CN109459412A - 测量光纤折射率分布装置及采集光纤参数方法和判断一致性方法 - Google Patents

Abstract

本发明给出了一种测量光纤折射率分布装置；包括：激光光源发射的激光束通过分束镜被分为参考光束和测量光束，参考光束和测量光束分别通过第一反射镜、第二反射镜至合束镜，且并成一路光束，探测器收集干涉条纹信息至控制器。本发明还给出了采集光纤端面参数的方法，包括：测量光束沿轴向方向通过光纤，测量光束至合束镜，探测器收形成的干涉条纹信息，控制器进行处理，得到光纤端面的参数信息。本发明又给出了判断光纤是否具备一致性的方法，包括：待测光纤依次经过第二反射镜与合束镜之间，测量光束径向方向通过待测光纤，测量光束至合束镜，探测器收集干涉条纹信息，控制器分析干涉条纹信息并处理，是否在正常范围内判断光纤是否具备一致性。

Description

测量光纤折射率分布装置及采集光纤参数方法和判断一致性 方法

技术领域

本发明涉及一种用于测量光纤折射率分布的装置。

本发明还涉及一种采集待测光纤端面参数的方法。

本发明又涉及一种判断待测光纤是否具备一致性的方法。

背景技术

在光纤制造生产的领域、以及一些光纤应用的场合，均会涉及到测量光纤的折射率分布、同心度、圆度等参数的测量。现有的光纤折射率分布测量方法主要包括折射近场法、图像剪切法、近场扫描法、荧光法、端面反射法、图像翻转显微镜法、原子力蚀刻法、旋转镜偏移法、聚焦法、前或向后散射法等等；但上述方法有些是基于几何光学的方法进行折射率的测量，测量系统以及测量信号的分析和处理均比较复杂。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种结构简单、使用方便的测量光纤折射率分布装置。

本发明还要解决的技术问题是提供一种采集待测光纤端面参数的方法置。

本发明又要解决的技术问题是提供一种判断待测光纤是否具备一致性的方法。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种测量光纤折射率分布装置；

包括激光光源、分束镜、第一反射镜、第二反射镜、合束镜、探测器和控制器；

激光光源发射的激光束通过分束镜被分为参考光束和测量光束，参考光束通过第一反射镜反射至合束镜，测量光束通过第二反射镜反射至合束镜，第二反射镜与合束镜之间的光路上留有放置待测光纤的间隙；

参考光束和测量光束经过合束镜之后继续合并成一路光束，探测器收集参考光束和测量光束干涉后所形成的干涉条纹信息传输至控制器。

采用这样的结构后，本测量光纤折射率分布装置是一种新的、更加灵活使用的光纤测量装置，不仅可以测量光纤折射率，同时可以用于测量光纤的变化，对于光纤的生产制造以及检测有着非常的意义。

为了更清楚的理解本发明的技术内容，以下将本测量光纤折射率分布装置简称为本分布装置。

为解决上述技术问题，本发明还提供了一种采用上述测量光纤折射率分布装置采集待测光纤端面参数的方法，包括以下步骤：

将待测光纤放置在第二反射镜与合束镜之间的间隙上，测量光束沿待测光纤轴向方向通过待测光纤，测量光束可通过待测光纤继续折射传播至合束镜，参考光束和测量光束经过合束镜之后继续合并成一路光束，探测器收集参考光束和测量光束干涉后所形成的干涉条纹信息，将干涉条纹信息发送至控制器，控制器分析干涉条纹信息并进行处理，得到待测光纤端面的参数信息。

采用这样的方法后，用马赫增德尔干涉仪系统对光纤进行测量，从而得出其，光纤折射率分布、同心度、不圆度等基于光纤截面的其他参数，控制器通过比对正常光纤的参数范围与待测光纤的参数信息，判断待测光纤的好坏缺陷。

为解决上述技术问题，本发明又提供了一种采用上述的测量光纤折射率分布装置判断待测光纤是否具备一致性的方法，包括以下步骤：

将待测光纤始端放置在第二反射镜与合束镜之间的间隙上，移动待测光纤，从待测光纤的始端至待测光纤的末端依次经过第二反射镜与合束镜之间的间隙处，此过程中测量光束沿待测光纤径向方向通过待测光纤，测量光束可通过待测光纤继续折射传播至合束镜，参考光束和测量光束经过合束镜之后继续合并成一路光束，探测器收集参考光束和测量光束干涉后所形成的干涉条纹信息，将干涉条纹信息发送至控制器；

控制器分析干涉条纹信息并进行处理，如果干涉条纹信息在正常范围内波动判断分析整根光纤具备一致性，反之不具备一致性。

采用这样的方法后，将待测光纤侧面作为被测对象，在测量的同时移动整根光纤，则可以测量分析整根光纤是否存在缺陷或不良，是否具备一致性。

附图说明

图1是本分布装置实施例的结构原理图。

具体实施方式

如图1所示(图1中第二反射镜4与合束镜5之间的间隙位置放置的是用于采集待测光纤9端面参数的方法的一小截待测光纤9，因为放置的位置相同，只是待测光纤9的长度和摆放位置不同，所以图中没有示出用于判断待测光纤9是否具备一致性的方法的将一长段的待测光纤9)。

本分布装置包括激光光源1、分束镜2、第一反射镜3、第二反射镜4、合束镜5、探测器6和控制器7。

激光光源1发射的激光束81通过分束镜2被分为参考光束82和测量光束83，参考光束82通过第一反射镜3反射至合束镜5，测量光束83通过第二反射镜4反射至合束镜5，第二反射镜4与合束镜5之间的光路上留有放置待测光纤9的间隙；

参考光束82和测量光束83经过合束镜5之后继续合并成一路光束，探测器6收集参考光束82和测量光束83干涉后所形成的干涉条纹信息传输至控制器7。

利用上述的分布装置具体介绍采集待测光纤端面参数的方法，包括以下步骤：

将一小截待测光纤9放置在第二反射镜4与合束镜5之间的间隙上，测量光束83沿待测光纤9轴向方向通过待测光纤9，测量光束83可通过待测光纤9继续折射传播至合束镜5，参考光束82和测量光束83经过合束镜5之后继续合并成一路光束，探测器6收集参考光束82和测量光束83干涉后所形成的干涉条纹信息，将干涉条纹信息发送至控制器7，控制器7分析干涉条纹信息并进行处理，得到待测光纤9端面的参数信息，控制器7通过比对正常光纤端面的参数范围与待测光纤9的参数信息，判断待测光纤9的好坏缺陷。

还利用上述的分布装置具体介绍判断待测光纤是否具备一致性的方法，包括以下步骤：

将一长段的待测光纤9始端放置在第二反射镜4与合束镜5之间的间隙上，移动待测光纤9，从待测光纤9的始端至待测光纤9的末端依次经过第二反射镜4与合束镜5之间的间隙处，此过程中测量光束83沿待测光纤9径向方向通过待测光纤9，测量光束83可通过待测光纤9继续折射传播至合束镜5，参考光束82和测量光束83经过合束镜5之后继续合并成一路光束，探测器6收集参考光束82和测量光束83干涉后所形成的干涉条纹信息，将干涉条纹信息发送至控制器7；

控制器7分析干涉条纹信息并进行处理，如果干涉条纹信息在正常范围内波动判断分析整根光纤具备一致性，反之不具备一致性。

上述使用的控制器7可以为电脑，可以提前将正常光纤端面的参数范围录入电脑内，同时将整根光纤干涉条纹信息的正常拨动范围录入电脑内，方便后续使用(其中正常光纤端面的参数范围和光纤干涉条纹信息的正常拨动范围为行业内公知的信息，而且根据不同光纤的种类和尺寸，参数范围不同，在此也无法穷举参数范围)；上述激光光源1和探测器6都为市售产品。

以上所述的仅是本发明的一种实施方式，应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以作出若干变型和改进，这些也应视为属于本发明的保护范围。

Claims (3)

1.一种测量光纤折射率分布装置，其特征为：

包括激光光源、分束镜、第一反射镜、第二反射镜、合束镜、探测器和控制器；

激光光源发射的激光束通过分束镜被分为参考光束和测量光束，参考光束通过第一反射镜反射至合束镜，测量光束通过第二反射镜反射至合束镜，第二反射镜与合束镜之间的光路上留有放置待测光纤的间隙；

参考光束和测量光束经过合束镜之后继续合并成一路光束，探测器收集参考光束和测量光束干涉后所形成的干涉条纹信息传输至控制器。

2.采用权利要求1所述的测量光纤折射率分布装置采集待测光纤端面参数的方法，包括以下步骤：

将待测光纤放置在第二反射镜与合束镜之间的间隙上，测量光束沿待测光纤轴向方向通过待测光纤，测量光束可通过待测光纤继续折射传播至合束镜，参考光束和测量光束经过合束镜之后继续合并成一路光束，探测器收集参考光束和测量光束干涉后所形成的干涉条纹信息，将干涉条纹信息发送至控制器，控制器分析干涉条纹信息并进行处理，得到待测光纤端面的参数信息。

3.采用权利要求1所述的测量光纤折射率分布装置判断待测光纤是否具备一致性的方法，包括以下步骤：

将待测光纤始端放置在第二反射镜与合束镜之间的间隙上，移动待测光纤，从待测光纤的始端至待测光纤的末端依次经过第二反射镜与合束镜之间的间隙处，此过程中测量光束沿待测光纤径向方向通过待测光纤，测量光束可通过待测光纤继续折射传播至合束镜，参考光束和测量光束经过合束镜之后继续合并成一路光束，探测器收集参考光束和测量光束干涉后所形成的干涉条纹信息，将干涉条纹信息发送至控制器；

控制器分析干涉条纹信息并进行处理，如果干涉条纹信息在正常范围内波动判断分析整根光纤具备一致性，反之不具备一致性。