CN109448615A - 一种电子纸驱动波形自动调试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电子纸驱动波形自动调试方法，提供一上位机和一主控板，上位机与主控板之间通过通信连接，调试方法包括如下步骤：S1、上位机在设置区域设置各项参数及波形库地址，在波形库地址中选择波形；S2、主控板接收波形及目标参数；S3、根据其测试的电子纸膜片是黑白模组或三色模组，使用波形驱动电子纸模组进行对比度测试、残影测试和侵蚀测试，并记录相应数据；S4、主控板上传测试到的光学值，上位机接收光学值数据进行存储，并显示在列表中；S5、判断波形是否测试完毕，若是，则结束；若不是，则返回步骤S1。本发明通过单步测试、优选测试和自动测试等多种优化算法，提高调试出驱动波形的稳定性，提高品质。
Description
技术领域
本发明涉及电子纸技术领域，特别涉及一种电子纸驱动波形自动调试方法。
背景技术
目前电子纸的驱动波形均由人工调试，由于一个完整的电子纸驱动波形受TFT基板的电特性(gate频率、tft充电率、tft保持电压、source及gate的阻抗及容抗)、电子纸膜片的批次、电子纸的容抗、电子纸的响应速度、驱动IC的驱动方式、驱动电压及电流、电子纸模组的生产工艺(制程结束后电子纸的水分含量)等多因素影响，方法各异，效果无法统一，调试耗时长，浪费人力。
传统的人工调试中，调试者很难把握所有因素，通过自动调试设备将这些因素都做成资源数据库供算法调用，从而高效可靠的调试出稳定的波形。这种检测方法，检验步骤繁多，经常发生部分要求不符合，需反工重测，效率低下，耗费人力资源。为达到相应效果，不同调试员会使用不同的波形结构去实现，导致调试出的波形一致性差，效果一般，无法完全实现目标要求。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是：提供一种电子纸驱动波形自动调试方法，由电脑上位机控制光学测试设备，无人值守，以解决目前调试波形纯人工，效率低，受调试人的因素影响，波形效果稳定性差等问题。
本发明解决上述问题所采用的技术方案为：一种电子纸驱动波形自动调试方法，提供一上位机和一主控板，所述上位机与主控板之间通过通信连接，所述调试方法包括如下步骤：
S1、所述上位机在设置区域设置各项参数及波形库地址，在所述波形库地址中选择波形；
S2、所述主控板接收波形及目标参数；判断其测试的电子纸膜片为黑白模组还是三色模组；
S3、根据黑白模组或三色模组，使用波形驱动电子纸模组进行对比度测试、残影测试和侵蚀测试，并记录相应数据；
S4、主控板上传测试到的光学值，上位机接收光学值数据进行存储，并显示在列表中；
S5、判断波形是否测试完毕，若是，则结束；若不是，则返回步骤S1。
优选的，若测试的电子纸膜片为黑白模组，其测试步骤S3如下：
S31、对比度测试：使用标准初始波形驱动电子纸模组至全黑，控制光学测试仪测试其光学值并记录数据；再使用标准初始波形驱动电子纸模组至全白，控制光学测试仪测试其光学值并记录数据；
S32、残影测试，控制步进电机移动光学测试仪，使用标准初始波形驱动电子纸模组形成四个测试区，所述四个测试区为黑-黑、黑-白、白-黑、白-白，控制光学测试仪测试其光学值并记录数据；
S33、侵蚀测试，使用标准初始波形驱动电子纸模组形成黑白相间测试区，控制光学测试仪测试其光学值并记录数据。
优选的，若测试的电子纸膜片为三色模组，其测试步骤S3如下：
S34、对比度测试：使用标准初始波形驱动电子纸模组至全黑，控制光学测试仪测试其光学值，并记录数据；再使用标准初始波形驱动电子纸模组至全白，控制光学测试仪测试其光学值，并记录数据；再使用标准初始波形驱动电子纸模组至全红，控制光学测试仪测试其光学值，并记录数据；
S35、残影测试，控制步进电机移动光学测试仪，使用标准初始波形驱动电子纸模组形成九个测试区，所述九个测试区为黑-黑、黑-白、黑-红、白-黑、白-白、白-红、红-黑、红-白、红-红，控制光学测试仪测试其光学值，并记录数据；
S36、侵蚀测试，使用标准初始波形驱动电子纸模组形成白红相间、黑红相间、黑白相间测试区，控制光学测试仪测试其光学值，并记录数据。
优选的，所述调试方法为单步测试，在步骤S1中上位机选择标准初始波形地址；在步骤S2中主控板接收标准初始波形；在步骤S3中所述对比度测试、残影测试和侵蚀测试同步进行。
优选的，所述调试方法为优选测试，在步骤S1中上位机在波形库地址中选择全部波形；在步骤S2中主控板随机接收一组波形；在步骤S3中先进行对比度测试，再进行残影测试，最后再进行侵蚀测试；在步骤S5中，波形测试完毕后，将所有测试波形所得的光学数据与设置值对比，选出最接近的三组。
优选的，所述调试方法为自动测试，在步骤S1中上位机选择标准初始波形地址；在步骤S2中主控板接收标准初始波形；在步骤S3中，还包括一步骤S311：所述上位机根据优选测试的算法，重新生成波形进行测试。
优选的，在步骤S3中，先进行对比度测试，再进行残影测试，最后再进行侵蚀测试；在进行对比度测试、残影测试或侵蚀测试时，先进行步骤S311，每次测试结束后，上传测试到的光学值，执行步骤S312：上位机根据光学值与设置值比对判断是否达到要求，若是，则进行下一步；若不是，则重新进行测试。
优选的，设光学值中的黑色、白色和红色的设定值为L*set、a*set，实测的光学值中的黑色、白色和红色的实际值为L*、a*，其温度在0-30℃之间；
实际值中的黑色光学值、设定值与波形驱动时间T的关系如下：在波形驱动时间0-0.07S内，其关系式为T＝((L*set-L*)÷10×tan63°)×0.07；在波形驱动时间0.07S-0.24S内，其关系式为T＝((L*set-L*)÷10×tan 35°)×0.07；在波形驱动时间0.24S-0.5S内，其关系式为T＝((L*set-L*)÷10×tan 15°)×0.07。
优选的，实际值中的白色光学值、设定值与波形驱动时间T的关系如下：在波形驱动时间0-0.07S内，其关系式为T＝((L*set-L*)÷10×tan63°)×0.07；在波形驱动时间0.07S-0.24S内，其关系式为T＝((L*set-L*)÷10×tan 35°)×0.07；在波形驱动时间0.24S-0.5S内，其关系式为T＝((L*set-L*)÷10×tan 15°)×0.07。
优选的，实际值中的红色光学值、设定值与波形驱动时间T的关系如下：在波形驱动时间0-1.2S内，其关系式为T＝((a*set-a*)÷5×tan60°)×1.2；在波形驱动时间1.2-4.6S内，其关系式为T＝((a*set-a*)÷5×tan30°)×1.2；在波形驱动时间4.6-10S内，其关系式为T＝((a*set-a*)÷5×tan10°)×1.2。
与现有技术相比，本发明的优点在于：结合电子纸模组和光学测试仪，再运用自动化移动设备，减少人为因素的干扰，模式化调试，通过单步测试、优选测试和自动测试等多种优化算法，能取得较好的调试效果，从而提高调试出驱动波形的稳定性、一致性，提高效率，提高品质，节省人力资源。
附图说明
图1本发明黑白模组测试图；
图2本发明三色模组测试图；
图3本发明单步测试具体算法流程示意图；
图4本发明优选测试具体算法流程示意图；
图5本发明自动测试具体算法流程示意图；
图6本发明红色光学值与温度的曲线示意图；
图7本发明白色光学值与温度的曲线示意图；
图8本发明黑色光学值与温度的曲线示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的实施例作进一步描述。
本实施例涉及一种电子纸驱动波形自动调试方法，提供一上位机和一主控板，上位机与主控板之间通过通信连接。在本实施例中调试方法包括单步测试、优选测试和自动测试三种模式。
其中，如图3所示，单步测试的具体算法流程如下步骤：
S1、上位机在设置区域设置各项参数及波形库地址，在波形库地址中选择标准初始波形；
S2、主控板接收标准初始波形及目标参数；判断其测试的电子纸膜片为黑白模组还是三色模组；
S3、根据黑白模组或三色模组，使用波形驱动电子纸模组同步进行对比度测试、残影测试和侵蚀测试，并记录相应数据；
S4、主控板上传测试到的光学值，上位机接收光学值数据进行存储，并显示在列表中；
S5、判断波形是否测试完毕，若是，则结束；若不是，则返回步骤S1。
其中，如图4所示，优选测试的具体算法流程如下步骤：
S1、上位机在设置区域设置各项参数及波形库地址，在波形库地址中选择所有符合设置参数要求的波形；
S2、主控板随机接收一组波形及目标参数；判断其测试的电子纸膜片为黑白模组还是三色模组；
S3、根据黑白模组或三色模组，使用波形驱动电子纸模组先进行对比度测试，再进行残影测试，最后进行侵蚀测试，并记录相应数据；
S4、主控板上传测试到的光学值，上位机接收光学值数据进行存储，并显示在列表中；
S5、判断波形是否测试完毕，若是，则将所有测试波形所得的光学数据与设置值对比，选出最接近的三组；若不是，则返回步骤S1。
在上述步骤S5中，针对选出的三组波形，人工进行选取最优波形。
其中，如图5所示，自动测试的具体算法流程如下步骤：
S1、上位机在设置区域设置各项参数及波形库地址，在波形库地址中选择标准初始波形；
S2、主控板接收标准初始波形及目标参数；判断其测试的电子纸膜片为黑白模组还是三色模组；
S3、根据黑白模组或三色模组，先进行步骤S311，上位机根据优选测试的算法，重新生成波形进行测试；使用重新生成的波形驱动电子纸模组进行对比度测试，并记录相应光学值数据。测试结束后，上传测试到的光学值，执行步骤S312：上位机根据光学值与设置值比对判断是否达到要求，若是，则进行下一步残影测试；若不是，则重新进行步骤311，进而重新进行对比度测试；
在残影测试之前，先进行步骤S311，上位机根据优选测试的算法，重新生成波形进行测试；使用重新生成的波形驱动电子纸模组进行残影测试，并记录相应光学值数据。测试结束后，上传测试到的光学值，执行步骤S312：上位机根据光学值与设置值比对判断是否达到要求，若是，则进行下一步侵蚀测试；若不是，则重新进行步骤311，进而重新进行残影测试；
在侵蚀测试之前，先进行步骤S311，上位机根据优选测试的算法，重新生成波形进行测试；使用重新生成的波形驱动电子纸模组进行侵蚀测试，并记录相应光学值数据。测试结束后，上传测试到的光学值，执行步骤S312：上位机根据光学值与设置值比对判断是否达到要求，若是，则结束；若不是，则重新进行步骤311，进而重新进行侵蚀测试。
在自动测试中，因在步骤S3中，针对每次对比度测试、残影测试和侵蚀测试均上传测试到的光学值到上位机，所以省略了单步测试和优选测试中的步骤S4。同时，在自动测试的步骤S3中，已经多次针对选出的波形进行测试，所说义省略了单步测试和优选测试中的步骤S5。
在本实施例中，如图1所示，若测试的电子纸膜片为黑白模组，其测试步骤S3如下：
S31、对比度测试：如测试图1中的A图所示，使用标准初始波形驱动电子纸模组至全黑，控制光学测试仪测试其光学值L*并记录数据；再如测试图1中的B图所示，使用标准初始波形驱动电子纸模组至全白，控制光学测试仪测试其光学值L*并记录数据；
S32、残影测试：依次打开测试图1中的A图(全黑)、B图(全白)、C图(上黑下白)和D图(左黑右白)，控制步进电机移动光学测试仪测试其光学值L*并记录数据；然后，再如测试图1中的F图所示，使用标准初始波形驱动电子纸模组形成四个测试区，四个测试区为黑-黑F1、黑-白F2、白-黑F3、白-白F4，控制光学测试仪测试其光学值L*并记录数据；
S33、侵蚀测试：如测试图1中的E图所示，使用标准初始波形驱动电子纸模组形成黑白相间测试区，控制光学测试仪测试其光学值L*并记录数据。
在本实施例中，若测试的电子纸膜片为三色模组，其测试步骤S3如下：
S34、对比度测试：如测试图2中的G图所示，使用标准初始波形驱动电子纸模组至全黑，控制光学测试仪测试其光学值L*、a*，并记录数据；再如测试图2中的H图所示，使用标准初始波形驱动电子纸模组至全白，控制光学测试仪测试其光学值L*、a*，并记录数据；再如测试图2中的I图所示，使用标准初始波形驱动电子纸模组至全红，控制光学测试仪测试其光学值L*、a*，并记录数据；
S35、残影测试：依次打开测试图2中的G图(全黑)、H图(全白)、I图(全红)、J图(左黑中白右红)和K图(上黑中白下红)，控制步进电机移动光学测试仪测试其光学值L*、a*，并记录数据；然后，再如测试图2中的O图所示，使用标准初始波形驱动电子纸模组形成九个测试区，九个测试区为黑-黑O1、黑-白O2、黑-红O3、白-黑O4、白-白O5、白-红O6、红-黑O7、红-白O8、红-红O9，控制光学测试仪测试其光学值L*、a*，并记录数据；
S36、侵蚀测试：如测试图2中的L图、M图和N图所示，使用标准初始波形驱动电子纸模组形成白红相间、黑红相间、黑白相间测试区，控制光学测试仪测试其光学值L*、a*，并记录数据。
在本实施例中，如图6-8所示，针对前面经单步测试、优选测试和自动测试后的光学值进行分析。设光学值中的黑色、白色和红色的设定值为L*set、a*set，实测的光学值中的黑色、白色和红色的实际值为L*、a*，其温度在0-30℃之间；
如图8所示，实际值中的黑色光学值、设定值与波形驱动时间T的关系如下：在波形驱动时间0-0.07S内，其关系式为T＝((L*set-L*)÷10×tan63°)×0.07；在波形驱动时间0.07S-0.24S内，其关系式为T＝((L*set-L*)÷10×tan 35°)×0.07；在波形驱动时间0.24S-0.5S内，其关系式为T＝((L*set-L*)÷10×tan 15°)×0.07。
如图7所示，实际值中的白色光学值、设定值与波形驱动时间T的关系如下：在波形驱动时间0-0.07S内，其关系式为T＝((L*set-L*)÷10×tan63°)×0.07；在波形驱动时间0.07S-0.24S内，其关系式为T＝((L*set-L*)÷10×tan 35°)×0.07；在波形驱动时间0.24S-0.5S内，其关系式为T＝((L*set-L*)÷10×tan 15°)×0.07。
如图6所示，实际值中的红色光学值、设定值与波形驱动时间T的关系如下：在波形驱动时间0-1.2S内，其关系式为T＝((a*set-a*)÷5×tan60°)×1.2；在波形驱动时间1.2-4.6S内，其关系式为T＝((a*set-a*)÷5×tan30°)×1.2；在波形驱动时间4.6-10S内，其关系式为T＝((a*set-a*)÷5×tan10°)×1.2。
本发明的有益效果为：结合电子纸模组和光学测试仪，再运用自动化移动设备，减少人为因素的干扰，模式化调试，通过单步测试、优选测试和自动测试等多种优化算法，能取得较好的调试效果，从而提高调试出驱动波形的稳定性、一致性，提高效率，提高品质，节省人力资源。
上述说明示出并描述了本发明的若干优选实施例，但如前所述，应当理解本发明并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述发明构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本发明的精神和范围，则都应在本发明所附权利要求的保护范围内。
Claims (10)
1.一种电子纸驱动波形自动调试方法，其特征在于：提供一上位机和一主控板，所述上位机与主控板之间通过通信连接，所述调试方法包括如下步骤：
S1、所述上位机在设置区域设置各项参数及波形库地址，在所述波形库地址中选择波形；
S2、所述主控板接收波形及目标参数；判断其测试的电子纸膜片为黑白模组还是三色模组；
S3、根据黑白模组或三色模组，使用波形驱动电子纸模组进行对比度测试、残影测试和侵蚀测试，并记录相应数据；
S4、主控板上传测试到的光学值，上位机接收光学值数据进行存储，并显示在列表中；
S5、判断波形是否测试完毕，若是，则结束；若不是，则返回步骤S1。
2.根据权利要求1所述的电子纸驱动波形自动调试方法，其特征在于：若测试的电子纸膜片为黑白模组，其测试步骤S3如下：
S31、对比度测试：使用标准初始波形驱动电子纸模组至全黑，控制光学测试仪测试其光学值并记录数据；再使用标准初始波形驱动电子纸模组至全白，控制光学测试仪测试其光学值并记录数据；
S32、残影测试：控制步进电机移动光学测试仪，使用标准初始波形驱动电子纸模组形成四个测试区，所述四个测试区为黑-黑、黑-白、白-黑、白-白，控制光学测试仪测试其光学值并记录数据；
S33、侵蚀测试：使用标准初始波形驱动电子纸模组形成黑白相间测试区，控制光学测试仪测试其光学值并记录数据。
3.根据权利要求2所述的电子纸驱动波形自动调试方法，其特征在于：若测试的电子纸膜片为三色模组，其测试步骤S3如下：
S34、对比度测试：使用标准初始波形驱动电子纸模组至全黑，控制光学测试仪测试其光学值，并记录数据；再使用标准初始波形驱动电子纸模组至全白，控制光学测试仪测试其光学值，并记录数据；再使用标准初始波形驱动电子纸模组至全红，控制光学测试仪测试其光学值，并记录数据；
S35、残影测试：控制步进电机移动光学测试仪，使用标准初始波形驱动电子纸模组形成九个测试区，所述九个测试区为黑-黑、黑-白、黑-红、白-黑、白-白、白-红、红-黑、红-白、红-红，控制光学测试仪测试其光学值，并记录数据；
S36、侵蚀测试：使用标准初始波形驱动电子纸模组形成白红相间、黑红相间、黑白相间测试区，控制光学测试仪测试其光学值，并记录数据。
4.根据权利要求3所述的电子纸驱动波形自动调试方法，其特征在于：所述调试方法为单步测试，在步骤S1中上位机选择标准初始波形地址；在步骤S2中主控板接收标准初始波形；在步骤S3中所述对比度测试、残影测试和侵蚀测试同步进行。
5.根据权利要求3所述的电子纸驱动波形自动调试方法，其特征在于：所述调试方法为优选测试，在步骤S1中上位机在波形库地址中选择全部波形；在步骤S2中主控板随机接收一组波形；在步骤S3中先进行对比度测试，再进行残影测试，最后再进行侵蚀测试；在步骤S5中，波形测试完毕后，将所有测试波形所得的光学数据与设置值对比，选出最接近的三组。
6.根据权利要求5所述的电子纸驱动波形自动调试方法，其特征在于：所述调试方法为自动测试，在步骤S1中上位机选择标准初始波形地址；在步骤S2中主控板接收标准初始波形；在步骤S3中，还包括一步骤S311：所述上位机根据优选测试的算法，重新生成波形进行测试。
7.根据权利要求6所述的电子纸驱动波形自动调试方法，其特征在于：在步骤S3中，先进行对比度测试，再进行残影测试，最后再进行侵蚀测试；在进行对比度测试、残影测试或侵蚀测试时，先进行步骤S311，每次测试结束后，上传测试到的光学值，执行步骤S312：上位机根据光学值与设置值比对判断是否达到要求，若是，则进行下一步；若不是，则重新进行测试。
8.根据权利要求1-7任一项所述的电子纸驱动波形自动调试方法，其特征在于：设光学值中的黑色、白色和红色的设定值为L*set、a*set，实测的光学值中的黑色、白色和红色的实际值为L*、a*，其温度在0-30℃之间；
实际值中的黑色光学值、设定值与波形驱动时间T的关系如下：在波形驱动时间0-0.07S内，其关系式为T＝((L*set-L*)÷10×tan63°)×0.07；在波形驱动时间0.07S-0.24S内，其关系式为T＝((L*set-L*)÷10×tan 35°)×0.07；在波形驱动时间0.24S-0.5S内，其关系式为T＝((L*set-L*)÷10×tan 15°)×0.07。
9.根据权利要求8所述的电子纸驱动波形自动调试方法，其特征在于：实际值中的白色光学值、设定值与波形驱动时间T的关系如下：在波形驱动时间0-0.07S内，其关系式为T＝((L*set-L*)÷10×tan63°)×0.07；在波形驱动时间0.07S-0.24S内，其关系式为T＝((L*set-L*)÷10×tan 35°)×0.07；在波形驱动时间0.24S-0.5S内，其关系式为T＝((L*set-L*)÷10×tan 15°)×0.07。
10.根据权利要求8所述的电子纸驱动波形自动调试方法，其特征在于：实际值中的红色光学值、设定值与波形驱动时间T的关系如下：在波形驱动时间0-1.2S内，其关系式为T＝((a*set-a*)÷5×tan60°)×1.2；在波形驱动时间1.2-4.6S内，其关系式为T＝((a*set-a*)÷5×tan30°)×1.2；在波形驱动时间4.6-10S内，其关系式为T＝((a*set-a*)÷5×tan10°)×1.2。
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