CN109341704B - 一种地图精度确定方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种地图精度确定方法及装置，属于计算机技术领域，该方法包括：获取至少一对第一采样点分别对应的第一坐标，获取待检验地图中的待检验虚线的两个端点分别对应的第二坐标，针对待检验虚线的每个端点，确定出该端点对应的与该端点距离最近的目标第一采样点，针对待检验虚线的每个端点，根据该端点的第二坐标和该端点对应的目标第一采样点的第一坐标，计算出该端点与该端点对应的目标第一采样点，在坐标系下的不同方向上的第一方向差和第一距离差，将第一方向差和第一距离差确定为待检验地图的第一精度。其中，可自动确定出待检验地图的第一精度，提高了确定地图精度的效率。

Description

一种地图精度确定方法及装置
技术领域
本发明涉及计算机领域，具体涉及一种地图精度确定方法及装置。
背景技术
现有技术中，若要制作地图，便需要通过采样车，沿着道路中的虚线行驶，或者沿着某一车道的中轴线行驶，获取到行驶轨迹，然后再根据道路的各参数信息，制作出该道路对应的地图。上述各参数信息，可以是道路总宽度、道路包括的车道数量以及虚线长度等。例如，参见图1，图1为一条实际的三车道的示意图。
在制作出地图后，为了获知地图的精度，需要人工手动计算地图中的各虚线或各车道的中轴线，与实际道路中的对应的虚线或中轴线的差距，然后再人工手动计算出精度，这便会导致现有技术中的地图精度确定方法的效率较低。
发明内容
本发明实施例的目的在于提供一种地图精度确定方法及装置，用以解决现有技术中地图精度确定方法的效率较低的问题。
为实现上述目的，本发明实施例提供下述技术方案：
第一，本发明实施例提供一种地图精度确定方法，所述方法包括：
获取至少一对第一采样点分别对应的第一坐标，其中，每一对第一采样点，是实际道路中的任一条虚线的长度方向上的中轴线的两个端点；
获取待检验地图中的待检验虚线的两个端点分别对应的第二坐标，其中，每个第一坐标与每个第二坐标，是在同一坐标系下的坐标；
针对所述待检验虚线的每个端点，确定出该端点对应的与该端点距离最近的目标第一采样点；
针对所述待检验虚线的每个端点，根据该端点的第二坐标和该端点对应的目标第一采样点的第一坐标，计算出该端点与该端点对应的目标第一采样点，在所述坐标系下的第一方向差和第一距离差；
将所述第一方向差和所述第一距离差，确定为所述待检验地图的第一精度。
进一步的，针对所述待检验虚线的每个端点，确定出该端点对应的与该端点距离最近的目标第一采样点，具体包括：
将所述至少一对第一采样点添加到所述待检验地图中；
针对所述待检验虚线的每个端点，以该端点为圆心，以第一预设半径长度为半径做第一圆；
针对所述待检验虚线的每个端点对应的第一圆，判断落入该第一圆中的第一采样点的第一数量大于1还是等于1；
若判断出落入该第一圆中的第一采样点的第一数量等于1，则将落入该第一圆中的第一采样点，确定为该待检验虚线的端点对应的目标第一采样点；
若判断出落入该第一圆中的第一采样点的第一数量大于1，则将落入该第一圆中的、距离该第一圆的圆心距离最近的第一采样点，确定为该待检验虚线的端点对应的目标第一采样点。
进一步的，所述方法还包括：
获取至少一组第二采样点分别对应的第三坐标，其中，每一组第二采样点，是所述实际道路中的任一车道的中轴线上的至少两个点，每两个相邻第二采样点之间的距离为第一预设距离；
获取所述待检验地图中的待检验车道的中轴线上的至少两个待检验点对应的第四坐标，其中，每两个相邻待检验点之间的距离为所述第一预设距离；
针对每个待检验点，确定出该待检验点对应的距离最近的目标第二采样点；
针对每个目标第二采样点，根据该目标第二采样点对应的第三坐标，并根据至少两个第四坐标，确定出该目标第二采样点到所述待检验地图中的待检验车道的中轴线的第一最短距离；
计算出至少两个第一最短距离的平均值；
将所述至少两个第一最短距离的平均值，作为所述待检验地图的第二精度。
进一步的，针对每个待检验点，确定出该待检验点对应的距离最近的目标第二采样点，具体包括：
将所述至少一组第二采样点添加到所述待检验地图中；
针对所述每个待检验点，以该端点为圆心，以第二预设半径长度为半径做第二圆；
针对所述每个待检验点对应的第二圆，判断落入该第二圆中的第二采样点的第二数量大于1还是等于1；
若判断出落入该第二圆中的第二采样点的第二数量等于1，则将落入该第二圆中的第二采样点，确定为该待检验点对应的目标第二采样点；
若判断出落入该第二圆中的第二采样点的第二数量大于1，则将落入该第二圆中的、距离该第二圆的圆心距离最近的第二采样点，确定为该待检验点对应的目标第二采样点。
进一步的，所述方法还包括：
获取所述待检验地图中的待检验道路中的待检验车道的中轴线上的至少两个第三采样点分别对应的第五坐标；
获取预设的所述待检验地图中的不同道路与采样轨迹之间的对应关系；
根据所述预设的所述待检验地图中的不同道路与采样轨迹之间的对应关系，确定出所述待检验地图中的待检验道路对应的目标采样轨迹；
根据至少两个第五坐标，并根据所述目标采样轨迹，确定出所述待检验地图中的待检验道路中的待检验车道的中轴线上的每个第三采样点到所述目标采样轨迹的第二最短距离；
针对每个第二最短距离，判断该第二最短距离是否大于预设车道宽度的一半；
若判断结果为是，则判定该第二最短距离对应的第三采样点，位于所述目标采样轨迹所在的实际道路中的车道中；
若判断结果为否，则判定该第二最短距离对应的第三采样点，不位于所述目标采样轨迹所在的实际道路中的车道中。
进一步的，所述方法还包括：
获取两次采样结果，其中，不同采样结果，是针对所述实际道路中的不同位置进行采样得到的采样结果；
根据每次采样结果，生成该采样结果对应的待评估地图；
确定出待评估的两个待评估地图中的任一同一道路中的任一同一待评估虚线；
计算两个待评估虚线之间的方向差；
计算所述两个待评估虚线的每一同侧端点在所述坐标系下的不同方向上的第三距离差；
将所述两个待评估虚线之间的方向差和所述第三距离差，确定为所述两个待评估地图之间的误差；
或
确定出待评估的两个待评估地图中的任一同一道路中的任一同一车道的待评估中轴线；
计算两个待评估中轴线之间的平均距离；
将所述两个待评估中轴线之间的平均距离，确定为所述两个待评估地图之间的误差。
进一步的，确定出待评估的两个待评估地图中的任一同一道路中的任一同一待评估虚线，具体包括：
在一个待评估地图中，将任一道路中的任一虚线，确定为第一待评估虚线；
针对所述第一待评估虚线的每个端点，确定出该端点对应的距离最近的另一待评估地图中的虚线的点；
将确定出的所述另一待评估地图中的两个虚线的点组成的虚线，确定为第二待评估虚线；
将所述第一待评估虚线和所述第二待评估虚线，确定为待评估虚线；
则
针对所述第一待评估虚线的每个端点，确定出该端点对应的距离最近的所述另一待评估地图中的虚线的点，具体包括：
将所述另一待评估地图中的全部虚线的端点添加到所述一个待评估地图中；
针对所述第一待评估虚线的每个端点，以该端点为圆心，以第三预设半径长度为半径作第三圆；
针对所述第一待评估虚线的每个端点对应的第三圆，判断落入该第三圆中的所述另一待评估地图中的虚线的点的第三数量大于1还是等于1；
若判断出落入该第三圆中的所述另一待评估地图中的虚线的点的第三数量等于1，则将该点确定为该第一待评估虚线的端点对应的所述另一待评估地图中的虚线的点；
若判断出落入该第三圆中的所述另一待评估地图中的虚线的点的第三数量大于1，则将距离该第三圆的圆心距离最近的点，则将该点确定为该第一待评估虚线的端点对应的所述另一待评估地图中的虚线的点。
进一步的，确定出待评估的两个待评估地图中的任一同一道路中的任一同一车道的待评估中轴线，具体包括：
在一个待评估地图中，将任一道路中的任一车道的中轴线，确定为第一待评估中轴线；
确定出所述第一待评估中轴线中的至少一个待评估点；
