CN109407309A - 一种中心遮拦的光学成像系统背景辐射抑制方法 - Google Patents

一种中心遮拦的光学成像系统背景辐射抑制方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109407309A
CN109407309A CN201710705800.7A CN201710705800A CN109407309A CN 109407309 A CN109407309 A CN 109407309A CN 201710705800 A CN201710705800 A CN 201710705800A CN 109407309 A CN109407309 A CN 109407309A
Authority
CN
China
Prior art keywords
imaging system
background radiation
optical imaging
module
window
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201710705800.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109407309B (zh
Inventor
甄政
王英瑞
李昂
周军
欧文
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing Institute of Remote Sensing Equipment
Original Assignee
Beijing Institute of Remote Sensing Equipment
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing Institute of Remote Sensing Equipment filed Critical Beijing Institute of Remote Sensing Equipment
Priority to CN201710705800.7A priority Critical patent/CN109407309B/zh
Publication of CN109407309A publication Critical patent/CN109407309A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109407309B publication Critical patent/CN109407309B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/0012Optical design, e.g. procedures, algorithms, optimisation routines
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/20Design optimisation, verification or simulation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

本发明公开了一种中心遮拦的光学成像系统背景辐射抑制方法,其具体步骤为:构建包括:光线追迹模块、光线窗口分布模块、探测器窗口遮挡模块和背景辐射分析模块的光学成像系统背景辐射抑制仿真系统;光线追迹模块完成不同视场下的目标光线追迹;光线窗口分布模块计算目标光线在探测器窗口分布;探测器窗口遮挡模块计算探测器需要遮挡的区域范围;背景辐射分析模块计算对探测器窗口遮挡前后背景辐射抑制比例;至此实现了中心遮拦的光学成像系统背景杂散辐射的降低。本方法有效地解决由于成像系统的背景杂散辐射过高造成探测积分时间变短的问题,有利于提高系统探测灵敏度。

