CN109738341B - 芯样级配分析方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种芯样级配分析装置及芯样级配分析方法,该芯样级配分析装置包括底板本体和刻度网格。底板本体为透明板,所述底板本体用于覆盖芯样。刻度网格设置于所述底板本体的表面,所述刻度网格包括多个阵列排布且相互连接的网格单元。该芯样级配分析装置及方法能方便普通作业人员对芯样的级配进行分析,且分析效率高,分析误差小。
Description
技术领域
本发明涉及芯样级配分析技术领域,特别是涉及一种芯样级配分析方法。
背景技术
路面结构是直接承受行车载荷的结构层,其质量状况一定程度上代表了道路的寿命情况和服务情况。路面结构主要有两种结构形式,即沥青混凝土路面和水泥混凝土路面,而这两种结构形式的路面的强度均主要来源于石料的骨架和嵌挤效应,因此对这两种路面结构中的石料进行级配对于整个路面质量状况具有重要的影响。
沥青混凝土路面或水泥混凝土路面中石料的级配是需要通过相关资质单位进行专门的配合比设计,以使沥青混凝土路面或水泥混凝土路面具有良好的强度和持久性。在道路铺设过程中,按照配合比混合的石料和其他辅料需要拌和形成混合料,再经由摊铺机进行摊铺铺设。由于经过拌和及摊铺操作后的混合料的级配往往会发生变化,因此一般需要通过钻取芯样并分析芯样的级配情况以获取道路结构层的级配情况。但是,传统的芯级配分析需要经验丰富的分析专家通过目测的方式对芯样进行分析,分析效率低下且极易产生误差,难以满足道路铺设的需要。
发明内容
基于此,有必要提供一种芯样级配分析方法,该芯样级配分析方法能方便普通作业人员对芯样的级配进行分析,且分析效率高,分析误差小。
一种芯样级配分析装置,包括
底板本体,为透明板,所述底板本体用于覆盖芯样;
刻度网格,设置于所述底板本体的表面,所述刻度网格包括多个阵列排布且相互连接的网格单元。
上述芯样级配分析装置使用时,将底板本体覆盖于待测芯样的测试表面上,由于底板本体为透明板,因此设置于底板本体表面的刻度网格便会呈现于测试表面上,通过计数测试表面上各个石料所占据的网格单元个数,即可估算各个石料的粒径,进而计算得到测试表面的石料的筛孔通过率。通过测试多个测试表面的石料的筛孔通过率即可得到待测芯样的级配。采用上述芯样级配分析装置进行芯样级配分析,通过设置于底板本体上的刻度网格来判断石料粒径,进而计算得到芯样的级配,提高了级配分析的精准度,避免不同作业人员由于主观判断的差异而产生的分析误差。而且,该芯样级配分析装置结构简单,使用简便,普通的作业人员即可完成芯样的级配分析,无需经验丰富的分析专家参与分析,这对于分析专家稀缺的道路施工现场,无疑能大大提高芯样的级配分析效率,满足道路铺设的需要。
在其中一个实施例中,所述芯样级配分析装置还包括加固框架,所述加固框架设于所述底板本体的边沿处。
在其中一个实施例中,所述网格单元为矩形网格单元,所述网格单元的边上的中点处设有标记线。
在其中一个实施例中,所述芯样级配分析装置还包括贴附于所述底板本体的表面的保护膜,所述保护膜为可撕扯透明膜。
在其中一个实施例中,所述保护膜为至少两层,所述至少两层保护膜层叠贴附设置。
本发明一实施例还提出一种芯样级配分析方法,包括以下步骤:
获取待测芯样并对待测芯样进行处理以得到第一测试表面和第二测试表面,第一测试表面与第二测试表面相交;
使芯样级配分析装置覆盖于第一测试表面处;
通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算第一测试表面上的第一石料粒径r1,并根据第一石料粒径r1得到第一芯样级配;
使芯样级配分析装置覆盖于第二测试表面处;
通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算第二测试表面上的第二石料粒径r2,并根据第二石料粒径r2得到第二芯样级配;
根据第一芯样级配和第二芯样级配获得待测芯样的测量级配。
该芯样级配分析方法采用了上述芯样级配分析装置,因此具有上述芯样级配分析装置的技术效果,即能方便普通作业人员对芯样的级配进行分析,且分析效率高,分析误差小。
在其中一个实施例中,所述芯样级配分析方法还包括以下步骤:
获取标准芯样的实际级配与使用芯样级配分析装置分析得到的标准芯样的测量级配之间的对应关系;
在步骤根据第一芯样级配和第二芯样级配获得待测芯样的测量级配之后,还包括以下步骤:
根据待测芯样的实际级配与测量级配之间的对应关系得到待测芯样的实际级配。
在其中一个实施例中,所述获取标准芯样的实际级配与使用芯样级配分析装置分析得到的标准芯样的测量级配之间的对应关系的步骤,包括以下步骤:
获取m个标准芯样,m个标准芯样相对于同一筛孔孔径的通过率呈梯级分布;
对标准芯样进行处理,以得到至少三个第一测试表面和至少三个第二测试表面;
使芯样级配分析装置覆盖于标准芯样的第一测试表面处,通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算标准芯样的第一测试表面的第一标准石料粒径rO1,并根据第一标准石料粒径rO1得到第一标准芯样级配;
使芯样级配分析装置覆盖于标准芯样的第一测试表面处,通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算标准芯样的第二测试表面的第二标准石料粒径rO2,并根据第二标准石料粒径rO2得到第二标准芯样级配;
根据第一标准芯样级配和第二标准芯样级配得到标准芯样的测试级配;
根据m个标准芯样的实际级配和测试级配拟合出实际级配与测试级配的关系式。
在其中一个实施例中,所述通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算测试表面上的第一石料粒径r1,并根据第一石料粒径r1得到第一芯样级配的步骤,具体包括以下步骤:
通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算第一测试表面上的各个石粒的第一石料粒径r1;
根据第一测试表面上各个石粒的第一石料粒径r1估算各个石粒的第一石料面积A1;
根据各个石粒的第一石料面积A1计算第一测试表面上的石粒相对于第一预设筛孔孔径的通过率率D1a;
根据各个石粒的第一石料面积A1计算第一测试表面上的石粒相对于第二预设筛孔孔径的通过率D2a;
得到待测样品的第一芯样级配,测试样品的第一芯样级配包括第一预设筛孔孔径的通过率D1a和第二预设筛孔孔径的通过率D2a;
所述通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算第二测试表面上的第二石料粒径r2,并根据第二石料粒径r2得到第二芯样级配的步骤,具体包括以下步骤:
通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算第二测试表面上的各个石粒的第二石料粒径r2;
根据第二测试表面上各个石粒的第二石料粒径r2估算各个石粒的第二石料面积A2;
根据各个石粒的第二石料面积A2计算第二测试表面上的石粒相对于第二预设筛孔孔径的通过率D2a1;
根据各个石粒的第二石料面积A2计算第二测试表面上的石粒相对于第二预设筛孔孔径的通过率D2a2;
得到待测样品的第二芯样级配,测试样品的第二芯样级配包括第一预设筛孔孔径的通过率D2a1和第二预设筛孔孔径的通过率D2a2。
在其中一个实施例中,所述获取待测芯样并对待测芯样进行处理以得到第一测试表面和第二测试表面,第一测试表面与第二测试表面相交的步骤,具体包括以下步骤:
使用钻芯机钻取待测路面的芯样;
沿与待测芯样的轴向方向垂直的方向切割待测芯样,得到的切割面为第一测试表面;
沿与待测芯样的轴向方向平行的方向切割待测芯样,得到的切割面为第二测试表面。
附图说明
图1为本发明一实施例所述的芯样级配分析装置的示意图;
图2为图1所示芯样级配分析装置的使用过程示意图;
图3为本发明另一实施例所述的芯样级配分析装置的示意图;
图4为本发明一实施例所述的芯样级配分析方法的流程图;
图5为图4中步骤S110的流程图;
图6为图4中步骤S130的流程图;
图7为图4中步骤S150的流程图;
图8为图4中步骤S200的流程图。
附图标记说明
10、芯样级配分析装置,100、底板本体,200、刻度网格,210、网格单元,220、标记线,300、加固框架,20、芯样,21、石粒。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及具体实施方式,对本发明进行进一步的详细说明。应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用以解释本发明,并不限定本发明的保护范围。
需要说明的是,当元件被称为“固定于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的,并不表示是唯一的实施方式。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的,不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
如图1和图2所示,本发明一实施例提出一种芯样级配分析装置10,包括底板本体100和刻度网格200。该芯样级配分析装置10能方便普通作业人员对芯样20的级配进行分析,且分析效率高,分析误差小。
具体地,底板本体100为透明板,底板本体100用于覆盖芯样20。可选地,底板本体100为塑料板。塑料板廉价易得,且较为轻便,能方便携带。当然,底板本体100也可以为有机玻璃板或其他材质的透明板。进一步地,底板本体100为可卷缩的柔性板,便于当测试表面为曲面时,底板本体100与测试表面相贴合,提高测试准确度。
本实施例中,底板本体100为矩形板。可选地,矩形板的长为15厘米~50厘米,宽为15厘米~50厘米。矩形板更加规整,且上述尺寸的矩形板能覆盖大部分型号的芯样20,方便进行级配分析。如图1所示,本实施例中,底板本体为长15厘米,宽15厘米的矩形板。如图3所示,在另一个实施例中,底板为长50厘米,宽15厘米的矩形板。当然,在其他实施例中,底板本体100的形状和尺寸也可根据实际需要进行调整。
具体地,刻度网格200设置于底板本体100的表面,刻度网格200包括多个阵列排布且相互连接的网格单元210。可选地,网格单元210为矩形网格单元210,网格单元210的边上的中点处设有标记线220。矩形网格单元210的形状更加规整,方便估算石料的粒径,而网格单元210边上的中点处的标记线220可使刻度网格200的读数精确到半格,从而提高芯样级配分析的精确度。
可选地,网格单元210为正方形网格单元,正方形网格单元的边长为0.8厘米~1.2厘米。网格单元210为正方形便于读取刻度,而网格单元210的边长为0.8厘米~1.2厘米能适用于大部分石粒21尺寸的读取。当然,网格单元210的形状和尺寸也可根据实际需要进行调整。
进一步地,刻度网格200还包括数字标识,数字标识用于标示网格单元210的排列序号。数字标识便于进行芯样20分析时,通过计算石粒21所占的网格单元210个数来判断石粒21的粒径和面积。
进一步地,芯样级配分析装置10还包括贴附于底板本体100的表面的保护膜,保护膜为可撕扯透明膜。一方面,保护膜不会妨碍刻度网格200呈现于测试表面上,另一方面由于保护膜贴附于底板本体100的表面,当芯样级配分析装置10出现划痕或污染物时,通过撕去一层保护膜即可去除划痕或污染物,从而避免对芯样20分析结果的准确性造成影响。
可选地,保护膜为至少两层,至少两层保护膜层叠贴附设置。该设置方便对芯样级配分析装置10的表面进行多次更新。
具体地,保护膜为塑料薄膜。可选地,保护膜为聚乙烯薄膜、聚氯乙烯薄膜、聚丙烯薄膜或聚苯乙烯薄膜中的至少一种。
进一步地,芯样级配分析装置10还包括加固框架300,加固框架300设于底板本体100的边沿处。加固框架300可提高底板本体100的边沿处的耐磨性能,防止底板本体100在携带或使用过程中损坏,延长芯样级配分析装置10的使用寿命。
上述芯样级配分析装置10至少具有以下优点:
使用时,将底板本体100覆盖于待测芯样20的测试表面上,由于底板本体100为透明板,因此设置于底板本体100表面的刻度网格200便会呈现于测试表面上,通过计数测试表面上各个石料所占据的网格单元210个数,即可估算各个石料的粒径,进而计算得到测试表面的石料的筛孔通过率。通过测试多个测试表面的石料的筛孔通过率即可得到待测芯样20的级配。采用上述芯样级配分析装置10进行芯样级配分析,通过设置于底板本体100上的刻度网格200来判断石料粒径,进而计算得到芯样20的级配,提高了级配分析的精准度,避免不同作业人员由于主观判断的差异而产生的分析误差。而且,该芯样级配分析装置10结构简单,使用简便,普通的作业人员即可完成芯样20的级配分析,无需经验丰富的分析专家参与分析,这对于分析专家稀缺的道路施工现场,无疑能大大提高芯样20的级配分析效率,满足道路铺设的需要。
如图4所示,本发明一实施例还提出一种芯样级配分析方法,包括以下步骤:
S110、获取待测芯样20并对待测芯样20进行处理以得到第一测试表面和第二测试表面,第一测试表面与第二测试表面相交。
具体地,步骤S110包括以下步骤:
S111、使用钻芯机钻取待测路面的芯样20。
S112、沿与待测芯样20的轴向方向垂直的方向切割待测芯样20,得到的切割面为第一测试表面。
S113、沿与待测芯样20的轴向方向平行的方向切割待测芯样20,得到的切割面为第二测试表面。
通过对芯样20进行切割,可得到表面平整的测试表面,便于准确估算石粒21的粒径的同时,也能防止芯样级配分析装置10被划伤。本实施例中,待测芯样20为圆柱形芯样。沿与圆柱形芯样的轴向方向垂直的方向切割圆柱形芯样,得到的切割面为第一测试表面,第一测试表面为圆形平面。沿与圆柱形芯样的轴向方向平行的方向切割圆柱形芯样,得到的切割面为第二测试表面,第二测试表面为矩形平面。当然,在其他实施例中,待测芯样20也可以为棱柱形或其他形状。由于通过上述处理方法得到的第一测试表面和第二测试表面均为平面,因此将上述第一测试表面和第二测试表面用于级配分析,分析准确率远远高于曲面的测试表面。
在另一个实施例中,步骤S113也可以为:
S113、以待测芯样20的侧表面为第二测试表面。
其中,待测芯样20的侧表面与第一测试表面垂直。本实施例中,待测芯样20为圆柱形芯样,待测芯样20的侧表面为曲面。底板本体100为柔性板,可卷缩以覆盖贴合于待测芯样20的侧表面上,从而使刻度网格200呈现于待测芯样20的侧表面以进行级配分析。该处理方法直接以待测芯样20的侧表面作为第二测试表面,能减少现场测试过程中的切割工序,减轻作业人员的工作量。
S120、使芯样级配分析装置10覆盖于第一测试表面处。
具体地,芯样级配分析装置10的底板本体覆盖于第一测试表面处,刻度网格呈现于第一测试表面上。
S130、通过芯样级配分析装置10上的刻度网格估算第一测试表面上的第一石料粒径r1,并根据第一石料粒径r1得到第一芯样级配。
本实施例中,只分析第一石料粒径r1大于2.36毫米的石粒21,对于第一石料粒径r1小于等于2.36毫米的石粒21,认为只起到填充作用,无需分析级配情况。
具体地,步骤S130包括以下步骤:
S131、通过芯样级配分析装置10上的刻度网格估算第一测试表面上的各个石粒21的第一石料粒径r1。
S132、根据第一测试表面上各个石粒21的第一石料粒径r1估算各个石粒21的第一石料面积A1。
S133、根据各个石粒21的第一石料面积A1计算第一测试表面上的石粒21相对于第一预设筛孔孔径的通过率D1a1。
具体地,可通过各个石粒21的第一石料切面尺寸(包括第一石料粒径r1和第一石料面积A1)分别判断各个石粒21能否通过第一预设筛孔,计算出能通过第一预设筛孔的石粒21的总体积占全部石粒21的总体积的比例,由于在石粒21的密度一定的情况下,石粒21的质量与石粒21的体积成正比,即可得到能通过第一预设筛孔的石粒21的总质量占全部石粒21的总质量的比例,即第一测试表面上的石粒21相对于第一预设筛孔孔径的通过率D1a1。
S134、根据各个石粒21的第一石料面积A1计算第一测试表面上的石粒21相对于第二预设筛孔孔径的通过率D1a2。
具体地,可通过各个石粒21的第一石料切面尺寸(包括第一石料粒径r1和第一石料面积A1)分别判断各个石粒21能否通过第二预设筛孔,计算出能通过第二预设筛孔的石粒21的总体积占全部石粒21的总体积的比例,由于在石粒21的密度一定的情况下,石粒21的质量与石粒21的体积成正比,即可得到能通过第二预设筛孔的石粒21的总质量占全部石粒21的总质量的比例,即第一测试表面上的石粒21相对于第二预设筛孔孔径的通过率D1a2。
S135、得到待测样品的第一芯样级配,测试样品的第一芯样级配包括第一预设筛孔孔径的通过率D1a1和第二预设筛孔孔径的通过率D1a2。
其中,第二预设筛孔孔径可为至少两个,即测试样品的第一芯样级配可包括多个预设筛孔孔径的通过率。本实施例中,选取的第一预设筛孔孔径为2.36厘米,选取的第二预设筛孔孔径为4.75厘米、9.5厘米、13.2厘米、16厘米、19厘米、26.5厘米和31.5厘米,则第一芯样级配为D12.36、D14.75、D19.5、D113.2、D116、D119、D126.5、D131.5。
由于铺设路面的石粒21一般为圆球体或立方体,因此由石粒21的第一石料粒径即可估算石粒21的第一石料面积A1,继而计算出各个石粒21相对于不同孔径的通过率,以得到第一芯样级配。上述估算方法合理简便,能提高芯样级配分析的效率和准确度。
S140、使芯样级配分析装置10覆盖于芯样20的第二测试表面。
S150、通过芯样级配分析装置10上的刻度网格估算第二测试表面上的第二石料粒径r2,并根据第二石料粒径r2得到第二芯样级配。
具体地,步骤S150具体包括以下步骤:
S151、通过芯样级配分析装置10上的刻度网格估算第二测试表面上的各个石粒21的第二石料粒径r2。
S152、根据第二测试表面上各个石粒21的第二石料粒径r2估算各个石粒21的第二石料面积A2。
S153、根据各个石粒21的第二石料面积A2计算第二测试表面上的石粒21相对于第一预设筛孔孔径的通过率D2a1。
具体地,可通过各个石粒21的第二石料切面尺寸(包括第二石料粒径r2及第二石料面积A2)分别判断各个石粒21能否通过第一预设筛孔,计算出能通过第一预设筛孔的石粒21的总体积占全部石粒21的总体积的比例,由于在石粒21的密度一定的情况下,石粒21的质量与石粒21的体积成正比,即可得到能通过第一预设筛孔的石粒21的总质量占全部石粒21的总质量的比例,即第二测试表面上的石粒21相对于第一预设筛孔孔径的通过率D2a1。
S154、根据各个石粒21的第二石料面积A2计算第二测试表面上的石粒21相对于第二预设筛孔孔径的通过率D2a2。
具体地,可通过各个石粒21的第二石料切面尺寸(包括第二石料粒径r2及第二石料面积A2)分别判断各个石粒21能否通过第二预设筛孔,计算出能通过第二预设筛孔的石粒21的总体积占全部石粒21的总体积的比例,由于在石粒21的密度一定的情况下,石粒21的质量与石粒21的体积成正比,即可得到能通过第二预设筛孔的石粒21的总质量占全部石粒21的总质量的比例,即第二测试表面上的石粒21相对于第二预设筛孔孔径的通过率D2a2。
S155、得到待测样品的第二芯样级配,测试样品的第二芯样级配包括第一预设筛孔孔径的通过率D2a1和第二预设筛孔孔径的通过率D2a2。
其中,第二预设筛孔孔径可为至少两个,即测试样品的第一芯样级配可包括多个预设筛孔孔径的通过率。本实施例中,选取的第一预设筛孔孔径为2.36厘米,选取的第二预设筛孔孔径为4.75厘米、9.5厘米、13.2厘米、16厘米、19厘米、26.5厘米和31.5厘米,则第二芯样级配为D22.36、D24.75、D29.5、D213.2、D216、D219、D226.5、D231.5。
由于铺设路面的石粒21一般为圆球体或立方体,因此由石粒21的第一石料粒径即可估算石粒21的第一石料面积A1,继而计算出各个石粒21相对于不同预设筛孔孔径的通过率,以得到第一芯样级配。上述估算方法合理简便,能提高芯样级配分析的效率和准确度。
S160、根据第一芯样级配和第二芯样级配获得待测芯样20的测量级配。
具体地,通过分别求取第一芯样级配和第二芯样级配中相对于各个预设筛孔孔径的通过率即可得到待测芯样20的测量级配。
进一步地,芯样级配分析方法还包括以下步骤:
S200、获取标准芯样20的实际级配与使用芯样级配分析装置10分析得到的标准芯样20的测量级配之间的对应关系。
在步骤S160之后,还包括以下步骤:
S170、根据待测芯样20的实际级配与测量级配之间的对应关系得到待测芯样20的实际级配。
上述步骤可校正实际级配与路面材料形成芯样20后的测量级配之间的误差,进一步提高级配分析的准确性。
具体地,步骤S200包括以下步骤:
S210、获取标准芯样组,标准芯样组包括m个标准芯样20,m个标准芯样20的实际级配呈梯级分布。
本实施例中,共获取5个标准芯样20,即m=5。5个标准芯样20的实际级配取值如下表所示:
表1
S220、对标准芯样20进行处理,以得到至少三个第一测试表面和至少三个第二测试表面,第一测试表面和第二测试表面相交。
具体地,沿与标准芯样20的轴向方向垂直的方向切割标准芯样20,得到的切割面为第一测试表面。沿与标准芯样20的轴向方向平行的方向切割芯样20,得到的切割面为第二测试表面。通过对芯样20进行切割,可得到表面平整的测试表面,便于准确估算石粒21的粒径的同时,也能防止芯样级配分析装置10被划伤。本实施例中,待测芯样20为圆柱形芯样。沿与圆柱形芯样的轴向方向垂直的方向切割圆柱形芯样,得到的切割面为第一测试表面,第一测试表面为圆形平面。沿与圆柱形芯样的轴向方向平行的方向切割圆柱形芯样,得到的切割面为第二测试表面,第二测试表面为矩形平面。当然,在其他实施例中,待测芯样20也可以为棱柱形或其他形状。本实施例中,每个测试表面的间距不小于2厘米,从而降低对切割刀具的精度要求。由于通过上述处理方法得到的第一测试表面和第二测试表面均为平面,因此将上述第一测试表面和第二测试表面用于级配分析,能大大提高级配分析的准确性。
S230、使芯样级配分析装置10覆盖于标准芯样20的第一测试表面处,通过芯样级配分析装置10上的刻度网格估算标准芯样20的第一测试表面的第一标准石料粒径rO1,并根据第一标准石料粒径rO1得到第一标准芯样级配。
具体地,根据第一标准石料粒径rO1得到第一标准芯样级配的具体步骤参见步骤S131至步骤S135,在此不再赘述。
S240、使芯样级配分析装置10覆盖于标准芯样20的第一测试表面处,通过芯样级配分析装置10上的刻度网格估算标准芯样20的第二测试表面的第二标准石料粒径rO2,并根据第二标准石料粒径rO2得到第二标准芯样级配。
具体地,根据第二标准石料粒径rO2得到第一标准芯样级配的具体步骤参见步骤S151至步骤S155,在此不再赘述。
S250、根据第一标准芯样级配和第二标准芯样级配得到标准芯样20的测试级配。
具体地,通过求取第一标准芯样级配和第二标准芯样级配的平均值可得到标准芯样20的测试级配。
S260、根据m个标准芯样20的实际级配和测试级配拟合出实际级配与测试级配的关系式。
具体地,将m个标准芯样20的实际级配和测试级配采用最小二乘法进行拟合。针对每种筛孔孔径,将m个标准芯样20的实际级配对应的通过率设为Y,将m个标准芯样20的测试级配对应的通过率设为X,通过最小二乘法进行拟合,即可得到关系式,Y=aX+b。针对每种筛孔孔径均可得到一个上述关系式,从而得到m个标准芯样20的实际级配和测试级配拟合出实际级配与测试级配的关系式。
上述步骤通过测试多个标准芯样20的实际级配和测量级配,并通过拟合得到相应的关系式。得到的关系式普适性高,能大大提高级配分析的准确性。
进一步地,上述标准芯样组可为至少两组,通过求取至少两组标准芯样组的测试级配并求取平均值,再进行实际级配和测试级配的关系式拟合,可以大大提高拟合关系式的准确度。
上述芯样级配分析方法至少具有以下优点:
该芯样级配分析方法采用了上述芯样级配分析装置10,因此具有上述芯样级配分析装置10的技术效果,即能方便普通作业人员对芯样20的级配进行分析,且分析效率高,分析误差小。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (7)
1.一种芯样级配分析方法,其特征在于,所述芯样级配分析方法采用芯样级配分析装置,所述芯样级配分析装置包括:
底板本体,为透明塑料板,所述底板本体用于覆盖芯样;
刻度网格,设置于所述底板本体的表面,所述刻度网格包括多个阵列排布且相互连接的网格单元;
所述芯样级配分析方法包括以下步骤:
获取待测芯样并对待测芯样进行处理以得到第一测试表面和第二测试表面,第一测试表面与第二测试表面相交;
使芯样级配分析装置覆盖于第一测试表面处;
通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算第一测试表面上的第一石料粒径r1,并根据第一石料粒径r1得到第一芯样级配;
使芯样级配分析装置覆盖于第二测试表面处;
通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算第二测试表面上的第二石料粒径r2,并根据第二石料粒径r2得到第二芯样级配;
根据第一芯样级配和第二芯样级配的平均值获得待测芯样的测量级配;
所述获取待测芯样并对待测芯样进行处理以得到第一测试表面和第二测试表面,第一测试表面与第二测试表面相交的步骤,具体包括以下步骤:
使用钻芯机钻取待测路面的芯样;
沿与待测芯样的轴向方向垂直的方向切割待测芯样,得到的切割面为第一测试表面;
沿与待测芯样的轴向方向平行的方向切割待测芯样,得到的切割面为第二测试表面;
所述通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算第一测试表面上的第一石料粒径r1,并根据第一石料粒径r1得到第一芯样级配的步骤,具体包括以下步骤:
通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算第一测试表面上的各个石粒的第一石料粒径r1;
根据第一测试表面上各个石粒的第一石料粒径r1估算各个石粒的第一石料面积A1;
根据各个石粒的第一石料面积A1计算第一测试表面上的石粒相对于第一预设筛孔孔径的通过率D1a;
根据各个石粒的第一石料面积A1计算第一测试表面上的石粒相对于第二预设筛孔孔径的通过率D2a;
得到待测样品的第一芯样级配,测试样品的第一芯样级配包括第一预设筛孔孔径的通过率D1a和第二预设筛孔孔径的通过率D2a;
所述通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算第二测试表面上的第二石料粒径r2,并根据第二石料粒径r2得到第二芯样级配的步骤,具体包括以下步骤:
通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算第二测试表面上的各个石粒的第二石料粒径r2;
根据第二测试表面上各个石粒的第二石料粒径r2估算各个石粒的第二石料面积A2;
根据各个石粒的第二石料面积A2计算第二测试表面上的石粒相对于第二预设筛孔孔径的通过率D2a1;
根据各个石粒的第二石料面积A2计算第二测试表面上的石粒相对于第二预设筛孔孔径的通过率D2a2;
得到待测样品的第二芯样级配,测试样品的第二芯样级配包括第一预设筛孔孔径的通过率D2a1和第二预设筛孔孔径的通过率D2a2。
2.根据权利要求1所述的芯样级配分析方法,其特征在于,还包括以下步骤:
获取标准芯样的实际级配与使用芯样级配分析装置分析得到的标准芯样的测量级配之间的对应关系;
在根据第一芯样级配和第二芯样级配获得待测芯样的测量级配之后,还包括以下步骤:
根据待测芯样的实际级配与测量级配之间的对应关系得到待测芯样的实际级配。
3.根据权利要求2所述的芯样级配分析方法,其特征在于,所述获取标准芯样的实际级配与使用芯样级配分析装置分析得到的标准芯样的测量级配之间的对应关系的步骤,包括以下步骤:
获取m个标准芯样,m个标准芯样相对于同一筛孔孔径的通过率呈梯级分布;
对标准芯样进行处理,以得到至少三个第一测试表面和至少三个第二测试表面;
使芯样级配分析装置覆盖于标准芯样的第一测试表面处,通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算标准芯样的第一测试表面的第一标准石料粒径rO1,并根据第一标准石料粒径rO1得到第一标准芯样级配;
使芯样级配分析装置覆盖于标准芯样的第一测试表面处,通过芯样级配分析装置上的刻度网格估算标准芯样的第二测试表面的第二标准石料粒径rO2,并根据第二标准石料粒径rO2得到第二标准芯样级配;
根据第一标准芯样级配和第二标准芯样级配得到标准芯样的测试级配;
根据m个标准芯样的实际级配和测试级配拟合出实际级配与测试级配的关系式。
4.根据权利要求1所述的样级配分析方法,其特征在于,所述芯样级配分析装置还包括加固框架,所述加固框架设于所述底板本体的边沿处。
5.根据权利要求1所述的样级配分析方法,其特征在于,所述网格单元为矩形网格单元,所述网格单元的边上的中点处设有标记线。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的样级配分析方法,其特征在于,所述芯样级配分析装置还包括贴附于所述底板本体的表面的保护膜,所述保护膜为可撕扯透明膜。
7.根据权利要求6所述的样级配分析方法,其特征在于,所述保护膜为至少两层,至少两层所述保护膜层叠贴附设置。
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