CN109634853A - 数据测试方法、系统、电子装置及计算机可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明涉及人工智能领域，具体提供了一种数据测试方法、系统、电子装置及计算机可读存储介质，测试方法包括如下步骤：首先接收测试请求，进入数据测试模式；然后获取需要测试的数据，将数据与测试程序关联得测试任务；然后启动同步触发程序，将同步触发程序与各测试任务相关联；再然后将各测试任务和与各测试任务相关联的同步触发程序关联后存储至缓存区域；接着当检测到测试测试触发指令时，通过同步触发程序，同时进行各测试数据的测试工作，获得与需要测试的数据相对应的测试结果。上述数据测试方法、系统、电子装置及计算机可读存储介质，能够实现各测试数据的同时测试，各测试过程同时进行，与逐一测试相比，测试时间缩短。

Description

数据测试方法、系统、电子装置及计算机可读存储介质

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，更为具体地，涉及一种数据测试方法、系统、装置及可读存储介质。

背景技术

现有的测试工作中，常常需要测试多个、多种数据，每次测试均需要触发测试申请，进行测试，并将测试的结果输出，但是实际测试工作中，处理器需耗费较多的时间对数据进行解析，每项测试工作均需大量的测试时间；工作人员逐一对数据进行测试，还需耗费大量的时间等待测试结果。

同时，每天触发测试申请、输出测试结果均较为频繁，导致产生大量的代码冗余，需要大量的存储空间，同时消耗服务器的性能，降低系统的效率。

发明内容

为了解决现有技术中待测试数据分别测试时需要耗费大量的时间等待测试结果的问题，本发明提供一种数据测试方法及系统。

本发明提供的一种数据测试方法，应用于电子装置，测试方法包括如下步骤：

第一步、接收测试请求，进入数据测试模式；然后获取与测试请求对应的需要测试的数据，将需要测试的数据与对应的测试程序关联，形成测试任务；

第二步、启动同步触发程序，将同步触发程序与各测试任务相关联；

第三步、将与同步触发程序相关联的各测试任务存储至缓存区域的任务队列中；

第四步、当检测到同步触发程序的测试触发指令时，启动线程池中的线程处理任务队列中的测试任务，通过同步触发程序，同时进行各测试数据的测试工作，获得与需要测试的数据相对应的测试结果。

优选的，第四步中，测试触发指令的发出过程是：每隔一定时间，发出一次测试触发指令。

优选的，第四步中，测试触发指令的发出过程是：检测缓存区域中缓存的需要测试的数据的存储量或测试任务量；当数据的存储量达到第一预设阈值，或者测试任务的测试任务量达到第二预设阈值时，发出测试触发指令。

优选的，在启动线程池中的线程处理所述任务队列中的测试任务时，根据待处理的测试任务的总数量以及预先设置的所述线程池的最大线程数量，动态的调整启动的线程的数量。可以理解的是，可以根据测试任务的任务量的需要预设设置最大线程数，在每次启动线程池执行任务时，可以根据任务队列中的任务量开启不超过最大线程数的多个线程，开启的线程数根据测试任务的总数量，最大线程数确定。

再优选的，获取各测试任务的测试时间，以各测试任务的测试时间为权重，平均分配各线程内的测试任务数量和种类。

另一方面，本发明提供一种数据测试系统，应用于电子装置，包括：

测试任务建立单元，用于接收测试请求，进入数据测试模式；然后获取与所述测试请求对应的需要测试的数据，将所述需要测试的数据与对应的测试程序关联，形成测试任务；

关联单元，用于启动同步触发程序，将同步触发程序与各测试任务相关联；

缓存单元，用于将与同步触发程序相关联的各测试任务存储至缓存区域的任务队列中；

测试单元，当检测到同步触发程序的测试触发指令时，用于启动线程池中的线程处理任务队列中的测试任务，通过同步触发程序，同时进行各测试数据的测试工作，获得与需要测试的数据相对应的测试结果。

优选的，所述同步触发程序是与测试单元相关联的计时器或计数器，当同步触发程序为计时器时，计时器每隔预设时间发出信号，该信号为测试触发指令；测试单元接收到测试触发指令时启动线程池中的线程处理所述任务队列中的测试任务。

优选的，所述同步触发程序是与测试单元相关联的计数器，计数器检测缓存区域中缓存的需要测试的数据的存储量或测试任务量；当数据的存储量达到预设的第一预设阈值，或者所述测试任务的测试任务量达到预设的第二预设阈值时，发出测试触发指令，测试单元接收到测试触发指令时启动线程池中的线程处理所述任务队列中的测试任务。

另外，本发明还提供一种电子装置，该电子装置包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述数据测试方法的各个步骤，计算机程序包括数据输入程序、测试程序和同步触发程序；

数据输入程序被处理器执行时实现如下步骤：接收需要测试的数据，该数据是多个互不相干的数据；

测试程序被处理器执行时实现如下步骤：首先关联相对应的测试数据，形成同步任务；

同步触发程序被处理器执行时实现如下步骤：首先关联同步任务，并存储在缓存区域内；接收到测试触发指令时，启动线程池中的线程处理任务队列中的测试任务，通过同步触发程序，同时进行各测试数据的测试工作，获得与需要测试的数据相对应的测试结果。

优选的，所述处理器有多个，各测试程序被平均分配至各处理器，各测试程序被所对应的处理器执行。

优选的，上述存储器可以是闪存、硬盘、多媒体卡、卡型存储器、磁性存储器、磁盘和光盘的一种或多种组合。

此外，本发明还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有数据输入程序、测试程序和同步触发程序；数据输入程序、测试程序和同步触发程序被处理器执行时，实现上述任一项的数据测试方法的步骤。

上述一种数据测试方法、系统、电子装置及计算机可读存储介质与现有技术相比，具有以下有益效果：

上述数据测试方法、系统、电子装置及计算机可读存储介质，通过同步触发程序，以及任务队列和线程的设置，能够实现各测试数据的同时测试，多个测试任务的测试过程同时进行，与各测试任务逐一运行相比，测试时间缩短。各不相关的数据进行测试时，各不相关的测试数据解析工作同时进行，当测试多个数据时降低解析时间，减少等待时间。

附图说明

通过参考以下流程附图的说明及权利要求书的内容，并且随着对本发明的更全面理解，本发明的其它目的及结果将更加明白及易于理解。在附图中：

图1是根据本发明实施例的数据测试方法的流程示意图；

图2是根据本发明实施例的数据测试系统的逻辑结构示意图；

图3是根据本发明实施例的电子装置的逻辑结构示意图；

图4是根据本发明实施例的计算机程序的信息传输路线示意图。

附图中：电子装置1；处理器2；存储器3；计算机程序4；测试任务建立单元101；关联单元102；缓存单元103；测试单元104；数据输入程序201；测试程序202；同步触发程序203。

在所有附图中相同的标号指示相似或相应的特征或功能。

具体实施方式

在下面的描述中，出于说明的目的，为了提供对一个或多个实施例的全面理解，阐述了许多具体细节。然而，很明显，也可以在没有这些具体细节的情况下实现这些实施例。在其它例子中，为了便于描述一个或多个实施例，公知的结构和设备以方框图的形式示出

以下将结合附图对本发明的具体实施例进行详细描述。

实施例1

图1为根据本发明实施例的数据测试方法的流程示意图。如图1所示，本实施例提供的数据测试方法包括如下步骤：

第一步、如图1中的S1和S2所示，首先接收测试请求，根据所接收的测试请求进入对应的数据测试模式；然后获取与测试请求对应的需要测试的数据，将需要测试的数据与对应的测试程序关联，形成测试任务；第一步用于实现测试程序和测试数据的关联，形成测试任务，是数据测试的准备工作。

第二步、如图1中的S3所示，启动同步触发程序，将同步触发程序与第一步中形成的各测试任务相关联；第二步用于将测试任务与同步触发程序关联，便于后期利用同步触发程序控制测试任务的开启。

第三步、如图1中的S4所示，将与同步触发程序相关联的各测试任务存储至缓存区域的任务队列中；将测试任务存储至任务队列，等待同步触发程序的下一步操作。

第四步、如图1中的S5所示，当检测到同步触发程序的测试触发指令时，启动线程池中的线程处理任务队列中的测试任务，通过同步触发程序，同时进行各测试数据的测试工作，测试完毕获得与需要测试的数据相对应的测试结果。同步触发程序发出测试触发指令，同时进行各测试任务的运行，最终实现各测试任务的测试工作同步操作。

为了更清楚的说明本发明的技术方案，下面将从数据测试方法的具体细节入手逐步说明本发明进行数据测试的具体细节。

上述第四步中，测试触发指令的发出过程是：每隔一定时间，发出一次测试触发指令，该相隔的时间是预先设置的。此时，可以设置计时装置，每隔预设时间时，计时装置发出控制信号，控制信号控制同步触发程序工作，同步触发程序再控制各测试任务同时进行测试工作。

当然，也可以人为发出测试触发指令，或者根据其他设定的条件设置测试触发指令的发出时机。比如，可以对任务队列中的测试任务的项数进行测试触发的限定，当任务队列中的测试任务达到20项或者30项等预设的数量时，就发出测试触发指令，控制各测试任务同时进行测试工作。另外，还可以对存储任务的缓存区域的存储量进行测试触发的限定，比如，当存储任务的缓存区域的存储量达到存储总量的60％时，发出测试触发指令，控制各测试任务同时进行测试工作，以释放缓存区域的存储空间。

具体的，上述第四步中，测试触发指令的发出过程可以是：检测缓存区域中缓存的需要测试的数据的存储量或测试任务量；当数据的存储量达到第一预设阈值，或者测试任务的测试任务量达到第二预设阈值时，发出测试触发指令。上述测试触发指令的发出，应是缓存区域内设置存储量阈值，如记录测试数据存储量的第一预设阀值，记录测试任务数量的第二预设阀值，当达到第一预设阀值或第二预设阀值时，同步触发程序给个测试任务发出测试触发指令。

此外，上述第四步中，测试触发指令的发出过程还可以是：工作人员输入需要测试的数据后，通过输入设备发出测试触发指令。

具体的，在启动线程池中的线程处理所述任务队列中的测试任务时，还可以根据待处理的测试任务的总数量以及预先设置的所述线程池的最大线程数量，动态的调整启动的线程的数量。

可以理解的是，可以根据测试任务的任务量的需要预设设置最大线程数，在每次启动线程池执行任务时，可以根据任务队列的任务量开启不超过最大线程数的多个线程，开启的线程数根据测试任务的总数量，最大线程数确定。在条件允许的情况下，每个测试任务对应一个线程，当测试任务大于最大线程数时，也可将多个测试任务设置在一个线程内。

更具体的，在对各测试任务与各线程的匹配上，可根据下述方式进行：获取各测试任务的测试时间，以各测试任务的测试时间为权重，平均分配各线程内的测试任务数量和种类。

当启动多个线程时进行测试时，由于各测试任务所需时间不同，当各线程内的测试任务分配不均时，必将导致部分线程的测试任务全部完成，而其它线程的测试任务还在进行中。上述各线程内测试任务分配方案中，为了提高效率，可以根据各测试任务所需要的时间(该时间可以是预估时间，也可以是以往进行测试时所需要的时间)和测试任务的数量分配各线程内的测试任务，其中以时间为权重，以同类型的测试任务数量为系数，进行各线程内测试任务分配。

举例如下：如有测试任务1、测试任务2和测试任务3，测试任务1、测试任务2和测试任务3分在之前的类似测试中，分别耗时1小时、2小时和3小时，通过该数据测试方法进行测试时，共启用两个线程；则测试任务1和测试任务2分配在一个线程内，测试任务3分配在另一个线程内，在两线程不干扰的情况下，可以保证两线程内的测试任务结束时间一致。当然，当测试任务1、测试任务2和测试任务3分在之前的类似测试中，分别耗时0.5小时、2小时和3小时，本示例中的分配方式也是最优的方式，也应认为达到了本发明中平均的要求。本发明中提到的平均并非是狭义的平均，而是要求各线程内各测试任务耗时总量尽量均衡，寻找最优的分配方式，防止出现部分线程内的测试任务已经完成，而其它线程还需等待较长时间才能完成测试的状况发生。

