CN109813200A - 一种符合工效学的轴类直径公差检测装置和加工误差分析方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种符合工效学的轴类直径公差检测装置和加工误差分析方法，所述装置包括壳体、量规和指示柱，所述壳体为一端开口的柱状空腔体，壳体为透明材质制成；所述量规为管状体，量规的管状内径分为A、B、C三段；所述指示柱包括柱体和柱帽，所述柱体的表面分为a、b、c三段不同颜色的区域。这种装置使用简单方便，可一次测量得出被测轴是否符合公差要求；这种分析方法可快速发现加工设备的系统误差规律，及时对加工设备进行调校以降低废品率，提高正品率，预防出现废品增多的现象。
Description
技术领域
本发明涉及检测轴类直径公差的检具，具体是一种符合工效学的轴类直径公差检测装置和加工误差分析方法。
背景技术
对轴的公差检测一般采用方法是用两个孔件量规，两个孔件量规的直径分别为轴的公差上限和公差下限，如果直径为公差上限的量规可以套入轴而直径为公差下限的量规不能套入轴，说明轴的直径数值为公差下限与公差上限之间，轴的加工符合公差要求。
当对大量的轴进行加工误差分析时，误差主要体现为加工轴的机器设备的系统误差，及时发现系统误差规律，及时对加工设备进行调校对降低废品率意义非常大，这就需要了解在公差范围内的产品，其公差在一定时间内是趋向于公差下限还是公差上限，以便于及时对加工设备机器进行调校以避免误差增大和加工出的不合格品增多。
要进行这样的多重测量，需要对同一批轴中的每一个轴，使用现有的公差上限和公差下限两个孔件量规来对同一个轴进行两次测量，花费的时间长，测量效率低。
发明内容
本发明的目的是针对上述情况，提供一种符合工效学的轴类直径公差检测装置和加工误差分析方法，这种装置使用简单方便，可一次测量得出被测轴是否符合公差要求；这种方法可快速发现加工系统误差规律，及时对加工设备进行调校以降低废品率。
实现本发明目的的技术方案是：
一种符合工效学的轴类直径公差检测装置，包括
壳体，所述壳体为一端开口的柱状空腔体，壳体为透明材质制成；
量规，所述量规为管状体，量规的管状内径分为A、B、C三段，其中A段位于管状体的一端，其内径与被测轴的公差上限值相同；C段位于管状体的另一端，其内径与被测轴的公差下限值相同；B段位于管状体的中部，B段的两端分别与A段、C段连通，B段的内径与被测轴的基本尺寸值相同；
指示柱，所述指示柱包括柱体和柱帽，所述柱帽设置在柱体的一端，柱体的直径小于管状体C段的内径；从柱体与柱帽的连接处开始，所述柱体的表面分为a、b、c三段不同颜色的区域，其中a段的长度与所述管状体中A段的长度相同；b段的长度与所述管状体中B段的长度相同；c段的长度与所述管状体中C段的长度相同；
所述指示柱的柱体从管状体的C段端口插入，柱帽与管状体的C段端口抵接，防止柱体从管状体的A段端口穿出，柱体可在管状体内移动；
所述壳体的开口端与管状体的C段端外侧套接，柱帽与壳体内壁顶部通过复位弹簧连接，使柱帽的初始位置为柱帽与量规管状体的抵接处，柱体和柱帽可在壳体内移动。
进一步地，所述A段、B段、C段的开口端内缘设有倒角。
进一步地，所述a段的颜色为蓝色，b段的颜色为绿色，c段的颜色为红色。
一种符合工效学的轴类直径公差加工误差分析方法，采用上述的轴类直径公差检测装置，所述误差分析方法包括将被测轴的端部从量规管状体的A段开口端插入的步骤；
当被测轴被量规的A段开口端挡住，无法接触到柱体，柱体和柱帽没有被推动时，则说明被测轴的直径大于公差上限，为不合格品；
当被测轴没有被量规的A段开口端挡住时，接触到柱体，推动柱体和柱帽向壳体内腔移动，被测轴被量规的B段开口端挡住，透过透明的壳体观察到指示柱柱体露出蓝色的a段，则说明被测轴的直径介于公差上限与基本尺寸之间，为偏大合格品；公差是趋向于公差上限；
当被测轴没有被量规的A段开口端挡住时，接触到柱体，推动柱体和柱帽向壳体内腔移动，被测轴被量规的C段开口端挡住，透过透明的壳体观察到指示柱柱体露出蓝色的a段和绿色的b段，则说明被测轴的直径介于基本尺寸与公差下限之间，为偏小合格品；公差是趋向于公差下限；
当被测轴没有被量规的A段开口端挡住时，接触到柱体，推动柱体和柱帽向壳体内腔移动，被测轴没有被量规的C段开口端挡住，透过透明的壳体观察到指示柱柱体露出蓝色的a段、绿色的b段和红色的c段，则说明被测轴的直径小于公差下限，为废品；
记录同一批次被测轴直径为不合格品、偏大合格品、偏小合格品和废品的数量；
不合格品数量多，为加工尺寸过大，则需要对加工设备进行调整，使加工尺寸减小到加工出合格品；
偏大合格品数量多，为加工尺寸偏大，则需要对加工设备进行调整，使加工尺寸减小到加工出的合格品数量为偏大合格品与偏小合格品的数量基本相等；
偏小合格品数量多，为加工尺寸偏小，则需要对加工设备进行调整，使加工尺寸增大到加工出的合格品数量为偏大合格品与偏小合格品的数量基本相等；
废品数量多，为加工尺寸过小，则需要对加工设备进行调整，使加工尺寸增大到加工出合格品。
这种装置使用简单方便，可一次测量得出被测轴是否符合公差要求；这种分析方法可快速发现加工设备的系统误差规律，及时对加工设备进行调校以降低废品率，提高正品率，预防出现废品增多的现象。
附图说明
图1为实施例中符合工效学的轴类直径公差检测装置的结构示意图；
图2为图1中量规的结构示意图；
图3为图1中指示柱的结构示意图；
图4为检测被测轴直径大于公差上限的不合格品的示意图；
图5为检测被测轴直径介于公差上限与基本尺寸之间的偏大合格品的示意图；
图6为检测被测轴直径介于基本尺寸与公差下限之间的偏小合格品的示意图；
图7为检测被测轴直径小于公差下限的废品的示意图。
图中，1.壳体 2.量规 2-1.A段 2-2.B段 2-3.C段 2-4.弧形倒角 3.指示柱 3-1.柱体 3-2.柱帽 3-1-1.a段 3-1-2.b段 3-1-3.c段 4.复位弹簧 5.被测轴。
具体实施方式
下面结合实施例和附图对本发明内容作进一步的阐述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例：
如图1-图3所示，一种符合工效学的轴类直径公差检测装置，包括
壳体1，所述壳体1为一端开口的柱状空腔体，壳体1为透明材质制成；
量规2，所述量规2为管状体，量规2的管状内径分为A段2-1、B段2-2、C段2-3三段，其中A段2-1位于管状体的一端，其内径与被测轴5的公差上限值相同；C段2-3位于管状体的另一端，其内径与被测轴5的公差下限值相同；B段2-2位于管状体的中部，B段2-2的两端分别与A段2-1、C段2-3连通，B段2-2的内径与被测轴5的基本尺寸值相同；
指示柱3，所述指示柱3包括柱体3-1和柱帽3-2，所述柱帽3-2设置在柱体3-1的一端，柱体3-1的直径小于管状体C段2-3的内径；从柱体3-1与柱帽3-2的连接处开始，所述柱体3-1的表面分为a段3-1-1、b段3-1-2、c段3-1-3三段不同颜色的区域，其中a段3-1-1的长度与所述管状体中A段2-1的长度相同；b段3-1-2的长度与所述管状体中B段2-2的长度相同；c段3-1-3的长度与所述管状体中C段2-3的长度相同；
所述指示柱的柱体3-1从管状体的C段2-3端口插入，柱帽3-2与管状体的C段2-3端口抵接，防止柱体3-1从管状体的A段2-1端口穿出，柱体3-1可在管状体内移动；
所述壳体1的开口端与管状体的C段2-3端外侧套接，柱帽3-2与壳体1内壁顶部通过复位弹簧4连接，使柱帽3-2的初始位置为柱帽3-2与量规管状体的抵接处，柱体3-1和柱帽3-2可在壳体1内移动。
进一步地，所述A段2-1、B段2-2、C段2-3的开口端内缘设有倒角。倒角可为斜面倒角或弧形倒角，如图2所示A段2-1的开口端内缘为弧形倒角2-4。
进一步地，所述a段3-1-1的颜色为蓝色，b段3-1-2的颜色为绿色，c段3-1-3的颜色为红色。
一种符合工效学的轴类直径公差加工误差分析方法，采用上述的轴类直径公差检测装置，所述误差分析方法包括将被测轴5的端部从量规管状体的A段2-1开口端插入的步骤；
当被测轴5被量规的A段2-1开口端挡住，无法接触到柱体3-1，柱体3-1和柱帽3-2没有被推动时，则说明被测轴5的直径大于公差上限，为不合格品，如图4所示；
当被测轴5没有被量规的A段2-1开口端挡住时，接触到柱体3-1，推动柱体3-1和柱帽3-2向壳体1内腔移动，被测轴5被量规的B段2-2开口端挡住，透过透明的壳体1观察到指示柱柱体3-1露出蓝色的a段3-1-1，则说明被测轴5的直径介于公差上限与基本尺寸之间，为偏大合格品，如图5所示；公差是趋向于公差上限；
当被测轴5没有被量规的A段2-1开口端挡住时，接触到柱体3-1，推动柱体3-1和柱帽3-2向壳体1内腔移动，被测轴5被量规的C段2-3开口端挡住，透过透明的壳体1观察到指示柱柱体3-1露出蓝色的a段3-1-1和绿色的b段3-1-2，则说明被测轴5的直径介于基本尺寸与公差下限之间，为偏小合格品，如图6所示；公差是趋向于公差下限；
当被测轴5没有被量规的A段2-1开口端挡住时，接触到柱体3-1，推动柱体3-1和柱帽3-2向壳体1内腔移动，被测轴5没有被量规的C段2-3开口端挡住，透过透明的壳体1观察到指示柱柱体3-1露出蓝色的a段3-1-1、绿色的b段3-1-2和红色的c段3-1-3，则说明被测轴5的直径小于公差下限，为废品，如图7所示；
记录同一批次被测轴直径为不合格品、偏大合格品、偏小合格品和废品的数量；
不合格品数量多，为加工尺寸过大，则需要对加工设备进行调整，使加工尺寸减小到加工出合格品；
偏大合格品数量多，为加工尺寸偏大，则需要对加工设备进行调整，使加工尺寸减小到加工出的合格品数量为偏大合格品与偏小合格品的数量基本相等；
偏小合格品数量多，为加工尺寸偏小，则需要对加工设备进行调整，使加工尺寸增大到加工出的合格品数量为偏大合格品与偏小合格品的数量基本相等；
废品数量多，为加工尺寸过小，则需要对加工设备进行调整，使加工尺寸增大到加工出合格品。
不同颜色的指示柱柱体判断速度快，而且不易发生判断失误，保障数据的准确性和大大提高检验工作效率。这种装置使用简单方便，可一次测量得出被测轴是否符合公差要求；这种分析方法可快速发现加工设备的系统误差规律，及时对加工设备进行调校以降低废品率，提高正品率，预防出现废品增多的现象。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (4)
1.一种符合工效学的轴类直径公差检测装置，其特征在于，包括
壳体，所述壳体为一端开口的柱状空腔体，壳体为透明材质制成；
量规，所述量规为管状体，量规的管状内径分为A、B、C三段，其中A段位于管状体的一端，其内径与被测轴的公差上限值相同；C段位于管状体的另一端，其内径与被测轴的公差下限值相同；B段位于管状体的中部，B段的两端分别与A段、C段连通，B段的内径与被测轴的基本尺寸值相同；
指示柱，所述指示柱包括柱体和柱帽，所述柱帽设置在柱体的一端，柱体的直径小于管状体C段的内径；从柱体与柱帽的连接处开始，所述柱体的表面分为a、b、c三段不同颜色的区域，其中a段的长度与所述管状体中A段的长度相同；b段的长度与所述管状体中B段的长度相同；c段的长度与所述管状体中C段的长度相同；
所述指示柱的柱体从管状体的C段端口插入，柱帽与管状体的C段端口抵接，防止柱体从管状体的A段端口穿出，柱体可在管状体内移动；
所述壳体的开口端与管状体的C段端外侧套接，柱帽与壳体内壁顶部通过复位弹簧连接，使柱帽的初始位置为柱帽与量规管状体的抵接处，柱体和柱帽可在壳体内移动。
2.根据权利要求1所述的符合工效学的轴类直径公差检测装置，其特征在于，所述A段、B段、C段的开口端内缘设有倒角。
3.根据权利要求1所述的符合工效学的轴类直径公差检测装置，其特征在于，所述a段的颜色为蓝色，b段的颜色为绿色，c段的颜色为红色。
4.一种符合工效学的轴类直径公差加工误差分析方法，其特征在于，采用权利要求1-3任一项所述的轴类直径公差检测装置，所述误差分析方法包括将被测轴的端部从量规管状体的A段开口端插入的步骤；
当被测轴被量规的A段开口端挡住，无法接触到柱体，柱体和柱帽没有被推动时，则说明被测轴的直径大于公差上限，为不合格品；
当被测轴没有被量规的A段开口端挡住时，接触到柱体，推动柱体和柱帽向壳体内腔移动，被测轴被量规的B段开口端挡住，透过透明的壳体观察到指示柱柱体露出蓝色的a段，则说明被测轴的直径介于公差上限与基本尺寸之间，为偏大合格品；公差是趋向于公差上限；
当被测轴没有被量规的A段开口端挡住时，接触到柱体，推动柱体和柱帽向壳体内腔移动，被测轴被量规的C段开口端挡住，透过透明的壳体观察到指示柱柱体露出蓝色的a段和绿色的b段，则说明被测轴的直径介于基本尺寸与公差下限之间，为偏小合格品；公差是趋向于公差下限；
当被测轴没有被量规的A段开口端挡住时，接触到柱体，推动柱体和柱帽向壳体内腔移动，被测轴没有被量规的C段开口端挡住，透过透明的壳体观察到指示柱柱体露出蓝色的a段、绿色的b段和红色的c段，则说明被测轴的直径小于公差下限，为废品；
记录同一批次被测轴直径为不合格品、偏大合格品、偏小合格品和废品的数量；
不合格品数量多，为加工尺寸过大，则需要对加工设备进行调整，使加工尺寸减小到加工出合格品；
偏大合格品数量多，为加工尺寸偏大，则需要对加工设备进行调整，使加工尺寸减小到加工出的合格品数量为偏大合格品与偏小合格品的数量基本相等；
偏小合格品数量多，为加工尺寸偏小，则需要对加工设备进行调整，使加工尺寸增大到加工出的合格品数量为偏大合格品与偏小合格品的数量基本相等；
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| GR01 | Patent grant | ||
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| EE01 | Entry into force of recordation of patent licensing contract |
Application publication date: 20190528 Assignee: Guangxi Jiulong Electronic Technology Co.,Ltd. Assignor: GUILIN University OF ELECTRONIC TECHNOLOGY Contract record no.: X2023980045662 Denomination of invention: An Ergonomic Axis Diameter Tolerance Detection Device and Processing Error Analysis Method Granted publication date: 20231024 License type: Common License Record date: 20231105 |
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| EE01 | Entry into force of recordation of patent licensing contract | ||
| EE01 | Entry into force of recordation of patent licensing contract |
Application publication date: 20190528 Assignee: Guilin Yiding Testing Technology Co.,Ltd. Assignor: GUILIN University OF ELECTRONIC TECHNOLOGY Contract record no.: X2023980045670 Denomination of invention: An Ergonomic Axis Diameter Tolerance Detection Device and Processing Error Analysis Method Granted publication date: 20231024 License type: Common License Record date: 20231106 |
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| EE01 | Entry into force of recordation of patent licensing contract | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20231024 |
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| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |