CN108037433A - 一种集成电路测试数据的筛选方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种集成电路测试数据的筛选方法，其中，包括获取集成电路测试数据；计算各测试参数中的最大值与最小值之间的差值；计算每个测试参数的片平均值和批平均值；计算片平均值与批平均值的片相差百分比；计算各测试参数的总平均值以及批平均值与总平均值的批相差百分比；判断每个测试参数的片相差百分比是否大于百分比阈值以及批相差百分比是否大于百分比阈值；若是，则将该片相差百分比对应的测试参数片号进行标记，和/或，则将该批相差百分比对应的测试参数批号进行标记。本发明还公开了一种集成电路测试数据的筛选装置。本发明提供集成电路测试数据的筛选方法，提高了数据筛选的效率。

Description

一种集成电路测试数据的筛选方法及装置

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种集成电路测试数据的筛选方法及一种集成电路测试数据的筛选装置。

背景技术

在集成电路日益成熟的今天，集成电路测试已经逐渐成为整条产业链中必不可少的环节。与此同时，计算机科学与技术的不断发展同样为集成电路测试提供了全方位的支持。集成电路规模的不断增大，使得所要测试的项目随之增多，同时，测试数据量也在不断增加。为了筛选出ATE测试误差较大的数据，亟需发展能够快速，准确分析集成电路测试数据的科学方法。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种集成电路测试数据的筛选方法及一种集成电路测试数据的筛选装置，以解决现有技术中的问题。

作为本发明的第一个方面，提供一种集成电路测试数据的筛选方法，其中，所述集成电路数据为多个不同测试参数组成的总数据，每片集成电路包括多个相同的电路结构，所述集成电路测试数据的筛选方法包括：

获取集成电路测试数据，所述集成电路测试数据包括多个测试参数的测试数据，每个测试参数的测试数据包括多批次集成电路测试完成后得到的数据，每批次集成电路测试数据包括多个片集成电路测试完成后得到的片集成电路测试数据，每个片集成电路测试数据包括多个电路结构测试完成后得到的子集成电路测试数据；

计算每个测试参数同批次数据的最大值与最小值之间的差值，每个所述测试参数得到一个差值；

计算每个测试参数同批次的每片集成电路测试数据的平均值，每个所述片集成电路测试数据得到一个片平均值；

计算每个测试参数同批次集成电路测试数据的平均值，每个所述批集成电路测数据得到一个批平均值；

计算同批次的每个片集成电路测试数据的片平均值与该测试参数的批平均值的片相差百分比，每个所述片集成电路测试数据对应一个片相差百分比；

计算所有测试参数的总平均值，每个所述测试参数对应一个总平均值；

计算每个所述测试参数的批平均值与该测试参数的总平均值的批相差百分比，每个所述批集成电路测试数据对应一个批相差百分比；

判断每个所述测试参数的片相差百分比是否大于百分比阈值以及每个所述测试参数的批相差百分比是否大于百分比阈值；

若所述测试参数的片相差百分比大于百分比阈值，则将该片相差百分比对应的测试参数片号进行标记，和/或，若所述测试参数的批相差百分比大于百分比阈值，则将该批相差百分比对应的测试批号进行标记。

优选地，所述集成电路测试数据的筛选方法还包括在将该片相差百分比对应的测试参数片号进行标记后进行的：对该测试数据片号对应的所有集成电路测试数据进行分析，以查找误差来源。

优选地，所述集成电路测试数据的筛选方法还包括在将该批相差百分比对应的测试参数批号进行标记后进行的：对该测试数据批号所对应的所有集成电路测试数据进行分析，以查找误差来源。

