CN109448615B - 一种电子纸驱动波形自动调试方法 - Google Patents
一种电子纸驱动波形自动调试方法 Download PDFInfo
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Abstract
本发明公开了一种电子纸驱动波形自动调试方法,提供一上位机和一主控板,上位机与主控板之间通过通信连接,调试方法包括如下步骤:S1、上位机在设置区域设置各项参数及波形库地址,在波形库地址中选择波形;S2、主控板接收波形及目标参数;S3、根据其测试的电子纸膜片是黑白模组或三色模组,使用波形驱动电子纸模组进行对比度测试、残影测试和侵蚀测试,并记录相应数据;S4、主控板上传测试到的光学值,上位机接收光学值数据进行存储,并显示在列表中;S5、判断波形是否测试完毕,若是,则结束;若不是,则返回步骤S1。本发明通过单步测试、优选测试和自动测试等多种优化算法,提高调试出驱动波形的稳定性,提高品质。
Description
技术领域
本发明涉及电子纸技术领域,特别涉及一种电子纸驱动波形自动调试方法。
背景技术
目前电子纸的驱动波形均由人工调试,由于一个完整的电子纸驱动波形受TFT基板的电特性(gate频率、tft充电率、tft保持电压、source及gate的阻抗及容抗)、电子纸膜片的批次、电子纸的容抗、电子纸的响应速度、驱动IC的驱动方式、驱动电压及电流、电子纸模组的生产工艺(制程结束后电子纸的水分含量)等多因素影响,方法各异,效果无法统一,调试耗时长,浪费人力。
传统的人工调试中,调试者很难把握所有因素,通过自动调试设备将这些因素都做成资源数据库供算法调用,从而高效可靠的调试出稳定的波形。这种检测方法,检验步骤繁多,经常发生部分要求不符合,需反工重测,效率低下,耗费人力资源。为达到相应效果,不同调试员会使用不同的波形结构去实现,导致调试出的波形一致性差,效果一般,无法完全实现目标要求。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:提供一种电子纸驱动波形自动调试方法,由电脑上位机控制光学测试设备,无人值守,以解决目前调试波形纯人工,效率低,受调试人的因素影响,波形效果稳定性差等问题。
本发明解决上述问题所采用的技术方案为:一种电子纸驱动波形自动调试方法,提供一上位机和一主控板,所述上位机与主控板之间通过通信连接,所述调试方法包括如下步骤:
S1、所述上位机在设置区域设置各项参数及波形库地址,在所述波形库地址中选择波形;
S2、所述主控板接收波形及目标参数;判断其测试的电子纸膜片为黑白模组还是三色模组;
S3、根据黑白模组或三色模组,使用波形驱动电子纸模组进行对比度测试、残影测试和侵蚀测试,并记录相应数据;
S4、主控板上传测试到的光学值,上位机接收光学值数据进行存储,并显示在列表中;
S5、判断波形是否测试完毕,若是,则结束;若不是,则返回步骤S1。
优选的,若测试的电子纸膜片为黑白模组,其测试步骤S3如下:
S31、对比度测试:使用标准初始波形驱动电子纸模组至全黑,控制光学测试仪测试其光学值并记录数据;再使用标准初始波形驱动电子纸模组至全白,控制光学测试仪测试其光学值并记录数据;
S32、残影测试,控制步进电机移动光学测试仪,使用标准初始波形驱动电子纸模组形成四个测试区,所述四个测试区为黑-黑、黑-白、白-黑、白-白,控制光学测试仪测试其光学值并记录数据;
S33、侵蚀测试,使用标准初始波形驱动电子纸模组形成黑白相间测试区,控制光学测试仪测试其光学值并记录数据。
优选的,若测试的电子纸膜片为三色模组,其测试步骤S3如下:
S34、对比度测试:使用标准初始波形驱动电子纸模组至全黑,控制光学测试仪测试其光学值,并记录数据;再使用标准初始波形驱动电子纸模组至全白,控制光学测试仪测试其光学值,并记录数据;再使用标准初始波形驱动电子纸模组至全红,控制光学测试仪测试其光学值,并记录数据;
S35、残影测试,控制步进电机移动光学测试仪,使用标准初始波形驱动电子纸模组形成九个测试区,所述九个测试区为黑-黑、黑-白、黑-红、白-黑、白-白、白-红、红-黑、红-白、红-红,控制光学测试仪测试其光学值,并记录数据;
