤：设置一个质量因数，在测试过程中把重要参数的测试值提取出来，存入储存器中；在储存器中已经测试的电路的参数值形成一个在不断增加的样本集合,读出样本集合并根据样本情况去计算每个电路的质量因数；利用统计学的标准，对比判断电路的质量因数，并根据质量因数的情况，进一步设定区分良品电路的二次筛选条件，本发明仅通过增加概率统计分析的环节，在测试过程中把良品进行再筛选，更准确的分析判断了电路的性能，不需要后期再进行人工筛选分析，而且该方法非常灵活，不同批次的电路都可以按照此方法进行筛选，并且筛选标准还可以根据不同产品的要求改动，增加测试结果的可靠性。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路检测技术领域，具体为一种优化集成电路筛选的方法。
背景技术
随着目前国内集成电路行业的迅速发展，对电路的性能要求越来越高，对测试的严谨性精确性要求也越来越高。在集成电路测试中测试程序通常由多个测试项组成，从各个方面对电路性能是否符合标准进行充分检测，结果能直观的反应电路是否为良品。从测试结果的详细数据中可以充分反映出每颗电路的结构功能和具体电气特性，通过详细数据，可以对重点关注的参数特性进一步分析筛选。
在现有技术的集成电路测试中，首先对电路进行筛选，符合标准的产品记为良品，如果需要对良品的质量进行进一步精确的分析，需要在电路当前批次完全测试结束后，对总数据中的一些重要参数值进行横向提取，并对这些数据进行统计分析，根据数据的分布情况，得到良品划分等级的具体判断标准。在做数据分析分布时，可以使用一些数据分析软件，例如excel、matlab等等，在分析出新的标准后，把良品按测试数据情况进行二次筛选，将质量更精确的划分。但是这种传统方法也要求电路必须有标志，可以区分，如果没有标志，无法区分，那么离线做的二次筛选就没有意义了。
发明内容
针对背景技术中存在的问题，本发明提供了一种优化集成电路筛选的方法。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种优化集成电路筛选的方法，包括以下步骤：
在电路测试过程中，对待判定电路测试所有测试项，判断待测电路是否为良品；
对符合良品标准的待测电路设置一个质量因数，在测试过程中把重要参数的测试值提取出来，存入储存器中；
在储存器中已经测试的电路的参数值形成一个在不断增加的样本集合，每测一颗电路，储存器中的样本集合都会增加，读出样本集合并根据样本情况去计算每个电路的质量因数；
利用统计学的标准，对比判断电路的质量因数，并根据质量因数的情况，进一步设定区分良品电路的二次筛选条件。
作为本发明一种优选的技术方案，在ATE中对pass的电路，设置多个pass bin，根据对电路质量因数的分析，把良品电路再划分等级，不同等级分配不同bin号。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明仅通过增加概率统计分析的环节，在测试过程中把良品进行再筛选，更准确的分析判断了电路的性能，甚至通过分析筛选出数据分布区间异常的，有潜在失效风险的电路，不需要后期再进行人工筛选分析，而且该方法非常灵活，不同批次的电路都可以按照此方法进行筛选，并且筛选标准还可以根据不同产品的要求改动，增加测试结果的可靠性。
附图说明
图1为本发明提供的一种优化集成电路筛选的方法流程图；
图2为本发明提供的一种优化集成电路筛选的方法的测试结果图；
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例：
请参阅图1与图2，本发明提供一种优化集成电路筛选的方法，包括以下步骤：
在电路测试过程中，对待判定电路测试所有测试项，判断待测电路是否为良品；对符合良品标准的待测电路设置一个质量因数，在测试过程中把重要参数的测试值提取出来，存入储存器中；在储存器中已经测试的电路的参数值形成一个在不断增加的样本集合，每测一颗电路，储存器中的样本集合都会增加，读出样本集合并根据样本情况去计算每个电路的质量因数；利用统计学的标准，对比判断电路的质量因数，并根据质量因数的情况，进一步设定区分良品电路的二次筛选条件；进一步的在ATE中对pass的电路，设置多个passbin，根据对电路质量因数的分析，把良品电路再划分等级，不同等级分配不同bin号，整个过程快速、方便，在测试过程中完成，无需后期再处理数据，达到降低测试的时间成本并增加测试结果的准确度和可靠性的效果。
比如当在测试过程中分析电路电源功耗电流，在测试过程中每一次电路测试pass后都提取电源ICC电流，存入储存器中，建立一个集合，此处质量因数参考CPK的标准，对ICC数据集合进行分析。计算此集合中已有数据的标准偏差和平均值，然后由limit的上下限计算得到规格限宽度，此处计算Cp＝规格限宽度/6*标准偏差，由以上数据计算出CPK的值，进而得到电路的质量因数，参考CPK的标准，分析质量因数的特征，划分良品电路的等级，监测出电源功耗电流测试时的边缘值，并根据质量因数，把测出的电流分布在不同区间的电路在ATE中用不同bin号区分开。
又比如在测试过程中分析电路的驱动高电平，把良品电路的驱动高电平提取存入储存器中，建立集合。在分析中侧重于区分是否有电路测试出的电平为边缘值，从良品中筛选出测出电压为边缘值的有潜在失效可能的电路，单独分bin，区分于驱动性能标准的良品。此处设置电路的质量因数为更新后方差和更新前方差的差值，每次得到pass的电路后，需要去重新计算一下质量因数，然后通过质量因数的值，判断电路数据是否存在显著性差异，如果有边缘值，就可以在测试过程中划分出来。在数据集合的不断更新中，根据良品的划分的情况，可以得到电压值较为正常时的分布区间。
本发明提供的这种方法对比于现有技术，仅通过增加概率统计分析的环节，在测试过程中把良品进行再筛选，更准确的分析判断了电路的性能，甚至通过分析筛选出数据分布区间异常的，有潜在失效风险的电路，不需要后期再进行人工筛选分析，而且该方法非常灵活，不同批次的电路都可以按照此方法进行筛选，并且筛选标准还可以根据不同产品的要求改动，增加测试结果的可靠性。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (2)
1.一种优化集成电路筛选的方法，其特征在于包括以下步骤：
在电路测试过程中，对待判定电路测试所有测试项，判断待测电路是否为良品；
对符合良品标准的待测电路设置一个质量因数，在测试过程中把重要参数的测试值提取出来，存入储存器中；
在储存器中已经测试的电路的参数值形成一个在不断增加的样本集合，每测一颗电路，储存器中的样本集合都会增加，读出样本集合并根据样本情况去计算每个电路的质量因数；
利用统计学的标准，对比判断电路的质量因数，并根据质量因数的情况，进一步设定区分良品电路的二次筛选条件。
2.根据权利要求1所述的一种优化集成电路筛选的方法，其特征在于：在ATE中对pass的电路，设置多个pass bin，根据对电路质量因数的分析，把良品电路再划分等级，不同等级分配不同bin号。
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