CN109596623B

CN109596623B - 一种缺陷检测方法及装置

Info

Publication number: CN109596623B
Application number: CN201811574304.3A
Authority: CN
Inventors: 不公告发明人
Original assignee: Wuxi Lead Intelligent Equipment Co Ltd
Current assignee: Wuxi Lead Intelligent Equipment Co Ltd
Priority date: 2018-12-21
Filing date: 2018-12-21
Publication date: 2021-07-06
Anticipated expiration: 2038-12-21
Also published as: CN109596623A

Abstract

本申请实施例提供了一种缺陷检测方法及装置，本申请实施例首先根据待测物的宽度以及位置，确定需要启动的多个目标传感器；之后，获取目标传感器对待测物进行检测得到的检测数据，以及目标传感器的标准阈值范围；最后，在目标传感器对应的检测数据未位于目标传感器的标准阈值范围内的情况下，确定待测物在目标传感器的检测区域内存在缺陷。上述技术方案与现有技术中的技术方案相比，能够有效降低成本、提高检测精度、增大检测面积，并且能够很好的适应待检测物宽度的变化。

Description

一种缺陷检测方法及装置

技术领域

本申请涉及检测技术领域，尤其是涉及一种缺陷检测方法及装置。

背景技术

为了不断提高产品质量，表面缺陷自动检测技术在生产过程中显得日益重要。当前，一般利用CCD(harge coupled device，电荷藕合器件)视觉系统或光纤传感器进行缺陷检测。但是该两种缺陷检测的方式都存在缺陷，具体如下：利用CCD视觉系统进行缺陷检测，是采用拍照采样方式对产品进行采样分析，因此需要很高的精度要求，成本很高；同时，CCD视觉系统本身的体积大，无法实现缺陷检测系统的小型化；另外CCD视觉系统的控制方式复杂，无法实现缺陷检测的便捷性。利用光纤传感器进行缺陷检测，由于单个光纤传感器的检测范围有限，不能做到对整个待测物宽度范围内的全覆盖检查，如果布置多个光纤传感器，还需要布置多个控制器，因此利用光纤传感器不适合进行大体积或大面积待测物的缺陷检测；另外，光纤传感器输出的检测信号为电平信号，存在灵敏性差的缺陷，当待测物宽度发生变化，需要重新设置光纤传感器或调整光纤传感器的位置；再者，光纤传感器的光电阈值对检测的精度影响很大，但是目前一般是人工凭借经验调整光纤传感器的光电阈值，由于人工调整的精度无法保证，因此造成了检测精度无法保证。

综上，现有的缺陷检测存在成本高、检测范围小并且检测适应性差的缺陷，另外，现有的缺陷检测还存在占用空间大以及控制方式复杂的缺陷。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供缺陷检测方法及装置，以克服上述至少一个技术缺陷。

第一方面，本申请实施例提供了一种缺陷检测方法，包括：

根据所述待测物的宽度以及位置，确定需要启动的多个目标传感器；

获取所述目标传感器对所述待测物进行检测得到的检测数据，以及所述目标传感器的标准阈值范围；

在所述目标传感器对应的检测数据未位于所述目标传感器的标准阈值范围内的情况下，确定待测物在所述目标传感器的检测区域内存在缺陷。

在一种可能的实施方式中，所述根据所述待测物的宽度以及位置，确定需要启动的多个目标传感器，包括：

根据多个源传感器中每个源传感器的检测区域、所述待测物的位置以及所述待测物的宽度，从所述源传感器中筛选多个目标传感器，筛选得到的多个目标传感器的检测区域合并后能够在所述待测物的宽度方向上覆盖所述待测物。

在一种可能的实施方式中，所述目标传感器包括至少一个中部目标传感器和两个边缘目标传感器；

其中，所述中部目标传感器的检测区域不包括所述待测物在其宽度方向上的边缘；

两个边缘目标传感器中的一个边缘目标传感器的检测区域，包括所述待测物在其宽度方向上的一个边缘；

两个边缘目标传感器中的另一个边缘目标传感器的检测区域，包括所述待测物在其宽度方向上的另一个边缘。

在一种可能的实施方式中，所述在所述目标传感器对应的检测数据未位于所述目标传感器的标准阈值范围内的情况下，确定待测物在所述目标传感器的检测区域内存在缺陷，包括：

在所述目标传感器为所述边缘目标传感器的情况下，获取另一个边缘目标传感器的检测数据；

将获取的两个边缘目标传感器的检测数据的和作为所述目标传感器的最终检测数据；

在所述目标传感器的最终检测数据未位于所述目标传感器的标准阈值范围内的情况下，确定待测物在所述目标传感器的检测区域内存在缺陷。

在一种可能的实施方式中，所述缺陷检测方法还包括确定所述目标传感器的标准阈值范围的步骤：

针对所述目标传感器，获取所述目标传感器对应的多个历史检测数据，基于获取的所述多个历史检测数据的均值，确定所述目标传感器的标准阈值范围。

在一种可能的实施方式中，所述方法还包括确定所述目标传感器对应的多个历史检测数据的均值的步骤：

将所述目标传感器对应的多个历史检测数据划分为第一组历史检测数据和第二组历史检测数据；

分别计算第一组历史检测数据和第二组历史检测数据的均值，并基于所述第一组历史检测数据的均值，确定所述目标传感器对应的阈值波动范围；

在所述第二组历史检测数据的均值位于所述目标传感器对应的阈值波动范围内的情况下，将所述第一组历史检测数据的均值作为所述目标传感器对应的多个历史检测数据的均值。

在一种可能的实施方式中，确定所述目标传感器对应的多个历史检测数据的均值，还包括：

在所述第二组历史检测数据的均值未位于所述目标传感器对应的阈值波动范围内的情况下，获取所述目标传感器对应的第三组历史检测数据；

计算所述第三组历史检测数据的均值；

在所述第三组历史检测数据的均值位于所述目标传感器对应的阈值波动范围内的情况下，将所述第一组历史检测数据的均值作为所述目标传感器对应的多个历史检测数据的均值。

在一种可能的实施方式中，所述基于获取的所述多个历史检测数据的均值，确定所述目标传感器的标准阈值范围，还包括：

在所述目标传感器为所述边缘目标传感器的情况下，获取另一个边缘目标传感器的多个历史检测数据；

将边缘目标传感器的每个历史检测数据，分别与另一个边缘目标传感器的对应时间的历史检测数据进行求和，得到所述目标传感器的多个最终历史检测数据；

基于所述目标传感器的多个最终历史检测数据的均值，确定所述目标传感器的标准阈值范围。

在一种可能的实施方式中，所述多个目标传感器以阵列形式排列。

第二方面，本申请实施例提供了一种缺陷检测装置，包括：

传感器筛选模块，用于根据所述待测物的宽度以及位置，确定需要启动的多个目标传感器；

数据获取模块，用于获取所述目标传感器对所述待测物进行检测得到的检测数据，以及所述目标传感器的标准阈值范围；

缺陷检测模块，用于在所述目标传感器对应的检测数据未位于所述目标传感器的标准阈值范围的情况下，确定待测物在所述目标传感器的检测区域内存在缺陷。

第三方面，本申请实施例还提供了一种电子设备，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过总线通信，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行上述缺陷检测方法的步骤。

第四方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行上述缺陷检测方法的步骤。

本申请实施例提供的缺陷检测方法及装置，首先根据待测物的宽度以及位置确定需要启动的目标传感器，之后获取所述目标传感器对待测物进行检测得到的检测数据，以及目标传感器的标准阈值范围；最后在目标传感器对应的检测数据未位于目标传感器的标准阈值范围内的情况下，确定待测物在目标传感器的检测区域内存在缺陷。上述技术方案与现有技术中的利用拍摄的图像进行缺陷检测的方式相比，其利用传感器采集的数据进行缺陷检测，能够有效降低检测成本和提高检测速度；与现有技术中利用电平信号检测缺陷的方式相比，其能够有效提高缺陷检测的精度；与现有技术中凭借人工经验确定光电阈值的方式相比，其不需要依靠人工凭借经验调整光电阈值，从而能够保证缺陷检测的精度；与现有技术中的缺陷检测技术无法大范围的检测缺陷以及无法对检测宽度的变化做很好的适应的技术方案相比，其能够根据待测物的宽度以及位置确定需要启动的目标传感器，增加了缺陷检测的宽度和适应性。

进一步，本申请实施例提供的缺陷检测方法及装置，各个目标传感器可以利用同一个控制器进行控制，从而降低了缺陷检测装置的体积，降低了缺陷检测控制的复杂度，提高了缺陷检测装置的便捷性。

为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1示出了本申请实施例所提供的一种缺陷检测方法的流程图；

图2示出了本申请实施例所提供的另一种缺陷检测方法中确定目标传感器对应的多个历史检测数据的均值的流程图；

图3示出了本申请实施例所提供的另一种缺陷检测方法中目标传感器阵列的示意图；

图4示出了本申请实施例所提供的一种缺陷检测装置的结构示意图；

图5示出了本申请实施例所提供的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

为便于对本实施例进行理解，首先对本申请实施例所公开的一种缺陷检测方法进行详细介绍。

本申请实施例提供了一种缺陷检测方法，该方法可以对各种物体表面的缺陷进行检测，例如用于检测隔膜的陶瓷粉漏涂缺陷。具体地，如图1所示，本实施例的方法包括：

S110、根据所述待测物的宽度以及位置，确定需要启动的多个目标传感器。

这里，具体可以利用如下步骤确定需要启动的目标传感器：根据多个源传感器中每个源传感器的检测区域、所述待测物的位置以及所述待测物的宽度，从所述源传感器中筛选多个目标传感器，筛选得到的多个目标传感器的检测区域合并后能够在所述待测物的宽度方向上覆盖所述待测物。

如图3所示，所述目标传感器包括至少一个中部目标传感器303和两个边缘目标传感器304；其中，所述中部目标传感器303的检测区域不包括所述待测物在其宽度方向上的边缘；两个边缘目标传感器304中的一个边缘目标传感器的检测区域包括所述待测物在其宽度方向上的一个边缘；两个边缘目标传感器中的另一个边缘目标传感器的检测区域，包括所述待测物在其宽度方向上的另一个边缘。

S120、获取所述目标传感器对所述待测物进行检测得到的检测数据，以及所述目标传感器的标准阈值范围。

这里，不同的目标传感器可能具有不同的标准阈值范围，因此需要分别确定每个目标传感器的标准阈值范围。具体可以利用如下步骤确定每个目标传感器的标准阈值范围：针对所述目标传感器，获取所述目标传感器对应的多个历史检测数据，基于获取的所述多个历史检测数据的均值，确定所述目标传感器的标准阈值范围。在具体实施时，目标传感器的标准阈值范围可以从mean*(1-n％)到mean*(1+n％)，这里的mean表示所述多个历史检测数据的均值。上述n是根据具体场景下精度的需求设置的常数。

由于待测物在传送过程中会产生晃动，待测物在宽度方向的侧边沿的位置会有所波动，因此待测物宽度方向侧边沿与目标传感器的交叉位置不断发生变化。这种位置波动和交叉位置的变化，会带来筛选得到的多个目标传感器中处于待测物两个边缘的目标传感器的检测数据的波动，传感器本身并不能判断数据的波动是因为边缘的晃动还是陶瓷粉的漏涂，从而造成对隔膜陶瓷粉是否漏涂的判断的不准确。为了提升对待测物边缘的缺陷检测的正确性，可以利用如下步骤确定检测区域与待测物的宽度方向的边缘有交叉的边缘目标传感器的标准阈值范围：在目标传感器的为边缘目标传感器的情况下，获取另一个边缘目标传感器；基于该边缘目标传感器的多个历史检测数据与另一个边缘目标传感器的多个历史检测数据的和的均值，确定目标传感器的标准阈值范围，即将两个边缘目标传感器的和作为一个目标传感器使用。在具体实施时，所述两个边缘目标传感器的和的标准阈值范围可以从mean*(1-m％)到mean*(1+m％)，这里的mean可以利用如下步骤确定：将边缘目标传感器的每个历史检测数据，分别与另一个边缘目标传感器的对应时间的历史检测数据进行求和，得到两个边缘目标传感器的和的多个历史检测数据，记为多个最终历史检测数据；基于所述多个最终历史检测数据确定边缘上的目标传感器的均值。上述m在实际应用时可以大于n，以提高边缘检测的抗干扰性。当然，上述m也可以等于n。

这里，在计算单个的非边缘的目标传感器的多个历史检测数据的均值或边缘上的目标传感器的多个最终历史检测数据的均值的时候，可以首先去掉对应的多个数据中的最大值和最小值，再利用剩余的数据计算均值。

应当说明的是，对于各个中部目标传感器，可以利用上述方法分别计算每个中部目标传感器的标准阈值范围，在各个中部目标传感器为相同的传感器时，也可以只计算其中一个中部目标传感器的标准阈值范围，其他中部目标传感器的标准阈值范围均等于计算得到的标准阈值范围。

S130、在所述目标传感器对应的检测数据未位于所述目标传感器的标准阈值范围内的情况下，确定待测物在所述目标传感器的检测区域内存在缺陷。

此步骤适用于检测待测物的所有目标传感器，为了提高对待测物边缘的检测精度，对于检测待测物边缘的边缘目标传感器，还可以具体利用如下步骤实现缺陷检测：

S1301、在所述目标传感器为所述边缘目标传感器的情况下，获取另一个边缘目标传感器的检测数据。

S1302、将获取的两个边缘目标传感器的检测数据的和作为所述目标传感器的最终检测数据。

S1303、在所述目标传感器的最终检测数据未位于所述目标传感器的标准阈值范围内的情况下，确定待测物在所述目标传感器的检测区域内存在缺陷。

上述实施例中，基于获取的所述多个历史检测数据的均值，确定对应的目标传感器的标准阈值范围时，可以直接计算多个历史检测数据的和除以历史检测数据的数量，得到目标传感器的多个历史检测数据的均值，继而利用得到的均值确定目标传感器的标准阈值范围。

如图2所示，为了提高确定的目标传感器的标准阈值范围的精度，需要提高用于确定标准阈值范围的均值的精度，例如可以利用如下步骤确定所述目标传感器对应的多个历史检测数据的均值：

S210、将所述目标传感器对应的多个历史检测数据划分为第一组历史检测数据和第二组历史检测数据。

这里，第一组历史检测数据和第二组历史检测数据可以包括数量相等的历史检测数据，例如第一组历史检测数据包括10个历史检测数据，第二组历史检测数据包括10个历史检测数据。

S220、分别计算第一组历史检测数据和第二组历史检测数据的均值，并基于所述第一组历史检测数据的均值，确定所述目标传感器对应的阈值波动范围。

这里，目标传感器对应的阈值波动范围可以从mean*(1-p％)到mean*(1+p％)，这里的mean为第一组历史检测数据的均值。

S230、在所述第二组历史检测数据的均值位于所述目标传感器对应的阈值波动范围内的情况下，将所述第一组历史检测数据的均值作为所述目标传感器对应的多个历史检测数据的均值。

若第二组历史检测数据的均值位于所述目标传感器对应的阈值波动范围内，说明第一组历史检测数据的均值接近实际均值，可以用来确定目标传感器的标准阈值范围，因此将所述第一组历史检测数据的均值作为所述目标传感器对应的多个历史检测数据的均值。

在所述第二组历史检测数据的均值未位于所述目标传感器对应的阈值波动范围内的情况下，还可以继续执行如下步骤来确定所述目标传感器对应的多个历史检测数据的均值：

S240、获取所述目标传感器对应的第三组历史检测数据。

这里的第三组历史检测数据可以包括与第一组历史检测数据和第二组历史检测数据数量相等的历史检测数据，例如第三组历史检测数据也包括10个历史检测数据。

S250、计算所述第三组历史检测数据的均值。

S260、在所述第三组历史检测数据的均值位于所述目标传感器对应的阈值波动范围内的情况下，将所述第一组历史检测数据的均值作为所述目标传感器对应的多个历史检测数据的均值。

所述第三组历史检测数据的均值位于所述目标传感器对应的阈值波动范围内，说明第二组历史检测数据的均值不准确，不能用来评判第一组历史检测数据的均值的有效性，同时说明第一组历史检测数据的均值是接近实际均值的，可以用来确定目标传感器的标准阈值范围，因此将所述第一组历史检测数据的均值作为所述目标传感器对应的多个历史检测数据的均值。

如果所述第三组历史检测数据的均值仍然未位于所述目标传感器对应的阈值波动范围内，就弹出对话框，指示工作人员检测每个目标传感器以及待测物，如果检查结果是所有目标传感器以及待测物均未出现异常，则保留所述第一组历史检测数据的均值，重新获取新的历史检测数据替换原来的第二组历史检测数据，并执行对应的步骤。如果检查结果是目标传感器或待测物出现异常，则对目标传感器或待测物进行调整，之后从步骤S210开始重新确定目标传感器的标准阈值范围。

为了提高确定的目标传感器的标准阈值范围的准确度，需要提高确定的目标传感器的多个历史检测数据的均值的精度。因此上述用于对均值筛选的p的取值应该取较小的值，在实际应用中p的取值可以小于上述m或n的取值。当然，实际应用中p的取值也可以等于上述m或n的取值。

上述在确定各组历史检测数据的均值的过程中，为了提高均值的可信度，还可以利用如下步骤计算均值：针对每组历史检测数据，从该组历史检测数据中去掉最大值和最小值，并计算剩余检测数据的均值，得到该组历史检测数据均值。

上面已经说明了，为了提高待测物边缘检测的精度，按照如下步骤确定边缘目标传感器的标准阈值范围：在目标传感器的为边缘目标传感器的情况下，获取另一个边缘目标传感器的多个历史检测数据；将该边缘目标传感器的每个历史检测数据，分别与另一个边缘目标传感器的对应时间的历史检测数据进行求和，即将获取的两个边缘目标传感器的检测数据的和作为所述目标传感器最终的检测数据，从而得到边缘上的目标传感器的多个最终历史检测数据；基于所述多个最终历史检测数据的均值，确定所述目标传感器的标准阈值范围。

上述多个最终历史检测数据的均值的确定方法与上述多个历史检测数据的均值的确定方法相同，这里不再进行赘述。

上述实施例中，目标传感器以及源传感器的检测区域依次排列，相邻传感器的检测区域没有重叠部分。优选的，源传感器可以以阵列的形式存在，具体可以包括若干个源传感器横排，所述源传感器横排包括等间隔设置的传感器，并且每相邻两个源传感器阵列的传感器交错设置。源传感器阵列可以采用对射式传感器，对射式传感器是发射端发出红光或红外光，接收端接收。当隔膜出现陶瓷粉漏涂的缺陷时，接收端接收的信号值会发生突变。

具体地，如图3所示，每个目标传感器或源传感器均包括传感器本体部分301及检测部分302，所述检测部分通过红外光对隔膜的透光程度进行检测，以判断待测物表面是否存在缺陷。各个目标传感器的检测部分302加起来能够覆盖待测物的宽度方向。待测物沿着垂直于源传感器阵列宽度方向的纵向方向移动。源传感器阵列中位于待测物的宽度方向上的两侧边沿处的源传感器的检测部分与两侧边沿交叉。

这里，源传感器阵列中的源传感器可以受控于同一控制器，进行统一控制。例如，用于检测隔膜的陶瓷粉漏涂缺陷时，源传感器阵列中的源传感器可以统一使用同一控制器，例如PLC进行控制，因此在需要覆盖检测宽度较大的隔膜时，相较现有技术中需要独立控制器分别控制的光纤传感器而言，可以节省控制器的数量，降低控制复杂度，减小相关的缺陷检测装置的体积。

由于待测物的位置和宽度在实际应用场景中可能发生变化，因此优选的预先设置有宽度较大的源传感器阵列，在实际应用场景中可以在进行检测操作之前，从源传感器阵列中预先选择和确定需要启动的包括多个目标传感器的目标传感器阵列，这样就能使本实施例缺陷检测方法适应不同待测物的宽度变化，不需要频繁的人为设定阈值或移动传感器的安装位置。另外，源感器阵列的横排数量和每一排的源传感器的数量可以根据实际应用场景中待测物的横向宽度尺寸进行调整，以适应更多宽度的待测物。

在源传感器以如图3所示的阵列的形式存在的情况下，具体地，可以利用如下步骤在源传感器阵列中确定目标传感器阵列：根据所述待测物的宽度、所述待测物的位置以及每个源传感器的检测区域，确定源传感器阵列中需要启动的目标传感器横排的数量、每个所述目标传感器横排包括的目标传感器的数量以及每个所述目标传感器横排的位置，得到所述目标传感器阵列。其中，所述目标传感器横排包括至少一个目标传感器，所述目标传感器横排为所述源传感器横排的子集。

当待测物宽度方向尺寸有所调整时，根据待测物的实际宽度，利用上述步骤即可确定目标传感器阵列，例如，根据待测物的实际宽度有针对地调整源传感器阵列宽度方向的外侧源传感器的启用状态，得到上述目标传感器阵列。该方式能够很好的适应待测物的宽度变化，有效提高了本实施例的缺陷检测方法的适用性。另外，源传感器阵列可以设置包括较多源传感器的源传感器横排，这样就能检测具有较大宽度的待测物，提高了本实施例的缺陷检测方法的检测范围。

上述目标传感器采集到的是模拟量信号，根据采集到的模拟量信号通过A/D转换成直观的数字量信号；目标传感器输出的模拟信号相对现有技术中光纤传感器输出的电平信号而言，具有更高的精度。

基于相同的技术构思，本申请实施例还提供一种缺陷检测装置，具体可参见以下实施例。

如图4所示，本申请实施例所提供的缺陷检测装置包括：

传感器筛选模块401，用于根据所述待测物的宽度以及位置，确定需要启动的多个目标传感器；

数据获取模块402，用于获取所述目标传感器对所述待测物进行检测得到的检测数据，以及所述目标传感器的标准阈值范围；

缺陷检测模块403，用于在所述目标传感器对应的检测数据未位于所述目标传感器的标准阈值范围的情况下，确定待测物在所述目标传感器的检测区域内存在缺陷。

图5所示出了本申请实施例所提供的电子设备的结构示意图。

一种电子设备50，应用了本申请的缺陷检测装置的实施例，包括：处理器51、存储器52和总线53，所述存储器52存储有所述处理器51可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器51与所述存储器52之间通过总线53通信，使得所述处理器51在用户态执行以下指令：

本申请实施例所提供的进行一种的缺陷检测方法的计算机程序产品，包括存储了处理器可执行的非易失的程序代码的计算机可读存储介质，所述程序代码包括的指令可用于执行前面方法实施例中所述的方法，具体实现可参见方法实施例，在此不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的。

所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个处理器可执行的非易失的计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

最后应说明的是：以上所述实施例，仅为本申请的具体实施方式，用以说明本申请的技术方案，而非对其限制，本申请的保护范围并不局限于此，尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改、变化或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请实施例技术方案的精神和范围，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：

根据待测物的宽度以及位置，确定需要启动的多个目标传感器；所述目标传感器包括至少一个中部目标传感器和两个边缘目标传感器；

在所述目标传感器对应的检测数据未位于所述目标传感器的标准阈值范围内的情况下，确定待测物在所述目标传感器的检测区域内存在缺陷；

所述在所述目标传感器对应的检测数据未位于所述目标传感器的标准阈值范围内的情况下，确定待测物在所述目标传感器的检测区域内存在缺陷，包括：

在所述目标传感器的最终检测数据未位于所述目标传感器的标准阈值范围内的情况下，确定待测物在所述目标传感器的检测区域内存在缺陷；

所述方法还包括确定所述目标传感器的标准阈值范围的步骤：

针对所述目标传感器，获取所述目标传感器对应的多个历史检测数据，基于获取的所述多个历史检测数据的均值，确定所述目标传感器的标准阈值范围；

所述方法还包括确定所述目标传感器对应的多个历史检测数据的均值的步骤：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据待测物的宽度以及位置，确定需要启动的多个目标传感器，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述中部目标传感器的检测区域不包括所述待测物在其宽度方向上的边缘；

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述目标传感器对应的多个历史检测数据的均值，还包括：

在所述第二组历史检测数据的均值未位于所述目标传感器对应的阈值波动范围内的情况下，重新获取所述目标传感器对应的多个新的历史检测数据作为第三组历史检测数据；

计算所述第三组历史检测数据的均值；

在所述第三组历史检测数据的均值位于所述目标传感器对应的阈值波动范围内的情况下，将所述第一组历史检测数据的均值作为所述目标传感器对应的多个历史检测数据的均值；

在所述第三组历史检测数据的均值仍未位于所述目标传感器对应的阈值波动范围内的情况下，检查所述目标传感器及所述待测物；若检查结果无异常，则保留所述第一组历史检测数据的均值，重新获取新的历史检测数据替换原来的所述第二组历史检测数据；若检查结果出现异常，则调整所述目标传感器或所述待测物，重新确定所述目标传感器的标准阈值范围。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于获取的所述多个历史检测数据的均值，确定所述目标传感器的标准阈值范围，还包括：

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多个目标传感器以阵列形式排列。

7.一种缺陷检测装置，其特征在于，用于执行如权利要求1至6任一所述的方法的步骤，所述装置包括：

传感器筛选模块，用于根据待测物的宽度以及位置，确定需要启动的多个目标传感器；所述目标传感器包括至少一个中部目标传感器和两个边缘目标传感器；

缺陷检测模块，用于在所述目标传感器对应的检测数据未位于所述目标传感器的标准阈值范围的情况下，确定待测物在所述目标传感器的检测区域内存在缺陷；缺陷检测模块，还用于在所述目标传感器为所述边缘目标传感器的情况下，获取另一个边缘目标传感器的检测数据；将获取的两个边缘目标传感器的检测数据的和作为所述目标传感器的最终检测数据；在所述目标传感器的最终检测数据未位于所述目标传感器的标准阈值范围内的情况下，确定待测物在所述目标传感器的检测区域内存在缺陷。