CN109361477B - 一种瞬时频率测量装置及测量方法 - Google Patents

一种瞬时频率测量装置及测量方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109361477B
CN109361477B CN201811344142.4A CN201811344142A CN109361477B CN 109361477 B CN109361477 B CN 109361477B CN 201811344142 A CN201811344142 A CN 201811344142A CN 109361477 B CN109361477 B CN 109361477B
Authority
CN
China
Prior art keywords
frequency
signal
sampling
microwave
instantaneous
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201811344142.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109361477A (zh
Inventor
朱伟
杜念文
李伟
刘宝东
毛黎明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
CLP Kesiyi Technology Co Ltd
Original Assignee
CLP Kesiyi Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by CLP Kesiyi Technology Co Ltd filed Critical CLP Kesiyi Technology Co Ltd
Priority to CN201811344142.4A priority Critical patent/CN109361477B/zh
Publication of CN109361477A publication Critical patent/CN109361477A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109361477B publication Critical patent/CN109361477B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
    • H04B17/101—Monitoring; Testing of transmitters for measurement of specific parameters of the transmitter or components thereof
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/02—Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage

Abstract

本发明公开了一种瞬时频率测量装置及测量方法，属于瞬时频率测量技术领域，本发明装置包括射频处理单元、取样混频单元、中频处理单元、数字信道处理单位和运算单元。本发明所实现的实时监测带宽可以达到26.5GHz，结合了实时频谱分析与瞬时频率解调，可以实现多域多频段的瞬时频率测试，可以满足大监测带宽高精度的瞬时频率测试需求，应用范围更广泛；所实现的动态范围和灵敏度更高，通过中频增益自适应调节，可以满足不同输入功率信号的瞬时测频需求，同时也可以提高了测频精度；实现方案简洁、电路构成简单，技术成熟高、实现成本低，具有很好的性价比优势。

Description

一种瞬时频率测量装置及测量方法
技术领域
本发明属于瞬时频率测量技术领域，具体涉及一种瞬时频率测量装置及测量方法。
背景技术
瞬时测频技术在现代电子战中发挥着非常重要的作用，在复杂的电磁环境中从敌方发射的射频信号中提取雷达的瞬时频率信息，是该技术典型应用场景之一，利用频率信息可以实现对敌方雷达进行分选、威胁识别和干扰引导。瞬时测频按实现方式大致可以分为两类：模拟瞬时测频与数字瞬时测频，传统的模拟瞬时测频由于受到模拟器件的限制，测频精度较低，已经不满足实际的测试需求；数字测频技术由于采用了灵活多样的算法，测频精度与多信号分析能力呈现出强大的优势。
干涉比相法瞬时测频(也称为延迟线鉴相法瞬时测频)是一种应用较为广泛的模拟瞬时测频方法，具有监测带宽大、响应速度快等优点，典型的系统组成如图1所示。系统的具体工作原理如下：
假设输入信号为:
s(t)＝A sin(ωt)
假设延迟线延迟时间为τ，通过3dB功放器、3dB/90°定向耦合器以及延迟线后，在A、B点的信号分别为：
Figure BDA0001863327030000011
Figure BDA0001863327030000012
经过平方率检波和低通滤波之后，1处和2处的信号形式为：
Figure BDA0001863327030000013
Figure BDA0001863327030000014
s2(t)与s1(t)相减得到：
Figure BDA0001863327030000015
同理在C、D点的信号分别为：
Figure BDA0001863327030000021
Figure BDA0001863327030000022
经过平方率检波和低通滤波之后，3处和4处的信号形式为：
Figure BDA0001863327030000023
Figure BDA0001863327030000024
s4(t)与s3(t)相减可得到：
Figure BDA0001863327030000025
利用s43(t)和s21(t)求反正切，同时结合s43(t)的极性就可以得到ωτ在[0,2π]之间对应的弧度，已知延迟时间τ就可以计算出被测信号的频率。
1、干涉比相法的缺点是只能适用于被测信号是单载波的情况，否则会导致测量错误。
2、干涉比相法不能兼顾监测带宽与频率分辨率的要求，延迟时间τ越大、测频精度与频率分辨率越高，但是最大可监测频率却越小，它与延迟时间τ成反比。
发明内容
针对现有技术中存在的上述技术问题，本发明提出了一种瞬时频率测量装置及测量方法，设计合理，克服了现有技术的不足，具有良好的效果。
为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：
一种瞬时频率测量装置，包括射频处理单元、取样混频单元、中频处理单元、数字信道处理单位和运算单元；
射频处理单元，分直通和下变频两路，被配置为用于依据用户需要进行监测频段选择，将输入信号分为射频微波频段和微波毫米波频段两部分；微波毫米波频段经点频源下变频和带通滤波后，将频率搬移至射频微波频段；
取样混频单元，包括第一功分器和两个取样混频通道，每个取样混频通道均包括第二功分器、DDS和取样混频器；
第一功分器，被配置为用于将处理后的射频微波信号进行功分，产生两路待测射频微波信号，然后将两路待测射频微波信号传输至两个取样混频通道；
第二功分器，被配置为用于将待测射频微波信号又功分为两路，分别传输至取样混频器；
DDS，被配置为用于产生取样本振信号；
取样混频器，被配置为用于将经第二功分器功分后的信号与DDS产生的取样本振信号进行取样混频，产生中频信号；
第一取样混频通道的取样本振为200MHz±10kHz，经取样混频后，将被测信号频率搬移至DC～100MHz频率范围内，通过相差20kHz的两路取样本振混频产生两路中频信号，实现被测信号频率的实时定位；
第二取样混频通道的取样本振为100MHz±10kHz，经取样混频后，将被测信号频率同时频率搬移至DC～50MHz频率范围内，通过相差20kHz的两路取样本振混频产生中频信号，实现对被测信号频率的实时定位；
中频处理单元，包括低通滤波器、可变增益放大器、ADC和DAC；
低通滤波器，被配置为用于滤除分析带外的混频分量；
可变增益放大器，被配置为用于对中频信号进行放大；
ADC，被配置为用于将模拟中频信号转换成数字中频信号；
DAC，被配置为用于将数字中频信号转换成模拟电压信号，通过模拟电压信号对可变增益放大器进行放大量的控制；
数字信道处理单位，被配置为用于将数字中频信号依据需要进行信道划分，经过带通滤波、正交下变频、抽取滤波之后，产生I、Q两路基带信号，并对I、Q两路基带信号的频响进行补偿，消除I、Q不平衡引入的瞬时测频误差；
运算单元，被配置为用于将输入的I、Q两路基带信号分为两路，一路通过FFT运算产生实时频谱分析结果，另一路通过CORDIC算法提取信号的瞬时相位，在已知瞬时相位间隔时间的情况下，对瞬时相位做微分运算，得到瞬时频率测试结果。
优选地，射频微波频段覆盖的频率范围是10MHz～26.5GHz，毫米波频段覆盖的频率范围是26.5GHz～40GHz。
优选地，DDS选用AD9959BCPZ芯片。
优选地，可变增益放大器选用型号为AD8331ARQZ芯片。
优选地，ADC选用AD9652BBCZ芯片。
优选地，DAC选用AD7564BRS芯片。
此外，本发明还提到一种瞬时频率测量方法，该方法采用如上所述的一种瞬时频率测量装置，包括如下步骤：
步骤1：依据用户需要进行监测频段选择，通过射频处理单元将输入信号分为射频微波频段和微波毫米波频段两部分；微波毫米波频段经点频源下变频进行频率搬移；假设被测信号频率用fD来表示，点频源频率用fL来表示，那么经射频处理单元处理后的待测射频微波信号频率fR表示为：
fR＝fD(射频微波频段) (1)；
fR＝fD-fL(微波毫米波频段) (2)；
步骤2：第一测量通道的取样本振频率分别为fL1和fL2来表示，相应的取样混频后的中频信号频率分别为fM1和fM2，相应的取样本振下变频的谐波次数分别为M1和M2，那么输入射频微波信号，如公式(3)所示：
fR＝M1×fL1+fM1＝M2×fL2+fM2 (3)；
步骤3：第一测量通道的取样本振fL1和fL2相差很小，中频频率与相差频率之比远小于最大取样谐波次数，且信道划分时避开了模糊区、信道边界留有过渡余量，通过以上措施能够保证M1与M2相等，因此由公式(3)计算出M1和M2，如公式(4)所示：
M1＝M2＝(fM1-fM2)/(fL2-fL1) (4)；
步骤4：第一测量通道测量得到的被测信号频率，如公式(5)、(6)所示：
fD＝(fM1-fM2)×fL1/(fL2-fL1)+fM1(射频微波频段) (5)；
fD＝(fM1-fM2)×fL1/(fL2-fL1)+fM1+fL(微波毫米波频段) (6)；
步骤5：第二测量通道的取样本振频率用fL3和fL4来表示，对应的取样混频后的中频频率分别为fM3和fM4，相应额取样本振下变频的谐波次数分别为M3和M4，第二测量通道测量得到的被测信号频率，如公式(7)、(8)所示：
fD＝(fM3-fM4)×fL3/(fL4-fL3)+fM3(射频微波频段) (7)；
fD＝(fM3-fM4)×fL3/(fL4-fL3)+fM3+fL(微波毫米波频段) (8)；
由公式(7)，计算出实时频谱分析时的fM1、fM2、fM3和fM4；
步骤6：通过数字信道处理单位将数字中频信号依据需要进行信道划分，经过带通滤波、正交下变频、抽取滤波之后，产生I、Q两路基带信号，一路通过FFT运算产生实时频谱分析结果，假设I、Q基带信号的数据更新频率为fs，FFT运算点数为N，那么第K个频域数据对应的中频频率fM可表示为：
fM＝fs×K/N (9)；
步骤7：另一路通过CORDIC算法提取信号的瞬时相位，在已知瞬时相位间隔时间的情况下，对瞬时相位做微分运算，得到瞬时频率测试结果，瞬时相位表示如下：
φ＝arctan(Q/I) (10)；
fM＝fs×(φi-φi-1)/(2π) (11)；
其中，φi、φi-1分别表示当前时刻解调的瞬时相位和上一个时刻的瞬时相位，结合公式(10)和(11)，计算出瞬时频率测量时的fM1、fM2、fM3和fM4。
本发明的基本工作原理如下：
由于支持的输入信号频率范围很宽，为了方便后端统一处理，前端将输入信号划分为两段。一段覆盖射频微波频段，输入信号直接送至后面，另一段覆盖毫米波频段，输入信号经点频源基波下混频、带通滤波之后，将被测信号频率搬移至射频微波频段后送后面处理。前端处理后的射频微波信号经功分器功分产生两路待测射频微波信号，送至两个取样混频通道。第一取样混频通道的取样本振有两个，两者输出频率固定、相差一个较小的频率，相差频率应大于瞬时测频误差，在已知两路取样本振频率的情况下，通过取样混频通道中频信号的频率，就可以推算出待测射频微波信号的真实频率以及被测信号的频率。取样混频时，如果被测信号频率落在取样本振频率整数加一半取样本振频率附近时，镜频会落在测量与分析带宽内，影响被测信号频率的定位、导致测量错误，因此增加了第二取样混频通道来监测第一取样混频通道的盲区和模糊区，第二取样混频通道的取样本振频率近似为第一取样混频通道取样本振频率的一半。取样混频之后的中频信号，经低通滤波和低噪声放大后，送ADC采样完成模拟中频至数字中频的转换。依据检测的数字中频信号的幅度，调节中频放大器的增益，使数字中频信号的幅度达到合适的区间，以提高测试精度和灵敏度。数字中频信号依据需要进行信道划分，经数字正交下变频和抽取滤波之后产生基带I、Q信号，一路做FFT运算完成实时频谱分析，提供全局频谱监测图；一路通过CORDIC和微分运算完成瞬时频率测量，提供全局调制域监测图。
本发明所带来的有益技术效果：
本发明所实现的实时监测带宽可以达到26.5GHz，结合了实时频谱分析与瞬时频率解调，可以实现多域多频段的瞬时频率测试，可以满足大监测带宽高精度的瞬时频率测试需求，应用范围更广泛。
本发明所实现的动态范围和灵敏度更高，通过中频增益自适应调节，可以满足不同输入功率信号的瞬时测频需求，同时也可以提高了测频精度。
本发明的实现方案简洁、电路构成简单，技术成熟高、实现成本低，具有很好的性价比优势。
附图说明
图1为涉比相法瞬时测频方案框图。
图2为本发明瞬时频率测量装置原理框图。
图3为射频前端扩频实现方案示意图。
图4为数字信道处理单元实现框图。
具体实施方式
下面结合附图以及具体实施方式对本发明作进一步详细说明：
一种瞬时频率测量装置，如图2所示，包括射频处理单元、取样混频单元、中频处理单元、数字信道处理单位和运算单元；
射频处理单元，分直通和下变频两路，被配置为用于依据用户需要进行监测频段选择，将输入信号分为射频微波频段和微波毫米波频段两部分；微波毫米波频段经点频源下变频和带通滤波后，将频率搬移至射频微波频段；如图3所示；
取样混频单元，包括第一功分器和两个取样混频通道，每个取样混频通道均包括第二功分器、DDS和取样混频器；
第一功分器，被配置为用于将处理后的射频微波信号进行功分，产生两路待测射频微波信号，然后将两路待测射频微波信号传输至两个取样混频通道；
第二功分器，被配置为用于将待测射频微波信号又功分为两路，分别传输至取样混频器；
DDS，被配置为用于产生取样本振信号；
取样混频器，被配置为用于将经第二功分器功分后的信号与DDS产生的取样本振信号进行取样混频，产生中频信号；
第一取样混频通道的取样本振为200MHz±10kHz，经取样混频后，将被测信号频率搬移至DC～100MHz频率范围内，通过相差20kHz的两路取样本振混频产生两路中频信号，实现被测信号频率的实时定位；
第二取样混频通道的取样本振为100MHz±10kHz，经取样混频后，将被测信号频率同时频率搬移至DC～50MHz频率范围内，通过相差20kHz的两路取样本振混频产生中频信号，实现对被测信号频率的实时定位；
中频处理单元，包括低通滤波器、可变增益放大器、ADC和DAC；
低通滤波器，被配置为用于滤除分析带外的混频分量；
可变增益放大器，被配置为用于对中频信号进行放大；
ADC，被配置为用于将模拟中频信号转换成数字中频信号；
DAC，被配置为用于将数字中频信号转换成模拟电压信号，通过模拟电压信号对可变增益放大器进行放大量的控制；
数字信道处理单位，被配置为用于将数字中频信号依据需要进行信道划分，经过带通滤波、正交下变频、抽取滤波之后，产生I、Q两路基带信号，并对I、Q两路基带信号的频响进行补偿，消除I、Q不平衡引入的瞬时测频误差；
运算单元，被配置为用于将输入的I、Q两路基带信号分为两路，一路通过FFT运算产生实时频谱分析结果，另一路通过CORDIC算法提取信号的瞬时相位，在已知瞬时相位间隔时间的情况下，对瞬时相位做微分运算，得到瞬时频率测试结果。
该装置支持的监测频率范围为10MHz～40GHz，射频微波频段覆盖频率范围是10MHz～26.5GHz，毫米波频段覆盖频率范围是26.5GHz到40GHz，点频源频率在22～26GHz之间任意可选，例如点频源频率为24GHz时，射频前置扩频单元中带通滤波器通带频率为2.5～16GHz。经射频单元处理之后，待测信号频率搬移至10MHz～26.5GHz频段内。四路取样本振信号由同一型号的两个DDS芯片产生，每个DDS芯片可以产生同一个测量通道的两路取样本振，芯片型号为AD9959BCPZ，输入时钟频率100MHz经内部倍频产生500MHz的DDS芯片工作时钟，可以实现99.99MHz、100.01MHz、199.99MHz和200.01MHz四个频率同时输出。测量通道1低通滤波器LPF1的截止频率为75MHz，测量通道2低通滤波器LPF2的截止频率为25MHz，通过可变频增益放大器对中频信号进行放大。可变增益放大器选用型号为AD8331ARQZ，放大量分两档TTL电平可控，最小放大器分别为-4.5dB和7.5dB，通过0～1V电压可实现48dB增益连续可控制，四路可变增益放大器通过DAC器件产生的电压进行放大量控制，同时结合数字信号的高低档选择。DAC芯片选用的是AD7564BRS，它有四路输出、一个芯片即可满足可变增益放大器的电压控制需求。ADC芯片选用型号为AD9652BBCZ，输入时钟频率1GHz经内置分频器4分频，采样时钟频率为250MHz，该型ADC芯片单片集成有两路采样通道，可以满足一路测量通道的使用需求。数据处理和运算部分在FPGA中来实现，数字信道处理单元具体实现方案如图4所示，测量通道1取样混频滤波后，中频频率范围为0～75MHz，数字信道处理单元只分析处理了25～75MHz这段，将其划分为25～50MHz和50～75MHz两段；测量通道2取样混频滤波后，中频频率范围为0～25MHz，对应数字信道处理单元0～25MHz这段。FPGA中FFT、CORDIC算法都有相应的IP核，可以利用IP核来实现相应运算，当前时刻解调的相位减少上一时刻解调的相位、同时考虑相位的折返，就可以计算出瞬时频率。
当然，上述说明并非是对本发明的限制，本发明也并不仅限于上述举例，本技术领域的技术人员在本发明的实质范围内所做出的变化、改型、添加或替换，也应属于本发明的保护范围。

Claims (7)

1.一种瞬时频率测量装置，其特征在于：包括射频处理单元、取样混频单元、中频处理单元、数字信道处理单位和运算单元；
射频处理单元，分直通和下变频两路，被配置为用于依据用户需要进行监测频段选择，将输入信号分为射频微波频段和微波毫米波频段两部分；微波毫米波频段经点频源下变频和带通滤波后，将频率搬移至射频微波频段；
取样混频单元，包括第一功分器和两个取样混频通道，每个取样混频通道均包括第二功分器、DDS和取样混频器；
第一功分器，被配置为用于将处理后的射频微波信号进行功分，产生两路待测射频微波信号，然后将两路待测射频微波信号传输至两个取样混频通道；
第二功分器，被配置为用于将待测射频微波信号又功分为两路，分别传输至取样混频器；
DDS，被配置为用于产生取样本振信号；
取样混频器，被配置为用于将经第二功分器功分后的信号与DDS产生的取样本振信号进行取样混频，产生中频信号；
第一取样混频通道的取样本振为200MHz±10kHz，经取样混频后，将被测信号频率搬移至DC～100MHz频率范围内，通过相差20kHz的两路取样本振混频产生两路中频信号，实现被测信号频率的实时定位；
第二取样混频通道的取样本振为100MHz±10kHz，经取样混频后，将被测信号频率同时频率搬移至DC～50MHz频率范围内，通过相差20kHz的两路取样本振混频产生中频信号，实现对被测信号频率的实时定位；
中频处理单元，包括低通滤波器、可变增益放大器、ADC和DAC；
低通滤波器，被配置为用于滤除分析带外的混频分量；
可变增益放大器，被配置为用于对中频信号进行放大；
ADC，被配置为用于将模拟中频信号转换成数字中频信号；
DAC，被配置为用于将数字中频信号转换成模拟电压信号，通过模拟电压信号对可变增益放大器进行放大量的控制；
数字信道处理单位，被配置为用于将数字中频信号依据需要进行信道划分，经过带通滤波、正交下变频、抽取滤波之后，产生I、Q两路基带信号，并对I、Q两路基带信号的频响进行补偿，消除I、Q不平衡引入的瞬时测频误差；
运算单元，被配置为用于将输入的I、Q两路基带信号分为两路，一路通过FFT运算产生实时频谱分析结果，另一路通过CORDIC算法提取信号的瞬时相位，在已知瞬时相位间隔时间的情况下，对瞬时相位做微分运算，得到瞬时频率测试结果。
2.根据权利要求1所述的瞬时频率测量装置，其特征在于：射频微波频段覆盖的频率范围是10MHz～26.5GHz，毫米波频段覆盖的频率范围是26.5GHz～40GHz。
3.根据权利要求1所述的瞬时频率测量装置，其特征在于：DDS选用AD9959BCPZ芯片。
4.根据权利要求1所述的瞬时频率测量装置，其特征在于：可变增益放大器选用型号为AD8331ARQZ芯片。
5.根据权利要求1所述的瞬时频率测量装置，其特征在于：ADC选用AD9652BBCZ芯片。
6.根据权利要求1所述的瞬时频率测量装置，其特征在于：DAC选用AD7564BRS芯片。
7.一种瞬时频率测量方法，其特征在于：采用如权利要求1所述的一种瞬时频率测量装置，包括如下步骤：
步骤1：依据用户需要进行监测频段选择，通过射频处理单元将输入信号分为射频微波频段和微波毫米波频段两部分；微波毫米波频段经点频源下变频进行频率搬移；假设被测信号频率用fD来表示，点频源频率用fL来表示，那么经射频处理单元处理后的待测射频微波信号频率fR表示为：
fR＝fD射频微波频段 (1)；
fR＝fD-fL微波毫米波频段 (2)；
步骤2：第一测量通道的取样本振频率分别为fL1和fL2来表示，相应的取样混频后的中频信号频率分别为fM1和fM2，相应的取样本振下变频的谐波次数分别为M1和M2，那么输入射频微波信号，如公式(3)所示：
fR＝M1×fL1+fM1＝M2×fL2+fM2 (3)；
步骤3：第一测量通道的取样本振fL1和fL2相差很小，中频频率与相差频率之比远小于最大取样谐波次数，且信道划分时避开了模糊区、信道边界留有过渡余量，通过步骤3中措施能够保证M1与M2相等，因此由公式(3)计算出M1和M2，如公式(4)所示：
M1＝M2＝(fM1-fM2)/(fL2-fL1) (4)；
步骤4：第一测量通道测量得到的被测信号频率，如公式(5)、(6)所示：
fD＝(fM1-fM2)×fL1/(fL2-fL1)+fM1射频微波频段 (5)；
fD＝(fM1-fM2)×fL1/(fL2-fL1)+fM1+fL微波毫米波频段 (6)；
步骤5：第二测量通道的取样本振频率用fL3和fL4来表示，对应的取样混频后的中频频率分别为fM3和fM4，相应的取样本振下变频的谐波次数分别为M3和M4，第二测量通道测量得到的被测信号频率，如公式(7)、(8)所示：
fD＝(fM3-fM4)×fL3/(fL4-fL3)+fM3射频微波频段 (7)；
fD＝(fM3-fM4)×fL3/(fL4-fL3)+fM3+fL微波毫米波频段 (8)；
由公式(7)，计算出实时频谱分析时的fM1、fM2、fM3和fM4；
步骤6：通过数字信道处理单位将数字中频信号依据需要进行信道划分，经过带通滤波、正交下变频、抽取滤波之后，产生I、Q两路基带信号，一路通过FFT运算产生实时频谱分析结果，假设I、Q基带信号的数据更新频率为fs，FFT运算点数为N，那么第K个频域数据对应的中频频率fM可表示为：
fM＝fs×K/N (9)；
步骤7：另一路通过CORDIC算法提取信号的瞬时相位，在已知瞬时相位间隔时间的情况下，对瞬时相位做微分运算，得到瞬时频率测试结果，瞬时相位表示如下：
φ＝arctan(Q/I) (10)；
fM＝fs×(φi-φi-1)/(2π) (11)；
其中，φi、φi-1分别表示当前时刻解调的瞬时相位和上一个时刻的瞬时相位，结合公式(10)和(11)，计算出瞬时频率测量时的fM1、fM2、fM3和fM4。
CN201811344142.4A 2018-11-13 2018-11-13 一种瞬时频率测量装置及测量方法 Active CN109361477B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811344142.4A CN109361477B (zh) 2018-11-13 2018-11-13 一种瞬时频率测量装置及测量方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811344142.4A CN109361477B (zh) 2018-11-13 2018-11-13 一种瞬时频率测量装置及测量方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109361477A CN109361477A (zh) 2019-02-19
CN109361477B true CN109361477B (zh) 2021-04-13

Family

ID=65345030

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201811344142.4A Active CN109361477B (zh) 2018-11-13 2018-11-13 一种瞬时频率测量装置及测量方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109361477B (zh)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111896922B (zh) * 2020-08-06 2023-08-18 南京雷鹰电子科技有限公司 一种测量磁控管发射频率的方法
CN113075450B (zh) * 2021-02-22 2023-04-25 中国电子科技集团公司第二十九研究所 基于采样率解析宽带频率压缩信号射频和中频频率的方法
CN114839612A (zh) * 2022-07-04 2022-08-02 中国海洋大学 一种x波段瞬时测频接收机及其接收方法
CN117560030B (zh) * 2024-01-12 2024-04-23 成都世源频控技术股份有限公司 一种小型化的快速测频电路

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3251555B2 (ja) * 1998-12-10 2002-01-28 科学技術振興事業団 信号分析装置
CN102809686A (zh) * 2012-07-05 2012-12-05 北京邮电大学 扫频源瞬时频率检测方法与系统
CN103414453A (zh) * 2013-08-19 2013-11-27 北京无线电计量测试研究所 一种频率源短稳参数数字化检测方法及装置
CN104283625A (zh) * 2012-01-13 2015-01-14 上海创远仪器技术股份有限公司 基于谐波混频的超外差式谐波检测装置
CN106443177A (zh) * 2016-08-15 2017-02-22 中国电子科技集团公司第四十研究所 一种宽带宽频率捷变信号测量仪器及测量方法
CN108535540A (zh) * 2018-05-08 2018-09-14 成都信息工程大学 一种磁控管雷达发射频率瞬时测量的方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10214407C1 (de) * 2002-03-30 2003-06-18 Klippel Gmbh Anordnung und Verfahren zur Messung, Bewertung und Störungserkennung von Systemen

