CN109616144B - 磁盘装置以及读取处理方法 - Google Patents

Abstract

本发明的实施方式提供可提高所读取出的数据的可靠性的磁盘装置以及读取处理方法。本实施方式的磁盘装置具备：盘；头，其向所述盘写入数据，从所述盘读取数据；以及控制器，其基于从所述盘读取出的第1数据来生成将所述第1数据写入了所述盘时的第2数据，基于所述第2数据来生成表示因热波动现象引起的所述第1数据的振幅的变化的第3数据，基于所述第3数据来调整所述第1数据。

Description

磁盘装置以及读取处理方法

关联申请

本申请享有以日本专利申请2017-194967号(申请日：2017年10月5日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的全部内容。

技术领域

本发明的实施方式涉及磁盘装置以及读取处理方法。

背景技术

对于磁盘装置，构成盘的记录层的磁性体粒子正在不断微细化。在磁盘装置中，随着磁性体粒子的微细化，热稳定性降低，可能会产生因热能量而导致磁性体粒子的磁化方向自由反转的热波动现象。在由于产生了热波动现象而导致磁性体粒子的磁化方向发生了反转的情况下，磁盘装置有可能会无法准确地读取数据。

发明内容

本发明的实施方式提供一种提高所读取出的数据的可靠性的磁盘装置以及读取处理方法。

本实施方式的磁盘装置具备：盘；头，其向所述盘写入数据，从所述盘读取数据；以及控制器，其基于从所述盘读取出的第1数据来生成将所述第1数据写入了所述盘时的第2数据，基于所述第2数据来生成表示因热波动现象引起的所述第1数据的振幅的变化的第3数据，基于所述第3数据来调整所述第1数据。

附图说明

图1是表示实施方式的磁盘装置的构成的框图。

图2是用于说明热波动现象的一例的示意图。

图3是用于说明热波动现象的一例的示意图。

图4是表示因热波动现象引起的读取数据的再现波形的振幅的变化的一例的图。

图5是表示在产生了热波动现象的情况下的读取数据的再现波形的一例的图。

图6是表示实施方式的R/W通道的读取系统的构成例的框图。

图7是表示实施方式的热波动处理部的构成例的框图。

图8是用于说明实施方式的反转部的处理的一例的图。

图9是表示本实施方式的热波动处理的一例的流程图。

图10是表示实施方式的执行热波动处理的定时(timing)的一例的流程图。

具体实施方式

以下，参照附图对实施方式进行说明。此外，附图是一例，并没有限定发明的范围。

(第1实施方式)

图1是表示第1实施方式的磁盘装置1的构成的框图。

磁盘装置1具备后述的头盘组件(HDA)、驱动器IC20、头放大器集成电路(以下称为头放大器IC或者前置放大器)30、易失性存储器70、缓冲存储器(缓冲器)80、非易失性存储器90、以及作为单芯片集成电路的系统控制器130。另外，磁盘装置1与主机系统(主机)100连接。

HDA具有磁盘(以下称为盘)10、主轴马达(SPM)12、搭载有头15的臂13、以及音圈马达(VCM)14。盘10通过主轴马达12进行旋转。臂13以及VCM14构成致动器。致动器通过VCM14的驱动，将搭载于臂13的头15移动控制到盘10上的目标位置。对于盘10以及头15，也可以设置2个以上的个数。以下，将从主机100转送而向盘10写入的数据称为写入数据，将从盘10读取而向主机100转送的数据称为读取数据。此外，有时也将读取数据以及写入数据简称为数据。

