CN109584230A - 辅助质检方法、装置、计算机设备及可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明适用于计算机领域，提供了一种辅助质检方法、装置、计算机装置及可读存储介质，其中所述方法包括：获取待检产品的图像；将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息；根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面。本发明实施例提供的辅助质检方法，通过采集待检产品的图像，利用计算机识别待检产品瑕疵并确定位置信息，根据所述产品瑕疵的位置将不良标识投射在产品表面，使得质检员可以直接定位产品瑕疵的位置，并快速确认，降低了计算机漏判、误判的可能性，有效地提高了产品质检的效率以及效果。

Description

辅助质检方法、装置、计算机设备及可读存储介质

技术领域

本发明涉及计算机领域，特别是涉及一种辅助质检方法、装置、计算机设备及可读存储介质。

背景技术

随着计算机的普及，计算机技术也应用到形形色色的领域之中，尤其是应用于工业生产当中，能够有效地替代人力进行简单、重复的工作。

例如，在工业生产的质检环节中中，为保证产品质量，需要投入大量的人力、物力对产品的质量进行管控，而如果利用计算机技术进行对比，有效地降低了人力成本，但是，由于技术的限制，导致质检的效果没有使用人力进行质检的效果好，计算机经常会出现误判、漏判的错误。

可见，现有技术中，仅仅使用人力对产品的质量进行管控，成本太高，检测人员的负荷太重，而使用计算机技术对产品的质量进行管控，则质检的效果会大打折扣。

发明内容

本发明实施例提供一种辅助质检方法，以解决现有技术在质检过程中存在的质检效果不理想的技术缺陷。

本发明实施例提供一种辅助质检方法，所述方法包括以下步骤：

获取待检产品的图像；

将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息；

根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

本发明实施例还提供一种辅助质检装置，所述装置包括：

待检产品图像获取单元，用于获取待检产品的图像；

对比单元，用于将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息；以及

不良信息标识投影控制单元，用于根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

本发明实施例还提供一种计算机装置，所述计算机装置包括处理器，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如上述所述辅助质检方法的步骤。

本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行上述所述辅助质检方法的步骤。

本发明实施例提供的辅助质检方法，通过获取待检产品的图像，并将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，自动识别出待检产品的瑕疵，并在所述待检产品的图像中确定该瑕疵的位置信息，根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面，以使所述不良信息标识刚好投射在待检产品的瑕疵处，从而使得质检员可以根据展示的不良信息标识确定所述待检产品的瑕疵。本发明实施例中公开的辅助质检方法，相比于现有技术，无需消耗大量的人力，同时在质检过程中，经过智能和人工的双重确定，有效地提高了最终的质检效果。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种辅助质检方法的步骤流程图；

图2为本发明实施例中将不良信息标识投射在待检产品表面的步骤流程图；

图3为本发明另一种实施例提供的辅助质检方法的步骤流程图；

图4为本发明又一种实施例提供的辅助质检方法的步骤流程图；

图5为本发明实施例提供的一种识别待检产品的图像与预存的标准产品的图像之间的差异的步骤流程图；

图6为本发明实施例提供的一种辅助质检装置的结构示意图；

图7为本发明一个较优实施例中辅助质检装置的应用环境图；

图8为本发明实施例中不良信息标识投影控制单元的结构示意图；

图9为本发明另一种实施例提供的辅助质检装置的结构示意图；

图10为本发明又一种实施例提供给辅助质检装置的结构示意图；

图11为本发明实施例中对比单元的结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明实施例提供的辅助质检方法通过计算机识别待检产品瑕疵信息，将所述不良信息投射在待检产品上，使得质检员可以快速确认瑕疵信息，有效地提高了产品质检的效率以及效果。

图1为本发明实施例提供的一种辅助质检方法的步骤流程图，详述如下。

步骤S101，获取待检产品的图像。

在本发明实施例中，所述获取的待检产品的图像可以是使用自带的摄像设备获取；也可以是通过接收摄像设备发送的待检产品的图像从而获取待检产品的图像。

在本发明实施例中，当所述待检产品有多个面需要质检时，则应当相应的获取各个面的图像。

步骤S102，将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息。

在本发明实施例中，当待检产品存在瑕疵时，则该待检产品的图像与预存的标准产品的图像在所述瑕疵处有一定的差异，因此，通过图像识别技术，识别待检产品的图像与预存的标准产品的图像之间的差异，即可对应确定待检产品瑕疵的位置信息。进一步的，一种可识别待检产品的图像与预存的标准产品的图像之间的差异，并确定待检产品瑕疵的位置信息的方法请参阅图5

在本发明实施例中，所述瑕疵的位置信息可以是横纵坐标的形式，也可以是基于待检产品的定位点或特征边缘确定的。

在本发明实施例中，当所述待检产品有多个面需要质检时，则预存的标准产品的图像也应当包括各个面的标准图像。

步骤S103，根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

在本发明实施例中，根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识的标识投射在所述待检产品的表面，且不良信息标识正好投映在待检产品的瑕疵之上，从而使得质检员可以直接对投映出来的不良信息标识进行一一确认。

在本发明实施例中，所述不良信息标识可以是圈、叉或者是任意可以起到提醒功能的标识，以尽量少遮蔽待检产品的表面信息为优。

作为本发明的一个较优实施例，所述投影设备与产品之间的相对位置关系保持不变。

作为本发明的一个较优应用环境，所述产品放置于传送带上，当产品到达预定位置时，传送带停止运动，利用位置固定的摄影设备、处理器、投影设备等装置完成上述辅助质检方法后，质检员确定投映出来的不良信息标识，在质检员确认之后，传送带继续传送，将下一个产品传送至预定位置。进一步的，当需要对产品的多个面进行质检时，可以是通过设置多个摄影设备、投影设备完成对多个面的质检工作，也可以是在预定的位置设置转向台，从而使得产品在完成一个面的质检工作后，利用转向台可以继续完成下一个面的质检工作。

本发明实施例提供的辅助质检方法，通过获取待检产品的图像，并将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，自动识别出待检产品的瑕疵，并在所述待检产品的图像中确定该瑕疵的位置信息，根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面，以使所述不良信息标识刚好投射在待检产品的瑕疵处，从而使得质检员可以根据展示的不良信息标识确定所述待检产品的瑕疵。本发明实施例中公开的辅助质检方法，相比于现有技术，无需消耗大量的人力，同时在质检过程中，经过智能和人工的双重确定，有效地提高了最终的质检效果。

图2为本发明实施例中将不良信息标识投射在待检产品表面的步骤流程图，详述如下。

步骤S201，获取所述待检产品瑕疵的位置信息。

在本发明实施例中，所述瑕疵的位置信息可以是横纵坐标的形式，也可以是基于待检产品的定位点或特征边缘确定的。

步骤S202，获取所述投影设备相对于产品的位置关系。

在本发明实施例中，根据所述待检产品瑕疵的位置信息的形式不同，获取的投影设备相对于产品的位置关系也不同。例如，当所述瑕疵的位置信息是基于待检产品的定位点确定时，则获取的所述投影设备相对于产品的位置关系具体是获取所述投影设备相对于产品的定位点的位置关系。

步骤S203，根据所述待检产品瑕疵的位置信息以及所述投影设备相对于产品的位置关系，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

在本发明实施例中，在获取所述待检产品瑕疵的位置信息以及所述投影设备相对于产品的位置关系后，才能有效地提高不良信息标识的投映效果，使得将不良信息标识刚好投映在产品瑕疵处。

本发明实施例提供的将不良信息标识投射在待检产品表面的方法，可以有效地提高不良信息标识的投映效果，便于质检员快速定位待检产品瑕疵并确认。

图3为本发明另一种实施例提供的辅助质检方法的步骤流程图，为了便于说明，仅示出与本发明实施例相关的部分。

在本发明实施例中，与图1示出的一种辅助质检方法的步骤流程图不同的是：在所述步骤S103根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面之后，还包括：

步骤S301，控制投影设备将所述预存的标准产品的图像投射在所述待检产品周边区域。

在本发明实施例中，当质检员确认待检产品瑕疵时，为方便质检员的工作，可以将标准产品的图像投射在所述待检产品的周边区域，方便质检员对所述产品瑕疵进行对比。

在本发明实施例中，当待检产品有多个面需要质检时，所述投射的标准产品的图像应当是质检员视角中的产品一面的标准图像。

本发明实施例提供的另一种辅助质检方法，通过将预存的标准产品的图像投射在所述待检产品周边区域，使得质检员可以方便的同时观测到待检产品本身以及标准产品的图像，再结合投映出来的不良信息标识，质检员可以在短时间内做出判断，有效地提高了质检的效率。

图4为本发明又一种实施例提供的辅助质检方法的步骤流程图，为了便于说明，仅示出与本发明实施例相关的部分。

在本发明实施例中，与图1示出的一种辅助质检方法的步骤流程图不同的是：所述步骤S102将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息，具体包括：

步骤S401，将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息、大小信息以及形状信息。

在本发明实施例中，基于图像识别技术，在获取待检产品的图像与预存的标准产品的图像之间差异时，除了利用横纵坐标、定位点的等方法获取待检产品瑕疵的位置信息时，还可以较为方便的获取待检产品的大小信息以及形状信息。

在本发明实施例中，同样的，一种可识别待检产品的图像与预存的标准产品的图像之间的差异，并确定待检产品瑕疵的位置信息、大小信息以及形状信息的方法请参阅图5。

步骤S402，根据所述瑕疵的位置信息、大小信息以及形状信息确定所述待检产品瑕疵的类型。

在本发明实施例中，在一般常见的工业生产过程中，生产出来的产品的瑕疵主要包括脏污、缺口、裂纹等。事实上，可以通过大数据统计各产品瑕疵的类型的位置信息、大小信息以及形状信息的分布情况，然后根据所述瑕疵的位置信息、大小信息以及形状信息并利用大数据统计出的分布情况确定所述待检产品瑕疵的最有可能的类型；也可以根据一般规律确定产品瑕疵的类型，例如当所述瑕疵的位置位于产品边缘时，则可确定所述瑕疵的类型为缺口，当所述瑕疵的形状为狭长时，则可确定所述瑕疵的类型为裂纹，当所述瑕疵面积较大且无规则时，则可确定所述瑕疵的类型为脏污。

所述步骤S103根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面，具体包括：

步骤S403，根据所述待检产品瑕疵的位置信息以及所述待检产品瑕疵的类型，控制投影设备将与待检产品瑕疵的类型对应的不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

在本发明实施例中，对于不同的瑕疵类型都有一个对应的不良信息标识，例如缺口对应圆圈、污渍对应叉，裂纹对应波浪线，因此质检员可以根据投射在待检产品上的不良信息标识直观的判断出瑕疵的类型，进一步提高了质检员确认瑕疵的效率。

本发明又一个实施例提供的辅助质检方法，通过确定瑕疵的类型，并将与瑕疵类型对应的不良信息标识投射在产品表面，使得质检员可以直观的从投射在产品表面的不良信息标识确定瑕疵的类型，进一步提高了质检员确定瑕疵的效率。

图5为本发明实施例提供的一种识别待检产品的图像与预存的标准产品的图像之间的差异的步骤流程图，详述如下。

步骤S501，计算待检产品的图像中各像素点与预存的标准产品的图像中对应像素点的色差。

在本发明实施例中，图像中各像素点采用RGB显示，即每个像素点可以用一个三维向量表示，因此可通过欧氏距离公式计算待检产品的图像中各像素点与预存的标准产品的图像中对应像素点的色差。

步骤S502，判断预设的半径范围内待检产品的图像中各像素点与预存的标准产品的图像中对应像素点的色差平均值是否大于预设的阈值。

在本发明实施例中，以第一像素点为圆心，判断预设的半径范围内待检产品的图像中各像素点与预存的标准产品的图像中对应像素点的色差平均值是否大于预设的阈值，进一步的，所述第一像素点优先选取色差超过预设的阈值的像素点。

在本发明实施例中，色差可以反映出待检产品与标准产品的差异度，也可以一定程度上反映出瑕疵是否显眼，例如，对于白色的产品来说，瑕疵为黑点与瑕疵为灰点的色差不同，其中黑点与白色的色差更大，且更加显眼，灰色与白色的色差较小，相比之下也没有十分显眼。因此，可以通过设置阈值，排除符合质量规范的不显眼的瑕疵。

在本发明实施例中，所述预设的半径范围内可根据实际工业产品进行设置，例如对于某些精细产品，对质量的要求较高，则预设的半径应当偏小，此时产品上较小的瑕疵点也可以被识别出来；而对于质量要求并不严格的工业产品，相应的预设的半径可以偏大，此时，由于预设的半径范围内包括多个像素点，即使产品上有数个较小的瑕疵点，而色差平均值达不到预设的阈值，无法识别出来。

在本发明实施例中，通过预设半径以及色差阈值，实现了对不同工业产品的质量控制，提高了应用到范围，可以推广使用。

在本发明实施例中，判断预设的半径范围内待检产品的图像中各像素点与预存的标准产品的图像中对应像素点的色差平均值大于预设的阈值时，即说明所述半径范围内有瑕疵，执行步骤S503；当判断预设的半径范围内待检产品的图像中各像素点与预存的标准产品的图像中对应像素点的色差平均值不大于预设的阈值时，即说明所述半径范围内无瑕疵，继续选取下一像素点，返回步骤S502。

步骤S503，确定待检产品瑕疵的位置信息。

作为本发明一个优选实施例，为进一步确定所述待检产品瑕疵的大小信息以及形状信息，所述图5示出的一种识别待检产品的图像与预存的标准产品的图像之间的差异的步骤流程图还包括：

步骤S504，根据待检产品的图像中各像素点与预存的标准产品的图像中对应像素点的色差，识别出瑕疵边缘的像素点。

在本发明实施例中，所述瑕疵边缘的像素点要求所述像素点的周围八个像素点中既存在色差超过预设的第二阈值的像素点，又存在色差不超过预设的第二阈值的像素点。

步骤S505，根据所述瑕疵边缘像素点确定所述待检产品瑕疵的形状信息以及大小信息。

在本发明实施例中，所述瑕疵边缘像素点构成瑕疵的边缘，根据瑕疵的边缘可以进一步确定待检产品瑕疵的形状信息以及大小信息。

本发明实施例提供了一种识别待检产品的图像与预存的标准产品的图像之间的差异的方法，通过计算待检产品的图像中各像素点与预存的标准产品的图像之间的色差，可以有效地识别出待检产品的图像与预存的标准产品的图像之间的差异，从而进一步确认待检产品瑕疵的位置信息、大小信息以及形状信息。

图6为本发明实施例提供的一种辅助质检装置的结构示意图，为了便于说明，仅示出与本发明实施例相关的部分。

在本发明实施例中，所述辅助质检装置包括待检产品图像获取单元601、对比单元602以及不良信息标识投影控制单元603。

所述待检产品图像获取单元601，用于获取待检产品的图像。

在本发明实施例中，所述获取的待检产品的图像可以是使用自带的摄像设备获取；也可以是通过接收摄像设备发送的待检产品的图像从而获取待检产品的图像。

在本发明实施例中，当所述待检产品有多个面需要质检时，则应当相应的获取各个面的图像。

所述对比单元602，用于将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息。

在本发明实施例中，当待检产品存在瑕疵时，则该待检产品的图像与预存的标准产品的图像在所述瑕疵处有一定的差异，因此，通过图像识别技术，识别待检产品的图像与预存的标准产品的图像之间的差异，即可对应确定待检产品瑕疵的位置信息。

在本发明实施例中，所述瑕疵的位置信息可以是横纵坐标的形式，也可以是基于待检产品的定位点或特征边缘确定的。

在本发明实施例中，当所述待检产品有多个面需要质检时，则预存的标准产品的图像也应当包括各个面的标准图像。

所述不良信息标识投影控制单元603，用于根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

在本发明实施例中，根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识的标识投射在所述待检产品的表面，且不良信息标识正好投映在待检产品的瑕疵之上，从而使得质检员可以直接对投映出来的不良信息标识进行一一确认。

在本发明实施例中，所述不良信息标识可以是圈、叉或者是任意可以起到提醒功能的标识，以少遮蔽待检产品的表面信息为优。

作为本发明的一个较优实施例，所述投影设备与产品之间的相对位置关系保持不变。

本发明实施例提供的辅助质检方法，通过获取待检产品的图像，并将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，自动识别出待检产品的瑕疵，并在所述待检产品的图像中确定该瑕疵的位置信息，根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面，以使所述不良信息标识刚好投射在待检产品的瑕疵处，从而使得质检员可以根据展示的不良信息标识确定所述待检产品的瑕疵。本发明实施例中公开的辅助质检方法，相比于现有技术，无需消耗大量的人力，同时在质检过程中，经过智能和人工的双重确定，有效地提高了最终的质检效果。

图7为本发明一个较优实施例中辅助质检装置的应用环境图，为了便于说明，详述如下。

在本发明实施例中，所述辅助质检装置与摄像设备和投影设备之间进行通信，所述辅助质检装置接收摄像设备发送的待检产品的图像信息，并向投影设备发送控制命令，控制摄影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

在本发明实施例中，所述产品放置于传送带上，当产品到达预定位置时，传送带停止运动，利用位置固定的摄影设备、处理器、投影设备等装置完成上述辅助质检方法后，质检员确定投映出来的不良信息标识，在质检员确认之后，传送带继续传送，将下一个产品传送至预定位置。

在本发明实施例中，当需要对产品的多个面进行质检时，可以是通过设置多个摄影设备、投影设备完成对多个面的质检工作；也可以是在预定的位置设置转向台，从而使得产品在完成一个面的质检工作后，利用转向台可以继续完成下一个面的质检工作。

图8为本发明实施例中不良信息标识投影控制单元的结构示意图，为了便于说明，仅示出与本发明实施例相关的部分。

在本发明实施例中，所述不良信息标识投影控制单元603包括瑕疵位置信息获取模块801、投影设备位置信息获取模块802以及不良信息标识投影控制模块803。

所述瑕疵位置信息获取模块801，用于获取所述待检产品瑕疵的位置信息。

在本发明实施例中，所述瑕疵的位置信息可以是横纵坐标的形式，也可以是基于待检产品的定位点或特征边缘确定的。

所述投影设备位置信息获取模块802，用于获取所述投影设备相对于产品的位置关系。

在本发明实施例中，根据所述待检产品瑕疵的位置信息的形式不同，获取的投影设备相对于产品的位置关系也不同。例如，当所述瑕疵的位置信息是基于待检产品的定位点确定时，则获取的所述投影设备相对于产品的位置关系具体是获取所述投影设备相对于产品的定位点的位置关系。

所述不良信息标识投影控制模块803，用于根据所述待检产品瑕疵的位置信息以及所述投影设备相对于产品的位置关系，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

在本发明实施例中，在获取所述待检产品瑕疵的位置信息以及所述投影设备相对于产品的位置关系后，才能有效地提高不良信息标识的投映效果，使得将不良信息标识刚好投映在产品瑕疵处。

本发明实施例提供的将不良信息标识投射在待检产品表面的方法，可以有效地提高不良信息标识的投映效果。便于质检员快速定位待检产品瑕疵并确认。

图9为本发明另一种实施例提供的辅助质检装置的结构示意图，为了便于说明，仅示出与本发明实施例相关的部分。

在本发明实施例中，与图6示出的一种辅助质检装置的结构示意图的不同之处在于，所述辅助质检装置还包括标准产品图像投影控制单元901。

所述标准产品图像投影控制单元901，用于控制投影设备将所述预存的标准产品的图像投射在所述待检产品周边区域。

在本发明实施例中，当质检员确认待检产品瑕疵时，为方便质检员的工作，可以将标准产品的图像投射在所述待检产品的周边区域，方便质检员对所述产品瑕疵进行对比。

在本发明实施例中，当待检产品有多个面需要质检时，所述投射的标准产品的图像应当是质检员视角中的产品一面的标准图像。

本发明实施例提供的另一种辅助质检方法，通过将预存的标准产品的图像投射在所述待检产品周边区域，使得质检员可以方便的同时观测到待检产品本身以及标准产品的图像，再结合投映出来的不良信息标识，质检员可以在短时间内做出判断，有效地提高了质检的效率。

图10为本发明又一种实施例提供给辅助质检装置的结构示意图，为了便于说明书，仅示出与本发明实施例相关的部分。

在本发明实施例中，与图6示出的一种辅助质检装置的结构示意图的不同之处在于，所述对比单元602具体包括对比模块1001以及瑕疵类型确定模块1002，所述不良信息标识投影控制单元603具体包括不良信息标识投影控制模块1003。

所述对比模块1001，用于将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息、大小信息以及形状信息。

在本发明实施例中，基于图像识别技术，在获取待检产品的图像与预存的标准产品的图像之间差异时，除了利用横纵坐标、定位点的等方法获取待检产品瑕疵的位置信息时，还可以较为方便的获取待检产品的大小信息以及形状信息。

所述瑕疵类型确定模块1002，用于根据所述瑕疵的位置信息、大小信息以及形状信息确定所述待检产品瑕疵的类型。

在本发明实施例中，在一般常见的工业生产过程中，生产出来的产品的瑕疵主要包括脏污、缺口、裂纹等。事实上，可以通过大数据统计各产品瑕疵的类型的位置信息、大小信息以及形状信息的分布情况，然后根据所述瑕疵的位置信息、大小信息以及形状信息并利用大数据统计出的分布情况确定所述待检产品瑕疵的最有可能的类型；也可以根据一般规律确定产品瑕疵的类型，例如当所述瑕疵的位置位于产品边缘时，则可确定所述瑕疵的类型为缺口，当所述瑕疵的形状为狭长时，则可确定所述瑕疵的类型为裂纹，当所述瑕疵面积较大且无规则时，则可确定所述瑕疵的类型为脏污。

所述不良信息标识投影控制模块1003，用于根据所述待检产品瑕疵的位置信息以及所述待检产品瑕疵的类型，控制投影设备将与待检产品瑕疵的类型对应的不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

在本发明实施例中，对于不同的瑕疵类型都有一个对应的不良信息标识，例如缺口对应圆圈、污渍对应叉，裂纹对应波浪线，因此质检员可以根据投射在待检产品上的不良信息标识直观的判断出瑕疵的类型，进一步提高了质检员确认瑕疵的效率。

本发明又一个实施例提供的辅助质检方法，通过确定瑕疵的类型，并将与瑕疵类型对应的不良信息标识投射在产品表面，使得质检员可以直观的从投射在产品表面的不良信息标识确定瑕疵的类型，进一步提高了质检员确定瑕疵的效率。

图11为本发明实施例中对比单元的结构示意图，为了便于说明，仅示出与本发明实施例相关的部分。

本发明实际例提供了一种可能的对比单元的结构示意图，所述对比单元可以识别待检产品的图像与预存的标准产品的图像之间的差异，所述对比单元包括：

色差计算模块1101，用于计算待检产品的图像中各像素点与预存的标准产品的图像中对应像素点的色差。

在本发明实施例中，图像中各像素点采用RGB显示，即每个像素点可以用一个三维向量表示，因此可通过欧氏距离公式计算待检产品的图像中各像素点与预存的标准产品的图像中对应像素点的色差。

范围色差判断模块1102，用于判断预设的半径范围内待检产品的图像中各像素点与预存的标准产品的图像中对应像素点的色差平均值是否大于预设的阈值。

在本发明实施例中，以第一像素点为圆心，判断预设的半径范围内待检产品的图像中各像素点与预存的标准产品的图像中对应像素点的色差平均值是否大于预设的阈值，进一步的，所述第一像素点优先选取色差超过预设的阈值的像素点。

在本发明实施例中，色差可以反映出待检产品与标准产品的差异度，也可以一定程度上反映出瑕疵是否显眼，例如，对于白色的产品来说，瑕疵为黑点与瑕疵为灰点的色差不同，其中黑点与白色的色差更大，且更加显眼，灰色与白色的色差较小，相比之下也没有十分显眼。因此，可以通过设置阈值，排除符合质量规范的不显眼的瑕疵。

在本发明实施例中，所述预设的半径范围内可根据实际工业产品进行设置，例如对于某些精细产品，对质量的要求较高，则预设的半径应当偏小，此时产品上较小的瑕疵点也可以被识别出来；而对于质量要求并不严格的工业产品，相应的预设的半径可以偏大，此时，由于预设的半径范围内包括多个像素点，即使产品上有数个较小的瑕疵点，而色差平均值达不到预设的阈值，无法识别出来。

在本发明实施例中，通过预设半径以及色差阈值，实现了对不同工业产品的质量控制，提高了应用到范围，可以推广使用。

在本发明实施例中，判断预设的半径范围内待检产品的图像中各像素点与预存的标准产品的图像中对应像素点的色差平均值大于预设的阈值时，即说明所述半径范围内有瑕疵，确定待检产品瑕疵的位置信息。；当判断预设的半径范围内待检产品的图像中各像素点与预存的标准产品的图像中对应像素点的色差平均值不大于预设的阈值时，即说明所述半径范围内无瑕疵，继续选取下一像素点，继续判断判断预设的半径范围内待检产品的图像中各像素点与预存的标准产品的图像中对应像素点的色差平均值是否大于预设的阈值。

瑕疵位置信息确定模块1103，用于确定待检产品瑕疵的位置信息。

作为本发明一个优选实施例，为进一步确定所述待检产品瑕疵的大小信息以及形状信息，所述对比单元还包括：

瑕疵边缘像素点识别模块1104，用于根据待检产品的图像中各像素点与预存的标准产品的图像中对应像素点的色差，识别出瑕疵边缘的像素点。

在本发明实施例中，所述瑕疵边缘的像素点要求所述像素点的周围八个像素点中既存在色差超过预设的第二阈值的像素点，又存在色差不超过预设的第二阈值的像素点。

瑕疵形状大小信息确定模块1105，用于根据所述瑕疵边缘像素点确定所述待检产品瑕疵的形状信息以及大小信息。

本发明实施例提供了一种可识别待检产品的图像与预存的标准产品的图像之间的差异的对比单元结构示意图，通过计算待检产品的图像中各像素点与预存的标准产品的图像之间的色差，可以有效地识别出待检产品的图像与预存的标准产品的图像之间的差异，从而进一步确认待检产品瑕疵的位置信息、大小信息以及形状信息。

本发明实施例提供一种计算机装置，该计算机装置包括处理器，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现上述图1至图6所示出的实施例所提供的辅助质检方法的步骤。

示例性的，计算机程序可以被分割成一个或多个模块，一个或者多个模块被存储在存储器中，并由处理器执行，以完成本发明。一个或多个模块可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描述计算机程序在计算机装置中的执行过程。例如，计算机程序可以被分割成上述各个方法实施例提供的辅助质检方法的步骤。

本领域技术人员可以理解，上述计算机装置的描述仅仅是示例，并不构成对计算机装置的限定，可以包括比上述描述更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。

所称处理器可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器 (Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列 (Field-Programmable Gate Array，FPGA) 或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等，所述处理器是所述计算机装置的控制中心，利用各种接口和线路连接整个计算机装置的各个部分。

所述存储器可用于存储所述计算机程序和/或模块，所述处理器通过运行或执行存储在所述存储器内的计算机程序和/或模块，以及调用存储在存储器内的数据，实现所述计算机装置的各种功能。所述存储器可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序（比如声音播放功能、图像播放功能等）等；存储数据区可存储根据手机的使用所创建的数据（比如音频数据、电话本等）等。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如硬盘、内存、插接式硬盘，智能存储卡（Smart Media Card, SMC），安全数字（Secure Digital, SD）卡，闪存卡（Flash Card）、至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。

所述计算机装置集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、电载波信号、电信号以及软件分发介质等。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种辅助质检方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

获取待检产品的图像；

将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息；

根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面的步骤，具体包括：

获取所述待检产品瑕疵的位置信息；

获取所述投影设备相对于产品的位置关系；

根据所述待检产品瑕疵的位置信息以及所述投影设备相对于产品的位置关系，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述辅助质检方法的步骤，还包括：

控制投影设备将所述预存的标准产品的图像投射在所述待检产品周边区域。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息的步骤，具体包括：

将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息、大小信息以及形状信息；

根据所述瑕疵的位置信息、大小信息以及形状信息确定所述待检产品瑕疵的类型；

所述根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面的步骤，具体包括：

根据所述待检产品瑕疵的位置信息以及所述待检产品瑕疵的类型，控制投影设备将与待检产品瑕疵的类型对应的不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

5.一种辅助质检装置，其特征在于，所述辅助质检装置包括：

待检产品图像获取单元，用于获取待检产品的图像；

对比单元，用于将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息；以及

不良信息标识投影控制单元，用于根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述不良信息标识投影控制单元具体包括：

瑕疵位置信息获取模块，用于获取所述待检产品瑕疵的位置信息；

投影设备位置信息获取模块，用于获取所述投影设备相对于产品的位置关系；以及

不良信息标识投影控制模块，用于根据所述待检产品瑕疵的位置信息以及所述投影设备相对于产品的位置关系，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述辅助质检装置还包括：

标准产品图像投影控制单元，用于控制投影设备将所述预存的标准产品的图像投射在所述待检产品周边区域。

8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述对比单元具体包括：

对比模块，用于将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息、大小信息以及形状信息；以及

瑕疵类型确定模块，用于根据所述瑕疵的位置信息、大小信息以及形状信息确定所述待检产品瑕疵的类型；

所述不良信息标识投影控制单元具体包括：

不良信息标识投影控制模块，用于根据所述待检产品瑕疵的位置信息以及所述待检产品瑕疵的类型，控制投影设备将与待检产品瑕疵的类型对应的不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，其特征在于所述存储器中存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行权利要求1至4中任一项权利要求所述辅助质检方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行权利要求1至4中任一项权利要求所述辅助质检方法的步骤。