S36、侵蚀测试,使用标准初始波形驱动电子纸模组形成白红相间、黑红相间、黑白相间测试区,控制光学测试仪测试其光学值,并记录数据。
优选的,所述调试方法为单步测试,在步骤S1中上位机选择标准初始波形地址;在步骤S2中主控板接收标准初始波形;在步骤S3中所述对比度测试、残影测试和侵蚀测试同步进行。
优选的,所述调试方法为优选测试,在步骤S1中上位机在波形库地址中选择全部波形;在步骤S2中主控板随机接收一组波形;在步骤S3中先进行对比度测试,再进行残影测试,最后再进行侵蚀测试;在步骤S5中,波形测试完毕后,将所有测试波形所得的光学数据与设置值对比,选出最接近的三组。
优选的,所述调试方法为自动测试,在步骤S1中上位机选择标准初始波形地址;在步骤S2中主控板接收标准初始波形;在步骤S3中,还包括一步骤S311:所述上位机根据优选测试的算法,重新生成波形进行测试。
优选的,在步骤S3中,先进行对比度测试,再进行残影测试,最后再进行侵蚀测试;在进行对比度测试、残影测试或侵蚀测试时,先进行步骤S311,每次测试结束后,上传测试到的光学值,执行步骤S312:上位机根据光学值与设置值比对判断是否达到要求,若是,则进行下一步;若不是,则重新进行测试。
优选的,设光学值中的黑色、白色和红色的设定值为L*set、a*set,实测的光学值中的黑色、白色和红色的实际值为L*、a*,其温度在0-30℃之间;
实际值中的黑色光学值、设定值与波形驱动时间T的关系如下:在波形驱动时间0-0.07S内,其关系式为T=((L*set-L*)÷10×tan63°)×0.07;在波形驱动时间0.07S-0.24S内,其关系式为T=((L*set-L*)÷10×tan 35°)×0.07;在波形驱动时间0.24S-0.5S内,其关系式为T=((L*set-L*)÷10×tan 15°)×0.07。
优选的,实际值中的白色光学值、设定值与波形驱动时间T的关系如下:在波形驱动时间0-0.07S内,其关系式为T=((L*set-L*)÷10×tan63°)×0.07;在波形驱动时间0.07S-0.24S内,其关系式为T=((L*set-L*)÷10×tan 35°)×0.07;在波形驱动时间0.24S-0.5S内,其关系式为T=((L*set-L*)÷10×tan 15°)×0.07。
优选的,实际值中的红色光学值、设定值与波形驱动时间T的关系如下:在波形驱动时间0-1.2S内,其关系式为T=((a*set-a*)÷5×tan60°)×1.2;在波形驱动时间1.2-4.6S内,其关系式为T=((a*set-a*)÷5×tan30°)×1.2;在波形驱动时间4.6-10S内,其关系式为T=((a*set-a*)÷5×tan10°)×1.2。
与现有技术相比,本发明的优点在于:结合电子纸模组和光学测试仪,再运用自动化移动设备,减少人为因素的干扰,模式化调试,通过单步测试、优选测试和自动测试等多种优化算法,能取得较好的调试效果,从而提高调试出驱动波形的稳定性、一致性,提高效率,提高品质,节省人力资源。
附图说明
图1本发明黑白模组测试图;
图2本发明三色模组测试图;
图3本发明单步测试具体算法流程示意图;
图4本发明优选测试具体算法流程示意图;
图5本发明自动测试具体算法流程示意图;
图6本发明红色光学值与温度的曲线示意图;
图7本发明白色光学值与温度的曲线示意图;
图8本发明黑色光学值与温度的曲线示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的实施例作进一步描述。
本实施例涉及一种电子纸驱动波形自动调试方法,提供一上位机和一主控板,上位机与主控板之间通过通信连接。在本实施例中调试方法包括单步测试、优选测试和自动测试三种模式。
其中,如图3所示,单步测试的具体算法流程如下步骤:
S1、上位机在设置区域设置各项参数及波形库地址,在波形库地址中选择标准初始波形;
S2、主控板接收标准初始波形及目标参数;判断其测试的电子纸膜片为黑白模组还是三色模组;
S3、根据黑白模组或三色模组,使用波形驱动电子纸模组同步进行对比度测试、残影测试和侵蚀测试,并记录相应数据;