盘10在其记录区域分配有用户能够利用的记录区域10a和写入系统管理所需的信息的系统区10b。盘10通过与从后述的头15的写入头15W施加的写入数据的数据模式(datapattern)对应的记录磁场而磁化，由此写入数据。盘10在各磁道中，按与写入数据的波形(或者，位模式，bit pattern)对应的各信息区域被磁化为相同方向。因此，信息区域所包含的多个磁性体粒子实质上被磁化为相同方向。以下，有时也将信息区域所包含的多个磁性体粒子简称为信息区域。例如，信息区域与写入数据的nT(n＝正整数：1、2、3、4……)的波形对应。在盘10中，随着时间的经过，可能会产生因热能量而导致磁性体粒子的磁化方向自由地极性反转的现象(以下，称为热波动现象)。随着磁性体粒子的大小(grain size，颗粒尺寸)变小，热波动现象表现得显著。

头15以滑动条作为主体，具备安装于该滑动条的写入头15W以及读取头15R。写入头15W向盘10上写入数据。例如，写入头15W通过向盘10施加与写入数据对应的记录磁场来使盘10磁化，由此向盘10写入数据。读取头15R读取盘10上的数据磁道所记录的数据。例如，读取头15R通过检测盘10的各信息区域的磁化的方向，从盘10读取数据。

图2以及图3是用于说明热波动现象的一例的示意图。图2以及图3示出了盘10的一部分的磁化的状态。图2示出了刚写入了写入数据之后的盘10的一部分的磁化的状态。图3示出了从图2经过了预定时间之后的盘10的一部分的磁化的状态。在图2以及图3中，纵轴表示盘10的半径方向，横轴表示盘10的圆周方向。换言之，圆周方向是与半径方向垂直交叉的方向。在图2以及图3中，圆周方向为了便于说明而呈直线状延伸，但实际上成为曲线状。图2以及图3中示出了信息区域IA1、IA2以及IA3。信息区域IA1、IA2以及IA3在圆周方向上连续地排列。在图2以及图3中，信息区域IA1、IA2以及IA3具有不同的圆周方向的宽度，但也可以具有相同的圆周方向的宽度。在图2以及图3中，素色的椭圆形状或者圆形状表示被磁化为正方向的磁性体粒子PT，斜线的椭圆形状或者圆形状表示被磁化为负方向的磁性体粒子NT。此外，在图2以及图3中，磁性体粒子PT以及NT用椭圆形状或者圆形状来表示，但也可以是多边形状，还可以是椭圆、圆以及多边形状以外的形状。

在图2中，信息区域IA1被磁化为正方向，信息区域IA2被磁化为负方向，信息区域IA3被磁化为正方向。在经过了时间的情况下，信息区域IA1、IA2以及IA3的几个磁性体粒子因热波动现象而导致磁化方向反转。对于热波动现象，在信息区域IA1、IA2以及IA3的圆周方向的宽度内位于内侧的磁性体粒子，相比于在圆周方向的宽度内位于外侧的磁性体粒子，容易发生磁化方向的反转。例如，如图3所示，位于信息区域IA1、IA2以及IA3的宽度的中间部的磁性体粒子的磁化方向因热波动现象而显著地发生反转。

图4是表示因热波动现象引起的读取数据的再现波形的振幅的变化的一例的图。图4中示出了向盘10写入的写入数据WWV、和表示读取已写入盘10的写入数据WWV而得到的读取数据(以下，称为与写入数据WWV对应的读取数据)的因热波动现象发生了变化的再现波形的振幅的变化值(以下，简称为变化值)的变化的数据(以下，简称为变化数据)CWV。在图4中，横轴表示时间，纵轴表示数据WWV的信号电平、和变化值。在数据WWV的信号电平的纵轴上，S表示正值，-S表示负值。S和-S的绝对值为相同值。在变化值的纵轴上，C表示正值，-C表示负值。C和-C的绝对值为相同值。

在图4所示的例子中，变化数据CWV示出了：与产生了热波动现象的写入数据WWV对应的读取数据的再现波形的振幅的绝对值，小于与未产生热波动现象的写入数据WWV对应的读取数据的再现波形的振幅的绝对值。在变化数据CWV中，与写入数据WWV发生极性反转的定时对应的变化值大致为0。另外，在变化数据CWV中，从写入数据WWV发生极性反转的定时朝向写入数据WWV的极性反转的间隔的中间的定时，变化值的绝对值变大。作为一例，在变化数据CWV中，与波形WP42发生极性反转的定时T41、T43对应的变化值CV41、CV43为0。另外，在变化数据CWV中，从波形WP42发生极性反转的定时T41、T43朝向波形WP42的极性反转的间隔的中间的定时T42，变化值的绝对值变大。

