CN109471017A - 一种基于单片机控制的78xx系列芯片型号检测电路及方法 - Google Patents

一种基于单片机控制的78xx系列芯片型号检测电路及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109471017A
CN109471017A CN201811404868.2A CN201811404868A CN109471017A CN 109471017 A CN109471017 A CN 109471017A CN 201811404868 A CN201811404868 A CN 201811404868A CN 109471017 A CN109471017 A CN 109471017A
Authority
CN
China
Prior art keywords
chip
circuit
capacitor
family chip
family
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201811404868.2A
Other languages
English (en)
Inventor
邹铭锐
刘小艳
吴玉虹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kunming University of Science and Technology
Original Assignee
Kunming University of Science and Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kunming University of Science and Technology filed Critical Kunming University of Science and Technology
Priority to CN201811404868.2A priority Critical patent/CN109471017A/zh
Publication of CN109471017A publication Critical patent/CN109471017A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)

Abstract

本发明公开了一种基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路及方法，属于电子技术领域。本发明提供的78XX系列芯片型号检测电路操作简单，连接方便，只需将待检测的78XX系列芯片插入连接底座便可检测其型号；能够高效直观、方便简单地检测一个78XX系列芯片是该系列芯片中的什么型号；使用这样的电路，可以在使用78XX系列芯片前，检测芯片型号，防止误用；可以在整理78XX系列芯片时，快速检测型号，方便元器件的分类整理与收纳。

Description

一种基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路及方法
技术领域
本发明涉及一种基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路及方法，属于电子技术领域。
背景技术
78XX系列芯片是一种可调式三端稳压器，是应用最为广泛的电源集成电路芯片之一，广泛应用于线性稳压，服务于多种应用场合，包括局部稳压，卡上稳压，可编程输出稳压器，精密稳流器等。78XX系列芯片在全世界范围内得到了广泛的应用。
正因如此，随着78XX系列芯片的大规模应用，78XX系列芯片的故障检测问题也普遍存在。实际中存在以下问题：
1、78XX系列芯片外观相同，其表面标识的字样容易磨损或摩擦后而模糊不清，在78XX系列芯片使用前都需要判断其型号，避免取用了错误的型号，造成电路故障和损失。但是78XX系列芯片型号的识别一般只能通过观察芯片表面标识的字样来判断，耗时、效率较低，而且容易出错，对于一些表面磨损较严重的芯片则无法判断其型号。
2、在78XX系列芯片整理分类收纳过程中，78XX系列芯片外形相同，需要快速准确判断其型号，以便将其快速分类、整理。而现有的78XX系列芯片型号的判断方法为观察表面标识的字样，速度较慢，且容易出错。
所以，在实际中需要一种高效直观、简单方便的78XX系列芯片型号检测电路及方法。
发明内容
本发明提供了一种基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路及方法，以用于通过合理的构成及连接构建基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路，并通过该检测电路采用本发明的方法步骤进行78XX系列芯片型号检测。
本发明的技术方案是：一种基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路，包括78XX系列芯片稳压电路1、分压采样电路2、液晶屏显示电路3和单片机控制电路4；其中78XX系列芯片稳压电路1的输出端与分压采样电路2的输入端连接，分压采样电路2的输出端与单片机控制电路4连接，液晶屏显示电路3中1602液晶屏的通讯和控制的数据端口4—14引脚连接单片机控制电路4中单片机的各IO口。
所述78XX系列芯片稳压电路1由连接底座、电容C1、电容C2、电容C3构成；其中被检测的78XX系列芯片的Input、Gnd、Output引脚分别与连接底座的1、2、3引脚连接，连接底座中的6、5、4引脚分别与连接底座中的1、2、3引脚相互连通，连接底座的6号引脚接电容C1的正极且电容C1的正极还与30V直流电压连接，连接底座的5号引脚接地且与电容C1的负极、电容C2的负极、电容C3的负极、分压采样电路2中电阻R2的一端、分压采样电路2中电容C4的一端连接，连接底座的4号引脚接电容C2的正极、电容C3的正极且与分压采样电路2中的电阻R1的一端连接。
所述分压采样电路2由电阻R1、电阻R2、电容C4构成；其中电阻R1一端连接78XX系列芯片稳压电路1中电容C3的正极，电阻R1的另一端连接电阻R2一端、电容C4一端，电容C4一端还与单片机控制电路4中单片机的P1.2引脚连接，电阻R2、电容C4另一端与78XX系列芯片稳压电路1中的电容C3的负极连接并接地。
所述液晶屏显示电路3由1602液晶屏、电位器RW、电阻R3构成；其中1602液晶屏的1引脚连接电位器RW的一端且接地，1602液晶屏的2引脚连接5V直流电压，1602液晶屏的3引脚接电位器RW的另一端，1602液晶屏的4—14引脚分别连接单片机控制电路4中单片机的P1.3、P1.4、P1.5、P5.4、P1.1、P1.0、P3.7、P3.6、P3.3、P3.2、P3.1引脚，1602液晶屏的15引脚接电阻R3的一端，电阻R3的另一端连接5V直流电压，1602液晶屏的16引脚接地。
所述单片机控制电路4由单片机、按键S1构成；其中单片机的P1.2引脚与分压采样电路2中电容C4的一端相连，单片机的Vcc引脚与5V直流电压相连，单片机的Gnd引脚接地，单片机的P3.0引脚与按键S1一端相连，按键S1的另一端接地，单片机的P1.3、P1.4、P1.5、P5.4、P1.1、P1.0、P3.7、P3.6、P3.3、P3.2、P3.1引脚分别与液晶屏显示电路3中的1602液晶屏的4—14引脚相连。
所述单片机采用STC12系列或STC15系列。
一种基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测方法，所述方法步骤如下：
步骤1：将被检测型号的78XX系列芯片插入连接底座，采用基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路进行78XX系列芯片的型号检测；其中基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路中，电阻R1的阻值=4×电阻R2的阻值；
步骤2：分压采样电路2进行采样，分压采样电路2对78XX系列芯片稳压电路1的输出电压Uo1进行分压，得到Uo1电压值的1/5作为采样的输出值Uo2，并将分压采样得到的采样输出值Uo2输入到单片机控制电路4中单片机的P1.2引脚，P1.2引脚连接单片机内部的ADC2模块；
步骤3：单片机根据输入的采样值Uo2 ，进行判断：
如果Uo2=1.0±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7805；
如果Uo2=1.2±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7806；
如果Uo2=1.6±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7808；
如果Uo2=1.8±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7809；
如果Uo2=2.4±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7812；
如果Uo2=3.0±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7815；
如果Uo2=3.6±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7818；
如果Uo2=4.8±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7824；
如果采样值Uo2不满足以上条件，则判断为型号无法识别；
步骤4：根据单片机判断的结果，单片机驱动液晶屏显示电路3进行结果显示；
步骤5：按下复位键S1，检测停止，可更换下一个待检测的78XX系列芯片进行检测。
本发明的有益效果是：本发明提供的78XX系列芯片型号检测电路操作简单，连接方便，只需将待检测的78XX系列芯片插入连接底座便可检测其型号；能够高效直观、方便简单地检测一个78XX系列芯片是该系列芯片中的什么型号；使用这样的电路，可以在使用78XX系列芯片前，检测芯片型号，防止误用；可以在整理78XX系列芯片时，快速检测型号，方便元器件的分类整理与收纳。
附图说明
图1为本发明的电路原理图。
图2为本发明的电路结构框图。
图中各标号：1- 78XX系列芯片稳压电路，2-分压采样电路，3-液晶屏显示电路，4-单片机控制电路。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本发明作进一步说明，但本发明的内容并不限于所述范围。
实施例1：如图1-2所示，一种基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路，包括78XX系列芯片稳压电路1、分压采样电路2、液晶屏显示电路3和单片机控制电路4；其中78XX系列芯片稳压电路1的输出端与分压采样电路2的输入端连接，分压采样电路2的输出端与单片机控制电路4连接，液晶屏显示电路3中1602液晶屏的通讯和控制的数据端口4—14引脚连接单片机控制电路4中单片机的各IO口。
进一步地，可以设置所述78XX系列芯片稳压电路1由连接底座、电容C1、电容C2、电容C3构成；其中被检测的78XX系列芯片的Input、Gnd、Output引脚分别与连接底座的1、2、3引脚连接，连接底座中的6、5、4引脚分别与连接底座中的1、2、3引脚相互连通，连接底座的6号引脚接电容C1的正极且电容C1的正极还与30V直流电压连接，连接底座的5号引脚接地且与电容C1的负极、电容C2的负极、电容C3的负极、分压采样电路2中电阻R2的一端、分压采样电路2中电容C4的一端连接，连接底座的4号引脚接电容C2的正极、电容C3的正极且与分压采样电路2中的电阻R1的一端连接。
进一步地，可以设置所述分压采样电路2由电阻R1、电阻R2、电容C4构成；其中电阻R1一端连接78XX系列芯片稳压电路1中电容C3的正极，电阻R1的另一端连接电阻R2一端、电容C4一端，电容C4一端还与单片机控制电路4中单片机的P1.2引脚连接，电阻R2、电容C4另一端与78XX系列芯片稳压电路1中的电容C3的负极连接并接地。
进一步地，可以设置所述液晶屏显示电路3由1602液晶屏、电位器RW、电阻R3构成；其中1602液晶屏的1引脚连接电位器RW的一端且接地，1602液晶屏的2引脚连接5V直流电压，1602液晶屏的3引脚接电位器RW的另一端，1602液晶屏的4—14引脚分别连接单片机控制电路4中单片机的P1.3、P1.4、P1.5、P5.4、P1.1、P1.0、P3.7、P3.6、P3.3、P3.2、P3.1引脚，1602液晶屏的15引脚接电阻R3的一端，电阻R3的另一端连接5V直流电压，1602液晶屏的16引脚接地。
进一步地，可以设置所述单片机控制电路4由单片机、按键S1构成；其中单片机的P1.2引脚与分压采样电路2中电容C4的一端相连，单片机的Vcc引脚与5V直流电压相连，单片机的Gnd引脚接地，单片机的P3.0引脚与按键S1一端相连，按键S1的另一端接地，单片机的P1.3、P1.4、P1.5、P5.4、P1.1、P1.0、P3.7、P3.6、P3.3、P3.2、P3.1引脚分别与液晶屏显示电路3中的1602液晶屏的4—14引脚相连。
进一步地，可以设置所述单片机采用STC12系列或STC15系列。
一种基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测方法，所述方法步骤如下：
步骤1：将被检测型号的78XX系列芯片插入连接底座，采用基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路进行78XX系列芯片的型号检测；其中基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路中，电阻R1的阻值=4×电阻R2的阻值；
步骤2：分压采样电路2进行采样，分压采样电路2对78XX系列芯片稳压电路1的输出电压Uo1进行分压，得到Uo1电压值的1/5作为采样的输出值Uo2，并将分压采样得到的采样输出值Uo2输入到单片机控制电路4中单片机的P1.2引脚，P1.2引脚连接单片机内部的ADC2模块；
步骤3：单片机根据输入的采样值Uo2 ，进行判断：
如果Uo2=1.0±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7805；
如果Uo2=1.2±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7806；
如果Uo2=1.6±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7808；
如果Uo2=1.8±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7809；
如果Uo2=2.4±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7812；
如果Uo2=3.0±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7815；
如果Uo2=3.6±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7818；
如果Uo2=4.8±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7824；
如果采样值Uo2不满足以上条件，则判断为型号无法识别；
步骤4：根据单片机判断的结果，单片机驱动液晶屏显示电路3进行结果显示：单片机P1.3、P1.4、P1.5引脚分别向液晶屏显示电路3中1602液晶屏的4、5、6脚，即向RS、R/W、E端口输入控制信号触发1602液晶屏接收单片机向7-14引脚输入的数据并显示，单片机的P5.4、P1.1、P1.0、P3.7、P3.6、P3.3、P3.2、P3.1引脚分别向液晶屏显示电路3中的1602液晶屏的7至14引脚，即D0至D7端口发送显示数据信号，根据单片机判断的结果，显示检测所得的芯片型号，即显示“7805”、“7806”、“7809”、“7811”、“7812”、“7815”、“7818”、“7824”、“无法识别”这些对应的检测结果。
步骤5：按下复位键S1，检测停止，可更换下一个待检测的78XX系列芯片进行检测。
具体的，电路中参数的设置如下：R1=20KΩ，R2=5KΩ，R3=10KΩ，RW=10KΩ；C1=10uF，C2=0.1uF，C3=10uF，C4=0.1uF。
上面结合附图对本发明的具体实施方式作了详细说明，但是本发明并不限于上述实施方式，在本领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。

Claims (7)

1.一种基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路，其特征在于：包括78XX系列芯片稳压电路（1）、分压采样电路（2）、液晶屏显示电路（3）和单片机控制电路（4）；其中78XX系列芯片稳压电路（1）的输出端与分压采样电路（2）的输入端连接，分压采样电路（2）的输出端与单片机控制电路（4）连接，液晶屏显示电路（3）中1602液晶屏的通讯和控制的数据端口4—14引脚连接单片机控制电路（4）中单片机的各IO口。
2.根据权利要求1所述的基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路，其特征在于：所述78XX系列芯片稳压电路（1）由连接底座、电容C1、电容C2、电容C3构成；其中被检测的78XX系列芯片的Input、Gnd、Output引脚分别与连接底座的1、2、3引脚连接，连接底座中的6、5、4引脚分别与连接底座中的1、2、3引脚相互连通，连接底座的6号引脚接电容C1的正极且电容C1的正极还与30V直流电压连接，连接底座的5号引脚接地且与电容C1的负极、电容C2的负极、电容C3的负极、分压采样电路（2）中电阻R2的一端、分压采样电路（2）中电容C4的一端连接，连接底座的4号引脚接电容C2的正极、电容C3的正极且与分压采样电路（2）中的电阻R1的一端连接。
3.根据权利要求1所述的基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路，其特征在于：所述分压采样电路（2）由电阻R1、电阻R2、电容C4构成；其中电阻R1一端连接78XX系列芯片稳压电路（1）中电容C3的正极，电阻R1的另一端连接电阻R2一端、电容C4一端，电容C4一端还与单片机控制电路（4）中单片机的P1.2引脚连接，电阻R2、电容C4另一端与78XX系列芯片稳压电路（1）中的电容C3的负极连接并接地。
4.根据权利要求1所述的基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路，其特征在于：所述液晶屏显示电路（3）由1602液晶屏、电位器RW、电阻R3构成；其中1602液晶屏的1引脚连接电位器RW的一端且接地，1602液晶屏的2引脚连接5V直流电压，1602液晶屏的3引脚接电位器RW的另一端，1602液晶屏的4—14引脚分别连接单片机控制电路（4）中单片机的P1.3、P1.4、P1.5、P5.4、P1.1、P1.0、P3.7、P3.6、P3.3、P3.2、P3.1引脚，1602液晶屏的15引脚接电阻R3的一端，电阻R3的另一端连接5V直流电压，1602液晶屏的16引脚接地。
5.根据权利要求1所述的基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路，其特征在于：所述单片机控制电路（4）由单片机、按键S1构成；其中单片机的P1.2引脚与分压采样电路（2）中电容C4的一端相连，单片机的Vcc引脚与5V直流电压相连，单片机的Gnd引脚接地，单片机的P3.0引脚与按键S1一端相连，按键S1的另一端接地，单片机的P1.3、P1.4、P1.5、P5.4、P1.1、P1.0、P3.7、P3.6、P3.3、P3.2、P3.1引脚分别与液晶屏显示电路（3）中的1602液晶屏的4—14引脚相连。
6.根据权利要求5所述的基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路，其特征在于：所述单片机采用STC12系列或STC15系列。
7.一种采用权利要求1-6中任一项所述的基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路进行78XX系列芯片型号检测的方法，其特征在于：所述方法步骤如下：
步骤1：将被检测型号的78XX系列芯片插入连接底座，采用基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路进行78XX系列芯片的型号检测；其中基于单片机控制的78XX系列芯片型号检测电路中，电阻R1的阻值=4×电阻R2的阻值；
步骤2：分压采样电路（2）进行采样，分压采样电路（2）对78XX系列芯片稳压电路（1）的输出电压Uo1进行分压，得到Uo1电压值的1/5作为采样的输出值Uo2，并将分压采样得到的采样输出值Uo2输入到单片机控制电路（4）中单片机的P1.2引脚，P1.2引脚连接单片机内部的ADC2模块；
步骤3：单片机根据输入的采样值Uo2 ，进行判断：
如果Uo2=1.0±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7805；
如果Uo2=1.2±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7806；
如果Uo2=1.6±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7808；
如果Uo2=1.8±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7809；
如果Uo2=2.4±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7812；
如果Uo2=3.0±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7815；
如果Uo2=3.6±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7818；
如果Uo2=4.8±0.05V，则被检测的78XX系列芯片型号为7824；
如果采样值Uo2不满足以上条件，则判断为型号无法识别；
步骤4：根据单片机判断的结果，单片机驱动液晶屏显示电路（3）进行结果显示；
步骤5：按下复位键S1，检测停止，可更换下一个待检测的78XX系列芯片进行检测。
CN201811404868.2A 2018-11-23 2018-11-23 一种基于单片机控制的78xx系列芯片型号检测电路及方法 Pending CN109471017A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811404868.2A CN109471017A (zh) 2018-11-23 2018-11-23 一种基于单片机控制的78xx系列芯片型号检测电路及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811404868.2A CN109471017A (zh) 2018-11-23 2018-11-23 一种基于单片机控制的78xx系列芯片型号检测电路及方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN109471017A true CN109471017A (zh) 2019-03-15

Family

ID=65673053

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201811404868.2A Pending CN109471017A (zh) 2018-11-23 2018-11-23 一种基于单片机控制的78xx系列芯片型号检测电路及方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109471017A (zh)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002004968A2 (en) * 2000-07-12 2002-01-17 Advanced Micro Devices, Inc. Universal burn-in socket for testing integrated circuit chip
WO2011037284A1 (ko) * 2009-09-24 2011-03-31 (주)싸이퍼일렉트로닉 카트리지칩 기종변환 방법
CN203069750U (zh) * 2013-02-06 2013-07-17 陕西理工学院 一种新型数字芯片测试仪
CN204719195U (zh) * 2015-04-26 2015-10-21 渭南师范学院 一种便携式数字芯片检测仪
CN206369789U (zh) * 2016-12-15 2017-08-01 厦门大学嘉庚学院 一种多功能数字芯片测试仪
CN108303637A (zh) * 2018-01-29 2018-07-20 昆明理工大学 一种降压开关型集成稳压芯片的检测装置及方法
CN209296875U (zh) * 2018-11-23 2019-08-23 昆明理工大学 一种基于单片机控制的78xx系列芯片型号检测电路

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002004968A2 (en) * 2000-07-12 2002-01-17 Advanced Micro Devices, Inc. Universal burn-in socket for testing integrated circuit chip
WO2011037284A1 (ko) * 2009-09-24 2011-03-31 (주)싸이퍼일렉트로닉 카트리지칩 기종변환 방법
CN203069750U (zh) * 2013-02-06 2013-07-17 陕西理工学院 一种新型数字芯片测试仪
CN204719195U (zh) * 2015-04-26 2015-10-21 渭南师范学院 一种便携式数字芯片检测仪
CN206369789U (zh) * 2016-12-15 2017-08-01 厦门大学嘉庚学院 一种多功能数字芯片测试仪
CN108303637A (zh) * 2018-01-29 2018-07-20 昆明理工大学 一种降压开关型集成稳压芯片的检测装置及方法
CN209296875U (zh) * 2018-11-23 2019-08-23 昆明理工大学 一种基于单片机控制的78xx系列芯片型号检测电路

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
刘为国，王春生，张涛编著: "从零开始学电子元器件识别与检测技术", 国防工业出版社, pages: 279 - 282 *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108710593A (zh) 一种基于Type-C连接器的供电方法及装置
CN209296875U (zh) 一种基于单片机控制的78xx系列芯片型号检测电路
CN109002375A (zh) 一种应用于服务器的上电时序信号监测系统及方法
CN109471017A (zh) 一种基于单片机控制的78xx系列芯片型号检测电路及方法
CN101122620A (zh) 电源线
CN103529285B (zh) 一种自动化侦测pcie设备功耗的测试设备
CN103376384A (zh) Mosfet短路测试装置
CN108303637A (zh) 一种降压开关型集成稳压芯片的检测装置及方法
CN103777386A (zh) 一种lcm测试机
CN105676024A (zh) 电子产品老化测试方法和装置
CN104717813B (zh) Led光源短路检测方法及装置、led背光及液晶显示设备
CN206224183U (zh) 一种基于gprs通信技术的物联网燃气表控制器
CN208367166U (zh) 一种基于单片机控制与差分运算电路采样的lm317芯片故障检测电路
CN107037267A (zh) 一种电感检测装置及检测方法
CN209728471U (zh) 一种物联网扩展净水控制装置
CN101923821A (zh) 通过芯片内部模数转换检测液晶显示器背光电流的方法
CN207502695U (zh) 一种通用发动机的多功能电量检测模块
CN2777559Y (zh) 功率侦测电路
CN101004434A (zh) 一种检测平板显示器件电极的方法及其装置
CN205861327U (zh) 一种智能光传感器测试仪
CN110398519A (zh) 一种三阵列NOx传感器测量电路
CN205209437U (zh) 一种基于单片机的皮带水平跑偏检测装置
CN109358250A (zh) 电源车升压转换快速检测设备软件及升压转换快速检测设备
CN208847221U (zh) 一种低成本的温湿度传感器驱动装置
CN210487255U (zh) 一种信号输入模块电路

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination