CN109509413A - 显示面板测试电路、显示面板测试装置及显示屏 - Google Patents

显示面板测试电路、显示面板测试装置及显示屏 Download PDF

Info

Publication number
CN109509413A
CN109509413A CN201811561441.3A CN201811561441A CN109509413A CN 109509413 A CN109509413 A CN 109509413A CN 201811561441 A CN201811561441 A CN 201811561441A CN 109509413 A CN109509413 A CN 109509413A
Authority
CN
China
Prior art keywords
switch unit
array substrate
display panel
driving power
switch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201811561441.3A
Other languages
English (en)
Inventor
黄北洲
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HKC Co Ltd
Original Assignee
HKC Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by HKC Co Ltd filed Critical HKC Co Ltd
Priority to CN201811561441.3A priority Critical patent/CN109509413A/zh
Publication of CN109509413A publication Critical patent/CN109509413A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

本申请公开一种显示面板测试电路、显示面板测试装置及显示屏,其中,显示面板测试电路包括第一开关单元、第二开关单元及控制模块,控制模块用于输出第一测试信号至第一开关单元,以及输出第二测试信号至第二开关单元;当第一开关单元接收到第一测试信号时,第一开关单元导通,显示面板中的阵列基板与阵列基板驱动电路中的第一驱动电源形成供电通路;当第二开关单元接收到第二测试信号时,第二开关单元导通,显示面板中的阵列基板与阵列基板驱动电路中的第二驱动电源形成供电通路。本显示面板测试电路能够方便阵列基板驱动电路的调试。

Description

显示面板测试电路、显示面板测试装置及显示屏
技术领域
本申请涉及显示面板技术领域,特别涉及一种显示面板测试电路、显示面板测试装置及显示屏。
背景技术
GOA(Gate Driver on Array,阵列基板行驱动)产品大都采用左驱动端和右驱动端双端驱动的方式。因为如此一来,阵列基板驱动电路就可以分开设置阵列基板的左右两侧,使显示面板的左边框或者右边框变小,并且左右两侧驱动还可以增大阵列基板驱动电路的驱动推力。
然而,当采用双端驱动时,若遇到GOA电路单边异常,则容易出现无法判断出是哪边电路异常造成画面故障的情况,也即,常规的双端阵列基板驱动电路存在调试困难的缺陷。
发明内容
本申请的主要目的是提供一种显示面板测试电路,旨在方便阵列基板驱动电路的调试。
为实现上述目的,本申请提出一种显示面板测试电路,所述显示面板包括阵列基板及阵列基板驱动电路,所述阵列基板包括第一驱动端子和第二驱动端子,所述阵列基板驱动电路包括第一驱动电源和第二驱动电源,其中,所述显示面板测试电路包括:
第一开关单元,其输入端子接入第一驱动电源,其输出端子与所述阵列基板的第一驱动端子连接;
第二开关单元,其输入端子接入第二驱动电源,其输出端子与所述阵列基板的第二驱动端子连接;
控制模块,用于输出第一测试信号至所述第一开关单元,以及输出第二测试信号至所述第二开关单元;
当所述第一开关单元接收到所述第一测试信号时,所述第一开关单元导通,所述第一驱动电源与所述阵列基板之间形成供电通路;
当所述第二开关单元接收到所述第二测试信号时,所述第二开关单元导通,所述第二驱动电源与所述阵列基板之间形成供电通路。
可选的,所述控制模块包括阵列基板测试单元及驱动电源测试单元,所述驱动电源测试单元的第一输出端与所述第一开关单元的受控端连接,所述驱动电源测试单元的第二输出端与所述第二开关单元的受控端连接。
可选的,所述阵列基板包括N行M列像素单元,所述第一开关单元包括N个第一开关晶体管,所述第二开关单元包括N个第二开关晶体管;
第X行的所有所述像素单元的驱动端依次连接,并形成第一连接节点,所述第一连接节点分别与第X个第一开关晶体管的输出端、第X个第二开关晶体管的输出端连接,并形成第二连接节点,1≤X≤N;
N个所述第一开关晶体管的输入端均与所述第一驱动电源连接,N个所述第一开关晶体管的受控端互连,其连接节点为所述第一开关单元的受控端;
N个所述第二开关晶体管的输入端均与所述第二驱动电源连接,N个所述第二开关晶体管的受控端互连,其连接节点为所述第二开关单元的受控端。
可选的,N个所述第一开关晶体管的输入端构成所述第一开关单元的输入端子,N个所述第一开关晶体管的输出端构成所述第一开关单元的输出端子,N行所述像素单元的驱动端从所述阵列基板的左侧引出,构成所述阵列基板的第一驱动端子。
可选的,N个所述第二开关晶体管的输入端构成为所述第二开关单元的输入端子,N个所述第二开关晶体管的输出端构成为所述第二开关单元的输出端子,N行所述像素单元的驱动端从所述阵列基板的右侧引出,构成所述阵列基板的第二驱动端子。
可选的,N行M列所述像素单元呈曲面图形排布。
可选的,N行M列所述像素单元呈平面图形排布。
可选的,N行M列所述像素单元呈矩形排布。
可选的,N行M列所述像素单元呈圆形排布。
可选的,所述驱动电源测试单元的第一输出端与所述第一开关单元的受控端可拆卸连接,所述驱动电源测试单元的第二输出端与所述第二开关单元的受控端可拆卸连接。
可选的,所述第一开关单元的受控端设置有第一插槽,所述驱动电源测试单元的第一输出端通过第一导电线引出,所述第一导电线外部套设有绝缘材料,当所述第一导电线插入所述第一插槽内时,所述驱动电源测试单元的第一输出端与所述第一开关单元的受控端电性连接;所述第二开关单元的受控端设置有第二插槽,所述驱动电源测试单元的第二输出端通过第二导电线引出,所述第二导电线外部套设有绝缘材料,当所述第二导电线插入所述第二插槽内时,所述驱动电源测试单元的第二输出端与所述第二开关单元的受控端电性连接。
对应的,本申请还提出一种显示面板测试装置,包括第一电源接口、第二电源接口、电路板、壳体、第一测试接口、第二测试接口,以及如上所述的显示面板测试电路;所述第一电源接口用于供所述第一开关单元的输入端子安装,以连接所述第一驱动电源;所述第二电源接口用于供所述第二开关单元的输入端子安装,一连接所述第二驱动电源;所述第一测试接口用于供所述第一开关单元的输出端子安装,以连接所述阵列基板的第一驱动端子;所述第二测试接口用于供所述第二开关单元的输出端子安装,以连接所述阵列基板的第二驱动端子;所述电路板用于供所述显示面板测试电路安装,所述壳体密闭并形成空腔,所述电路板设于所述空腔内,所述第一电源接口与所述第二电源接口相对设置于所述壳体的两侧。
本申请还提出一种显示屏,包括支架、边框、背板及如上所述的阵列基板测试电路;其中,所述边框套设于所述阵列基板外侧,所述边框与所述平行的侧边厚度为2至20毫米;所述支架与所述边框可拆卸连接,所述背板设于所述阵列基板背侧,与所述显示边框固定连接,所述背板背离所述阵列基板的一侧设有安装组件,以供所述显示屏安装。
本申请技术方案通过采用在阵列基板与第一驱动电源之间设置第一开关单元,在阵列基板与第二驱动电源之间设置第二开关单元,控制模块输出第一测试信号至第一开关单元,以及输出第二测试信号至第二开关单元。当第一开关单元接收到第一测试信号时,第一开关单元导通,第一驱动电源与阵列基板之间形成供电通路;当第二开关单元接收到第二测试信号时,第二开关单元导通,第二驱动电源与阵列基板之间形成供电通路。这样,当第一开关单元导通、而第二开关单元断开时,若阵列基板不显示,则说明第一驱动电源异常。当第二开关单元导通、而第一开关单元断开时,若阵列基板不显示,则说明第二驱动电源异常。因此,本显示面板测试电路能够方便阵列基板驱动电路的调试。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本申请显示面板测试电路一实施例的功能模块示意图;
图2为本申请显示面板测试电路另一实施例的电路结构示意图;
图3为本申请显示屏一实施例的结构示意图。
本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
需要说明,在本申请中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本申请要求的保护范围之内。
本申请提出一种显示面板测试电路。
其中,显示面板包括阵列基板100及阵列基板100驱动电路(图未标出),阵列基板100包括第一驱动端子(图未标出)和第二驱动端子(图未标出),阵列基板100驱动电路包括第一驱动电源101和第二驱动电源102。
请参阅图1,在本显示面板测试电路一实施例中,显示面板测试电路包括第一开关单元10、第二开关单元20及控制模块30,第一开关单元10的输入端子(图未标出)接入第一驱动电源101,第一开关单元10的输出端子(图未标出)与阵列基板100的第一驱动端子连接;第二开关单元20的输入端子(图未标出)接入第二驱动电源102,第二开关单元20的输出端子(图未标出)与阵列基板100的第二驱动端子连接。其中,第一开关单元10与第二开关单元20相对设置于阵列基板100的两侧。
控制模块30用于输出第一测试信号至第一开关单元10,以及输出第二测试信号至第二开关单元20。
当第一开关单元10接收到第一测试信号时,第一开关单元10导通,第一驱动电源101与阵列基板100之间形成供电通路;当第二开关单元20接收到第二测试信号时,第二开关单元20导通,第二驱动电源102与阵列基板100之间形成供电通路。
可选的,当第一测试信号为高电平时,第一开关单元10导通,第一驱动电源101输出的供电电源通过第一开关单元10输送至阵列基板100的第一驱动端子,以通过该第一驱动端子为阵列基板100供电。
此时,若第一驱动电源101正常,则阵列基板100显示。对应的,若阵列基板100不显示,则说明第一驱动电源101异常。换言之,本显示面板测试电路能够调试出第一驱动电源101是否正常。
类似的,当第二测试信号为高电平时,第二开关单元20导通,第二驱动电源102输出的供电电源通过第二开关单元20输送至阵列基板100的第二驱动端子,以通过该第二驱动端子为阵列基板100供电。
此时,若第二驱动电源102正常,则阵列基板100显示。对应的,若阵列基板100不显示,则说明第二驱动电源102异常。换言之,本显示面板测试电路能够调试出第二驱动电源102是否正常。
本显示面板测试电路仅通过控制模块30输出第一测试信号至第一开关单元10就能调试出第一驱动电源101是否正常,通过控制模块30输出第二测试信号至第二开关单元20就能调试出第二驱动电源102是否正常,非常简便。
需要说明的是,上述第一测试信号不限于高电平信号,也可以是低电平信号。只要在控制模块30输出第一测试信号时,第一开关单元10的工作状态发生切换即可。
类似的,上述第二测试信号不限于高电平信号,也可以是低电平信号。只要在控制模块30输出第二测试信号时,第二开关单元20的工作状态发生切换即可。
此外,值得一提的是,上述内容中,控制模块30输出的第一测试信号(第二测试信号)的类型可根据第一开关单元10(第二开关单元20)的电路结构设置,而不限于上述的高电平信号。
比如,当第一开关单元10(第二开关单元20)为触发器(图未示出)时,控制模块30对应输出的第一测试信号(第二测试信号)应当是上升沿触发信号、或者下降沿触发信号。
值得一提的是,在显示面板处于非测试状态时,控制模块30可同时输出第一测试信号和第二测试信号,使得第一开关单元和第二开关单元都处于导通状态,显示面板正常工作。或者,既不输出第一测试信号也不输出第二测试信号,使得第一开关单元和第二单元都处于关断状态,显示面板不工作。换言之,本显示面板测试电路能够在不影响显示面板正常工作的条件下对阵列基板100驱动电路的性能进行调试,可靠性高。
此外,请参阅图2,在一可选实施例中,控制模块30包括阵列基板测试单元31及驱动电源测试单元32,驱动电源测试单元32的第一输出端与第一开关单元10的受控端连接,驱动电源测试单元32的第二输出端与第二开关单元20的受控端连接。这样,使驱动电源测试单元32的第一输出端与第一开关单元10对应,第二输出端与第二开关单元20对应,可以避免在测试阵列基板驱动电路性能时出现接线错误的情况,可靠性高。
在一可选实施例中,上述阵列基板100包括N行M列像素单元(图未示出),第一开关单元10包括N个第一开关晶体管(如图2所示的G1至Gn),第二开关单元20包括N个第二开关晶体管(如图2所示的Q1至Qn);第X行的所有像素单元的驱动端、第X个第一开关晶体管的输出端及第X个第二开关晶体管的输出端互连,并形成一连接节点,1≤X≤N;N个第一开关晶体管的输入端均与第一驱动电源101连接,N个第一开关晶体管的受控端互连,其连接节点为第一开关单元10的受控端;N个第二开关晶体管的输入端均与第二驱动电源102连接,N个第二开关晶体管的受控端互连,其连接节点为第二开关单元20的受控端。
在此,需要说明的是,本实施例中,阵列基板100的排布方式有多种。
可选的,当阵列基板100应用于智能电子手表中时,阵列基板100中像素单元的排布方式可依据手表表盘的形状设置。
比如,手表表盘呈平面设置。N行M列像素单元呈矩形、圆形、椭圆形等规则图形排布。或者,N行M列像素呈心形、星形等不规则图形排布。
手表表盘呈曲面设置。N行M列像素单元可位于多个平面中。
本实施例中,阵列基板100中像素单元的排布方式可依据产品的形状设置,适应性强。
为方便对本技术方案的理解,在此,以阵列基板100应用于电视机、计算机等相对大型显示设备中,且N行M列像素单元呈矩形排布为例进行说明。
可选的,请参阅图2,N个第一开关晶体管的输入端构成第一开关单元10的输入端子,N个第一开关晶体管的输出端构成第一开关单元10的输出端子,N行像素单元的驱动端从阵列基板100的左侧引出,构成阵列基板100的第一驱动端子。
N个第二开关晶体管的输入端构成第二开关单元20的输入端子,N个第二开关晶体管的输出端构成第二开关单元20的输出端子,N行像素单元的驱动端从阵列基板100的右侧引出,构成阵列基板100的第二驱动端子。
本实施例中,第一开关晶体管、阵列基板100行像素单元及第二开关晶体管一一对应设置,方便故障检查和维修。
在一具体实施例中,N个第一开关晶体管和N个第二开关晶体管均可选为N沟道的晶体管。这样,若控制模块30输出的第一测试信号为高电平,则N个第一开关晶体管全部导通,即言第一开关单元10导通。若控制模块30输出的第二测试信号为高电平,则N个第二开关晶体管全部导通,即言第二开关单元20导通。
可以理解的是,当N个第一开关晶体管和N个第二开关晶体管均为P沟道晶体管时,若需要第一开关单元10导通,则需要控制模块30输出的第一测试信号为低电平;若需要第二开关单元20导通,则需要控制模块30输出的第二测试信号为低电平。
值得一提的是,在一可选实施例中,驱动电源测试单元32的第一输出端与第一开关单元10的受控端可拆卸连接,驱动电源测试单元32的第二输出端与第二开关单元20的受控端可拆卸连接。
具体的,第一开关单元10的受控端设置有第一插槽(图未示出),驱动电源测试单元32的第一输出端通过第一导电线(图未示出)引出,第一导电线外部套设有绝缘材料(图未示出),当第一导电线插入第一插槽内时,驱动电源测试单元32的第一输出端与第一开关单元10的受控端电性连接;第二开关单元20的受控端设置有第二插槽(图未示出),驱动电源测试单元32的第二输出端通过第二导电线(图未示出)引出,第二导电线外部套设有绝缘材料,当第二导电线插入第二插槽内时,驱动电源测试单元32的第二输出端与第二开关单元20的受控端电性连接。
这样,在不需要测试时,可将驱动电源测试单元32的第一输出端与第一开关单元10的受控端断开,以及,将驱动电源测试单元32的第二输出端与第二开关单元20的受控端断开。一方面,可以节省电能,另一方面,可以避免测试电路对阵列基板100的正常工作产生干扰。
以下,结合图1和图2,说明本显示面板测试电路的工作原理:
当控制模块30中驱动电源测试单元32的第一输出端输出高电平时,N个第一开关晶体管导通,第一驱动电源101输出的供电电源通过各第一开关晶体管输送至对应的像素单元。
此时,若第一驱动电源101正常,则阵列基板100显示。对应的,若阵列基板100不显示,则说明第一驱动电源101异常。换言之,本显示面板测试电路能够调试出第一驱动电源101是否正常。
当控制模块30中驱动电源测试单元32的第二输出端输出高电平时,N个第二开关晶体管导通,第二驱动电源102输出的供电电源通过各第二开关晶体管输送至对应的像素单元。
此时,若第二驱动电源102正常,则阵列基板100显示。对应的,若阵列基板100不显示,则说明第二驱动电源102异常。换言之,本显示面板测试电路能够调试出第二驱动电源102是否正常。
本申请还提出一种显示面板测试装置,包括第一电源接口、第二电源接口、电路板、壳体、第一测试接口、第二测试接口,以及如上所述的显示面板测试电路;所述第一电源接口用于供所述第一开关单元10的输入端子安装,以连接所述第一驱动电源101;所述第二电源接口用于供所述第二开关单元20的输入端子安装,以连接所述第二驱动电源102;所述第一测试接口用于供所述第一开关单元10的输出端子安装,以连接所述阵列基板100的第一驱动端子;所述第二测试接口用于供所述第二开关单元20的输出端子安装,以连接所述阵列基板100的第二驱动端子;所述电路板用于供所述显示面板测试电路安装,所述壳体密闭并形成空腔,所述电路板设于所述空腔内,所述第一电源接口与所述第二电源接口相对设置于所述壳体的两侧,该显示面板测试电路的具体结构参照上述实施例,由于本显示面板测试装置采用了上述所有实施例的全部技术方案,因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果,在此不再一一赘述。
在一可选实施例中,显示面板测试装置中的控制模块与第一开关单元及第二开关单元分立设置。第一开关单元的受控端通过左控制线(左控制线具有导电功能)引出,第二开关单元的受控端通过右控制线(右控制线具有导电功能)引出。在对阵列基板的驱动电路进行调试时,将控制模块中驱动电源测试单元的第一输出端与左控制线电性连接,将控制模块中驱动电源测试单元的第二输出端与右控制线电性连接即可,非常简便。
本申请还提出本申请还提出一种显示屏,包括支架200、边框300、背板(图未示出)及如上所述的阵列基板测试电路;其中,所述边框300套设于所述阵列基板100外侧,所述边框300与所述阵列基板100平行的侧边厚度为0至10毫米;所述支架200与所述边框300可拆卸连接,所述背板设于所述阵列基板100背侧,与所述显示边框固定连接,所述背板背离所述阵列基板的一侧设有安装组件(图未示出),以供所述显示屏安装。
以上所述仅为本申请的优选实施例,并非因此限制本申请的专利范围,凡是在本申请的发明构思下,利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种显示面板测试电路,所述显示面板包括阵列基板及阵列基板驱动电路,所述阵列基板包括第一驱动端子和第二驱动端子,所述阵列基板驱动电路包括第一驱动电源和第二驱动电源,其特征在于,所述显示面板测试电路包括:
第一开关单元,其输入端子接入第一驱动电源,其输出端子与所述阵列基板的第一驱动端子连接;
第二开关单元,其输入端子接入第二驱动电源,其输出端子与所述阵列基板的第二驱动端子连接;
控制模块,用于输出第一测试信号至所述第一开关单元,以及输出第二测试信号至所述第二开关单元;
当所述第一开关单元接收到所述第一测试信号时,所述第一开关单元导通,所述第一驱动电源与所述阵列基板之间形成供电通路;
当所述第二开关单元接收到所述第二测试信号时,所述第二开关单元导通,所述第二驱动电源与所述阵列基板之间形成供电通路。
2.如权利要求1所述的显示面板测试电路,其特征在于,所述控制模块包括阵列基板测试单元及驱动电源测试单元,所述驱动电源测试单元的第一输出端与所述第一开关单元的受控端连接,所述驱动电源测试单元的第二输出端与所述第二开关单元的受控端连接。
3.如权利要求2所述的显示面板测试电路,其特征在于,所述阵列基板包括N行M列像素单元,所述第一开关单元包括N个第一开关晶体管,所述第二开关单元包括N个第二开关晶体管;
第X行的所有所述像素单元的驱动端依次连接,并形成第一连接节点,所述第一连接节点分别与第X个第一开关晶体管的输出端、第X个第二开关晶体管的输出端连接,并形成第二连接节点,1≤X≤N;
N个所述第一开关晶体管的输入端均与所述第一驱动电源连接,N个所述第一开关晶体管的受控端互连,其连接节点为所述第一开关单元的受控端;
N个所述第二开关晶体管的输入端均与所述第二驱动电源连接,N个所述第二开关晶体管的受控端互连,其连接节点为所述第二开关单元的受控端。
4.如权利要求3所述的显示面板测试电路,其特征在于,N个所述第一开关晶体管的输入端构成所述第一开关单元的输入端子,N个所述第一开关晶体管的输出端构成所述第一开关单元的输出端子,N行所述像素单元的驱动端从所述阵列基板的左侧引出,构成所述阵列基板的第一驱动端子。
5.如权利要求3所述的显示面板测试电路,其特征在于,N个所述第二开关晶体管的输入端构成为所述第二开关单元的输入端子,N个所述第二开关晶体管的输出端构成为所述第二开关单元的输出端子,N行所述像素单元的驱动端从所述阵列基板的右侧引出,构成所述阵列基板的第二驱动端子。
6.如权利要求3所述的显示面板测试电路,其特征在于,N行M列所述像素单元呈曲面或者平面图形排布。
7.如权利要求2所述的显示面板测试电路,其特征在于,所述驱动电源测试单元的第一输出端与所述第一开关单元的受控端可拆卸连接,所述驱动电源测试单元的第二输出端与所述第二开关单元的受控端可拆卸连接。
8.如权利要求7所述的显示面板测试电路,其特征在于,所述第一开关单元的受控端设置有第一插槽,所述驱动电源测试单元的第一输出端通过第一导电线引出,所述第一导电线外部套设有绝缘材料,当所述第一导电线插入所述第一插槽内时,所述驱动电源测试单元的第一输出端与所述第一开关单元的受控端电性连接;
所述第二开关单元的受控端设置有第二插槽,所述驱动电源测试单元的第二输出端通过第二导电线引出,所述第二导电线外部套设有绝缘材料,当所述第二导电线插入所述第二插槽内时,所述驱动电源测试单元的第二输出端与所述第二开关单元的受控端电性连接。
9.一种显示面板测试装置,其特征在于,包括第一电源接口、第二电源接口、电路板、壳体、第一测试接口、第二测试接口,以及如权利要求1-8任意一项所述的显示面板测试电路;
所述第一电源接口用于供所述第一开关单元的输入端子安装,以连接所述第一驱动电源;所述第二电源接口用于供所述第二开关单元的输入端子安装,一连接所述第二驱动电源;
所述第一测试接口用于供所述第一开关单元的输出端子安装,以连接所述阵列基板的第一驱动端子;所述第二测试接口用于供所述第二开关单元的输出端子安装,以连接所述阵列基板的第二驱动端子;
所述电路板用于供所述显示面板测试电路安装,所述壳体密闭并形成空腔,所述电路板设于所述空腔内,所述第一电源接口与所述第二电源接口相对设置于所述壳体的两侧。
10.一种显示屏,其特征在于,包括支架、边框、背板及如权利要求1-8任意一项所述的阵列基板测试电路;其中,所述边框套设于所述阵列基板外侧,所述边框与所述平行的侧边厚度为2至20毫米;所述支架与所述边框可拆卸连接,所述背板设于所述阵列基板背侧,与所述显示边框固定连接,所述背板背离所述阵列基板的一侧设有安装组件,以供所述显示屏安装。
CN201811561441.3A 2018-12-19 2018-12-19 显示面板测试电路、显示面板测试装置及显示屏 Pending CN109509413A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811561441.3A CN109509413A (zh) 2018-12-19 2018-12-19 显示面板测试电路、显示面板测试装置及显示屏

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811561441.3A CN109509413A (zh) 2018-12-19 2018-12-19 显示面板测试电路、显示面板测试装置及显示屏

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN109509413A true CN109509413A (zh) 2019-03-22

Family

ID=65753846

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201811561441.3A Pending CN109509413A (zh) 2018-12-19 2018-12-19 显示面板测试电路、显示面板测试装置及显示屏

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109509413A (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112331116A (zh) * 2020-11-05 2021-02-05 北海惠科光电技术有限公司 液晶面板和液晶面板阵列基板行驱动电路检测方法
CN113035100A (zh) * 2021-03-18 2021-06-25 绵阳惠科光电科技有限公司 一种显示面板的检测方法、检测装置及显示设备
CN115050295A (zh) * 2022-06-30 2022-09-13 惠科股份有限公司 测试电路、测试方法及显示装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101221724A (zh) * 2006-12-19 2008-07-16 索尼株式会社 显示设备、显示设备的驱动方法、和电子装置
CN103280199A (zh) * 2013-04-19 2013-09-04 合肥京东方光电科技有限公司 一种消除关机残影的电路及阵列基板
CN103926767A (zh) * 2013-10-17 2014-07-16 成都天马微电子有限公司 液晶显示器及其检测方法
CN104766870A (zh) * 2015-04-21 2015-07-08 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板及其制备方法、显示装置
US20170092209A1 (en) * 2015-09-25 2017-03-30 Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Common circuit for goa test and eliminating power-off residual images
CN106782258A (zh) * 2015-11-19 2017-05-31 小米科技有限责任公司 显示屏、显示装置及显示方法
WO2017117846A1 (zh) * 2016-01-04 2017-07-13 武汉华星光电技术有限公司 Goa电路
CN207781148U (zh) * 2018-01-03 2018-08-28 合肥京东方光电科技有限公司 一种异常检测结构、显示面板及显示装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101221724A (zh) * 2006-12-19 2008-07-16 索尼株式会社 显示设备、显示设备的驱动方法、和电子装置
CN103280199A (zh) * 2013-04-19 2013-09-04 合肥京东方光电科技有限公司 一种消除关机残影的电路及阵列基板
CN103926767A (zh) * 2013-10-17 2014-07-16 成都天马微电子有限公司 液晶显示器及其检测方法
CN104766870A (zh) * 2015-04-21 2015-07-08 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板及其制备方法、显示装置
US20170092209A1 (en) * 2015-09-25 2017-03-30 Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Common circuit for goa test and eliminating power-off residual images
CN106782258A (zh) * 2015-11-19 2017-05-31 小米科技有限责任公司 显示屏、显示装置及显示方法
WO2017117846A1 (zh) * 2016-01-04 2017-07-13 武汉华星光电技术有限公司 Goa电路
CN207781148U (zh) * 2018-01-03 2018-08-28 合肥京东方光电科技有限公司 一种异常检测结构、显示面板及显示装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112331116A (zh) * 2020-11-05 2021-02-05 北海惠科光电技术有限公司 液晶面板和液晶面板阵列基板行驱动电路检测方法
CN113035100A (zh) * 2021-03-18 2021-06-25 绵阳惠科光电科技有限公司 一种显示面板的检测方法、检测装置及显示设备
CN115050295A (zh) * 2022-06-30 2022-09-13 惠科股份有限公司 测试电路、测试方法及显示装置
CN115050295B (zh) * 2022-06-30 2023-05-26 惠科股份有限公司 测试电路、测试方法及显示装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109509413A (zh) 显示面板测试电路、显示面板测试装置及显示屏
CN105319787B (zh) 液晶显示模组
CN105807464B (zh) 显示装置
CN106790811B (zh) 显示屏驱动系统及移动终端
CN105976745B (zh) 阵列基板测试电路、显示面板及平面显示装置
CN207781148U (zh) 一种异常检测结构、显示面板及显示装置
CN113052095B (zh) 一种显示面板及显示装置
JP3838669B2 (ja) 液晶駆動用集積回路
CN106057110B (zh) 阵列测试电路及阵列测试方法
CN106057106B (zh) 一种检测结构、检测方法及显示装置
CN109358706A (zh) 显示面板和显示装置
US11587480B2 (en) Display screen lighter and display screen detection device
TW200624922A (en) Electro-optical device, electronic apparatus, and mounting structure
CN115267481A (zh) 一种芯片测试电路和芯片测试装置
CN108597424A (zh) 一种显示面板、显示装置和检测方法
CN105609022B (zh) Gip检测电路和平板显示装置
CN219676044U (zh) 运行内存芯片测试板和运行内存芯片测试装置
CN109509417A (zh) 显示面板驱动电路、显示装置及显示屏
CN105788550B (zh) 栅极侧扇出区域电路
US7272760B2 (en) Curve tracing device and method
CN206097860U (zh) 一种触控显示装置
CN108492758A (zh) 一种测试控制电路及控制方法、显示基板、显示装置
CN211654268U (zh) 一种显示屏驱动板及显示屏驱动系统
CN115248368A (zh) 一种测试板、测试机构
CN210181893U (zh) 一种应用于电子技术实验的实验箱

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20190322

RJ01 Rejection of invention patent application after publication