CN109597282B - 一种提升tft-lcd面板对组精度的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及面板对组技术领域，特别涉及一种提升TFT‑LCD面板对组精度的方法，通过对基准的测长仪机台进行校正操作，得到校正数据后，以校正数据为调整目标对第一测长仪机台和第二测长仪机台进行校正，将校正后的测长仪机台对玻璃基板进行对位，从而缩小第一测长仪机台与第二测长仪机台间量测机差所造成的误差，提升Array玻璃基板与CF玻璃基板对组精度，进而提升TFT‑LCD面板对组精度。

Description

一种提升TFT-LCD面板对组精度的方法
技术领域
本发明涉及面板对组技术领域，特别涉及一种提升TFT-LCD面板对组精度的方法。
背景技术
现今，TFT-LCD面板厂对组方式普遍为整大片玻璃对组，且Array基板和CF基板图形控制方式皆以测长仪机台量测监控再补偿至曝光机台制作，若不同测长仪机台间机差过大将造成对组异常。目前测长仪机台间机差校正方式皆以一般0度量测作为调整依据，此方校正方式易忽略量测机台坐标象限的差异及Array基板和CF基板对组时呈镜像关系的影响。因此，特别有必要提供一种提升TFT-LCD面板对组精度的方法。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是：提供一种提升TFT-LCD面板对组精度的方法，可有效缩小测长仪机台的量测机差及图形镜像造成的差异。
为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：
一种提升TFT-LCD面板对组精度的方法，包括以下步骤：
S1、对基准的测长仪机台进行校正操作，得到校正数据；
S2、根据所述校正数据分别对第一测长仪机台以及第二测长仪机台进行校正；
S3、使用校正后的第一测长仪机台对Array玻璃基板进行对位，使用校正后的第二测长仪机台对CF玻璃基板进行对位；
S4、将步骤S3得到的Array玻璃基板和CF玻璃基板进行对组，得到TFT-LCD面板。
本发明的有益效果在于：通过对基准的测长仪机台进行校正操作，得到校正数据后，以校正数据为调整目标对第一测长仪机台和第二测长仪机台进行校正，将校正后的测长仪机台对玻璃基板进行对位，从而缩小第一测长仪机台与第二测长仪机台间量测机差所造成的误差，提升Array玻璃基板与CF玻璃基板对组精度，进而提升TFT-LCD面板对组精度。
附图说明
图1为根据本发明的一种提升TFT-LCD面板对组精度的方法的步骤流程图。
具体实施方式
为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。
本发明最关键的构思在于：提供一种提升TFT-LCD面板对组精度的方法，缩小Array测长仪机台与CF测长仪机台间机差所造成的误差，提升TFT-LCD面板对组精度。
请参照图1，本发明提供的技术方案：
一种提升TFT-LCD面板对组精度的方法，包括以下步骤：
S1、对基准的测长仪机台进行校正操作，得到校正数据；
S2、根据所述校正数据分别对第一测长仪机台以及第二测长仪机台进行校正；
S3、使用校正后的第一测长仪机台对Array玻璃基板进行对位，使用校正后的第二测长仪机台对CF玻璃基板进行对位；
S4、将步骤S3得到的Array玻璃基板和CF玻璃基板进行对组，得到TFT-LCD面板。
从上述描述可知，本发明的有益效果在于：通过对基准的测长仪机台进行校正操作，得到校正数据后，以校正数据为调整目标对第一测长仪机台和第二测长仪机台进行校正，将校正后的测长仪机台对玻璃基板进行对位，从而缩小第一测长仪机台与第二测长仪机台间量测机差所造成的误差，提升Array玻璃基板与CF玻璃基板对组精度，进而提升TFT-LCD面板对组精度。
进一步的，步骤S1具体为：
S11、以基准的测长仪机台的标准片中心点为旋转中心，将所述标准片旋转至预设初始位置后进行量测，得到第一数据；
S12、以预设方向为旋转方向，将所述标准片旋转180度至目标位置后进行量测，得到第二数据；
S13、判断是否需要对所述标准片进行多次旋转量测；
S14、若否，根据镜像关系，计算所述第一数据和第二数据的平均值，得到取平均值后的第三数据；
S15、将所述第三数据作为基准的测长仪机台的校正数据。
由上述描述可知，由于测长仪机台量测时的机差会造成对组异常，通过对基准的测长仪机台进行校正操作，得到校正数据，将量测时的机差将为最低，提升Array玻璃基板与CF玻璃基板对组精度。
进一步的，所述预设初始位置为基准的测长仪机台的0度所对应的位置。
由上述描述可知，将预设初始位置设置为基准的测长仪机台的0度所对应的位置，方便测长仪机台量测校正数据的计算。
进一步的，所述预设方向为顺时针方向。
由上述描述可知，将预设方向设置为顺时针方向，能够减少标准片旋转过程的偏移差，提升TFT-LCD面板对组精度。
进一步的，步骤S13还包括：
S131、若是，则将所述标准片旋转180度至所述预设初始位置后进行量测，得到第四数据；
S132、比较所述第四数据和第一数据是否一致；
S133、若是，计算所述第一数据和第二数据的平均值，得到取平均值后的第三数据。
由上述描述可知，通过比较量测得到的第四数据和第一数据，判断在标准片旋转过程中是否发生位置偏移，可减小校正数据的误差。
进一步的，步骤S133还包括：
若否，则发出测长仪机台异常的提示信息。
由上述描述可知，当测长仪机台异常时，通过发出异常提示信息，能够及时将异常信息反馈给工作人员，通知工作人员尽快对故障机台进行维修，从而有效提高工作时的安全性。
进一步的，步骤S4具体为：
将步骤S3得到的Array玻璃基板和CF玻璃基板进行对组；
判断Array玻璃基板和CF玻璃基板是否存在对组异常；
若是，则返回步骤S1。
进一步的，若Array玻璃基板和CF玻璃基板不存在对组异常，则得到TFT-LCD面板。
请参照图1，本发明的实施例一为：
一种提升TFT-LCD面板对组精度的方法，包括以下步骤：
S1、对基准的测长仪机台进行校正操作，得到校正数据；具体为：
以基准的测长仪机台的标准片中心点为旋转中心，将所述标准片旋转至预设初始位置后进行量测，得到第一数据；所述预设初始位置为基准的测长仪机台的0度所对应的位置；
以预设方向为旋转方向，将所述标准片旋转180度至目标位置后进行量测，得到第二数据；所述预设方向为顺时针方向；
判断是否需要对所述标准片进行多次旋转量测；
若不需要对所述标准片进行多次旋转量测，根据镜像关系，计算所述第一数据和第二数据的平均值，得到取平均值后的第三数据；将所述第三数据作为基准的测长仪机台的校正数据。
若需要对所述标准片进行多次旋转量测，则将所述标准片旋转180度至所述预设初始位置后进行量测，得到第四数据；比较所述第四数据和第一数据是否一致；
若所述第四数据和第一数据一致，则计算所述第一数据和第二数据的平均值，得到取平均值后的第三数据。若述第四数据和第一数据不一致，则发出测长仪机台异常的提示信息。
S2、根据所述校正数据分别对第一测长仪机台以及第二测长仪机台进行校正；
S3、使用校正后的第一测长仪机台对Array玻璃基板进行对位，使用校正后的第二测长仪机台对CF玻璃基板进行对位；
S4、将步骤S3得到的Array玻璃基板和CF玻璃基板进行对组，得到TFT-LCD面板。具体为：
将步骤S3得到的Array玻璃基板和CF玻璃基板进行对组；
判断Array玻璃基板和CF玻璃基板是否存在对组异常；
若Array玻璃基板和CF玻璃基板存在对组异常，则返回步骤S1；若Array玻璃基板和CF玻璃基板不存在对组异常，将Array玻璃基板和CF玻璃基板进行贴合，进而得到TFT-LCD面板。
综上所述，本发明提供的一种提升TFT-LCD面板对组精度的方法，通过对基准的测长仪机台进行校正操作，得到校正数据后，以校正数据为调整目标对第一测长仪机台和第二测长仪机台进行校正，将校正后的测长仪机台对玻璃基板进行对位，从而缩小第一测长仪机台与第二测长仪机台间量测机差所造成的误差，提升Array玻璃基板与CF玻璃基板对组精度，进而提升TFT-LCD面板对组精度。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (7)

1.一种提升TFT-LCD面板对组精度的方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、对基准的测长仪机台进行校正操作，得到校正数据；
S2、根据所述校正数据分别对第一测长仪机台以及第二测长仪机台进行校正；
S3、使用校正后的第一测长仪机台对Array玻璃基板进行对位，使用校正后的第二测长仪机台对CF玻璃基板进行对位；
S4、将步骤S3得到的Array玻璃基板和CF玻璃基板进行对组，得到TFT-LCD面板；
步骤S1具体为：
S11、以基准的测长仪机台的标准片中心点为旋转中心，将所述标准片旋转至预设初始位置后进行量测，得到第一数据；
S12、以预设方向为旋转方向，将所述标准片旋转180度至目标位置后进行量测，得到第二数据；
S13、判断是否需要对所述标准片进行多次旋转量测；
S14、若否，根据镜像关系，计算所述第一数据和第二数据的平均值，得到取平均值后的第三数据；
S15、将所述第三数据作为基准的测长仪机台的校正数据。
2.根据权利要求1所述的提升TFT-LCD面板对组精度的方法，其特征在于，所述预设初始位置为基准的测长仪机台的0度所对应的位置。
3.根据权利要求1所述的提升TFT-LCD面板对组精度的方法，其特征在于，所述预设方向为顺时针方向。
4.根据权利要求1所述的提升TFT-LCD面板对组精度的方法，其特征在于，步骤S13还包括：
S131、若是，则将所述标准片旋转180度至所述预设初始位置后进行量测，得到第四数据；
S132、比较所述第四数据和第一数据是否一致；
S133、若是，计算所述第一数据和第二数据的平均值，得到取平均值后的第三数据。
5.根据权利要求4所述的提升TFT-LCD面板对组精度的方法，其特征在于，步骤S133还包括：
若否，则发出测长仪机台异常的提示信息。
6.根据权利要求1所述的提升TFT-LCD面板对组精度的方法，其特征在于，步骤S4具体为：
将步骤S3得到的Array玻璃基板和CF玻璃基板进行对组；
判断Array玻璃基板和CF玻璃基板是否存在对组异常；
若是，则返回步骤S1。
7.根据权利要求6所述的提升TFT-LCD面板对组精度的方法，其特征在于，若Array玻璃基板和CF玻璃基板不存在对组异常，则得到TFT-LCD面板。
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