S4、主控板上传测试到的光学值,上位机接收光学值数据进行存储,并显示在列表中;
S5、判断波形是否测试完毕,若是,则结束;若不是,则返回步骤S1。
其中,如图4所示,优选测试的具体算法流程如下步骤:
S1、上位机在设置区域设置各项参数及波形库地址,在波形库地址中选择所有符合设置参数要求的波形;
S2、主控板随机接收一组波形及目标参数;判断其测试的电子纸膜片为黑白模组还是三色模组;
S3、根据黑白模组或三色模组,使用波形驱动电子纸模组先进行对比度测试,再进行残影测试,最后进行侵蚀测试,并记录相应数据;
S4、主控板上传测试到的光学值,上位机接收光学值数据进行存储,并显示在列表中;
S5、判断波形是否测试完毕,若是,则将所有测试波形所得的光学数据与设置值对比,选出最接近的三组;若不是,则返回步骤S1。
在上述步骤S5中,针对选出的三组波形,人工进行选取最优波形。
其中,如图5所示,自动测试的具体算法流程如下步骤:
S1、上位机在设置区域设置各项参数及波形库地址,在波形库地址中选择标准初始波形;
S2、主控板接收标准初始波形及目标参数;判断其测试的电子纸膜片为黑白模组还是三色模组;
S3、根据黑白模组或三色模组,先进行步骤S311,上位机根据优选测试的算法,重新生成波形进行测试;使用重新生成的波形驱动电子纸模组进行对比度测试,并记录相应光学值数据。测试结束后,上传测试到的光学值,执行步骤S312:上位机根据光学值与设置值比对判断是否达到要求,若是,则进行下一步残影测试;若不是,则重新进行步骤311,进而重新进行对比度测试;
在残影测试之前,先进行步骤S311,上位机根据优选测试的算法,重新生成波形进行测试;使用重新生成的波形驱动电子纸模组进行残影测试,并记录相应光学值数据。测试结束后,上传测试到的光学值,执行步骤S312:上位机根据光学值与设置值比对判断是否达到要求,若是,则进行下一步侵蚀测试;若不是,则重新进行步骤311,进而重新进行残影测试;
在侵蚀测试之前,先进行步骤S311,上位机根据优选测试的算法,重新生成波形进行测试;使用重新生成的波形驱动电子纸模组进行侵蚀测试,并记录相应光学值数据。测试结束后,上传测试到的光学值,执行步骤S312:上位机根据光学值与设置值比对判断是否达到要求,若是,则结束;若不是,则重新进行步骤311,进而重新进行侵蚀测试。
在自动测试中,因在步骤S3中,针对每次对比度测试、残影测试和侵蚀测试均上传测试到的光学值到上位机,所以省略了单步测试和优选测试中的步骤S4。同时,在自动测试的步骤S3中,已经多次针对选出的波形进行测试,所说义省略了单步测试和优选测试中的步骤S5。
在本实施例中,如图1所示,若测试的电子纸膜片为黑白模组,其测试步骤S3如下:
S31、对比度测试:如测试图1中的A图所示,使用标准初始波形驱动电子纸模组至全黑,控制光学测试仪测试其光学值L*并记录数据;再如测试图1中的B图所示,使用标准初始波形驱动电子纸模组至全白,控制光学测试仪测试其光学值L*并记录数据;
S32、残影测试:依次打开测试图1中的A图(全黑)、B图(全白)、C图(上黑下白)和D图(左黑右白),控制步进电机移动光学测试仪测试其光学值L*并记录数据;然后,再如测试图1中的F图所示,使用标准初始波形驱动电子纸模组形成四个测试区,四个测试区为黑-黑F1、黑-白F2、白-黑F3、白-白F4,控制光学测试仪测试其光学值L*并记录数据;
S33、侵蚀测试:如测试图1中的E图所示,使用标准初始波形驱动电子纸模组形成黑白相间测试区,控制光学测试仪测试其光学值L*并记录数据。
在本实施例中,若测试的电子纸膜片为三色模组,其测试步骤S3如下:
S34、对比度测试:如测试图2中的G图所示,使用标准初始波形驱动电子纸模组至全黑,控制光学测试仪测试其光学值L*、a*,并记录数据;再如测试图2中的H图所示,使用标准初始波形驱动电子纸模组至全白,控制光学测试仪测试其光学值L*、a*,并记录数据;再如测试图2中的I图所示,使用标准初始波形驱动电子纸模组至全红,控制光学测试仪测试其光学值L*、a*,并记录数据;
S35、残影测试:依次打开测试图2中的G图(全黑)、H图(全白)、I图(全红)、J图(左黑中白右红)和K图(上黑中白下红),控制步进电机移动光学测试仪测试其光学值L*、a*,并记录数据;然后,再如测试图2中的O图所示,使用标准初始波形驱动电子纸模组形成九个测试区,九个测试区为黑-黑O1、黑-白O2、黑-红O3、白-黑O4、白-白O5、白-红O6、红-黑O7、红-白O8、红-红O9,控制光学测试仪测试其光学值L*、a*,并记录数据;
S36、侵蚀测试:如测试图2中的L图、M图和N图所示,使用标准初始波形驱动电子纸模组形成白红相间、黑红相间、黑白相间测试区,控制光学测试仪测试其光学值L*、a*,并记录数据。
在本实施例中,如图6-8所示,针对前面经单步测试、优选测试和自动测试后的光学值进行分析。设光学值中的黑色、白色和红色的设定值为L*set、a*set,实测的光学值中的黑色、白色和红色的实际值为L*、a*,其温度在0-30℃之间;
如图8所示,实际值中的黑色光学值、设定值与波形驱动时间T的关系如下:在波形驱动时间0-0.07S内,其关系式为T=((L*set-L*)÷10×tan63°)×0.07;在波形驱动时间0.07S-0.24S内,其关系式为T=((L*set-L*)÷10×tan 35°)×0.07;在波形驱动时间0.24S-0.5S内,其关系式为T=((L*set-L*)÷10×tan 15°)×0.07。
如图7所示,实际值中的白色光学值、设定值与波形驱动时间T的关系如下:在波形驱动时间0-0.07S内,其关系式为T=((L*set-L*)÷10×tan63°)×0.07;在波形驱动时间0.07S-0.24S内,其关系式为T=((L*set-L*)÷10×tan 35°)×0.07;在波形驱动时间0.24S-0.5S内,其关系式为T=((L*set-L*)÷10×tan 15°)×0.07。
如图6所示,实际值中的红色光学值、设定值与波形驱动时间T的关系如下:在波形驱动时间0-1.2S内,其关系式为T=((a*set-a*)÷5×tan60°)×1.2;在波形驱动时间1.2-4.6S内,其关系式为T=((a*set-a*)÷5×tan30°)×1.2;在波形驱动时间4.6-10S内,其关系式为T=((a*set-a*)÷5×tan10°)×1.2。
本发明的有益效果为:结合电子纸模组和光学测试仪,再运用自动化移动设备,减少人为因素的干扰,模式化调试,通过单步测试、优选测试和自动测试等多种优化算法,能取得较好的调试效果,从而提高调试出驱动波形的稳定性、一致性,提高效率,提高品质,节省人力资源。
上述说明示出并描述了本发明的若干优选实施例,但如前所述,应当理解本发明并非局限于本文所披露的形式,不应看作是对其他实施例的排除,而可用于各种其他组合、修改和环境,并能够在本文所述发明构想范围内,通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本发明的精神和范围,则都应在本发明所附权利要求的保护范围内。
Claims (9)
1.一种电子纸驱动波形自动调试方法,其特征在于:提供一上位机和一主控板,所述上位机与主控板之间通过通信连接,所述调试方法包括如下步骤:
S1、所述上位机在设置区域设置各项参数及波形库地址,在所述波形库地址中选择波形;
S2、所述主控板接收波形及目标参数;判断其测试的电子纸膜片为黑白模组还是三色模组;
S3、根据黑白模组或三色模组,使用波形驱动电子纸模组进行对比度测试、残影测试和侵蚀测试,并记录相应数据;
S4、主控板上传测试到的光学值,上位机接收光学值数据进行存储,并显示在列表中;
S5、判断波形是否测试完毕,若是,则结束;若不是,则返回步骤S1;
若测试的电子纸膜片为黑白模组,其测试步骤S3如下:
S31、对比度测试:使用标准初始波形驱动电子纸模组至全黑,控制光学测试仪测试其光学值并记录数据;再使用标准初始波形驱动电子纸模组至全白,控制光学测试仪测试其光学值并记录数据;
S32、残影测试:控制步进电机移动光学测试仪,使用标准初始波形驱动电子纸模组形成四个测试区,所述四个测试区为黑-黑、黑-白、白-黑、白-白,控制光学测试仪测试其光学值并记录数据;
S33、侵蚀测试:使用标准初始波形驱动电子纸模组形成黑白相间测试区,控制光学测试仪测试其光学值并记录数据。
2.根据权利要求1所述的电子纸驱动波形自动调试方法,其特征在于:若测试的电子纸膜片为三色模组,其测试步骤S3如下:
S34、对比度测试:使用标准初始波形驱动电子纸模组至全黑,控制光学测试仪测试其光学值,并记录数据;再使用标准初始波形驱动电子纸模组至全白,控制光学测试仪测试其光学值,并记录数据;再使用标准初始波形驱动电子纸模组至全红,控制光学测试仪测试其光学值,并记录数据;
S35、残影测试:控制步进电机移动光学测试仪,使用标准初始波形驱动电子纸模组形成九个测试区,所述九个测试区为黑-黑、黑-白、黑-红、白-黑、白-白、白-红、红-黑、红-白、红-红,控制光学测试仪测试其光学值,并记录数据;
S36、侵蚀测试:使用标准初始波形驱动电子纸模组形成白红相间、黑红相间、黑白相间测试区,控制光学测试仪测试其光学值,并记录数据。
3.根据权利要求2所述的电子纸驱动波形自动调试方法,其特征在于:所述调试方法为单步测试,在步骤S1中上位机选择标准初始波形地址;在步骤S2中主控板接收标准初始波形;在步骤S3中所述对比度测试、残影测试和侵蚀测试同步进行。
4.根据权利要求2所述的电子纸驱动波形自动调试方法,其特征在于:所述调试方法为优选测试,在步骤S1中上位机在波形库地址中选择全部波形;在步骤S2中主控板随机接收一组波形;在步骤S3中先进行对比度测试,再进行残影测试,最后再进行侵蚀测试;在步骤S5中,波形测试完毕后,将所有测试波形所得的光学数据与设置值对比,选出最接近的三组。
5.根据权利要求4所述的电子纸驱动波形自动调试方法,其特征在于:所述调试方法为自动测试,在步骤S1中上位机选择标准初始波形地址;在步骤S2中主控板接收标准初始波形;在步骤S3中,还包括一步骤S311:所述上位机根据优选测试的算法,重新生成波形进行测试。
6.根据权利要求5所述的电子纸驱动波形自动调试方法,其特征在于:在步骤S3中,先进行对比度测试,再进行残影测试,最后再进行侵蚀测试;在进行对比度测试、残影测试或侵蚀测试时,先进行步骤S311,每次测试结束后,上传测试到的光学值,执行步骤S312:上位机根据光学值与设置值比对判断是否达到要求,若是,则进行下一步;若不是,则重新进行测试。
7.根据权利要求1-6任一项所述的电子纸驱动波形自动调试方法,其特征在于:设光学值中的黑色、白色和红色的各自设定值为L*set、a*set,实测的光学值中的黑色、白色和红色的各自实际值为L*、a*,其温度在0-30℃之间;
实际值中的黑色光学值、黑色设定值与波形驱动时间T的关系如下:在波形驱动时间0-0.07S内,其关系式为T=((L*set-L*)÷10×tan63°)×0.07;在波形驱动时间0.07S-0.24S内,其关系式为T=((L*set-L*)÷10×tan35°)×0.07;在波形驱动时间0.24S-0.5S内,其关系式为T=((L*set-L*)÷10×tan15°)×0.07。
8.根据权利要求7所述的电子纸驱动波形自动调试方法,其特征在于:实际值中的白色光学值、白色设定值与波形驱动时间T的关系如下:在波形驱动时间0-0.07S内,其关系式为T=((L*set-L*)÷10×tan63°)×0.07;在波形驱动时间0.07S-0.24S内,其关系式为T=((L*set-L*)÷10×tan35°)×0.07;在波形驱动时间0.24S-0.5S内,其关系式为T=((L*set-L*)÷10×tan15°)×0.07。
9.根据权利要求7所述的电子纸驱动波形自动调试方法,其特征在于:实际值中的红色光学值、红色设定值与波形驱动时间T的关系如下:在波形驱动时间0-1.2S内,其关系式为T=((a*set-a*)÷5×tan60°)×1.2;在波形驱动时间1.2-4.6S内,其关系式为T=((a*set-a*)÷5×tan30°)×1.2;在波形驱动时间4.6-10S内,其关系式为T=((a*set-a*)÷5×tan10°)×1.2。
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