Description

一种中心遮拦的光学成像系统背景辐射抑制方法
技术领域
本发明涉及一种光学成像系统背景辐射抑制方法,特别是一种中心遮拦的光学成像系统背景辐射抑制方法。
背景技术
对于光电成像系统而言,系统的背景辐射影响着系统的噪声和系统的探测积分时间,当系统背景辐射越高,光噪声越大,同时探测积分时间也会相应变短,这两方面因素直接导致系统探测器距离缩短。因此,通过有效的抑制系统背景辐射能有效提高系统的灵敏度和探测距离。
传统的抑制系统背景辐射的主要方式是通过限制探测器光阑孔径大小,即增大系统f/#;和对热背景辐射进行冷处理,对于前者而言一方面会增加系统的体积重量,同时会降低系统探测视场;而后者需要采取一些复杂的冷措施来实现,增加了系统复杂度、重量等其它问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种中心遮拦的光学成像系统背景辐射抑制方法,解决由于光学成像系统背景辐射过高造成系统灵敏度降低的问题。
一种中心遮拦的光学成像系统背景辐射抑制方法,其具体步骤为:
第一步 构建光学成像系统背景辐射抑制仿真系统
光学成像系统背景辐射抑制仿真系统,包括:光线追迹模块、光线窗口分布模块、探测器窗口遮挡模块和背景辐射分析模块。
光线追迹模块用于追迹不同视场的目标经过光学系统后的光线走向,
光线窗口分布模块用于计算目标光线入射到探测器窗口表面的空间分布,
探测器窗口遮挡模块用于计算目标光线没有落入到探测器窗口表面的区域范围,
背景辐射分析模块用于对遮挡前和遮挡后光学成像系统背景杂散辐射进行分析,给出背景辐射降低比例。
第二步 光线追迹模块完成不同视场下的目标光线追迹
假设目标为一个无穷远的物体,目标光线到光学系统前面是一群平行光线,光线追迹模块分别分析中心、半视场、全视场三种情况下目标光线入射到光学系统后的光线轨迹走向。
第三步 光线窗口分布模块计算目标光线在探测器窗口分布
不同视场的目标光线轨迹最终要落入到探测器窗口表面,光线窗口分布模块计算目标光线落入到探测器窗口表面的空间分布,对光线落点根据8领域就近原则连接,得到内层光线空间轮廓为P(x,y)。
第四步 探测器窗口遮挡模块计算探测器需要遮挡的区域范围
探测器窗口遮挡模块计算目标光线没有落入到探测器窗口的区域面积,以探测器窗口中心(0,0)为原点计算与内层空间轮廓P(x,y)的距离D(x,y),从所有的D(x,y)中选择最小距离值d,以最小距离值d为半径的圆形面积S作为探测器窗口遮挡区域范围。
第五步 背景辐射分析模块计算对探测器窗口遮挡前后背景辐射抑制比例
背景辐射分析模块计算光学成像系统在探测器窗口无遮挡前的背景辐射Q1和探测器窗口遮挡S面积后发热背景辐射Q2;光学成像系统背景辐射降低的比例关系如下:
由于探测器窗口遮挡S面积后目标光线没有造成损失,依然是100%,而光学系统背景辐射得到抑制,背景辐射降低至原来的100%‐k。
至此实现了中心遮拦的光学成像系统背景杂散辐射的降低。
本发明通过降低光学成像系统的背景辐射,有效的降低了成像系统由于热背景辐射引入的热噪声,使得光学成像系统的灵敏度提高,光学成像系统的探测距离相应增长。
附图说明
图1一种中心遮拦的光学成像系统背景辐射抑制方法所述的目标光线分布到探测器窗口空间示意图。
1.探测器窗口 2.探测器窗口中心 3.最小距离d 4.中心视场光线 5.半视场光线6.全视场光线
具体实施方式
一种中心遮拦的光学成像系统背景辐射抑制方法,其具体步骤为:
第一步 构建光学成像系统背景辐射抑制仿真系统
光学成像系统背景辐射抑制仿真系统,包括:光线追迹模块、光线窗口分布模块、探测器窗口遮挡模块和背景辐射分析模块。
光线追迹模块用于追迹不同视场的目标经过光学系统后的光线走向,
光线窗口分布模块用于计算目标光线入射到探测器窗口表面的空间分布,
探测器窗口遮挡模块用于计算目标光线没有落入到探测器窗口表面的区域范围,
背景辐射分析模块用于对遮挡前和遮挡后光学成像系统背景杂散辐射进行分析,给出背景辐射降低比例。
第二步 光线追迹模块完成不同视场下的目标光线追迹
假设目标为一个无穷远的物体,目标光线到光学系统前面是一群平行光线,光线追迹模块分别分析中心、半视场、全视场三种情况下目标光线入射到光学系统后的光线轨迹走向。
第三步 光线窗口分布模块计算目标光线在探测器窗口分布
不同视场的目标光线轨迹最终要落入到探测器窗口表面,光线窗口分布模块计算目标光线落入到探测器窗口表面的空间分布,对光线落点根据8领域就近原则连接,得到内层光线空间轮廓为P(x,y)。
第四步 探测器窗口遮挡模块计算探测器需要遮挡的区域范围
探测器窗口遮挡模块计算目标光线没有落入到探测器窗口的区域面积,以探测器窗口中心(0,0)为原点计算与内层空间轮廓P(x,y)的距离,具体公式如下:
其中,0<x<R,0<y<R,R为探测器窗口的半径,D(x,y)为轮廓边缘的每一个点P(x,y)到探测器中心的距离,从所有的D(x,y)中选择最小距离值d,以最小距离值d为半径的圆形面积S作为探测器窗口遮挡区域范围:
S=π×d2 (2)
第五步 背景辐射分析模块计算对探测器窗口遮挡前后背景辐射抑制比例
背景辐射分析模块计算光学成像系统在探测器窗口无遮挡前的背景辐射Q1和探测器窗口遮挡S面积后发热背景辐射Q2;光学成像系统背景辐射降低的比例关系如下:
由于探测器窗口遮挡S面积后目标光线没有造成损失,依然是100%,而光学系统背景辐射得到抑制,背景辐射降低至原来的100%‐k。
至此实现了中心遮拦的光学成像系统背景杂散辐射的降低。