在图4所示的例子中，在写入数据WWV中，与频率小的波形的极性反转的间隔的中间的定时对应的变化值的绝对值，大于与频率大的波形的极性反转的间隔的中间的定时对应的变化值的绝对值。作为一例，与7T的波形WP45的极性反转的间隔的中间的定时T45对应的变化值CV45，大于与比波形WP45大的频率即2T的波形WP44的极性反转的间隔的中间的定时T44对应的变化值CV44。

如此，因热波动现象引起的读取数据的再现波形的振幅的变化数据，具有图4所示这样的特征。该特征起因于图3所示的热波动现象的性质。

图5是表示产生了热波动现象的情况下的读取数据的再现波形的一例的图。图5中示出了在产生热波动现象之前读取出的读取数据的再现波形(以下，称为基准波形)RWV51和在产生了热波动现象之后读取出的读取数据的再现波形(以下，称为热波动波形)RWV52。换言之，基准波形是未受到热波动现象的影响的再现波形。在图5中，横轴表示时间，纵轴表示再现波形的振幅。在纵轴上，A1表示正值，-A1表示负值。A1和-A1的绝对值为相同值。在图5中，再现波形RWV51例如是读取已写入盘10的图4的写入数据WWV而得到的读取数据的再现波形。另外，再现波形RWV52相当于在再现波形RWV51的读取数据中产生了热波动现象的情况下的再现波形。在图5所示的例子中，对基准波形RWV51和热波动波形RWV52进行比较，热波动波形RWV52的一部分的振幅的绝对值小于基准波形RWV51的一部分的振幅的绝对值。

表示基准波形RWV51与热波动波形RWV52的差分值(以下，简称为差分值)的变化的数据(以下，称为差分数据)，能够基于前述的变化数据来算出。因此，变化数据的预定定时的差分值，能够基于该定时的因热波动现象引起的再现波形的变化值来算出。作为一例，基准波形RWV51的定时T51的振幅A511与热波动波形RWV52的定时T51的振幅A512之间的差分值DF5，能够基于与基准波形RWV51的定时T51对应的变化值来算出。具体而言，差分值DF5能够将与基准波形RWV51的定时T51对应的变化值作为孤立再现波形的饱和电平(或者振幅电平)进行卷积来算出。例如，定时T51对应于振幅A511的波形所对应的写入数据WWV的波形的极性反转的间隔的中间定时。根据前述，热波动波形能够基于基准波形和差分数据来算出。换言之，基准波形能够基于差分数据和热波动波形来算出。也就是说，通过使用差分值来调整热波动波形，能够算出基准波形。

驱动器IC20按照系统控制器130(详细而言，后述的MPU30)的控制，控制SPM12以及VCM14的驱动。

头放大器IC30具备读取放大器以及写入驱动器。读取放大器将从盘10读取出的读取信号进行放大，并输出到系统控制器130(详细而言，后述的读/写(R/W)通道60)。写入驱动器将与从R/W通道60输出的写入数据相应的写入电流输出到头15。

易失性存储器70是当电力供给断开时所保存的数据会丢失的半导体存储器。易失性存储器70保存磁盘装置1的各部中的处理所需的数据等。易失性存储器70例如是DRAM(Dynamic Random Access Memory，动态随机存取存储器)或者SDRAM(SynchronousDynamic Random Access Memory，同步动态随机存取存储器)。

缓冲存储器80是对在磁盘装置1与主机100之间收发的数据等暂时存储的半导体存储器。此外，缓冲存储器80也可以与易失性存储器70一体构成。缓冲存储器80例如是DRAM、SRAM(Static Random Access Memory，静态随机存取存储器)、SDRAM、FeRAM(Ferroelectric Random Access memory，铁电随机存取存储器)或者MRAM(Magnetoresistive Random Access Memory，磁阻随机存取存储器)等。

非易失性存储器90是即使电力供给断开也会存储所保存的数据的半导体存储器。非易失性存储器90例如是NOR型或NAND型的闪速ROM(Flash Read Only Memory：FROM)。

系统控制器(控制器)130例如使用将多个元件集成到单一芯片而成的被称为片上系统(System-on-a-Chip(SoC))的大规模集成电路(LSI)来实现。系统控制器130包括微处理器(MPU)40、硬盘控制器(HDC)50和读/写(R/W)通道60。系统控制器130与驱动器IC20、头放大器IC30、易失性存储器70、缓冲存储器80、非易失性存储器90以及主机系统100电连接。

MPU40是控制磁盘装置1的各部的主控制器。MPU40经由驱动器IC20控制VCM14，执行进行头15的定位的伺服控制。另外，MPU40控制向盘10写入数据的写入动作，并且选择从主机100转送的写入数据的保存目的地。MPU30基于固件来执行处理。MPU40与磁盘装置1的各部连接。例如，MPU40与HDC50以及R/W通道60电连接，控制它们的处理。

HDC50根据来自MPU40的指示，控制主机100与R/W通道60之间的数据转送。HDC50与MPU40、R/W通道60、易失性存储器70、缓冲存储器80、非易失性存储器90以及主机系统100电连接。

R/W通道60根据来自MPU40的指示，执行读取数据以及写入数据的信号处理。R/W通道60具有对从盘10读取出的读取数据的信号质量进行测定的电路或者功能。R/W通道60与头放大器IC30、MPU40以及HDC50电连接。

以下，在头15、头放大器IC30以及控制器130中，将向主机100转送从盘10读取出的读取数据的系统称为读取系统。

图6是表示实施方式的R/W通道60的读取系统的构成例的框图。

R/W通道60具备转换器(converter)601、热波动处理部602、自适应滤波器603、604、合成部605、维特比(Viterbi)译码部606、比较部607、以及LDPC(Low Density ParityCheck，低密度奇偶校验)部608来作为读取系统。

转换器601对从头放大器IC30输入的读取数据进行变换，将变换后的数据输出给热波动处理部602以及自适应滤波器604。例如，转换器601是将从头放大器IC30输入的模拟数据变换成数字数据的AD(模拟-数字)转换器。

热波动处理部602生成用于将从转换器601输入的读取数据的热波动波形调整成基准波形或者与基准波形近似的波形的调整数据，将所生成的调整数据输出给自适应滤波器603。调整数据是表示用于在各定时将热波动波形的振幅调整成基准波形或者与基准波形近似的波形的调整值的变化的数据，相当于前述的差分数据。也就是说，调整值相当于前述的差分值。例如，首先，热波动处理部602根据从转换器601输入的产生了热波动现象的读取数据，生成与将该读取数据写入了盘10时的写入数据对应的数据(以下，称为预测数据)。接着，热波动处理部602基于预测数据来生成对前述的变化数据进行了推定的数据(以下，称为推定数据)。此外，以下，有时也将推定数据称为变化数据。并且，热波动处理部602基于推定数据生成调整数据并输出给自适应滤波器603。作为一例，热波动处理部602通过将与预测数据的极性反转的间隔的中间的定时对应的推定数据作为孤立再现波形的饱和电平来执行卷积处理，生成调整数据，并输出给自适应滤波器603。关于热波动处理部602的详细情况，在后面叙述。

自适应滤波器603对从热波动处理部602输入的调整数据的波形进行均衡化，并输出给合成部605。自适应滤波器603例如是FIR(Finite impulse response，有限冲激响应)滤波器。自适应滤波器603通过LMS(Least mean square，最小均方)算法使在对调整数据的波形进行均衡化时使用的滤波器系数、例如抽头数最佳化。自适应滤波器603例如以使得来自后述的比较部607的信号成为最小的方式调整抽头数。

自适应滤波器604对从转换器601输入的读取数据的再现波形进行均衡化，并输出给合成部605。自适应滤波器604例如是FIR滤波器。自适应滤波器604通过LMS算法使对读取数据的波形进行均衡化时使用的滤波器系数、例如抽头数最佳化。自适应滤波器604例如以使得来自后述的比较部607的信号成为最小的方式调整抽头数。

合成部605将从自适应滤波器603输入的调整数据和从自适应滤波器604输入的读取数据进行合成，将合成后的数据(以下，称为修正数据)输出给维特比译码部606以及比较部607。也就是说，修正数据是减轻了因热波动现象产生的影响的读取数据。例如，合成部605将从FIR滤波器603输入的调整数据加到从自适应滤波器604输入的读取数据的热波动波形上来生成修正数据，将所生成的修正数据输出给维特比译码部606以及比较部607。

维特比译码部606对从合成部605输入的修正数据执行维特比译码处理，将执行了维特比译码处理后的修正数据输出给LDPC部608。另外，维特比译码部606将对执行了维特比译码处理后的修正数据执行重构(reconstruction)处理而得到的重构数据输出给比较部607。

比较部607算出从合成部605输入的修正数据与从维特比译码部606输入的重构数据之间的误差e1，将所算出的误差e1输出给自适应滤波器603以及自适应滤波器604。例如，误差e1是均方误差。

LDPC部608对从维特比译码部606输入的修正数据执行LDPC译码处理，将执行了LDPC译码处理后的修正数据输出给HDC50。另外，LDPC部608将表示在LDPC译码处理中修正数据通过LDPC检查行列式判没判定为错误的信息输出给热波动处理部602。

图7是表示本实施方式的热波动处理部602的构成例的框图。

热波动处理部602具备自适应滤波器621、维特比译码部622、比较部623、反转部624、生成部625以及裁剪(Clip)部626。热波动处理部602通过这些构成，能够提高因热波动现象引起的读取数据的变化的调整精度。

自适应滤波器621对从转换器601输入的读取数据的波形进行均衡化，并输出给维特比译码部622。自适应滤波器621例如是FIR滤波器。自适应滤波器621通过LMS算法使在对读取数据的再现波形进行均衡化时使用的滤波器系数、例如抽头数最佳化。自适应滤波器621例如以使得来自后述的比较部623的信号成为最小的方式调整抽头数。

维特比译码部622对从自适应滤波器621输入的读取数据执行维特比译码处理，生成预测数据以及可靠性信息、例如对数似然比(Log likelihood ratio：LLR)，将所生成的预测数据以及可靠性信息输出给反转部624。例如，维特比译码部622对从自适应滤波器621输入的读取数据执行硬判定处理，生成由1和0序列表示的预测数据以及可靠性信息，将所生成的预测数据以及可靠性信息输出给反转部624。另外，维特比译码部622将对所生成的预测数据执行了重构处理后的重构数据输出给比较部623。

比较部623算出从自适应滤波器621输入的读取数据与从维特比译码部622输入的重构数据之间的误差e2，将所算出的误差e2输出给自适应滤波器621。例如，误差e2是均方误差。

反转部624被从维特比译码部622输入预测数据以及该预测数据的可靠性信息，基于所输入的可靠性信息使预测数据的可靠性低的位模式进行极性反转，将对可靠性低的位模式进行了极性反转的预测数据输出给生成部625。在此，可靠性低的位模式是发生错误的可能性高的位模式，例如是位于两个形成低频率波形的位模式(以下，称为低频模式)之间的形成高频率波形的位模式(以下，称为高频模式)。高频模式例如是1T的位模式。另外，低频模式是比高频模式例如1T低的频率的波形的位模式。

图8是用于说明本实施方式的反转部624的处理的一例的图。图8例如示出了从维特比译码部622输出的预测数据的再现波形的一例。图8中示出了不包含因维特比译码处理产生的误差的热波动波形WV81和包含因维特比译码处理产生的误差的热波动波形WV82。在图8中，纵轴表示再现波形的振幅，横轴表示时间。在纵轴上，A2表示正值，-A2表示负值。A2和-A2的绝对值为相同值。在图8中，热波动波形WV82是在热波动波形WV81产生了因维特比译码处理引起的误差的情况下的再现波形。热波动波形WV81和热波动波形WV82是大致相同的波形，但是局部波形不同。作为一例，热波动波形WV81的波形W811和与波形W811对应的热波动波形WV82的波形W820、W821以及W822不同。发生了极性反转的波形W821和波形W820及W822，与波形W811一致。在热波动波形WV82中，波形W821是高频率例如1T的波形，波形W820以及波形W822是频率比波形W821低的例如4T的波形。

在图8所示的例子中，反转部624从自维特比译码部622输入的预测数据中，检测高频模式、例如1T的波形W821的位模式。例如，反转部624也可以取得波形W821的位模式的行程长度(Run length)的信息，判定波形W821的位模式是不是高频模式。反转部624取得紧接进行了检测的波形W821的位模式之前的波形820的位模式以及紧接进行了检测的波形W821的位模式之后的波形W822的位模式的行程长度的信息，判定是否将波形W821的位模式设为极性反转的对象。例如，反转部624在波形820的位模式以及波形W822的位模式的行程长度比波形W821的位模式的行程长度大的情况下将波形W821的位模式设为极性反转的对象。换言之，反转部624在紧接高频率的波形W821的位模式之前以及紧接高频率的波形W821的位模式之后存在低频率的波形820以及波形822的位模式的情况下，将高频率的波形W821的位模式设为极性反转的对象。另外，反转部624也可以在波形820以及波形W822的位模式的行程长度为预定的行程长度以上的情况下，将波形W821的位模式设为极性反转的对象。换言之，反转部624也可以在波形820的位模式和波形822的位模式为预定的行程长度以上的低频模式的情况下将波形W821的位模式设为极性反转的对象。反转部624在判定为将波形W821的位模式设为极性反转的对象的情况下，判定波形W821的位模式的可靠性信息是小于阈值(以下，称为第1阈值)还是为第1阈值以上。第1阈值是表示位模式的准确性的特定值，例如是特定的似然。在判定为位模式小于第1阈值的情况下，反转部624将波形W821的位模式进行极性反转。反转部624对预测数据的可靠性低的例如对数似然比小的位模式反复执行前述的极性反转的处理，将执行了极性反转的处理后的预测数据输出给生成部625。反转部624既可以保持第1阈值，也可以从存储器、例如非易失性存储器90等取得。另外，反转部624从LDPC部608取得表示与波形W821的位模式对应的修正数据的位模式通过LDPC检查行列式判没判定为错误的信息，判定与波形W821的位模式对应的修正数据的位模式通过LDPC的检查行列式判没判定为错误。在判定为被判定为错误的情况下，反转部624限制对预测数据的可靠性低的例如对数似然比小的位模式进行极性反转的处理。

生成部625基于从反转部624输入的预测数据来生成推定数据，基于所生成的推定数据来生成调整数据，将所生成的调整数据输出给裁剪部626。作为一例，生成部625基于表现图4中示出的变化数据(推定数据)的特征的式子和预测数据来生成推定数据。即，生成部625基于表现如下特征的式子和预测数据来生成推定数据，所述特征是：从预测数据发生极性反转的定时朝向预测数据的极性反转的间隔的中间的定时，推定数据的绝对值变大，并且，相比于预测数据的特定频率(第1频率)的波形的极性反转的间隔的中间的定时的推定数据，预测数据的比第1频率小的频率(第2频率)的波形的极性反转的间隔的中间的定时的推定数据较大。另外，生成部625例如通过将与预测数据的极性反转的间隔的中间的定时对应的推定数据作为孤立再现波形的饱和电平执行卷积处理来生成调整数据，并输出给裁剪部626。生成部625能够变更在执行卷积处理时要执行卷积的波形干涉的范围。

裁剪部626判定从生成部625输入的调整数据是大于阈值(以下，称为第2阈值)还是为第2阈值以下，在判定为调整数据大于第2阈值的情况下，对调整数据进行裁剪(剪切)，将裁剪后的调整数据输出给自适应滤波器603。第2阈值例如是特定的振幅。裁剪部626既可以保持第2阈值，也可以从存储器、例如非易失性存储器90等取得。例如，裁剪部626在判定为调整数据的预定波形的振幅大于第2阈值的情况下，进行裁剪以使得调整数据的预定波形的振幅成为第2阈值，将对预定波形的振幅进行了裁剪后的调整数据输出给自适应滤波器603。

图9是表示本实施方式的热波动处理的一例的流程图。

控制器130基于产生了热波动现象的读取数据来生成预测数据(B901)。控制器130判定在预测数据中是否存在高频模式(高频率的波形的位模式)、例如1T的数据模式(B902)。在判定为不存在高频模式的情况下(B902：否)，控制器130进入B907的处理。在判定为存在高频模式的情况下(B902：是)，控制器130判定在紧接高频模式之前以及紧接高频模式之后是否存在低频模式(低频率的波形的位模式)(B903)。例如，控制器130取得紧接高频模式之前的波形的位模式的行程长度的信息和紧接高频模式之后的波形的位模式的行程长度的信息，判定紧接高频模式之前以及紧接高频模式之后的波形的位模式是不是低频模式。在判定为不存在低频模式的情况下(B903：否)，控制器130进入B907的处理。在判定为存在低频模式(存在低频率的波形的位模式)的情况下(B903：是)，控制器130判定高频模式的可靠性信息、例如对数似然比是小于第1阈值还是为第1阈值以上(B904)。在判定为高频模式的可靠性信息为第1阈值以上的情况下(B904：否)，控制器130进入B907的处理。在判定为高频模式的可靠性信息小于第1阈值的情况下(B904：是)，控制器130通过LDPC部608判定与高频模式对应的修正数据的位模式通过LDPC的检查行列式判没判定为错误(B905)。例如，控制器130在LDPC部608中，判定与前一个发生了极性反转的高频模式对应的修正数据的位模式通过LDPC的检查行列式判没判定为错误。在判定为被判定为错误的情况下(B905：否)，控制器130进入B907的处理。在判定为未被判定为错误的情况下(B905：是)，控制器130将预测数据的可靠性低的高频率的波形的位模式进行极性反转(B906)。控制器130基于预测数据来生成推定数据(B907)。控制器130基于所生成的推定数据来生成调整数据(B908)。控制器130判定调整数据的预定的波形是大于第2阈值还是为第2阈值以下(B909)。在判定为第2阈值以下的情况下(B909：否)，控制器130进入B910的处理。在判定为大于第2阈值的情况下(B909：是)，控制器130进行裁剪以使得调整数据的预定波形成为第2阈值(B910)。控制器130使用所生成的调整数据来调整读取数据的热波动波形(B911)，结束处理。

图10是表示本实施方式的执行热波动处理的定时的一例的流程图。

控制器130从主机100接收读取命令(B1001)。控制器130判定发没发生读取错误(B1002)。在判定为没有发生读取错误的情况下(B1002：否)，控制器130结束处理。在判定为发生了读取错误的情况下(B1002：是)，控制器130执行前述的由热波动处理部602等进行的热波动处理(B1003)。控制器130从主机100接收读取命令(B1004)。控制器130判定发没发生读取错误(B1005)。在判定为没有发生读取错误的情况下(B1005：否)，控制器130结束处理。在判定为发生了读取错误的情况下(B1005：是)，控制器130执行其他处理。其他处理例如是将已写入盘10的数据重新写到盘10的相同位置的刷新处理等。

根据本实施方式，磁盘装置1具有热波动处理部602。磁盘装置1通过热波动处理部602基于从盘10读取出的产生了热波动现象的读取数据来生成预测数据。另外，磁盘装置1基于预测数据来生成推定数据，基于推定数据来生成调整数据。磁盘装置1能够使用调整数据将产生了热波动现象的读取数据生成未产生热波动现象的读取数据、或者与未产生热波动现象的读取数据接近的数据。也就是说，磁盘装置1通过使用由热波动处理部602生成的调整数据来调整读取数据，由此能够减轻或消除在读取数据中产生的热波动现象的影响。因此，磁盘装置1可提高所读取出的数据的可靠性。

虽然说明了几个实施方式，但是这些实施方式是作为例子提出的，并非旨在限定发明的范围。这些新的实施方式能够以其他各种方式来实施，在不偏离发明宗旨的范围内，可以进行各种省略、替换、变更。这些实施方式及其变形包含在发明的范围和/或宗旨中，并且包含在权利要求书所记载的发明和其等同的范围内。

Claims (8)

1.一种磁盘装置，其中，具备：

盘；

头，其向所述盘写入数据，从所述盘读取数据；以及

控制器，其对从所述盘读取出的第1数据执行硬判定处理来生成将所述第1数据写入了所述盘时的第2数据，基于所述第2数据来生成表示因在所述盘中的热波动现象引起的所述第1数据的振幅的变化的第3数据，基于所述第3数据来调整所述第1数据。

2.根据权利要求1所述的磁盘装置，其中，

所述控制器基于如下特征和所述第2数据来生成所述第3数据，所述特征是：从所述第2数据发生极性反转的第1定时以及第2定时朝向所述第2数据的极性反转的间隔的中间的第3定时，所述第3数据变大，并且，相比于所述第2数据的第1频率的波形的极性反转的间隔的中间的第4定时的所述第3数据，所述第2数据的比第1频率小的第2频率的波形的极性反转的间隔的中间的第5定时的所述第3数据较大。

3.根据权利要求1所述的磁盘装置，其中，

所述控制器当在所述第2数据中检测出可靠性低的第1位模式时，使所述第1位模式进行极性反转。

4.根据权利要求3所述的磁盘装置，其中，

所述控制器在所述第2数据中检测作为高频模式的所述第1位模式，判定所述第2数据中的紧接所述第1位模式之前的第2位模式和紧接所述第1位模式之后的第3位模式是低频模式还是高频模式，在判定为是低频模式的情况下，判定表示所述第1位模式的可靠性的第1信息是小于第1阈值还是为第1阈值以上，在判定为所述第1信息小于所述第1阈值的情况下，使所述第1位模式进行极性反转。

5.根据权利要求1所述的磁盘装置，其中，

所述控制器通过将所述第3数据作为孤立再现波形的饱和电平执行卷积处理，由此生成第4数据，使用所述第4数据来调整所述第1数据。

6.根据权利要求5所述的磁盘装置，其中，

所述控制器能够变更在执行所述卷积处理时要执行卷积的波形干涉的范围。

7.根据权利要求5或6所述的磁盘装置，其中，

所述控制器判定所述第4数据的第1波形的第1振幅是大于第2阈值还是小于第2阈值，在判定为所述第1振幅大于第2阈值的情况下，使所述第1振幅成为所述第2阈值。

8.一种读取处理方法，是适用于磁盘装置的读取处理方法，所述磁盘装置具备盘和头，所述头向所述盘写入数据，从所述盘读取数据，

在所述读取处理方法中，

对从所述盘读取出的第1数据执行硬判定处理来生成将所述第1数据写入了所述盘时的第2数据，

基于所述第2数据来生成表示因在所述盘中的热波动现象引起的所述第1数据的振幅的变化的第3数据，

基于所述第3数据来调整所述第1数据。

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