CN109916279B - 终端盖板的平整度检测方法、装置、测试机台及存储介质 - Google Patents

终端盖板的平整度检测方法、装置、测试机台及存储介质 Download PDF

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Abstract

本申请实施例公开了一种终端盖板的平整度检测方法、装置、测试机台及存储介质,属于终端技术领域。所述方法用于测试机台,所述方法包括:对摄像头模组进行第一解析力测试,得到解析力参数的基准值,其中,进行第一解析力测试时,摄像头模组未覆盖终端盖板;对摄像头模组进行第二解析力测试,得到解析力参数的测试值,其中,进行第二解析力测试时,摄像头模组覆盖终端盖板;根据基准值和测试值确定终端盖板是否通过平整度检测。采用本申请实施例提供的方法能够直接根据终端盖板对摄像头模组解析力的影响,确定终端盖板的平整度,进而提高平整度检测结果的准确性。

Description

终端盖板的平整度检测方法、装置、测试机台及存储介质
技术领域
本申请实施例涉及终端技术领域,特别涉及一种终端盖板的平整度检测方法、装置、测试机台及存储介质。
背景技术
随着移动终端制造工艺的不断提高,越来越多移动终端的终端盖板开始采用一体式曲面设计。比如,移动终端的屏幕盖板采用3D玻璃盖板,背盖采用2.5D玻璃盖板。
由于曲面加工过程中,可能会影响到终端盖板正对摄像头区域的平整度,因此,为了避免终端盖板对摄像头成像造成影响,需要对终端盖板进行平整度检测。其中,常用的检测方法包括牛顿环检测和面型峰值(Peak Value,PV)检测。
发明内容
本申请实施例提供了一种终端盖板的平整度检测方法、装置、测试机台及存储介质。所述技术方案如下:
一方面,本申请实施例提供了一种终端盖板的平整度检测方法,所述方法用于测试机台,所述方法包括:
对摄像头模组进行第一解析力测试,得到解析力参数的基准值,其中,进行所述第一解析力测试时,所述摄像头模组未覆盖终端盖板;
对所述摄像头模组进行第二解析力测试,得到所述解析力参数的测试值,其中,进行所述第二解析力测试时,所述摄像头模组覆盖所述终端盖板;
根据所述基准值和所述测试值确定所述终端盖板是否通过平整度检测。
另一方面,本申请实施例提供了一种终端盖板的平整度检测装置,所述装置用于测试机台,所述装置包括:
第一测试模块,用于对摄像头模组进行第一解析力测试,得到解析力参数的基准值,其中,进行所述第一解析力测试时,所述摄像头模组未覆盖终端盖板;
第二测试模块,用于对所述摄像头模组进行第二解析力测试,得到所述解析力参数的测试值,其中,进行所述第二解析力测试时,所述摄像头模组覆盖所述终端盖板;
检测模块,用于根据所述基准值和所述测试值确定所述终端盖板是否通过平整度检测。
另一方面,本申请实施例提供了一种测试机台,所述测试机台包括:摄像头夹具、盖板夹具、处理器以及存储器;
所述摄像头夹具用于固定摄像头模组;
所述盖板夹具用于固定终端盖板;
所述处理器与所述摄像头模组相连,用于执行所述存储器中存储的至少一条指令以实现上述方面所述的终端盖板的平整度检测方法。
另一方面,本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质,所述存储介质存储有至少一条指令,所述至少一条指令用于被处理器执行以实现如上述方面所述的终端盖板的平整度检测方法。
本申请实施例中,测试机台通过对未覆盖终端盖板的摄像头模组进行解析力测试,得到解析力参数的基准值,对覆盖终端盖板的摄像头模组进行解析力测试,得到解析力参数的测试值,从而根据基准值和测试值确定终端盖板是否通过平整度检测;相较于相关技术中直接对终端盖板进行牛顿环检测和面型PV检测时,仅能够根据盖板厚度的一致性确定终端盖板的平整度,采用本申请实施例提供的方法能够直接根据终端盖板对摄像头模组解析力的影响,确定终端盖板的平整度,进而提高了平整度检测结果的准确性。
附图说明
图1示出了本申请一个示例性实施例提供的测试机台的结构示意图;
图2示出了本申请一个示例性实施例提供的终端盖板的平整度检测方法的流程图;
图3示出了本申请另一个示例性实施例提供的终端盖板的平整度检测方法的流程图;
图4示出了本申请另一个示例性实施例提供的终端盖板的平整度检测方法的流程图;
图5示出了本申请一个实施例提供的终端盖板的平整度检测装置的结构框图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
在本文中提及的“多个”是指两个或两个以上。“和/或”,描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
相关技术中,采用牛顿环检测和面型PV检测的方式对终端盖板进行平整度检测时,从原理上讲都是通过终端盖板的厚度反映终端盖板的平整度。然而,终端盖板的平整度不仅与其厚度的一致性相关,还与终端盖板的表面形状(比如呈现出凸透镜或凹透镜)相关。
因此,采用相关技术提供的方法直接对终端盖板进行平整度检测的准确率较低,进而导致后续将不符合平整度要求的终端盖板安装到终端后,对终端摄像头的成像质量造成影响。
而本申请实施例提供了的终端盖板的平整度检测方法中,测试机台分别对覆盖终端盖板前后摄像头模组的解析力进行测试,从而根据覆盖终端盖板前后摄像头模组的解析力参数差异情况,确定终端盖板的平整度是否符合要求。由于解析力参数差异能够直接反映出终端盖板对摄像头成像造成的影响,因此该平整度检测方法的检测准确度更高,且符合平整度要求的终端盖板对摄像头成像造成的影响更小。
请参考图1,其示出了本申请一个示例性实施例提供的测试机台的结构示意图。其中,该测试机台100可以基于摄像头解析力测试机台改造而成。该测试机台100包括:摄像头夹具110、盖板夹具120、处理器130以及存储器140。
摄像头夹具110用于固定摄像头模组。其中,摄像头夹具110固定的摄像头模组的个数为至少一个。比如,当测试机台100用于检测单摄终端(具有1个摄像头)的终端盖板的平整度时,该摄像头夹具用于固定一个摄像头模组;当测试机台100用于检测n摄终端(具备n个摄像头)的终端盖板的平整度时,该摄像头夹具用于固定n个摄像头模组。
在一种可能的实施方式中,为了更加真实的模拟出摄像头的成像场景,当摄像头模组的个数为两个或以上时,至少两个摄像头模组的固定方式及排布方式与终端中摄像头模组的实际固定方式及排布方式相同。
可选的,摄像头夹具110固定的摄像头模组可以是红绿蓝(Red-Green-Blue,RGB)摄像头、飞行时间(Tinm-Of-Flight,TOF)摄像头等等,本申请实施例对此不做限定。
盖板夹具120用于固定终端盖板。可选的,该终端盖板可以是终端的屏幕盖板,也可以是终端的背部盖板,甚至可以是专门覆盖在摄像头上方的保护盖板。
可选的,该终端盖板为曲面玻璃盖板,该曲面玻璃盖板采用至少一个侧边是弯曲形状的盖板设计。比如,曲面玻璃盖板2.5D曲面玻璃盖板或者3D曲面玻璃盖板。
在一种可能的实施方式中,为了更加真实的模拟出摄像头的成像场景,固定在盖板夹具120上的终端盖板设置有摄像头透光部,当终端盖板固定在盖板夹具120上时,终端盖板的摄像头透光部正对摄像头夹具110上固定的摄像头模组,且终端盖板相对于摄像头模组的三维位置与终端实际情况保持一致。
处理器130可以包括一个或者多个处理核心。可选的,处理器130通过运行或执行存储在存储器140内的指令、程序、代码集或指令集,以及调用存储在存储器140内的数据,从而实现对终端盖板的平整度检测功能。
可选的,处理器130与摄像头夹具110上固定的摄像头模组建立连接。通过该连接,处理器130可以控制摄像头模组进行图像采集,并接收摄像头采集到的图像数据,以便后续根据图像数据确定摄像头模组的解析力参数。
可选的,处理器130与摄像头夹具110以及盖板夹具120建立连接。通过该连接,处理器130可以控制摄像头夹具110固定或释放摄像头模组,控制盖板夹具120固定或释放终端盖板;也可以控制摄像头夹具110和盖板夹具120的相对位置。
可选的,处理器130可以采用数字信号处理(Digital Signal Processing,DSP)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)、可编程逻辑阵列(Programmable Logic Array,PLA)中的至少一种硬件形式来实现。
存储器140可以包括随机存储器(Random Access Memory,RAM),也可以包括只读存储器(Read-Only Memory)。可选的,该存储器140包括非瞬时性计算机可读介质(non-transitory computer-readable storage medium)。存储器140可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器140可包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储用于实现下述各个方法实施例的指令;存储数据区可存储下面各个方法实施例中涉及到的数据等。
当然,测试机台100还可以包含电源组件、显示组件、输入输出组件等其他组件,本实施例仅以测试机台100包含上述组件为例进行示意性说明,并不对测试机台100的具体结构构成限定。
请参考图2,其示出了本申请一个示例性实施例提供的终端盖板的平整度检测方法的流程图。本实施例以该方法应用于图1所示出的测试机台100中来举例说明。该方法包括:
步骤201,对摄像头模组进行第一解析力测试,得到解析力参数的基准值,其中,进行第一解析力测试时,摄像头模组未覆盖终端盖板。
第一解析力测试用于测试摄像头模组的原始解析力。在一种可能的实施方式中,进行第一解析力测试时,测试机台的盖板夹具上未固定终端盖板,即摄像头模组在未覆盖终端盖板的情况下直接进行解析力测试。
可选的,进行第一解析力测试时,摄像头模组进行对焦,并在对焦成功后拍摄图像测试卡,从而将采集到的图像数据发送至处理器,由处理器根据图像数据确定解析力参数的基准值,并进行存储。
由于该基准值是用于评价终端盖板平整度的关键因素,因为为了提高基准值的准确性,在一种可能的实施方式中,测试机台进行n(n≥2)次第一解析力测试,得到n个候选基准值,从而将n个候选基准值的平均值确定为目标基准值。比如,测试机台对摄像头模组进行3次第一解析力测试,得到3个候选基准值,从而将3个候选基准值的平均值确定为目标基准值。
步骤202,对摄像头模组进行第二解析力测试,得到解析力参数的测试值,其中,进行第二解析力测试时,摄像头模组覆盖终端盖板。
第二解析力测试用于测试摄像头模组上覆盖终端盖板后的实际解析力。其中,第二解析力测试与第一解析力测试的方式相同,只是在进行第二解析力测试之前,将终端盖板固定在测试机台的盖板夹具上。
可选的,第一解析力测试和第二解析力测试为空间频率响应(Spatial FrequencyResponse,SFR)测试、调制传递函数(Modulation Transfer Function,MTF)测试、电视行(英文:TV line)测试中的至少一种,相应的,测试得到的解析力参数可以是SFR参数、MTF参数和TV line参数中的至少一种。本申请实施例对此不做限定。
可选的,进行第二解析力测试时,终端盖板相对于摄像头模组的三维位置与实际终端保持一致。
可选的,将终端盖板固定在盖板夹具上后,测试机台调整摄像头夹具与盖板夹具的相对位置,并在相对位置符合要求后,通过处理器向摄像头模组发送测试指令。摄像头模组接收到测试指令后即进行对焦,并在对焦成功后拍摄图像测试卡,从而将采集到的图像数据发送至处理器,由处理器根据图像数据确定解析力参数的测试值,并进行存储。
为了提高测试值的准确性,在一种可能的实施方式中,测试机台对每个终端盖板进行n(n≥2)次第二解析力测试,得到n个候选测试值,从而将n个候选测试值的平均值确定为目标测试值。比如,测试机台对终端盖板进行3次第二解析力测试,得到5个候选测试值,从而将3个候选测试值的平均值确定为目标测试值。
需要说明的是,由于覆盖终端盖板会影响摄像头模组的成像质量,导致解析力参数的数值下降,因此解析力参数的测试值通常小于解析力参数的基准值。
步骤203,根据基准值和测试值确定终端盖板是否通过平整度检测。
在一种可能的实施方式中,测试机台根据基准值和测试值确定解析力参数的衰减程度,从而根据衰减程度确定终端盖板是否通过平整度检测。
可选的,衰减程度可以为基准值与测试值之间的差值,或者,衰减程度可以为基准值与测试值之间的差值占基准值的比例。
其中,衰减程度与终端盖板的平整度成负相关关系。即衰减程度越高,表示终端盖板的平整度越差,即对摄像头成像的影响越大;反之,衰减程度越低,表示终端盖板的平整度越好,即对摄像头成像的影响越小。
综上所述,本申请实施例中,测试机台通过对未覆盖终端盖板的摄像头模组进行解析力测试,得到解析力参数的基准值,对覆盖终端盖板的摄像头模组进行解析力测试,得到解析力参数的测试值,从而根据基准值和测试值确定终端盖板是否通过平整度检测;相较于相关技术中直接对终端盖板进行牛顿环检测和面型PV检测时,仅能够根据盖板厚度的一致性确定终端盖板的平整度,采用本申请实施例提供的方法能够直接根据终端盖板对摄像头模组解析力的影响,确定终端盖板的平整度,进而提高了平整度检测结果的准确性。
可选的,摄像头模组包括镜头组件和对焦组件,该对焦组件用于控制镜头组件在摄像头模组中的位置,从而实现对焦功能。其中,该对焦组件包括马达,该马达可以为音圈马达(Voice Coil Motor,VCM)。
在一种可能的实施方式中,对摄像头模组进行第二解析力测试,测试机台通过对焦组件控制镜头组件进行对焦,当对焦成功时,摄像头模组即进行图像采集,并将采集到的图像发送给测试机台,测试机台即根据摄像头模组采集的图像计算解析力参数的测试值。需要说明的,测试机台对摄像头模组进行第一解析力测试的过程可以参考上述过程,本实施例在此不再赘述。
然而,采用上述方式进行解析力测试时,摄像头模组每次都需要在整个调焦范围内进行对焦,导致解析力测试耗时较长。为了进提高对焦速度,从而降低解析力测试耗时,可选的,进行第二解析力测试时,测试机台可以根据第一解析力测试时摄像头模组的对焦参数控制摄像头模组进行快速对焦,下面采用一个示意性的实施例进行说明。
请参考图3,其示出了本申请另一个示例性实施例提供的终端盖板的平整度检测方法的流程图。本实施例以该方法应用于图1所示出的测试机台100中来举例说明。该方法包括:
步骤301,进行第一解析力测试时,通过对焦组件控制镜头组件进行对焦。
在一种可能的实施方式中,进行第一解析力测试时,测试机台通过对焦组件控制镜头组件进行对焦包括粗调过程和细调过程。其中,粗调过程中,对焦组件按照第一调焦步长,控制镜头组件在整个调焦范围内调整焦距,从而确定出细调调焦范围,其中,细调调焦范围下的成像质量优于其他调焦范围下的成像质量。在细调过程中,对焦组件即按照第二调焦步长,控制镜头组件在细调调焦范围内调整焦距,最终完成对焦,其中,第一调焦步长大于第二调焦步长(以实现更加精细的调焦)。
步骤302,当对焦成功时,根据摄像头模组采集的图像计算解析力参数的基准值,并记录对焦组件的对焦基准值。
可选的,当摄像头模组对焦成功时,测试机台向摄像头模组发送拍摄指令,摄像头模组即根据拍摄指令进行图像采集,并将采集的图像发送给测试机台。测试机台接收到图像后,根据该图像计算解析力参数。
在一种可能的实施方式中,测试机台采用SFR算法或MTF算法计算解析力参数,本申请实施例并不对SFR算法以及MTF算法的具体计算过程进行赘述。
可选的,测试机台对解析力参数的基准值进行存储的同时,存储对焦成功时对焦组件的对焦基准值,以便后续基于该对焦基准值实现摄像头模组快速对焦。
步骤303,进行第二解析力测试时,获取进行第一解析力测试时对焦组件的对焦基准值。
为了避免在第二解析力测试时,需要经历完整的对焦过程(包括粗调过程和细调过程),在进行第二解析力测试时,测试机台首先获取第一解析力测试时对焦组件的对焦基准值。
步骤304,基于对焦基准值,通过对焦组件控制镜头组件进行对焦。
当终端盖板的平整度符合要求时,终端盖板对光路的影响较小,相应的,覆盖终端盖板情况下摄像头模组拍摄物体时所采用的焦距与未覆盖终端盖板情况下摄像头模组拍摄该物体时所采用的焦距差异较小。因此,测试机台可以根据对焦基准值,控制摄像头模组进行快速对焦(跳过粗调过程)。
在一种可能的实施方式中,本步骤可以包括如下子步骤:
一、根据对焦基准值确定调焦区间,对焦基准值位于调焦区间。
可选的,测试机台根据对焦基准值和浮动值确定调焦区间,其中调焦区间为(对焦基准值-浮动值,对焦基准值+浮动值)。其中,该浮动值可以由操作人员预先设置。
在一个示意性的例子中,当对焦基准值为F0,而浮动值为F1时,该调焦区间即为(F0-F1,F0+F1)。
二、通过对焦组件控件镜头组件在调焦区间内进行对焦。
进一步的,测试机台根据确定出的调焦区间,通过对焦组件控制镜头组件在调焦区间对应的镜头位置范围内移动,从而实现精准对焦,而无需控制镜头组件在整个焦距范围内移动。
为了提高对焦的准确性,在一种可能的实施方式中,测试机台按照目标调焦步长,通过对焦组件控件镜头组件在所述调焦区间内进行对焦,目标调焦步长小于步长阈值。
可选的,该目标调焦步长为细调过程中采用的调焦步长。
由于省去了粗调过程而直接进行细调,因此整个对焦时长得到减少。在实际应用中,解析力测试的时长由35秒降低至20s。
步骤305,当对焦成功时,根据摄像头模组采集的图像计算解析力参数的测试值。
可选的,当摄像头模组对焦成功时,测试机台向摄像头模组发送拍摄指令,摄像头模组即根据拍摄指令进行图像采集,并将采集的图像发送给测试机台。测试机台接收到图像后,根据该图像计算解析力参数,并将该解析力参数确定为测试值。
通过上述步骤301至305得到解析力参数的基准值和测试值后,测试机台即根据基准值和测试值确定终端盖板是否符合平整度要求。
在一种可能的实施方式中,测试机台计算基准值和测试值的差值,并检测该差值是否小于差值阈值,若小于,则执行步骤306,若大于,则执行步骤307。
步骤306,若基准值和测试值的差值小于差值阈值,则确定终端盖板通过平整度检测。
当基准值和测试值的差值小于差值阈值时,表明终端盖板对摄像头模组的解析力影响较小,因此确定终端盖板通过平整度检测。
可选的,当终端盖板通过平整度检测时,测试机台控制盖板夹具释放终端盖板,并将该终端盖板转移至合格盖板区域。
步骤307,若基准值和测试值的差值大于差值阈值,则确定终端盖板未通过平整度检测。
当基准值和测试值的差值大于差值阈值时,表明终端盖板对摄像头模组的解析力影响较大,因此确定终端盖板未通过平整度检测。
可选的,对于未通过平整度检测的终端盖板,测试机台控制盖板夹具释放终端盖板,并将该终端盖板转移至不合格盖板区域。
当然,在其他可能的实施方式中,终端也可以检测差值与基准值的比例是否小于比例阈值,若小于,则确定通过平整度检测,若大于,则确定未通过平整度检测,本实施例在此不再赘述。
本实施例中,测试机台根据第一解析力测试时摄像头模组的对焦基准值,在第二解析力测试时控制摄像头模组进行快速对焦,从而缩短后续解析力测试时的对焦耗时,提高盖板平整度检测的效率。
需要说明的是,在长时间工作状态下,摄像头模组的温度会升高,而温度会对摄像头模组的解析力造成影响,因此,为了进一步提高检测结果的准确性,在一种可能的实施方式中,每隔预定时间间隔(比如4小时),或,当测试次数达到次数阈值(比如100次)时,测试机台重新对摄像头模组进行第一解析力测试,并根据测试结果更新解析力参数的基准值。
请参考图4,其示出了本申请另一个示例性实施例提供的终端盖板的平整度检测方法的流程图。本实施例以该方法应用于图1所示出的测试机台100中来举例说明。该方法包括:
步骤401,进行第一解析力测试时,通过对焦组件控制镜头组件进行对焦。
步骤402,当对焦成功时,根据摄像头模组采集的图像计算解析力参数的基准值,并记录对焦组件的对焦基准值。
上述步骤401至402的实施过程可以参考步骤301至302,本实施例在此不再赘述。
步骤403,进行第二解析力测试时,通过对焦组件控制镜头组件进行对焦。
不同于上述实施例中,基于对焦基准值控制摄像头模组进行对焦,本实施例中,测试机台仍旧采用与第一解析力测试时一样的对焦方式,控制摄像头模组进行对焦(即包含粗调和细调过程)。
步骤404,当对焦成功时,根据摄像头模组采集的图像计算解析力参数的测试值,并记录对焦组件的对焦测试值。
测试机台根据摄像头模组采集的图像计算得到解析力参数的测试值后,对此次对焦成功是的对焦测试值进行存储,以便后续根据对焦测试值确定终端盖板是否对光路产生较大影响。
步骤405,获取进行第一解析力测试时对焦组件的对焦基准值,并获取第二解析力测试时对焦组件的对焦测试值。
在一种可能的场景下,终端盖板的平整度不符合平整度要求,但是通过大范围调整摄像头模组的焦距,摄像头模组仍旧能达到较好的解析力。为了避免出现这种情况,不同于上述实施例中,仅根据解析力参数基准值和解析力参数测试值确定终端盖板的平整度,本实施例中,测试机台还需要根据对焦基准值和对焦测试值确定终端盖板的平整度。
步骤406,若基准值和测试值的差值小于差值阈值,且对焦基准值与对焦测试值的差值小于对焦阈值,则确定终端盖板通过平整度检测。
当基准值和测试值的差值小于差值阈值,且对焦基准值与对焦测试值的差值小于对焦阈值时,表明终端盖板对光路影响较小,即终端盖板通过平整度检测。
步骤407,若基准值和测试值的差值大于差值阈值,和/或,对焦基准值与对焦测试值的差值大于对焦阈值,则确定终端盖板未通过平整度检测。
可选的,当基准值和测试值的差值大于差值阈值时,测试机台确定终端盖板未通过平整度检测。
可选的,当基准值和测试值的差值大于差值阈值时,测试机台继续检测对焦基准值与对焦测试值的差值是否小于对焦阈值;若对焦基准值与对焦测试值的差值是否小于对焦阈值,表明终端盖板对光路影响较大,而摄像头模组需要大范围调整焦距才能保证较好的解析力,因此确定终端盖板未通过平整度检测。
本实施例中,测试机台基于解析力参数基准值和解析力参数测试值的差值,以及对焦基准值和对焦测试值的差值确定终端盖板的平整度,能够进一步提高终端盖板平整度检测的准确性。
请参考图5,其示出了本申请一个实施例提供的终端盖板的平整度检测装置的结构框图。该装置可以通过软件、硬件或者两者的结合实现成为图1中测试机台100的全部或一部分。该装置包括:
第一测试模块510,用于对摄像头模组进行第一解析力测试,得到解析力参数的基准值,其中,进行所述第一解析力测试时,所述摄像头模组未覆盖终端盖板;
第二测试模块520,用于对所述摄像头模组进行第二解析力测试,得到所述解析力参数的测试值,其中,进行所述第二解析力测试时,所述摄像头模组覆盖所述终端盖板;
检测模块530,用于根据所述基准值和所述测试值确定所述终端盖板是否通过平整度检测。
可选的,所述检测模块530,用于:
若所述基准值和所述测试值的差值小于差值阈值,则确定所述终端盖板通过平整度检测;
若所述基准值和所述测试值的差值大于所述差值阈值,则确定所述终端盖板未通过平整度检测。
可选的,所述摄像头模组包括镜头组件和对焦组件,所述对焦组件用于控制所述镜头组件在所述摄像头模组中的位置;
所述第二测试模块520,用于:
通过所述对焦组件控制所述镜头组件进行对焦;
当对焦成功时,根据所述摄像头模组采集的图像计算所述解析力参数的所述测试值。
可选的,所述装置还包括:
第一获取模块,用于获取进行所述第一解析力测试时所述对焦组件的对焦基准值;
所述第二测试模块520,还用于:
基于所述对焦基准值,通过所述对焦组件控制所述镜头组件进行对焦。
可选的,所述第二测试模块520,还用于:
根据所述对焦基准值确定调焦区间,所述对焦基准值位于所述调焦区间;
通过所述对焦组件控件所述镜头组件在所述调焦区间内进行对焦。
可选的,所述第二测试模块520,还用于:
按照目标调焦步长,通过所述对焦组件控件所述镜头组件在所述调焦区间内进行对焦,所述目标调焦步长小于步长阈值。
可选的,所述装置还包括:
第二获取模块,用于获取进行所述第一解析力测试时所述对焦组件的对焦基准值,并获取所述第一解析力测试时所述对焦组件的对焦测试值;
所述检测模块530,还用于:
若所述基准值和所述测试值的差值小于差值阈值,且所述对焦基准值与所述对焦测试值的差值小于对焦阈值,则确定所述终端盖板通过平整度检测;
若所述基准值和所述测试值的差值大于所述差值阈值,和/或,所述对焦基准值与所述对焦测试值的差值大于所述对焦阈值,则确定所述终端盖板未通过平整度检测。
可选的,所述装置还包括:
更新模块,用于每隔预定时间间隔,或,当测试次数达到次数阈值时,重新对所述摄像头模组进行所述第一解析力测试,并根据测试结果更新所述解析力参数的所述基准值。
可选的,所述解析力参数包括SFR参数、MTF参数和TV line参数中的至少一种。
综上所述,本申请实施例中,测试机台通过对未覆盖终端盖板的摄像头模组进行解析力测试,得到解析力参数的基准值,对覆盖终端盖板的摄像头模组进行解析力测试,得到解析力参数的测试值,从而根据基准值和测试值确定终端盖板是否通过平整度检测;相较于相关技术中直接对终端盖板进行牛顿环检测和面型PV检测时,仅能够根据盖板厚度的一致性确定终端盖板的平整度,采用本申请实施例提供的方法能够直接根据终端盖板对摄像头模组解析力的影响,确定终端盖板的平整度,进而提高了平整度检测结果的准确性。
此外,测试机台根据第一解析力测试时摄像头模组的对焦基准值,在第二解析力测试时控制摄像头模组进行快速对焦,从而缩短后续解析力测试时的对焦耗时,提高盖板平整度检测的效率。
此外,测试机台基于解析力参数基准值和解析力参数测试值的差值,以及对焦基准值和对焦测试值的差值确定终端盖板的平整度,能够进一步提高终端盖板平整度检测的准确性。
本申请实施例还提供了一种计算机可读介质,该计算机可读介质存储有至少一条指令,所述至少一条指令由所述处理器加载并执行以实现如上各个实施例所述的终端盖板的平整度检测方法。
本申请实施例还提供了一种计算机程序产品,该计算机程序产品存储有至少一条指令,所述至少一条指令由所述处理器加载并执行以实现如上各个实施例所述的终端盖板的平整度检测方法。
本领域技术人员应该可以意识到,在上述一个或多个示例中,本申请实施例所描述的功能可以用硬件、软件、固件或它们的任意组合来实现。当使用软件实现时,可以将这些功能存储在计算机可读介质中或者作为计算机可读介质上的一个或多个指令或代码进行传输。计算机可读介质包括计算机存储介质和通信介质,其中通信介质包括便于从一个地方向另一个地方传送计算机程序的任何介质。存储介质可以是通用或专用计算机能够存取的任何可用介质。
以上所述仅为本申请的较佳实施例,并不用以限制本申请,凡在本申请的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种终端盖板的平整度检测方法,其特征在于,所述方法用于测试机台,所述方法包括:
对摄像头模组进行第一解析力测试,得到解析力参数的基准值,以及进行所述第一解析力测试时对焦组件的对焦基准值,其中,所述摄像头模组包括镜头组件和所述对焦组件,所述对焦组件用于控制所述镜头组件在所述摄像头模组中的位置,进行所述第一解析力测试时,所述摄像头模组未覆盖终端盖板;
对所述摄像头模组进行第二解析力测试,得到所述解析力参数的测试值,以及进行所述第二解析力测试时对焦组件的对焦测试值,其中,进行所述第二解析力测试时,所述摄像头模组覆盖所述终端盖板;
若所述基准值和所述测试值的差值小于差值阈值,且所述对焦基准值与所述对焦测试值的差值小于对焦阈值,则确定所述终端盖板通过平整度检测;
若所述基准值和所述测试值的差值大于所述差值阈值,和/或,所述对焦基准值与所述对焦测试值的差值大于所述对焦阈值,则确定所述终端盖板未通过平整度检测。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述摄像头模组进行第二解析力测试,得到所述解析力参数的测试值,包括:
通过所述对焦组件控制所述镜头组件进行对焦;
当对焦成功时,根据所述摄像头模组采集的图像计算所述解析力参数的所述测试值。
3.根据权利要求2述的方法,其特征在于,所述对所述摄像头模组进行第二解析力测试,得到所述解析力参数的测试值之前,所述方法还包括:
获取进行所述第一解析力测试时所述对焦组件的对焦基准值;
所述通过所述对焦组件控制所述镜头组件进行对焦,包括:
基于所述对焦基准值,通过所述对焦组件控制所述镜头组件进行对焦。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于所述对焦基准值,通过所述对焦组件控制所述镜头组件进行对焦,包括:
根据所述对焦基准值确定调焦区间,所述对焦基准值位于所述调焦区间;
通过所述对焦组件控件所述镜头组件在所述调焦区间内进行对焦。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述通过所述对焦组件控件所述镜头组件在所述调焦区间内进行对焦,包括:
按照目标调焦步长,通过所述对焦组件控件所述镜头组件在所述调焦区间内进行对焦,所述目标调焦步长小于步长阈值。
6.根据权利要求1至5任一所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
每隔预定时间间隔,或,当测试次数达到次数阈值时,重新对所述摄像头模组进行所述第一解析力测试,并根据测试结果更新所述解析力参数的所述基准值。
7.根据权利要求1至5任一所述的方法,其特征在于,所述解析力参数包括空间频率响应SFR参数、调制传递函数MTF参数和电视行TVline参数中的至少一种。
8.一种终端盖板的平整度检测装置,其特征在于,所述装置用于测试机台,所述装置包括:
第一测试模块,用于对摄像头模组进行第一解析力测试,得到解析力参数的基准值,以及进行所述第一解析力测试时对焦组件的对焦基准值,其中,所述摄像头模组包括镜头组件和对焦组件,所述对焦组件用于控制所述镜头组件在所述摄像头模组中的位置,进行所述第一解析力测试时,所述摄像头模组未覆盖终端盖板;
第二测试模块,用于对所述摄像头模组进行第二解析力测试,得到所述解析力参数的测试值,以及进行所述第二解析力测试时对焦组件的对焦测试值,其中,进行所述第二解析力测试时,所述摄像头模组覆盖所述终端盖板;
检测模块,
用于若所述基准值和所述测试值的差值小于差值阈值,且所述对焦基准值与所述对焦测试值的差值小于对焦阈值,则确定所述终端盖板通过平整度检测;若所述基准值和所述测试值的差值大于所述差值阈值,和/或,所述对焦基准值与所述对焦测试值的差值大于所述对焦阈值,则确定所述终端盖板未通过平整度检测。
9.一种测试机台,其特征在于,所述测试机台包括:摄像头夹具、盖板夹具、处理器以及存储器;
所述摄像头夹具用于固定摄像头模组;
所述盖板夹具用于固定终端盖板;
所述处理器与所述摄像头模组相连,用于执行所述存储器中存储的至少一条指令以实现权利要求1至7任一所述的终端盖板的平整度检测方法。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述存储介质存储有至少一条指令,所述至少一条指令用于被处理器执行以实现如权利要求1至7任一所述的终端盖板的平整度检测方法。
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