Claims (5)

1.一种中心遮拦的光学成像系统背景辐射抑制方法,其特征在于具体步骤为:
构建包括:光线追迹模块、光线窗口分布模块、探测器窗口遮挡模块和背景辐射分析模块的光学成像系统背景辐射抑制仿真系统;
光线追迹模块完成不同视场下的目标光线追迹;
光线窗口分布模块计算目标光线在探测器窗口分布;
探测器窗口遮挡模块计算探测器需要遮挡的区域范围;
背景辐射分析模块计算对探测器窗口遮挡前后背景辐射抑制比例;
至此实现了中心遮拦的光学成像系统背景杂散辐射的降低。
2.根据权利要求1所述的中心遮拦的光学成像系统背景辐射抑制方法,其特征在于:假设目标为一个无穷远的物体,目标光线到光学系统前面是一群平行光线,所述的光线追迹模块分别分析中心、半视场、全视场三种情况下目标光线入射到光学系统后的光线轨迹走向。
3.根据权利要求1所述的中心遮拦的光学成像系统背景辐射抑制方法,其特征在于:不同视场的目标光线轨迹最终要落入到探测器窗口表面,所述的光线窗口分布模块计算目标光线落入到探测器窗口表面的空间分布,对光线落点根据8领域就近原则连接,得到内层光线空间轮廓为P(x,y)。
4.根据权利要求1所述的中心遮拦的光学成像系统背景辐射抑制方法,其特征在于:探测器窗口遮挡模块计算目标光线没有落入到探测器窗口的区域面积,以探测器窗口中心(0,0)为原点计算与内层空间轮廓P(x,y)的距离,具体公式如下:
其中,0<x<R,0<y<R,R为探测器窗口的半径,D(x,y)为轮廓边缘的每一个点P(x,y)到探测器中心的距离,从所有的D(x,y)中选择最小距离值d,以最小距离值d为半径的圆形面积S作为探测器窗口遮挡区域范围:
S=π×d2 (2)
5.根据权利要求1所述的中心遮拦的光学成像系统背景辐射抑制方法,其特征在于:背景辐射分析模块计算光学成像系统在探测器窗口无遮挡前的背景辐射Q1和探测器窗口遮挡S面积后发热背景辐射Q2;光学成像系统背景辐射降低的比例关系如下:
由于探测器窗口遮挡S面积后目标光线没有造成损失,依然是100%,而光学系统背景辐射得到抑制,背景辐射降低至原来的100%‐k。
CN201710705800.7A 2017-08-17 2017-08-17 一种中心遮拦的光学成像系统背景辐射抑制方法 Active CN109407309B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710705800.7A CN109407309B (zh) 2017-08-17 2017-08-17 一种中心遮拦的光学成像系统背景辐射抑制方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710705800.7A CN109407309B (zh) 2017-08-17 2017-08-17 一种中心遮拦的光学成像系统背景辐射抑制方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109407309A true CN109407309A (zh) 2019-03-01
CN109407309B CN109407309B (zh) 2020-12-11

Family

ID=65454856

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710705800.7A Active CN109407309B (zh) 2017-08-17 2017-08-17 一种中心遮拦的光学成像系统背景辐射抑制方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109407309B (zh)

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100172471A1 (en) * 2009-01-05 2010-07-08 Sivathanu Yudaya R Method and apparatus for characterizing flame and spray structure in windowless chambers
CN102460302A (zh) * 2009-06-09 2012-05-16 Asml荷兰有限公司 光刻设备和用于减小杂散辐射的方法
CN102944533A (zh) * 2012-11-26 2013-02-27 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种便携式中心遮拦结构杂散光检测装置
CN103135368A (zh) * 2013-03-14 2013-06-05 中国科学院光电技术研究所 一种测量杂散光的方法和系统
CN204903792U (zh) * 2015-08-11 2015-12-23 大立光电股份有限公司 遮光片、透镜组及影像镜头
US20170059398A1 (en) * 2015-08-31 2017-03-02 Teledyne Scientific & Imaging, Llc Detector systems having stray light suppression using a retro-reflector shield and negative luminescence
CN106482732A (zh) * 2016-10-14 2017-03-08 中国空间技术研究院 一种全天时高精度星光折射导航杂散光抑制方法
CN106982315A (zh) * 2017-04-01 2017-07-25 中国科学院上海应用物理研究所 一种高分辨率成像系统

