CN109682329A - 盖板平整度检测方法、装置、检测设备及存储介质 - Google Patents

盖板平整度检测方法、装置、检测设备及存储介质 Download PDF

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CN109682329A CN201910145337.4A CN201910145337A CN109682329A CN 109682329 A CN109682329 A CN 109682329A CN 201910145337 A CN201910145337 A CN 201910145337A CN 109682329 A CN109682329 A CN 109682329A
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Abstract

本申请公开了一种盖板平整度检测方法、装置、检测设备及存储介质,属于终端技术领域。所述方法包括:当摄像头模组未覆盖玻璃盖板时,获取摄像头模组的成像质量参数的基准值,成像质量参数用于指示摄像头模组的镜头成像质量;当摄像头模组覆盖有玻璃盖板时,获取摄像头模组的成像质量参数的测试值;根据测试值相对于基准值的衰减程度,确定玻璃盖板的平整度。本申请实施例通过比较摄像头模组覆盖有玻璃盖板时的测试值相对于摄像头模组未覆盖玻璃盖板时的基准值的衰减程度,从而确定玻璃盖板的平整度,避免了相关技术中仅根据厚度的一致性判断玻璃盖板的平整度的情况,提高了检测准确率。

Description

盖板平整度检测方法、装置、检测设备及存储介质
技术领域
本申请实施例涉及终端技术领域,特别涉及一种盖板平整度检测方法、装置、检测设备及存储介质。
背景技术
盖板平整度检测方法为检测设备对玻璃盖板的表面平整度进行检测的方法。
相关技术中,盖板平整度检测方法通常包括:检测设备通过干涉仪测量干涉条纹数或者激光扫描面仪测试峰值(Peak Value,PV)来确定玻璃盖板的厚度的一致性,根据玻璃盖板的厚度的一致性来判断该玻璃盖板是否平整。
发明内容
本申请实施例提供了一种盖板平整度检测方法、装置、检测设备及存储介质,可以用于解决相关技术中仅根据厚度的一致性判断玻璃盖板的平整度导致检测准确率较低的问题。技术方案如下:
根据本申请实施例的一方面,提供了一种盖板平整度检测方法,所述方法包括:
当摄像头模组未覆盖玻璃盖板时,获取所述摄像头模组的成像质量参数的基准值,所述成像质量参数用于指示所述摄像头模组的镜头成像质量;
当所述摄像头模组覆盖有所述玻璃盖板时,获取所述摄像头模组的所述成像质量参数的测试值;
根据所述测试值相对于所述基准值的衰减程度,确定所述玻璃盖板的平整度。
根据本申请实施例的另一方面,提供了一种盖板平整度检测装置,所述装置包括:
第一获取模块,用于当摄像头模组未覆盖玻璃盖板时,获取所述摄像头模组的成像质量参数的基准值,所述成像质量参数用于指示所述摄像头模组的镜头成像质量;
第二获取模块,用于当所述摄像头模组覆盖有所述玻璃盖板时,获取所述摄像头模组的所述成像质量参数的测试值;
确定模块,用于根据所述测试值相对于所述基准值的衰减程度,确定所述玻璃盖板的平整度。
根据本申请实施例的另一方面,提供了一种检测设备,所述检测设备包括处理器和存储器;所述存储器存储有至少一条指令,所述至少一条指令用于被所述处理器执行以实现如上第一方面所述的盖板平整度检测方法。
根据本申请实施例的另一方面,提供了一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有至少一条指令,所述至少一条指令用于被处理器执行以实现如上第一方面所述的盖板平整度检测方法。
本实施例提供的盖板平整度检测方法,通过获取摄像头模组未覆盖玻璃盖板时摄像头模组的成像质量参数的基准值,并获取摄像头模组覆盖有玻璃盖板时摄像头模组的成像质量参数的测试值,通过比较测试值相对于基准值的衰减程度,从而确定玻璃盖板的平整度,避免了相关技术中仅根据厚度的一致性判断玻璃盖板的平整度的情况,提高了检测准确率。
附图说明
图1是本申请一个示例性实施例所提供的检测系统的结构示意图;
图2是本申请一个示例性实施例提供的盖板平整度检测方法的流程图;
图3是本申请另一个示例性实施例提供的盖板平整度检测方法的流程图;
图4是本申请另一个示例性实施例提供的盖板平整度检测方法的流程图;
图5是本申请一个示例性实施例提供的设置测试点的原理示意图;
图6是本申请一个实施例提供的盖板平整度检测装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
在本文中提及的“多个”是指两个或两个以上。“和/或”,描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
相关技术中,通过检测玻璃盖板的厚度的一致性来判断该玻璃盖板是否平整。而由于玻璃盖板的平整度不仅仅是由玻璃盖板的厚度的一致性决定,还受到玻璃盖板的表面形状(比如为凸透镜或凹透镜)的影响。因此,相关技术中仅根据厚度的一致性判断玻璃盖板的平整度导致检测准确率较低,进而不能有效的保证该玻璃盖板对摄像头解析力的影响足够小。目前尚未提供一种有效而可靠的盖板平整度检测方法。
本申请实施例提供了一种盖板平整度检测方法、装置、检测设备及存储介质,可以用于解决上述相关技术中存在的问题。本申请提供的技术方案中,通过获取摄像头模组未覆盖玻璃盖板时摄像头模组的成像质量参数的基准值,并获取摄像头模组覆盖有玻璃盖板时摄像头模组的成像质量参数的测试值,通过比较测试值相对于基准值的衰减程度,从而确定玻璃盖板的平整度,避免了相关技术中仅根据厚度的一致性判断玻璃盖板的平整度的情况,提高了检测准确率。
在对本申请实施例进行解释说明之前,先对本申请实施例的应用场景进行说明。图1示出了本申请一个示例性实施例所提供的检测系统的结构示意图。
该检测系统包括:摄像头模组10、玻璃盖板20和检测设备30。
可选的,摄像头模组10包括镜头组件11和驱动组件12。驱动组件12用于驱动镜头组件11进行移动并对焦。
示意性的,驱动组件12包括马达。比如,马达为音圈马达(Voice Coil Motor,VCM)。
可选的,玻璃盖板20为曲面玻璃盖板。曲面玻璃盖板为玻璃盖板的盖板不处于一个平面内的盖板设计。一般的,曲面玻璃盖板至少存在这样一个截面:该截面呈弯曲形状,且曲面玻璃盖板在沿垂直于该截面的任意平面方向上的投影为平面。其中,该弯曲形状可以是U型。可选的,曲面玻璃盖板为至少一个侧边是弯曲形状的盖板设计。示意性的,玻璃盖板20为三维(3Dimensions,3D)曲面玻璃盖板或者2.5D曲面玻璃盖板。
可选的,玻璃盖板20包括前盖玻璃盖板或后盖玻璃盖板。
可选的,该检测系统还包括模组夹具和/或盖板夹具。模组夹具为用于对摄像头模组10的位置进行固定的夹具,盖板夹具为用于对玻璃盖板20的位置进行固定的夹具。
示意性的,盖板夹具的设计仿生于终端环境,当玻璃盖板20置于盖板夹具时,摄像头模组10覆盖有玻璃盖板20,此时该玻璃盖板20相对于摄像头模组10的三维位置与终端整机一致。
检测设备30为用于对摄像头模组10的镜头成像质量进行测试的设备。
可选的,检测设备30与摄像头模组10进行通信连接,比如,检测设备30用于控制摄像头模组10中的驱动组件12进行对焦。
请参考图2,其示出了本申请一个示例性实施例提供的盖板平整度检测方法的流程图。本实施例以该盖板平整度检测方法应用于图1所示出的检测设备30中来举例说明。该盖板平整度检测方法包括:
步骤201,当摄像头模组未覆盖玻璃盖板时,获取摄像头模组的成像质量参数的基准值,成像质量参数用于指示摄像头模组的镜头成像质量。
可选的,开始测试时,不将玻璃盖板置于盖板夹具上,即摄像头模组未覆盖玻璃盖板,检测设备对摄像头模组的镜头成像质量进行测试,测试得到摄像头模组的成像质量参数的基准值。
成像质量参数用于指示摄像头模组的镜头成像质量。可选的,成像质量参数的数值与镜头成像质量呈正相关关系,即成像质量参数的数值越大表示镜头成像质量越高。
由于仅测试一次可能会导致得到的基准值存在较大误差,因此在一种可能的实现方式中,当摄像头模组未覆盖玻璃盖板时,检测设备对摄像头模组的镜头成像质量重复测试多次,将多次测试各自得到的候选基准值的均值确定为摄像头模组的成像质量参数的基准值。
可选的,检测设备每隔预设时间间隔对摄像头模组的镜头成像质量进行测试,得到更新后的基准值。
预设时间间隔可以是用户自定义设置的,也可以是检测设备默认设置的。比如,预设时间间隔为4小时。本实施例对此不加以限定。
步骤202,当摄像头模组覆盖有玻璃盖板时,获取摄像头模组的成像质量参数的测试值。
可选的,在基准值测试完成后,将玻璃盖板置于盖板夹具,保证玻璃盖板相对于摄像头模组的三维位置与终端整机一致,即摄像头模组覆盖有玻璃盖板。此时,检测设备对摄像头模组的镜头成像质量进行测试,测试得到摄像头模组的成像质量参数的测试值。
可选的,由于仅测试一次可能会导致得到的测试值存在较大误差,因此在一种可能的实现方式中,当摄像头模组覆盖有玻璃盖板时,检测设备对摄像头模组的镜头成像质量重复测试多次,将多次测试各自得到的候选基准值的均值确定为摄像头模组的成像质量参数的测试值。
由于玻璃盖板的覆盖会影响摄像头模组的镜头成像质量,导致成像质量参数的数值下降,因此检测设备获取到的摄像头模组的成像质量参数的测试值通常小于基准值。
需要说明的是,步骤202可以在步骤201之后执行,也可以在步骤201之前执行,本实施例对此不加以限定。
步骤203,根据测试值相对于基准值的衰减程度,确定玻璃盖板的平整度。
检测设备根据测试值相对于基准值的衰减程度,确定玻璃盖板的平整度。
可选的,测试值相对于基准值的衰减程度与玻璃盖板的平整度成负相关关系。测试值相对于基准值的衰减程度越高,表示玻璃盖板的平整度越差,即玻璃盖板的表面越不平整。相应的,测试值相对于基准值的衰减程度越低,表示玻璃盖板的平整度越好,即玻璃盖板的表面越平整。
可选的,测试值小于基准值,测试值相对于基准值的衰减程度采用测试值与基准值的差值绝对值表示。
综上所述,本实施例通过获取摄像头模组未覆盖玻璃盖板时摄像头模组的成像质量参数的基准值,并获取摄像头模组覆盖有玻璃盖板时摄像头模组的成像质量参数的测试值,通过比较测试值相对于基准值的衰减程度,从而确定玻璃盖板的平整度,避免了相关技术中仅根据厚度的一致性判断玻璃盖板的平整度的情况,提高了检测准确率。
请参考图3,其示出了本申请一个示例性实施例提供的盖板平整度检测方法的流程图。本实施例以该盖板平整度检测方法应用于图1所示出的检测设备30中来举例说明。该盖板平整度检测方法包括:
步骤301,当摄像头模组未覆盖玻璃盖板时,控制驱动组件对镜头组件进行移动并对焦。
可选的,开始测试时,不将玻璃盖板置于盖板夹具上,即摄像头模组未覆盖玻璃盖板,检测设备控制摄像头模组中的驱动组件对镜头组件进行移动并对焦。
步骤302,对焦成功时获取摄像头模组的成像质量参数的基准值和镜头组件的目标位置。
可选的,检测设备在对焦成功时,记录对焦成功时镜头组件的目标位置。检测设备对摄像头模组的镜头成像质量进行测试,得到摄像头模组的成像质量参数的基准值。
需要说明的是,检测设备获取摄像头模组的成像质量参数的基准值的过程可参考上述实施例中的相关细节,在此不再赘述。
可选的,成像质量参数包括空间频率响应(Spatial Frequency Response,S FR)参数、调制传递函数(Modulation Transfer Function,MTF)参数、电视行(英文:TV line)参数中的至少一种。
步骤303,当摄像头模组覆盖有玻璃盖板时,控制驱动组件将镜头组件移动至目标位置。
可选的,在基准值测试完成后,将玻璃盖板置于盖板夹具,保证玻璃盖板相对于摄像头模组的三维位置与终端整机一致,即摄像头模组覆盖有玻璃盖板。此时,检测设备控制摄像头模组中的驱动组件将镜头组件移动至目标位置。
步骤304,获取摄像头模组的成像质量参数的测试值。
在控制驱动组件将镜头组件移动至目标位置之后,检测设备对摄像头模组的镜头成像质量进行测试,测试得到摄像头模组的成像质量参数的测试值。其中,测试值小于基准值。
需要说明的是,检测设备获取摄像头模组的成像质量参数的测试值的过程可参考上述实施例中的相关细节,在此不再赘述。
步骤305,判断测试值与基准值的差值绝对值是否小于衰减阈值。
衰减阈值可以是用户自定义设置的,或者是检测设备默认设置的。本实施例对此不加以限定。比如,衰减阈值为3或者4。
检测设备判断测试值与基准值的差值绝对值是否小于衰减阈值。若测试值与基准值的差值绝对值小于衰减阈值则执行步骤306;若测试值与基准值的差值绝对值大于或等于衰减阈值则执行步骤307。
步骤306,当测试值与基准值的差值绝对值小于衰减阈值时,确定玻璃盖板是平整的。
当测试值与基准值的差值绝对值小于衰减阈值时,用于指示测试值相对于基准值的衰减程度很低,表示玻璃盖板是平整的。
步骤307,当测试值与基准值的差值绝对值大于或等于衰减阈值时,确定玻璃盖板是不平整的。
当测试值与基准值的差值绝对值大于或等于衰减阈值时,用于指示测试值相对于基准值的衰减程度较高,表示玻璃盖板是不平整的。
综上所述,本实施例还通过当摄像头模组未覆盖玻璃盖板时,控制驱动组件对镜头组件进行移动并对焦,对焦成功时获取摄像头模组的成像质量参数的基准值和镜头组件的目标位置,当摄像头模组覆盖有玻璃盖板时,控制驱动组件将镜头组件移动至目标位置;
本实施例还通过采用测试值与基准值的差值绝对值表示测试值相对于基准值的衰减程度,当测试值与基准值的差值绝对值小于衰减阈值时确定玻璃盖板是平整的,当测试值与基准值的差值绝对值大于或等于衰减阈值时确定玻璃盖板是不平整的,能够使得检测设备更加快速且有效地确定出玻璃盖板是否平整。
需要说明的是,上述的基准值和测试值可以是一个测试点的基准单点值和测试单点值,也可以是同一个测试视场角中的多个测试点的基准均值和测试均值。可选的,若摄像头模组对应的画面中以画面中心区域对焦,该画面从中心至边缘的测试视场角的范围为0F至1F。
当上述的基准值和测试值是一个测试点的基准单点值和测试单点值(即单点管控方案)时,测试视场角越大对驱动组件运动过程中的倾斜(英文:tilt)造成的影响越大,进而影响后续测试的准确性。因此,下面实施例中以上述的基准值和测试值为同一个测试视场角中的多个测试点的基准均值和测试均值为例进行说明。
可选的,摄像头模组对应多个测试视场角,对于多个测试视场角中的每个测试视场角,基准值为该测试视场角中的多个测试点各自对应的基准值的均值,测试值为该测试视场角中的多个测试点各自对应的测试值的均值。上述步骤305至步骤307可以被替换实现成为如下几个步骤,如图4所示:
步骤401,判断多个测试视场角中每个测试视场角对应的基准值和测试值是否均满足平整条件。
其中,平整条件包括测试值小于基准值且测试值与基准值的差值绝对值小于衰减阈值。
可选的,摄像头模组对应多个测试视场角包括至少两个测试视场角。本申请实施例对测试视场角的数量不加以限定。
可选的,多个测试视场角各自对应的测试点的数量是相同的或者是不同的。同一个测试视场角对应至少一个测试点。
示意性的,多个测试视场角中存在第一测试视场角对应的测试点的数量大于第二测试视场角对应的测试点的数量。其中,第一测试视场角小于第二测试视场角。
由于测试视场角越大对驱动组件运动过程中的倾斜造成的影响越大,因此在一种可能的实现方式中,测试点的数量与测试视场角的大小呈负相关关系。即测试视场角越大,该测试视场角对应设置的测试点的数量越少。
比如,如图5所示,摄像头模组对应的画面51中以画面中心区域对焦,该画面51从中心至边缘的测试视场角的范围为0F至1F,设置0F和0.3F这两个测试视场角,0.3F对应4个测试点52,0F对应1个测试点53。
又比如,设置0F、0.3F和0.6F这三个测试视场角,0F对应5个测试点,0.3F对应3个测试点,0.6F对应2个测试点。
又比如,设置0F、0.15F、0.3F、0.6F和0.8F这五个测试视场角,0F、0.15F、0.3F各自对应5个测试点,0.6F和0.8F各自对应3个测试点。
可选的,每个测试视场角对应的衰减阈值是相同的或者是不同的。由于测试视场角越大对驱动组件运动过程中的倾斜造成的影响越大,因此,可选的,测试视场角对应的衰减阈值与测试视场角的大小呈正相关关系。即测试视场角越大,该测试视场角对应的衰减阈值越大。
在一种可能的实现方式中,对于多个测试视场角中的每个测试视场角,当测试视场角小于或等于第一视场阈值时对应的衰减阈值为第一衰减阈值;当测试视场角大于第一视场角阈值时对应的衰减阈值为第二衰减阈值,其中,第一衰减阈值小于第二衰减阈值。
可选的,第一视场阈值为预设的大于0且小于1的数值。比如,第一视场阈值为0.3F,第一衰减阈值为3,第二衰减阈值为5。
在另一种可能的实现方式中,当测试视场角小于或等于第一视场阈值时,对应的衰减阈值为第一衰减阈值;当测试视场角大于第一视场阈值且小于第二视场阈值时,对应的衰减阈值为第二衰减阈值;当测试视场角大于或等于第二视场阈值时,对应的衰减阈值为第三衰减阈值,第二衰减阈值小于第三衰减阈值。
比如,第一视场阈值为0.3F,第二视场阈值为0.6F,第一衰减阈值为3,第二衰减阈值为5,第三衰减阈值为7。
需要说明的是,本实施例对上述的第一视场阈值、第二视场阈值、第一衰减阈值、第二衰减阈值、第三衰减阈值的取值不加以限定。
对于多个测试视场角中每个测试视场角,检测设备判断该测试视场角对应的基准值和测试值是否满足平整条件,若满足平整条件则继续判断下一个测试视场角,直到判断出多个测试视场角中每个测试视场角对应的基准值和测试值均满足平整条件时执行步骤402;若不满足平整条件则执行步骤403。
步骤402,当多个测试视场角中每个测试视场角对应的基准值和测试值均满足平整条件时,确定玻璃盖板是平整的。
可选的,当检测设备判断出多个测试视场角中每个测试视场角对应的基准值和测试值均满足平整条件时,确定玻璃盖板是平整的。
步骤403,当多个测试视场角中存在至少一个测试视场角对应的基准值和测试值不满足平整条件时,确定玻璃盖板是不平整的。
可选的,当检测设备判断出至少一个测试视场角对应的基准值和测试值不满足平整条件时,确定玻璃盖板是不平整的。
在一个示意性的例子中,设置0F、0.3F和0.6F这三个测试视场角,0F对应5个测试点,0.3F对应3个测试点,0.6F对应2个测试点。对于0F,检测设备获取摄像头模组未覆盖玻璃盖板时0F中的5个测试点各自对应的基准均值,获取摄像头模组覆盖有玻璃盖板时0F中的5个测试点各自对应的测试均值,比较基准均值与测试均值,若基准均值与测试均值的差值绝对值小于第一衰减阈值“3”则确定该0F对应的基准均值和测试均值满足平整条件。同理,对于0.3F,检测设备获取0.3F中的3个测试点各自对应的基准均值与测试均值,若基准均值与测试均值的差值绝对值小于第一衰减阈值“3”则确定该0.3F对应的基准均值和测试均值满足平整条件。对于0.6F,检测设备获取0.6F中的2个测试点各自对应的基准均值与测试均值,若基准均值与测试均值的差值绝对值小于第二衰减阈值“5”则确定该0.6F对应的基准均值和测试均值满足平整条件。当0F、0.3F和0.6F这三个测试视场角对应的基准值和测试值均满足平整条件时,确定玻璃盖板是平整的。
综上所述,本申请实施例还通过管控多个测试视场角中的至少一个测试点,当多个测试视场角中每个测试视场角对应的基准值和测试值均满足平整条件时确定玻璃盖板是平整的,避免了采用单点管控方案导致测试准确性较低的问题,降低误测率,提高测试玻璃盖板平整度的准确性。
下述为本申请装置实施例,可以用于执行本申请方法实施例。对于本申请装置实施例中未披露的细节,请参照本申请方法实施例。
请参考图6,其示出了本申请一个实施例提供的盖板平整度检测装置的结构示意图。该盖板平整度检测装置可以通过专用硬件电路,或者,软硬件的结合实现成为图1中的检测设备的全部或一部分,该盖板平整度检测装置包括:第一获取模块610、第二获取模块620和确定模块630。
第一获取模块610,用于当摄像头模组未覆盖玻璃盖板时,获取摄像头模组的成像质量参数的基准值,成像质量参数用于指示摄像头模组的镜头成像质量;
第二获取模块620,用于当摄像头模组覆盖有玻璃盖板时,获取摄像头模组的成像质量参数的测试值;
确定模块630,用于根据测试值相对于基准值的衰减程度,确定玻璃盖板的平整度。
可选的,测试值小于基准值,确定模块630,还用于当测试值与基准值的差值绝对值小于衰减阈值时,确定玻璃盖板是平整的;当测试值与基准值的差值绝对值大于或等于衰减阈值时,确定玻璃盖板是不平整的。
可选的,成像质量参数包括空间频率响应SFR参数、调制传递函数MTF参数、电视行TV line参数中的至少一种。
可选的,摄像头模组包括镜头组件和驱动组件,当摄像头模组未覆盖玻璃盖板时,第一获取模块610,还用于当摄像头模组未覆盖玻璃盖板时,控制驱动组件对镜头组件进行移动并对焦;
对焦成功时获取摄像头模组的成像质量参数的基准值和镜头组件的目标位置;
第二获取模块620,还用于当摄像头模组覆盖有玻璃盖板时,控制驱动组件将镜头组件移动至目标位置;
获取摄像头模组的成像质量参数的测试值。
可选的,摄像头模组对应多个测试视场角,确定模块630,还用于当多个测试视场角中每个测试视场角对应的基准值和测试值均满足平整条件时,确定玻璃盖板是平整的;
当多个测试视场角中存在至少一个测试视场角对应的基准值和测试值不满足平整条件时,确定玻璃盖板是不平整的;
其中,平整条件包括测试值小于基准值且测试值与基准值的差值绝对值小于衰减阈值。
可选的,对于多个测试视场角中的每个测试视场角,基准值为测试视场角中的多个测试点各自对应的基准值的均值,测试值为测试视场角中的多个测试点各自对应的测试值的均值。
可选的,对于多个测试视场角中的每个测试视场角,当测试视场角小于或等于第一视场阈值时对应的衰减阈值为第一衰减阈值;
当测试视场角大于第一视场角阈值时对应的衰减阈值为第二衰减阈值,其中,第一衰减阈值小于第二衰减阈值。
相关细节可结合参考图2至图5所示的方法实施例。其中,第一获取模块610和第二获取模块620还用于实现上述方法实施例中其他任意隐含或公开的与获取步骤相关的功能;确定模块630还用于实现上述方法实施例中其他任意隐含或公开的与确定步骤相关的功能。
需要说明的是,上述实施例提供的装置,在实现其功能时,仅以上述各功能模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成,即将设备的内部结构划分成不同的功能模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。另外,上述实施例提供的装置与方法实施例属于同一构思,其具体实现过程详见方法实施例,这里不再赘述。
本申请还提供一种检测设备,该检测设备包括处理器和存储器;该存储器存储有至少一条指令,至少一条指令用于被所述处理器执行以实现上述各个方法实施例提供的盖板平整度检测方法。
本申请还提供一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质存储有至少一条指令,至少一条指令用于被处理器执行以实现上述各个方法实施例提供的盖板平整度检测方法。
本申请还提供了一种包含指令的计算机程序产品,当其在计算机上运行时,使得计算机执行上述各个实施例所述的盖板平整度检测方法。
上述本申请实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的盖板平整度检测方法中全部或部分步骤可以通过硬件来完成,也可以通过程序来指令相关的硬件完成,所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。以上所述仅为本申请的较佳实施例,并不用以限制本申请,凡在本申请的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种盖板平整度检测方法,其特征在于,所述方法包括:
当摄像头模组未覆盖玻璃盖板时,获取所述摄像头模组的成像质量参数的基准值,所述成像质量参数用于指示所述摄像头模组的镜头成像质量;
当所述摄像头模组覆盖有所述玻璃盖板时,获取所述摄像头模组的所述成像质量参数的测试值;
根据所述测试值相对于所述基准值的衰减程度,确定所述玻璃盖板的平整度。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试值小于所述基准值,所述根据所述测试值相对于所述基准值的衰减程度,确定所述玻璃盖板的平整度,包括:
当所述测试值与所述基准值的差值绝对值小于衰减阈值时,确定所述玻璃盖板是平整的;
当所述测试值与所述基准值的差值绝对值大于或等于所述衰减阈值时,确定所述玻璃盖板是不平整的。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述成像质量参数包括空间频率响应SFR参数、调制传递函数MTF参数、电视行TV line参数中的至少一种。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述摄像头模组包括镜头组件和驱动组件,所述当摄像头模组未覆盖玻璃盖板时,获取所述摄像头模组的成像质量参数的基准值,包括:
当所述摄像头模组未覆盖所述玻璃盖板时,控制所述驱动组件对所述镜头组件进行移动并对焦;
对焦成功时获取所述摄像头模组的成像质量参数的基准值和所述镜头组件的目标位置;
所述当所述摄像头模组覆盖有所述玻璃盖板时,获取所述摄像头模组的所述成像质量参数的测试值,包括:
当所述摄像头模组覆盖有所述玻璃盖板时,控制所述驱动组件将所述镜头组件移动至所述目标位置;
获取所述摄像头模组的所述成像质量参数的测试值。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述摄像头模组对应多个测试视场角,所述根据所述测试值相对于所述基准值的衰减程度,确定所述玻璃盖板的平整度,包括:
当所述多个测试视场角中每个所述测试视场角对应的基准值和测试值均满足平整条件时,确定所述玻璃盖板是平整的;
当所述多个测试视场角中存在至少一个所述测试视场角对应的基准值和测试值不满足所述平整条件时,确定所述玻璃盖板是不平整的;
其中,所述平整条件包括所述测试值小于所述基准值且所述测试值与所述基准值的差值绝对值小于衰减阈值。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,
对于所述多个测试视场角中的每个所述测试视场角,所述基准值为所述测试视场角中的多个测试点各自对应的基准值的均值,所述测试值为所述测试视场角中的所述多个测试点各自对应的测试值的均值。
7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,
对于所述多个测试视场角中的每个所述测试视场角,当所述测试视场角小于或等于第一视场阈值时对应的衰减阈值为第一衰减阈值;
当所述测试视场角大于所述第一视场角阈值时对应的衰减阈值为第二衰减阈值,其中,所述第一衰减阈值小于所述第二衰减阈值。
8.一种盖板平整度检测装置,其特征在于,所述装置包括:
第一获取模块,用于当摄像头模组未覆盖玻璃盖板时,获取所述摄像头模组的成像质量参数的基准值,所述成像质量参数用于指示所述摄像头模组的镜头成像质量;
第二获取模块,用于当所述摄像头模组覆盖有所述玻璃盖板时,获取所述摄像头模组的所述成像质量参数的测试值;
确定模块,用于根据所述测试值相对于所述基准值的衰减程度,确定所述玻璃盖板的平整度。
9.一种检测设备,其特征在于,所述检测设备包括处理器和存储器;所述存储器存储有至少一条指令,所述至少一条指令用于被所述处理器执行以实现如权利要求1至7任一所述的盖板平整度检测方法。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有至少一条指令,所述至少一条指令用于被处理器执行以实现如权利要求1至7任一所述的盖板平整度检测方法。
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