优选地，所述集成电路测试数据的筛选方法还包括：

若每个所述测试参数的片相差百分比不大于百分比阈值，且每个测试参数的批相差百分比不大于百分比阈值，则判定所述集成电路测试数据没有误差。

优选地，所述百分比阈值为2％。

优选地，将至多四个所述子集成电路测试数据划分为一组，一组数据即为一片数据。

优选地，所述计算同一片集成电路测试数据最大值与最小值之间的差值包括：计算同一片集成电路测试数据的最大值与最小值之间的差值。

作为本发明的第二个方面，提供一种集成电路测试数据的筛选装置，其中，所述集成电路数据为多个不同测试参数组成的总数据，每片集成电路包括多个相同的电路结构，所述集成电路测试数据的筛选装置包括：

获取模块，所述获取模块用于获取集成电路测试数据，所述集成电路测试数据包括多个测试参数的测试数据，每个测试参数的测试数据包括多批次集成电路测试完成后得到的数据，每批次集成电路测试数据包括多个片集成电路测试完成后得到的片集成电路测试数据，每个片集成电路测试数据包括多个电路结构测试完成后得到的子集成电路测试数据；

第一计算模块，所述第一计算模块用于计算每个测试参数同批次数据的最大值与最小值之间的差值，每个所述测试参数得到一个差值；

第二计算模块，所述第二计算模块用于计算每个测试参数同批次的每片集成电路测试数据的平均值，每个所述片集成电路测试数据得到一个片平均值；

第三计算模块，所述第三计算模块用于计算每个测试参数同批次集成电路测试数据的平均值，每个所述批集成电路测数据得到一个批平均值；

第四计算模块，所述第四计算模块用于计算同批次的每个片集成电路测试数据的片平均值与该测试参数的批平均值的片相差百分比，每个所述片集成电路测试数据对应一个片相差百分比；

第五计算模块，所述第五计算模块用于计算所有测试参数的总平均值，每个所述测试参数对应一个总平均值；

第六计算模块，所述第六计算模块用于计算每个所述测试参数的批平均值与该测试参数的总平均值的批相差百分比，每个所述批集成电路测试数据对应一个批相差百分比；

判断模块，所述判断模块用于判断每个所述测试参数的片相差百分比是否大于百分比阈值以及每个所述测试参数的批相差百分比是否大于百分比阈值；

标记模块，所述标记模块用于若所述测试参数的片相差百分比大于百分比阈值，则将该片相差百分比对应的测试参数片号进行标记，和/或，若所述测试参数的批相差百分比大于百分比阈值，则将该批相差百分比对应的测试批号进行标记。

优选地，所述集成电路测试数据的筛选装置还包括：

数据分析模块，所述数据分析模块用于对该测试数据片号对应的所有集成电路测试数据进行分析，以查找误差来源。

优选地，所述集成电路测试数据的筛选装置还包括：

判定模块，所述判定模块用于若每个所述测试参数的片相差百分比不大于百分比阈值，且每个测试参数的批相差百分比不大于百分比阈值，则判定所述集成电路测试数据没有误差。

本发明提供的集成电路测试数据的筛选方法，通过对集成电路测试数据中的每个测试参数进行计算，得到该测试参数的片相差百分比和批相差百分比，并通过片相差百分比和批相差百分比分别与百分比阈值的比较，来对有误差的测试数据进行筛选，这种集成电路测试数据的筛选方法，不仅具有操作简便，且与现有技术中通过人工鉴别的方式相比，还具有效率高以及准确度高的优势。

附图说明

附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1为本发明提供的集成电路测试数据的筛选方法的流程图。

图2为本发明提供的具体实施方式中的存储有集成电路测试数据的EXCEL表框架图。

图3为本发明提供的具体实施方式中的数据筛选结果图。

图4为本发明提供的集成电路测试数据的筛选装置的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。

作为本发明的第一个方面，提供一种集成电路测试数据的筛选方法，其中，所述集成电路数据为多个不同测试参数组成的总数据，每片集成电路包括多个相同的电路结构，如图1所示，所述集成电路测试数据的筛选方法包括：

S110、获取集成电路测试数据，所述集成电路测试数据包括多个测试参数的测试数据，每个测试参数的测试数据包括多批次集成电路测试完成后得到的数据，每批次集成电路测试数据包括多个片集成电路测试完成后得到的片集成电路测试数据，每个片集成电路测试数据包括多个电路结构测试完成后得到的子集成电路测试数据；

S120、计算每个测试参数同批次数据的最大值与最小值之间的差值，每个所述测试参数得到一个差值；

S130、计算每个测试参数同批次的每片集成电路测试数据的平均值，每个所述片集成电路测试数据得到一个片平均值；

S140、计算每个测试参数同批次集成电路测试数据的平均值，每个所述批集成电路测数据得到一个批平均值；

S150、计算同批次的每个片集成电路测试数据的片平均值与该测试参数的批平均值的片相差百分比，每个所述片集成电路测试数据对应一个片相差百分比；

S160、计算所有测试参数的总平均值，每个所述测试参数对应一个总平均值；

S170、计算每个所述测试参数的批平均值与该测试参数的总平均值的批相差百分比，每个所述批集成电路测试数据对应一个批相差百分比；

S180、判断每个所述测试参数的片相差百分比是否大于百分比阈值以及每个所述测试参数的批相差百分比是否大于百分比阈值；

S190、若所述测试参数的片相差百分比大于百分比阈值，则将该片相差百分比对应的测试参数片号进行标记，和/或，若所述测试参数的批相差百分比大于百分比阈值，则将该批相差百分比对应的测试批号进行标记。

本发明提供的集成电路测试数据的筛选方法，通过对集成电路测试数据中的每个测试参数进行计算，得到该测试参数的片相差百分比和批相差百分比，并通过片相差百分比和批相差百分比分别与百分比阈值的比较，来对有误差的测试数据进行筛选，这种集成电路测试数据的筛选方法，不仅具有操作简便，且与现有技术中通过人工鉴别的方式相比，还具有效率高以及准确度高的优势。

可以理解的是，集成电路某个参数测试时，包括多个批次集成电路测试数据；同一批次集成电路测试，可以对多片集成电路进行测试，每片集成电路上包括多个相同的电路结构，此处所述的电路结构可以理解为多个集成电路芯片，对每个集成电路芯片进行测试得到的测试数据为对每个集成电路芯片的多个测试参数进行测试，例如，集成电路芯片的多个测试参数包括输入电压、输入电流、输入额定功率、温度等等。针对同一种电路结构，无论同一批次还是不同批次，每个测试参数测得的测试参数均应该在误差范围内相同，例如，若每个电路结构的输入电压标准为5V±0.05V，则测得的输入电压参数均应该在4.95V～5.05V之间。

为了能够筛选出不合格的测试数据，作为一种具体的实施方式，所述集成电路测试数据的筛选方法还包括在将该片相差百分比对应的测试参数片号进行标记后进行的：对该测试数据片号对应的所有集成电路测试数据进行分析，以查找误差来源。

为了能够筛选出不合格的测试数据，作为一种具体地实施方式，所述集成电路测试数据的筛选方法还包括在将该批相差百分比对应的测试参数批号进行标记后进行的：对该测试数据批号所对应的所有集成电路测试数据进行分析，以查找误差来源。

具体地，所述集成电路测试数据的筛选方法还包括：

若每个所述测试参数的片相差百分比不大于百分比阈值，且每个测试参数的批相差百分比不大于百分比阈值，则判定所述集成电路测试数据没有误差。

优选地，为了保证测试数据的一致性，所述百分比阈值为2％。

为了提高集成电路测试数据的筛选效率，将至多四个所述子集成电路测试数据划分为一组，一组数据即为一片数据。

进一步地，所述计算同一片集成电路测试数据最大值与最小值之间的差值包括：计算同一片集成电路测试数据的最大值与最小值之间的差值。

优选地，可以将四个所述子集成电路测试数据划分为一组。

下面结合具体实施方式，对本发明提供的集成电路测试数据的筛选方法做详细说明。

该集成电路测试数据的筛选方法以基于VBA(Visual Basic for Applications)的集成电路4SITE测试数据筛选方法为例，集成电路测试数据可以通过测试工具直接导入到EXCEL表格中，在对测试数据进行筛选时，可以通过调用EXCEL表格即可获取集成电路测试数据。

具体地，首先，可以利用Worksheets(Array(i)).Select结合for循环依次实现EXCEL表格的调用，i为EXCEL中左起表格的序数，当i随着for循环不断变化时，对应的i的EXCEL表格的各数据会随着变化，互不干扰。

然后选择某表格第1列测试数据，如表1所示，即为VREF参数第1批次数据，应用相对引用计算此参数第1批次所有片数据的最大值最小值差(第1片数据即为1#对应的数据，第2片数据即为2#对应的数据)。对此批数据进行最大值最小值差处理，并应用相对引用求出同一EXCEL表格所有参数各批次数据的最大值最小值差及其各片数据的最大值最小值差。

利用for循环计算所有参数各批次片平均值与批平均值的相差百分比，以及各个参数的总平均值，在此基础上，计算所有参数批平均值与其总平均值的相差百分比。

若某个参数某批平均值与总平均值的相差百分比(批相差百分比)大于2％，则此值所在的表格的地址则显示红色(如图3中深颜色部分的数据)，与此同时，追溯到此列参数片平均值与批平均值的相差百分比(片相差百分比)，若大于2％，则此值所在的表格的地址则显示红色(如图3中深颜色部分的数据)，以此前面计算的片最大值最小值差及批最大值最小值差进一步分析数据误差较大的来源。

需要说明的是，关于不同的表格的调用，如图2所示，为SNO3P、SNO3A等表格，此时，SNO3P对应的i为2，SNO3A对应的i为3。

分别选择第2和第3个表格，j表示的是A2所在行的最大列数，当调用的表格不同时，j随之变化，其中，A2所在行是表格的标题行，能够反映表格的最大列数。

第1列测试数据，如表1所示，即为左起的第3列数据(即为VREF参数第1批次数据)，左起的第1列和第2列为标题列，其第1片数据为表格第3列的第3、4、5、6行，其余片的数据依次往下数。所有参数各批次不同片数据的最大值最小值差的平均值，如表1所示，即第3列数据第1#、2#...等片数据的最大值最小值差，与此同时，依次计算其它列参数的值。其中，表1的第2、3、4、5列是第1批次，第6、7、8、9列是第2批次。

还需要说明的是，所有参数各批次片平均值与批平均值的相差百分比，如表1所示，即用第3列数据第1#、2#...等数据平均值与此列参数平均值的差除以此列参数平均值，与此同时，依次计算其它列数据的值。各个参数的总平均值即用某表格某个参数的总和除以其总数据个数，与此同时，依次计算其它参数的值。每个参数批平均值与其总平均值的相差百分比，如表1所示，即用第3列参数的平均值与其总平均值的差除以其总平均值，与此同时，依次计算其它参数各个批次的值。

表1集成电路测试数据列表

作为本发明的第二个方面，提供一种集成电路测试数据的筛选装置，其中，所述集成电路数据为多个不同测试参数组成的总数据，每片集成电路包括多个相同的电路结构，如图4所示，所述集成电路测试数据的筛选装置10包括：

获取模块110，所述获取模块110用于获取集成电路测试数据，所述集成电路测试数据包括多个测试参数的测试数据，每个测试参数的测试数据包括多批次集成电路测试完成后得到的数据，每批次集成电路测试数据包括多个片集成电路测试完成后得到的片集成电路测试数据，每个片集成电路测试数据包括多个电路结构测试完成后得到的子集成电路测试数据；

第一计算模块120，所述第一计算模块120用于计算每个测试参数同批次数据的最大值与最小值之间的差值，每个所述测试参数得到一个差值；

第二计算模块130，所述第二计算模块130用于计算每个测试参数同批次的每片集成电路测试数据的平均值，每个所述片集成电路测试数据得到一个片平均值；

第三计算模块140，所述第三计算模块140用于计算每个测试参数同批次集成电路测试数据的平均值，每个所述批集成电路测数据得到一个批平均值；

第四计算模块150，所述第四计算模块150用于计算同批次的每个片集成电路测试数据的片平均值与该测试参数的批平均值的片相差百分比，每个所述片集成电路测试数据对应一个片相差百分比；

第五计算模块160，所述第五计算模块160用于计算所有测试参数的总平均值，每个所述测试参数对应一个总平均值；

第六计算模块170，所述第六计算模块170用于计算每个所述测试参数的批平均值与该测试参数的总平均值的批相差百分比，每个所述批集成电路测试数据对应一个批相差百分比；

判断模块180，所述判断模块180用于判断每个所述测试参数的片相差百分比是否大于百分比阈值以及每个所述测试参数的批相差百分比是否大于百分比阈值；

标记模块190，所述标记模块190用于若所述测试参数的片相差百分比大于百分比阈值，则将该片相差百分比对应的测试参数片号进行标记，和/或，若所述测试参数的批相差百分比大于百分比阈值，则将该批相差百分比对应的测试批号进行标记。

本发明提供的集成电路测试数据的筛选装置，能够对集成电路测试数据中的测试参数进行计算，得到该测试参数的片相差百分比和批相差百分比，并通过片相差百分比和批相差百分比分别与百分比阈值的比较，来对有误差的测试数据进行筛选，这种集成电路测试数据的筛选装置，不仅具有操作简便，且与现有技术中通过人工鉴别的方式相比，还具有效率高以及准确度高的优势。

为了能够筛选出不合格的测试数据，作为一种具体地实施方式，所述集成电路测试数据的筛选装置还包括：

数据分析模块，所述数据分析模块用于对该测试数据片号对应的所有集成电路测试数据进行分析，以查找误差来源。

优选地，所述集成电路测试数据的筛选装置还包括：

判定模块，所述判定模块用于若每个所述测试参数的片相差百分比不大于百分比阈值，且每个测试参数的批相差百分比不大于百分比阈值，则判定所述集成电路测试数据没有误差。

可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种集成电路测试数据的筛选方法，其特征在于，所述集成电路数据为多个不同测试参数组成的总数据，每片集成电路包括多个相同的电路结构，所述集成电路测试数据的筛选方法包括：

获取集成电路测试数据，所述集成电路测试数据包括多个测试参数的测试数据，每个测试参数的测试数据包括多批次集成电路测试完成后得到的数据，每批次集成电路测试数据包括多个片集成电路测试完成后得到的片集成电路测试数据，每个片集成电路测试数据包括多个电路结构测试完成后得到的子集成电路测试数据；

计算每个测试参数同批次数据的最大值与最小值之间的差值，每个所述测试参数得到一个差值；

计算每个测试参数同批次的每片集成电路测试数据的平均值，每个所述片集成电路测试数据得到一个片平均值；

计算每个测试参数同批次集成电路测试数据的平均值，每个所述批集成电路测数据得到一个批平均值；

计算同批次的每个片集成电路测试数据的片平均值与该测试参数的批平均值的片相差百分比，每个所述片集成电路测试数据对应一个片相差百分比；

计算所有测试参数的总平均值，每个所述测试参数对应一个总平均值；

计算每个所述测试参数的批平均值与该测试参数的总平均值的批相差百分比，每个所述批集成电路测试数据对应一个批相差百分比；

判断每个所述测试参数的片相差百分比是否大于百分比阈值以及每个所述测试参数的批相差百分比是否大于百分比阈值；

若所述测试参数的片相差百分比大于百分比阈值，则将该片相差百分比对应的测试参数片号进行标记，和/或，若所述测试参数的批相差百分比大于百分比阈值，则将该批相差百分比对应的测试批号进行标记。

2.根据权利要求1所述的集成电路测试数据的筛选方法，其特征在于，所述集成电路测试数据的筛选方法还包括在将该片相差百分比对应的测试参数片号进行标记后进行的：对该测试数据片号对应的所有集成电路测试数据进行分析，以查找误差来源。

3.根据权利要求1所述的集成电路测试数据的筛选方法，其特征在于，所述集成电路测试数据的筛选方法还包括在将该批相差百分比对应的测试参数批号进行标记后进行的：对该测试数据批号所对应的所有集成电路测试数据进行分析，以查找误差来源。

4.根据权利要求1至3中任意一项所述的集成电路测试数据的筛选方法，其特征在于，所述集成电路测试数据的筛选方法还包括：

若每个所述测试参数的片相差百分比不大于百分比阈值，且每个测试参数的批相差百分比不大于百分比阈值，则判定所述集成电路测试数据没有误差。

5.根据权利要求1所述的集成电路测试数据的筛选方法，其特征在于，所述百分比阈值为2%。

6.根据权利要求1所述的集成电路测试数据的筛选方法，其特征在于，将至多四个所述子集成电路测试数据划分为一组，一组数据即为一片数据。

7.根据权利要求6所述的集成电路测试数据的筛选方法，其特征在于，所述计算同一片集成电路测试数据最大值与最小值之间的差值包括：计算同一片集成电路测试数据的最大值与最小值之间的差值。

8.一种集成电路测试数据的筛选装置，其特征在于，所述集成电路数据为多个不同测试参数组成的总数据，每片集成电路包括多个相同的电路结构，所述集成电路测试数据的筛选装置包括：

获取模块，所述获取模块用于获取集成电路测试数据，所述集成电路测试数据包括多个测试参数的测试数据，每个测试参数的测试数据包括多批次集成电路测试完成后得到的数据，每批次集成电路测试数据包括多个片集成电路测试完成后得到的片集成电路测试数据，每个片集成电路测试数据包括多个电路结构测试完成后得到的子集成电路测试数据；

第一计算模块，所述第一计算模块用于计算每个测试参数同批次数据的最大值与最小值之间的差值，每个所述测试参数得到一个差值；

第二计算模块，所述第二计算模块用于计算每个测试参数同批次的每片集成电路测试数据的平均值，每个所述片集成电路测试数据得到一个片平均值；

第三计算模块，所述第三计算模块用于计算每个测试参数同批次集成电路测试数据的平均值，每个所述批集成电路测数据得到一个批平均值；

第四计算模块，所述第四计算模块用于计算同批次的每个片集成电路测试数据的片平均值与该测试参数的批平均值的片相差百分比，每个所述片集成电路测试数据对应一个片相差百分比；

第五计算模块，所述第五计算模块用于计算所有测试参数的总平均值，每个所述测试参数对应一个总平均值；

第六计算模块，所述第六计算模块用于计算每个所述测试参数的批平均值与该测试参数的总平均值的批相差百分比，每个所述批集成电路测试数据对应一个批相差百分比；

判断模块，所述判断模块用于判断每个所述测试参数的片相差百分比是否大于百分比阈值以及每个所述测试参数的批相差百分比是否大于百分比阈值；

标记模块，所述标记模块用于若所述测试参数的片相差百分比大于百分比阈值，则将该片相差百分比对应的测试参数片号进行标记，和/或，若所述测试参数的批相差百分比大于百分比阈值，则将该批相差百分比对应的测试批号进行标记。

9.根据权利要求8所述的集成电路测试数据的筛选装置，其特征在于，所述集成电路测试数据的筛选装置还包括：

数据分析模块，所述数据分析模块用于对该测试数据片号对应的所有集成电路测试数据进行分析，以查找误差来源。

10.根据权利要求8或9所述的集成电路测试数据的筛选装置，其特征在于，所述集成电路测试数据的筛选装置还包括：

判定模块，所述判定模块用于若每个所述测试参数的片相差百分比不大于百分比阈值，且每个测试参数的批相差百分比不大于百分比阈值，则判定所述集成电路测试数据没有误差。