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3251555B2 (ja) * 1998-12-10 2002-01-28 科学技術振興事業団 信号分析装置
CN104283625A (zh) * 2012-01-13 2015-01-14 上海创远仪器技术股份有限公司 基于谐波混频的超外差式谐波检测装置
CN102809686A (zh) * 2012-07-05 2012-12-05 北京邮电大学 扫频源瞬时频率检测方法与系统
CN102809686B (zh) * 2012-07-05 2015-02-04 北京邮电大学 扫频源瞬时频率检测方法与系统
CN103414453A (zh) * 2013-08-19 2013-11-27 北京无线电计量测试研究所 一种频率源短稳参数数字化检测方法及装置
CN106443177A (zh) * 2016-08-15 2017-02-22 中国电子科技集团公司第四十研究所 一种宽带宽频率捷变信号测量仪器及测量方法
CN108535540A (zh) * 2018-05-08 2018-09-14 成都信息工程大学 一种磁控管雷达发射频率瞬时测量的方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Design of dual-channel circuit of P-band instantaneous polarization radar;Zhong Haolu;《2009 3rd IEEE International Symposium on Microwave, Antenna, Propagation and EMC Technologies for Wireless Communications》;20091218;580-583 *
基于FPGA的雷达信号中频数字侦收与高精度参数测量技术研究;周仟;《中国优秀硕士学位论文全文数据库 信息科技辑》;20071205;I136-497 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN109361477A (zh) 2019-02-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109361477B (zh) 一种瞬时频率测量装置及测量方法
Hentschel The six-port as a communications receiver
CN107015206B (zh) 自适应天线干扰检测系统及方法
WO2018032645A1 (zh) 一种宽带宽频率捷变信号测量仪器及测量方法
CN110554259B (zh) 适用于调制域的一体化矢量网络分析仪及测量方法
CN105306053A (zh) 一种基于数字锁相环的相位噪声测量装置及方法
CN107239611B (zh) 一种矢量信号分析装置及方法
CN106443122B (zh) 一种宽频带大动态信号高精度测量装置及方法
CN105227197B (zh) 一种x波段快速锁频接收方法
CN109975772B (zh) 一种多体制雷达干扰性能检测系统
CN109462414A (zh) 一种18-30GHz前端接收组件
CN105824020A (zh) 副载波调制的连续波多普勒雷达传感器及运动解调方法
CN110501678B (zh) 一种调频连续波雷达收发器
CN107479089B (zh) 一种功率检波器
US20080097710A1 (en) Method for Measuring the Phase Jitter of a High-Frequency Signal and a Measuring Device for the Implementation of This Method
CN112255593A (zh) 一种用于目标分类识别雷达的变频组件
CN209462364U (zh) 基于反相抵消机制提高接收机动态范围的电路结构
CN109150207B (zh) 一种自混频变频装置
LU101012B1 (en) A novel doppler radar circuit structure for suppressing DC bias
Boukari et al. A heterodyne six-port FMCW radar sensor architecture based on beat signal phase slope techniques
CN208836123U (zh) 一种18-30GHz前端接收组件
CN114401019B (zh) 一种大带宽高灵敏度接收前端电路
CN208691245U (zh) 一种基于软件无线电的超宽带数字卫星信标接收机
CN109474288B (zh) 基于反相抵消机制提高接收机动态范围的电路结构
CN112485768B (zh) 基于分倍频方式的高精度连续波测速雷达回波模拟方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB02 Change of applicant information
CB02 Change of applicant information

Address after: 266555 No. 98 Xiangjiang Road, Huangdao District, Qingdao City, Shandong Province

Applicant after: CLP kesiyi Technology Co.,Ltd.

Address before: 266555 No. 98 Xiangjiang Road, Huangdao District, Qingdao City, Shandong Province

Applicant before: CHINA ELECTRONIC TECHNOLOGY INSTRUMENTS Co.,Ltd.

GR01 Patent grant
GR01 Patent grant