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100172471A1 (en) * 2009-01-05 2010-07-08 Sivathanu Yudaya R Method and apparatus for characterizing flame and spray structure in windowless chambers
CN102460302A (zh) * 2009-06-09 2012-05-16 Asml荷兰有限公司 光刻设备和用于减小杂散辐射的方法
CN102944533A (zh) * 2012-11-26 2013-02-27 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种便携式中心遮拦结构杂散光检测装置
CN103135368A (zh) * 2013-03-14 2013-06-05 中国科学院光电技术研究所 一种测量杂散光的方法和系统
CN204903792U (zh) * 2015-08-11 2015-12-23 大立光电股份有限公司 遮光片、透镜组及影像镜头
US20170059398A1 (en) * 2015-08-31 2017-03-02 Teledyne Scientific & Imaging, Llc Detector systems having stray light suppression using a retro-reflector shield and negative luminescence
CN106482732A (zh) * 2016-10-14 2017-03-08 中国空间技术研究院 一种全天时高精度星光折射导航杂散光抑制方法
CN106982315A (zh) * 2017-04-01 2017-07-25 中国科学院上海应用物理研究所 一种高分辨率成像系统

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
朱杨: "空间光学系统杂散辐射抑制研究", 《中国博士学位论文全文库》 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN109407309B (zh) 2020-12-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111009007B (zh) 一种指部多特征全面三维重建方法
CN110529186A (zh) 基于红外热成像的隧道结构渗漏水精确识别装置和方法
CN103868526B (zh) 空间光学遥感器三反同轴光学系统视场外杂散光检测方法
CN102016772A (zh) 交互输入系统和用于交互输入系统的照明组件
CN101704417A (zh) 航天器星体跟踪器杂散光抑制装置
CN105991996A (zh) 一种摄像模组检测系统及检测方法
US11625828B2 (en) Cost effective, mass producible system for rapid detection of fever conditions based on thermal imaging
CN106228935A (zh) 一种保持液晶屏幕亮度均匀的方法和显示装置
CN107884005B (zh) 一种模拟人眼对光环境感知的光学测量系统与测量方法
CN105652280A (zh) 一种激光雷达三角测距法
CN109727226A (zh) 一种基于机器学习的位置表自动生成方法
WO2016091041A1 (zh) 一种利用成像亮度计对道路照明眩光进行动态评估的方法
CN103389037A (zh) 一种照明衍射光学元件几何技术参数检测装置与方法
US11336944B2 (en) Method for controlling a display parameter of a mobile device and computer program product
Klapp et al. Ornamental fish counting by non-imaging optical system for real-time applications
CN107580180B (zh) 取景框的显示方法、装置、设备及计算机可读存储介质
CN104813217B (zh) 用于设计能够估计景深的无源单通道成像器的方法
CN106353032B (zh) 一种欠光照条件下的天体形心快速检测方法
CN106199939B (zh) 一种基于视场分光的自适应光学系统
CN108873566A (zh) 一种偏视场微光相机遮光罩的设计方法
CN107576969B (zh) 基于gpu并行计算的大场景隐藏目标成像系统与方法
CN109407309A (zh) 一种中心遮拦的光学成像系统背景辐射抑制方法
CN207600960U (zh) 大米精度检测装置
CN106482731A (zh) 一种抑制白天大气湍流效应的大视场测星传感器及使用方法
CN106482732B (zh) 一种全天时高精度星光折射导航杂散光抑制方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant