CN109746190B - 玻璃厚度的分拣方法、装置及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种玻璃厚度的分拣方法，玻璃厚度的分拣装置包括：检测平台、下料组件以及多个收纳组件，所述检测平台用于检测玻璃的厚度，所述下料组件将检测平台的上的已检测玻璃移动至对应的收纳组件，所述玻璃厚度的分拣方法包括：控制所述检测平台获取玻璃的厚度参数；获取所述厚度参数对应的目标收纳组件；控制所述下料组件将所述检测平台上的玻璃移动至所述目标收纳组件。本发明还公开了一种玻璃厚度的分拣装置及存储介质。本发明在检测到玻璃的厚度参数时，获取厚度参数对应的目标收纳组件，通过下料组件将玻璃移动至目标收纳组件上，避免人工对玻璃进行分类因疲劳造成失误的现象，提高对玻璃进行分类的效率，提高产品的生产效率。

Description

玻璃厚度的分拣方法、装置及存储介质

技术领域

本发明涉及玻璃生产加工的技术领域，尤其涉及一种玻璃厚度的分拣方法、装置及存储介质。

背景技术

随着电子技术的快速发展，市场对电子玻璃的需求量越来越多，例如，手机、电脑、平板的屏幕。现有技术中，在对玻璃的厚度进行加工生产的过程中，往往由人工对玻璃进行分拣，人工分拣直接导致的问题是效率很低，且容易因疲劳导致出错率增加，影响产品的生产效率。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种玻璃厚度的分拣方法，旨在解决现有技术中玻璃分拣过程影响产品生产效率的问题。

为实现上述目的，本发明提供一种玻璃厚度的分拣方法，玻璃厚度的分拣方法运行于玻璃厚度的分拣装置的控制芯片，所述玻璃厚度的分拣装置包括：检测平台、下料组件以及多个收纳组件，所述检测平台用于检测玻璃的厚度，所述下料组件将检测平台的上的已检测玻璃移动至对应的收纳组件，所述玻璃厚度的分拣方法包括：

控制所述检测平台获取玻璃的厚度参数；

获取所述厚度参数对应的目标收纳组件；

控制所述下料组件将所述检测平台上的玻璃移动至所述目标收纳组件。

优选的，所述获取所述厚度参数对应的目标收纳组件的步骤包括：

确定所述厚度参数所处的厚度范围；

根据所述厚度范围确定对应的目标收纳组件。

优选的，所述控制所述下料组件将所述检测平台上的玻璃移动至所述目标收纳组件的步骤包括：

获取所述目标收纳组件的位置信息；

根据所述位置信息控制所述下料组件将所述检测平台上的玻璃移动至所述目标收纳组件。

优选的，所述控制所述检测平台获取玻璃的厚度参数的步骤之后，还包括：

获取多组所述厚度参数；

根据多组所述厚度参数确定玻璃的平均厚度参数。

优选的，所述根据多组所述厚度参数确定玻璃的平均厚度参数的步骤之前，还包括：

获取玻璃的厚度阈值范围；

剔除不在所述厚度阈值范围内的所述厚度参数。

优选的，所述控制所述检测平台获取玻璃的厚度参数的步骤包括：

获取所述玻璃的类型；

根据所述玻璃的类型控制所述检测平台获取玻璃的厚度参数。

优选的，所述控制所述下料组件将所述检测平台上的玻璃移动至所述目标收纳组件的步骤之后，还包括：

根据所述厚度参数选择相应的打磨工位；

控制所述打磨工位对玻璃进行打磨。

优选的，所述厚度参数越大，所述打磨工位的粗糙度越大。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种玻璃厚度的分拣装置，所述玻璃厚度的分拣装置包括处理器、存储器和存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的玻璃厚度的分拣程序，所述玻璃厚度的分拣程序被所述处理器执行时实现如上所述的玻璃厚度的分拣方法的各个步骤。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有玻璃厚度的分拣程序，所述玻璃厚度的分拣程序被处理器执行时实现如上所述的玻璃厚度的分拣方法的步骤。

本发明实施例提出的一种玻璃厚度的分拣方法、装置及存储介质，控制所述检测平台获取玻璃的厚度参数；获取所述厚度参数对应的目标收纳组件；控制所述下料组件将所述检测平台上的玻璃移动至所述目标收纳组件。本发明在检测到玻璃的厚度参数时，获取厚度参数对应的目标收纳组件，通过下料组件将玻璃移动至目标收纳组件上，避免人工对玻璃进行分类因疲劳造成失误的现象，提高对玻璃进行分类的效率，提高产品的生产效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明实施例方案涉及的玻璃厚度的分拣的终端结构示意图；

图2为本发明玻璃厚度的分拣方法的第一实施例的流程示意图；

图3为本发明玻璃厚度的分拣方法的第二实施例的流程示意图；

图4为本发明玻璃厚度的分拣方法的第三实施例的流程示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明实施例的主要解决方案是：控制所述检测平台获取玻璃的厚度参数；获取所述厚度参数对应的目标收纳组件；控制所述下料组件将所述检测平台上的玻璃移动至所述目标收纳组件。

由于现有技术，人工对玻璃进行分拣的过程中，人工分拣时容易导致分拣效率很低，且容易因疲劳导致出错率增加，影响产品的生产效率。

本发明提供一种解决方案，通过在检测到玻璃的厚度参数时，获取厚度参数对应的目标收纳组件，通过下料组件将玻璃移动至目标收纳组件上，避免人工对玻璃进行分类因疲劳造成失误的现象，提高对玻璃进行分类的效率，提高产品的生产效率。

如图1所示，图1是本发明实施例方案涉及的玻璃厚度的分拣的终端结构示意图。

如图1所示，该终端可以包括：处理器1001，例如CPU，存储器1002以及通信总线1003。其中，通信总线1003用于实现这些组件之间的连接通信。

存储器1002可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatilememory)，例如磁盘存储器。如图1所示，作为一种计算机存储介质的存储器1003中可以包括玻璃厚度的分拣程序；而处理器1001可以用于调用存储器1002中存储的玻璃厚度的分拣程序，并执行以下操作：

控制所述检测平台获取玻璃的厚度参数；

获取所述厚度参数对应的目标收纳组件；

控制所述下料组件将所述检测平台上的玻璃移动至所述目标收纳组件。

进一步地，处理器1001可以调用存储器1002中存储的玻璃厚度的分拣程序，还执行以下操作：

确定所述厚度参数所处的厚度范围；

根据所述厚度范围确定对应的目标收纳组件。

进一步地，处理器1001可以调用存储器1002中存储的玻璃厚度的分拣程序，还执行以下操作：

获取所述目标收纳组件的位置信息；

根据所述位置信息控制所述下料组件将所述检测平台上的玻璃移动至所述目标收纳组件。

进一步地，处理器1001可以调用存储器1002中存储的玻璃厚度的分拣程序，还执行以下操作：

获取多组所述厚度参数；

根据多组所述厚度参数确定玻璃的平均厚度参数。

进一步地，处理器1001可以调用存储器1002中存储的玻璃厚度的分拣程序，还执行以下操作：

获取玻璃的厚度阈值范围；

剔除不在所述厚度阈值范围内的所述厚度参数。

进一步地，处理器1001可以调用存储器1002中存储的玻璃厚度的分拣程序，还执行以下操作：

获取所述玻璃的类型；

根据所述玻璃的类型控制所述检测平台获取玻璃的厚度参数。

进一步地，处理器1001可以调用存储器1002中存储的玻璃厚度的分拣程序，还执行以下操作：

根据所述厚度参数选择相应的打磨工位；

控制所述打磨工位对玻璃进行打磨。

进一步地，处理器1001可以调用存储器1002中存储的玻璃厚度的分拣程序，还执行以下操作：

所述厚度参数越大，所述打磨工位的粗糙度越大

基于上述硬件构架，提出本发明玻璃厚度的分拣方法的实施例。

参照图2，本发明玻璃厚度的分拣方法第一实施例的流程示意图，所述玻璃厚度的分拣方法包括：

步骤S10，控制所述检测平台获取玻璃的厚度参数；

本发明中，所述玻璃厚度的分拣装置包括：检测平台、下料组件以及多个收纳组件，所述检测平台用于检测玻璃的厚度，所述下料组件将检测平台的上的已检测玻璃移动至对应的收纳组件，收纳组件用于收纳玻璃，保护玻璃不受外界的碰撞。玻璃厚度的分拣装置控制所述检测平台获取玻璃的厚度参数，所述厚度参数是指玻璃的厚度。所述检测平台包括第一检测件和第二检测件，第一检测件和第二检测件相对且间隔设置，第一检测件与第二检测件之间形成容置待检测玻璃的间隙，第一检测件和第二检测件均设有发光部以及收光部，发光部用于发出检测光线，收光部用于接收反射光信号和折射光信号，第一检测件和第二检测件为光电传感器，第一检测件和第二检测件用于玻璃的厚度，例如，第一检测件获取透明玻璃的距离，透明玻璃具有相对设置的第一面和第二面，第一检测件根据反射信号确定第一面与第一检测件之间的第一距离，以及根据折射信号确定第二面与第以检测之间的第二距离，从而根据第一距离和第二距离确定待测的透明的玻璃的厚度，在玻璃为透明玻璃时，直接根据第一检测件和/或第二检测件确定透明玻璃的厚度。

需要说明的是，在步骤S10，即控制所述检测平台获取玻璃的厚度参数的步骤之前，还包括获取所述玻璃的类型；根据所述玻璃的类型控制所述检测平台获取玻璃的厚度参数。本发明中在检测玻璃的厚度时，确定玻璃的类型，即确定玻璃是透明还是非透明的，在玻璃是透明时，获取玻璃第一面和第二面与第一检测件之间的距离，进而确定玻璃的厚度。在玻璃非透明时，玻璃的第一面与第一检测件相对设置，玻璃的第二面与第二检测件相对设置，根据反射光信号确定玻璃的第一面与第一检测件之间的第三距离，以及确定玻璃的第二面与第二检测件之间的第四距离，由于第一检测件与第二检测件之间的间距为预先设定的，进而根据第一检测件与第二检测件之间的间距、第三距离以及第四距离确定待测的非透明的玻璃的厚度。可以理解的是，在玻璃为透明玻璃时，也可以根据第一检测件与第二检测件之间的间距、第三距离以及第四距离确定待测的透明的玻璃的厚度。本发明中，通过设置第一检测件和第二检测件，第一检测件和第二检测件包括距离检测传感器，通过相对且间隔设置的第一检测件和第二检测件，便于检测多种类型的玻璃的厚度。

步骤S20，获取所述厚度参数对应的目标收纳组件；

本发明中，玻璃厚度的分拣装置在获取到玻璃的厚度时，玻璃厚度的分拣装置中预存有厚度参数与目标收纳组件之间的映射关系表，根据厚度参数从而获取与厚度参数参数相对应的目标收纳组件。例如，在玻璃厚度为2mm时，应将该玻璃移动至第一收纳组件，在玻璃厚度为3mm时，应将玻璃移动至第二收纳组件。

需要说明的是，所述步骤S20包括：确定所述厚度参数所处的厚度范围；根据所述厚度范围确定对应的目标收纳组件。玻璃厚度的分拣装置在获取到待测玻璃的厚度时，确定玻璃的厚度所处的厚度范围，获取预存的厚度范围与目标收纳组件之间的映射关系表确定目标收纳组件，进而根据厚度范围确定对应的目标收纳组件。本发明实施例所提供的技术方案中，根据厚度范围确定对应的目标收纳组件，便于将在同一厚度范围内的玻璃收纳进同一目标收纳组件，便于后期对在同一厚度范围内的玻璃进行加工，从而提高玻璃的生产效率。

步骤S30，控制所述下料组件将所述检测平台上的玻璃移动至所述目标收纳组件。

在本发明中，玻璃厚度的分拣装置在确定目标收纳组件后，控制下料组件移动至检测平台的上方，然后控制下料组件带动检测完后的玻璃移动目标收纳组件，然后将玻璃放置在目标收纳组件中，避免人工对玻璃进行分拣时效率低和容易出现失误的问题。

需要说明的是，步骤S30包括：获取所述目标收纳组件的位置信息；根据所述位置信息控制所述下料组件将所述检测平台上的玻璃移动至所述目标收纳组件。在本发明实施例所提供的技术方案中，在确定目标收纳组件后，玻璃厚度的分拣装置获取目标收纳组件的位置信息，然后根据位置信息控制下料组件移动，便于下料组件带动玻璃移动，将玻璃放置在目标收纳组件中。

在本实施例所提供的技术方案中，通过在检测到玻璃的厚度参数时，获取厚度参数对应的目标收纳组件，通过下料组件将玻璃移动至目标收纳组件上，避免人工对玻璃进行分类因疲劳造成失误的现象，提高对玻璃进行分类的效率，提高产品的生产效率。

参照图3，本发明玻璃厚度的分拣方法的第二实施例的流程示意图，基于第一实施例，所述步骤S10之后，还包括：

步骤S40，获取多组所述厚度参数；

步骤S50，根据多组所述厚度参数确定玻璃的平均厚度参数。

在本实施例提供的技术方案中，玻璃厚度的分拣装置的检测平台还包括移动组件，移动组件用于带动第一检测件和第二检测件同步移动，移动组件在带动第一检测件和第二检测件移动时，便于采集多组待测玻璃的厚度参数，玻璃厚度的分拣装置控制检测组件获取多组待测玻璃的厚度参数，然后根据多组厚度参数确定玻璃的平均厚度参数，将平均厚度参数作为玻璃的厚度参数，便于提高检测玻璃厚度参数的准确性，提高对玻璃进行分拣的精度。在本实施例中，玻璃的厚度分拣装置控制检测平台获取玻璃的四个角落的厚度参数以及获取玻璃中心的厚度参数，便于提高获取玻璃厚度参数的准确性。

需要说明的是，在步骤S50之前，还包括：获取玻璃的厚度阈值范围；剔除不在所述厚度阈值范围内的所述厚度参数。在本发明所提供的技术方案中，根据预设的玻璃厚度的阈值范围，将多组玻璃的厚度参数与玻璃的厚度阈值范围进行比较，确定不在玻璃的厚度阈值范围的厚度参数，将不在厚度阈值范围内的厚度参数剔除后再求玻璃的平均厚度参数，进一步提高确定玻璃厚度参数的准确性。例如，玻璃的厚度阈值范围为0.1mm-2mm之间，在检测平台获取到的厚度参数小于0.1mm时或者厚度参数大于2mm时，认为检测平台检测到的玻璃的厚度参数的值受到外界环境参数的影响，检测的结果不准确，故将厚度参数小于0.1mm或者厚度参数大于2mm的厚度参数剔除掉，进一步提高获取玻璃厚度参数的准确性。

参照图4，本发明玻璃厚度的分拣方法的第三实施例的流程示意图，基于第一实施例，所述步骤S30之后，还包括：

步骤S60，根据所述厚度参数选择相应的打磨工位；

步骤S70，控制所述打磨工位对玻璃进行打磨。

在本发明实施例所提供的技术方案中，在确定待测玻璃的厚度参数后，根据玻璃的厚度参数选择相对应的打磨工位，然后将玻璃移动至相对应的打磨工位上，由打磨工位对玻璃进行加工，便于将玻璃加工成用户所需要的厚度。其中，所述厚度参数越大，则表明该玻璃需要多打磨才能达到用户所需的厚度，所述打磨工位的粗糙度越大。例如，若用户所需要0.85mm厚度的玻璃，若检测到第一玻璃的厚度为1.5mm，若检测到第二玻璃的厚度为2mm，则对2mm厚的玻璃进行打磨的打磨工位的粗糙度大于对1.5mm厚的玻璃进行打磨的打磨工位的粗糙度，便于对玻璃进行打磨。

本发明中还提供一种玻璃厚度的分拣装置，所述玻璃厚度的分拣装置包括处理器、存储器和存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的玻璃厚度的分拣程序，所述玻璃厚度的分拣程序被处理器执行时实现如上实施例所述的玻璃厚度的分拣方法的各个步骤。

本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有玻璃厚度的分拣程序，所述玻璃厚度的分拣程序被处理器执行时实现如上实施例所述的玻璃厚度的分拣方法的各个步骤。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (5)

1.一种玻璃厚度的分拣方法，其特征在于，玻璃厚度的分拣方法运行于玻璃厚度的分拣装置的控制芯片，所述玻璃厚度的分拣装置包括：检测平台、下料组件以及多个收纳组件，所述检测平台用于检测玻璃的厚度，所述下料组件将检测平台的上的已检测玻璃移动至对应的收纳组件，其中，所述检测平台包括第一检测件和第二检测件，所述第一检测件和所述第二检测件包括光电传感器和距离检测传感器，所述玻璃厚度的分拣装置还包括：移动组件，移动组件用于带动第一检测件和第二检测件同步移动，所述玻璃厚度的分拣方法包括：

获取所述玻璃的类型；

获取所述第一检测件和所述第二检测件之间的距离；

在所述玻璃类型为非透明时，根据反射信号确定所述玻璃的第一面与所述第一检测件之间的第三距离及所述玻璃的第二面与所述第二检测件之间的第四距离；

根据所述距离、所述第三距离和所述第四距离，确定待测玻璃的厚度参数；

获取所述玻璃的厚度阈值范围；

将多组待测玻璃的厚度参数与所述厚度阈值范围进行比较，剔除不在所述厚度阈值范围内的所述厚度参数；

在所述移动组件带动所述第一检测件和所述第二检测件移动时，根据多组所述厚度参数确定待测玻璃的平均厚度参数，将所述平均厚度参数作为待测玻璃的厚度参数，所述厚度参数包括玻璃的四个角落的厚度参数以及玻璃中心的厚度参数；

确定所述厚度参数所处的厚度范围；

根据预存的厚度范围映射表和所述厚度范围确定对应的目标收纳组件；

控制所述下料组件将所述检测平台上的待测玻璃移动至所述目标收纳组件；

根据所述厚度参数将所述目标收纳组件中同一厚度范围的待测玻璃选择相应的打磨工位；

控制所述打磨工位对待测玻璃进行打磨；

所述根据所述距离、所述第三距离和所述第四距离，确定待测玻璃的厚度参数的步骤之后，还包括：

在所述玻璃类型为透明时，第一检测件根据反射信号确定第一面与所述第一检测件之间的第一距离，以及根据折射信号确定第二面与第一检测件之间的第二距离；

根据所述第一距离和所述第二距离确定待测玻璃的厚度参数。

2.如权利要求1所述的玻璃厚度的分拣方法，其特征在于，所述控制所述下料组件将所述检测平台上的玻璃移动至所述目标收纳组件的步骤包括：

获取所述目标收纳组件的位置信息；

根据所述位置信息控制所述下料组件将所述检测平台上的玻璃移动至所述目标收纳组件。

3.如权利要求1所述的玻璃厚度的分拣方法，其特征在于，所述厚度参数越大，所述打磨工位的粗糙度越大。

4.一种玻璃厚度的分拣装置，其特征在于，所述玻璃厚度的分拣装置包括处理器、存储器和存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的玻璃厚度的分拣程序，所述玻璃厚度的分拣程序被所述处理器执行时实现如权利要求1-3任一项所述的玻璃厚度的分拣方法的各个步骤。

5.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有玻璃厚度的分拣程序，所述玻璃厚度的分拣程序被处理器执行时实现如权利要求1-3任一项所述的玻璃厚度的分拣方法的各个步骤。

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