实施例2

本实施例以示例的方式展现了本发明的数据测试方法，该示例中，测试员甲对数据的测试需要依据A、B和C三个测试模型，A、B和C三个测试模型可以是测试程序，A、B和C三个测试模型分别对a、b和c三组数据进行测试。

测试员甲通过服务器实现以下数据测试方法：

第一步、测试员甲开启服务器所在的电子装置，该电子装置可以是电脑；

第二步、测试员甲发出测试请求，该测试请求调用A、B和C三个测试模型，应测试请求的调用行为，A、B和C三个测试模型进入测试模式。

第三步、测试员甲授予A、B和C三个测试模型调用数据库内数据的权限；A、B和C三个测试模型从数据库中获取相对应的需要测试的数据a、b和c，该a、b和c三组数据与A、B和C三个测试模型一一对应，此时A测试模型与数据a关联，形成测试任务1；B测试模型与数据b关联，形成测试任务2；C与数据c关联，形成测试任务3。

第四步、调用同步触发程序，将测试任务1、测试任务2和测试任务3与同步触发程序相关联，此时同步触发程序控制测试任务1、测试任务2和测试任务3的运行；当同步触发程序发出测试触发指令时，测试任务1、测试任务2和测试任务3运行，否则测试任务1、测试任务2和测试任务3无法运行。

第五步、将测试任务1、测试任务2和测试任务3存储至缓存区域的任务队列中，等待测试任务1、测试任务2和测试任务3的运行。

第六步、根据预先设定的指令或由测试员甲操作，调用同步触发程序，使同步触发程序发出测试触发指令。该测试触发指令应有三个，分别控制测试任务1、测试任务2和测试任务3运行，测试任务1、测试任务2和测试任务3同时接收到测试触发指令，测试任务1、测试任务2和测试任务3根据接收到的测试触发指令同时运行；或者，该测试触发指令有一个，该测试触发指令用于控制任务队列，使任务队列中的测试任务1、测试任务2和测试任务3同时运行。

第六步、测试任务1、测试任务2和测试任务3运行完毕后，接收与需要测试的数据相对应的测试结果。

具体的，上述A、B和C三个测试模型可以是同一测试模型，则测试员甲测试同一类型的不同数据。如数据a、数据b和数据c均需要同一测试模型进行测试，则实现该方法的服务器加载三个相同的测试模型，三个相同的测试模型同时对三个数据进行测试。

具体的，上述A、B和C三个测试模型可以是不同的测试模型，则测试员甲测试不同类型的数据。则实现该方法的服务器加载三个不同的测试模型，三个不同的测试模型分别对三个数据进行测试。

具体的，上述第三步中，A、B和C三个测试模型也可以不同调用数据库内的数据获取数据a、数据b和数据c，该数据a、数据b和数据c可以是测试员甲通过输入设备直接将数据a、数据b和数据c输入A、B和C三个相对应的测试模型。

实施例3

与上述数据测试方法相对应，本实施例提供了一种数据测试系统，应用于电子装置，执行上述数据测试方法对各待测试数据进行测试，如图2所示，该数据测试系统包括测试任务建立单元101、关联单元102、缓存单元103和测试单元104，数据测试系统工作时测试任务建立单元101、关联单元102、缓存单元103和测试单元104依次传输数据。

其中，测试任务建立单元101用于接收测试请求，根据所接收的测试请求进入对应的数据测试模式；然后获取与所述测试请求对应的需要测试的数据，将所述需要测试的数据与对应的测试程序关联，形成测试任务。简言之，测试任务建立单元101用于完成数据测试的准备工作。

关联单元102用于启动同步触发程序，将同步触发程序与测试任务建立单元101中形成的各测试任务相关联。

缓存单元103用于将与同步触发程序相关联的各测试任务存储至缓存区域，等待测试工作开始。具体的，在缓存区域中，与同步触发程序相关联的各测试任务存储在相应的任务队列中，等待测试。

测试单元104用于检测同步触发程序的测试触发指令，并根据同步触发程序的测试触发指令启动线程池中的线程处理任务队列中的测试任务，同时进行各测试数据的测试工作，获得与需要测试的数据相对应的测试结果。

其中，所述同步触发程序可以是与测试单元相关联的计时器或计数器。

当同步触发程序为计时器时，计时器每隔预设时间发出信号，该信号为测试触发指令；测试单元接收到测试触发指令时启动线程池中的线程处理所述任务队列中的测试任务。

当同步触发程序为计数器时，计数器检测缓存区域中缓存的需要测试的数据的存储量或测试任务量；当数据的存储量达到预设的第一预设阈值，或者所述测试任务的测试任务量达到预设的第二预设阈值时，发出测试触发指令，测试单元接收到测试触发指令时启动线程池中的线程处理所述任务队列中的测试任务。

此外，同步触发程序也可以是信号发出装置，各测试任务的运行前工作完毕后，工作人员通过输入设备发出测试触发信号；或者，当当任务队列中的测试任务达到预设的数量时发出测试触发信号；再或者，当存储任务的缓存区域的存储量达到预设存储量时发出测试触发信号等。信号发出装置接收该信号后发出同步触发指令，测试单元接收到测试触发指令时启动线程池中的线程处理所述任务队列中的测试任务。

实施例4

图3为根据本发明实施例的数据测试电子装置的逻辑结构示意图，如图3所示，本实施例提供的数据测试电子装置1包括存储器2和处理器3，存储器中存储有计算机程序4，处理器执行计算机程序时实现如实施例1中数据测试方法的各个步骤。

计算机程序包括数据输入程序201、测试程序202和同步触发程序203，数据输入程序201、测试程序202和同步触发程序203如图4所示，在工作时依次传输数据。

数据输入程序被处理器执行时实现如下步骤：接收需要测试的数据，该数据是多个互不相干的数据；上述测试数据可以是从数据库直接抓取，也可以由数据输入程序直接提取工作人员直接输入的数据。

测试程序被处理器执行时实现如下步骤：首先关联相对应的测试数据，形成同步任务。

同步触发程序被处理器执行时实现如下步骤：首先关联同步任务，并存储在缓存区域内；接收到测试触发指令时，启动线程池中的线程处理任务队列中的测试任务，通过同步触发程序，同时进行各测试数据的测试工作，获得与需要测试的数据相对应的测试结果。

示例性的，计算机程序可以被分割成一个或多个模块/单元，一个或者多个模块/单元被存储在存储器中，并由处理器执行，以完成本发明。一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描述计算机程序在电子装置中的执行过程。

例如，计算机程序可以被分割成数据输入单元、测试单元和同步触发单元，分别对应上述数据输入程序、测试程序和同步触发程序。其功能作用在本实施例中已有详细说明，在此不一一赘述。

电子装置可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。电子装置可包括，但不仅限于，处理器、存储器。本领域技术人员可以理解，图3仅仅是电子装置的示例，并不构成对电子装置的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如电子装置还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。

所称处理器可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是控制器、微控制器、微处理器，或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。用于执行数据输入程序、测试程序和同步触发程序。

存储器可以是电子装置的内部存储单元，例如电子装置的硬盘或内存。存储器也可以是电子装置的外部存储设备，例如电子装置上配备的插接式硬盘，智能存储卡(SmartMedia Card,SMC)，安全数字(Secure Digital,SD)卡，闪存卡(Flash Card)、多媒体卡、卡型存储器、磁性存储器、磁盘和光盘等。进一步地，存储器还可以既包括终端设备的内部存储单元也包括外部存储设备。存储器用于存储计算机程序以及电子设备所需的其他程序和数据。存储器还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。

实施例5

本发明提供的计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有数据输入程序、测试程序和同步触发程序；数据输入程序、测试程序和同步触发程序被处理器执行时，实现上述实施例1数据测试方法的步骤。为避免重复，这里不再赘述。或者，该程序被处理器执行时实现实施例2中基于电子装置中各模块/单元的功能，为避免重复，这里不再赘述。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

在本发明所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。

作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不包括是电载波信号和电信信号。

如上参照附图以示例的方式描述了根据本发明的数据测试方法、系统、电子装置及计算机可读存储介质。但是，本领域技术人员应当理解，对于上述本发明所提出的数据测试方法、系统、电子装置及计算机可读存储介质，还可以在不脱离本发明内容的基础上做出各种改进。因此，本发明的保护范围应当由所附的权利要求书的内容确定。

Claims (10)

1.一种数据测试方法，应用于电子装置，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

第一步、接收测试请求，进入数据测试模式；然后获取与所述测试请求对应的需要测试的数据，将所述需要测试的数据与对应的测试程序关联，形成测试任务；

第二步、启动同步触发程序，将同步触发程序与各测试任务相关联；

第三步、将与同步触发程序相关联的各测试任务存储至缓存区域的任务队列中；

第四步、当检测到同步触发程序的测试触发指令时，启动线程池中的线程处理所述任务队列中的测试任务，通过同步触发程序，同时进行各测试数据的测试工作，获得与需要测试的数据相对应的测试结果。

2.如权利要求1所述的数据测试方法，其特征在于，在第四步中，所述测试触发指令的发出过程是：每隔预设时间，发出一次测试触发指令。

3.如权利要求1所述的数据测试方法，其特征在于，在第四步中，所述测试触发指令的发出过程是：检测缓存区域中缓存的需要测试的数据的存储量或测试任务量；当数据的存储量达到预设的第一预设阈值，或者所述测试任务的测试任务量达到预设的第二预设阈值时，发出测试触发指令。

4.如权利要求1所述的数据测试方法，其特征在于，在启动线程池中的线程处理所述任务队列中的测试任务时，根据待处理的测试任务的总数量以及预先设置的所述线程池的最大线程数量，动态的调整启动的线程的数量。

5.如权利要求4所述的数据测试方法，其特征在于，获取各测试任务的测试时间，以各测试任务的测试时间为权重，平均分配各线程内的测试任务数量和种类。

6.一种数据测试系统，包括测试任务建立单元、关联单元、缓存单元和测试单元；

所述测试任务建立单元，用于接收测试请求，进入数据测试模式；然后获取与所述测试请求对应的需要测试的数据，将所述需要测试的数据与对应的测试程序关联，形成测试任务；

所述关联单元，用于启动同步触发程序，将同步触发程序与各测试任务相关联；

所述缓存单元，用于将与同步触发程序相关联的各测试任务存储至缓存区域的任务队列中；

所述测试单元，当检测到同步触发程序的测试触发指令时，用于启动线程池中的线程处理任务队列中的测试任务，通过同步触发程序，同时进行各测试数据的测试工作，获得与需要测试的数据相对应的测试结果。

7.如权利要求6所述的数据测试系统，其特征在于，所述同步触发程序是与测试单元相关联的计时器或计数器；

当同步触发程序为计时器时，计时器每隔预设时间发出信号，该信号为测试触发指令；测试单元接收到测试触发指令时启动线程池中的线程处理所述任务队列中的测试任务；

当同步触发程序为计数器时，计数器检测缓存区域中缓存的需要测试的数据的存储量或测试任务量；当数据的存储量达到预设的第一预设阈值，或者所述测试任务的测试任务量达到预设的第二预设阈值时，发出测试触发指令，测试单元接收到测试触发指令时启动线程池中的线程处理所述任务队列中的测试任务。

8.一种电子装置，该电子装置包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现如权利要求1至5任意一项所述数据测试方法的各个步骤；计算机程序包括数据输入程序、测试程序和同步触发程序；

所述数据输入程序被所述处理器执行时实现如下步骤：接收需要测试的数据，该数据是多个互不相干的数据；

所述测试程序被所述处理器执行时实现如下步骤：首先关联相对应的测试数据，形成同步任务；

所述同步触发程序被所述处理器执行时实现如下步骤：首先关联所述同步任务，并存储在缓存区域内；接收到测试触发指令时，启动线程池中的线程处理任务队列中的测试任务，通过同步触发程序，同时进行各测试数据的测试工作，获得与需要测试的数据相对应的测试结果。

9.如权利要求8所述的电子装置，其特征在于，所述处理器有多个，各测试程序被平均分配至各处理器，各测试程序被所对应的处理器执行。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有数据输入程序、测试程序和同步触发程序；所述数据输入程序、测试程序和同步触发程序被处理器执行时，实现如权利要求1至5中任意一项所述的数据测试方法的步骤。