针对所述第一待评估中轴线中的各待评估点，确定出该待评估点对应的距离最近的另一待评估地图中的中轴线的点；
将确定出的所述另一待评估地图中的两个中轴线的点组成的中轴线，确定为第二待评估中轴线；
将所述第一待评估中轴线和所述第二待评估中轴线，确定为待评估中轴线；
则
计算两个待评估中轴线之间的平均距离，具体包括：
将所述另一待评估地图中的全部中轴线的添加到所述一个待评估地图中；
针对所述第一待评估中轴线的各待评估点，以该待评估点为圆心，以第四预设半径长度为半径作第四圆；
针对每个待评估点对应的第四圆，判断落入该第四圆中的所述另一待评估地图中的中轴线的点的第四数量大于1还是等于1；
若判断出落入该第四圆中的所述另一待评估地图中的中轴线的点的第四数量等于1，则将该点确定为该待评估点对应的目标中轴线点；
若判断出落入该第四圆中的所述另一待评估地图中的中轴线的点的第四数量大于1，则将距离该待评估点最近的另一待评估地图中的中轴线的点，确定为该待评估点对应的目标中轴线点；
计算出每个目标中轴线点到所述第一待评估中轴线的第一距离；
计算出至少一个第一距离的平均值；
将所述至少一个第一距离的平均值，作为所述两个待评估中轴线之间的平均距离。
进一步的，所述方法应用于高精度地图领域。
第二，本发明实施例还提供一种地图精度确定装置，所述装置包括：
获取模块，用于获取至少一对第一采样点分别对应的第一坐标，其中，每一对第一采样点，是实际道路中的任一条虚线在宽度方向上的中轴线的两个端点；
所述获取模块，还用于获取待检验地图中的待检验虚线的两个端点分别对应的第二坐标，其中，每个第一坐标与每个第二坐标，是在同一坐标系下的坐标；
确定模块，用于针对所述待检验虚线的每个端点，确定出该端点对应的与该端点距离最近的目标第一采样点；
计算模块，用于针对所述待检验虚线的每个端点，根据该端点的第二坐标和该端点对应的目标第一采样点的第一坐标，计算出该端点与该端点对应的目标第一采样点，在所述坐标系下的不同方向上的第一距离差；
所述确定模块，还用于确定出两个目标第一采样点之间的连线，与所述待检验虚线之间的第一方向差；
所述确定模块，还用于将所述第一距离差和所述第一方向差，确定为所述待检验地图的第一精度。
本发明实施例具有如下优点：
本发明实施例中，可自动确定出人目标第一采样点，然后确定出待检验地图的第一精度，相较于现有技术来说，提高了确定地图精度的效率。
附图说明
图1为现有技术提供的一条实际的三车道的示意图；
图2为本发明实施例提供的一种地图精度确定方法的流程示意图；
图3为本发明实施例提供的添加第二采样点后的待检验地图的部分示意图；
图4为本发明实施例提供的针对图3中包括的中轴线做圆后的示意图；
图5为本发明实施例提供的针对图4中包括的中轴线做垂线后的示意图；
图6为本发明实施例提供的待检验车道的中轴线M和目标采样轨迹N的示意图；
图7为本发明实施例提供的一种地图精度确定装置的结构示意图。
具体实施方式
以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
实施例1
本发明实施例1提供一种地图精度确定方法，可应用于高精度地图领域，该方法的执行主体，可以但不限于为手机、平板电脑或个人电脑(Personal Computer，PC)等用户终端，或者该些用户终端上运行的应用(Application，APP)，或者，还可以是服务器等设备。
该方法的流程示意图可参见图2，图2中，该方法包括下述步骤：
步骤101，获取至少一对第一采样点分别对应的第一坐标。
其中，每一对第一采样点，是实际道路中的任一条虚线的长度方向上的中轴线的两个端点。虚线的外部轮廓为长方形，可沿着该长方形的长边所在方向作该长方形的中轴线，该中轴线的长度与该长方形的长度相同，该中轴线的两个端点，便分别为第一采样点。
步骤102，获取待检验地图中的待检验虚线的两个端点分别对应的第二坐标。
其中，每个第一坐标与每个第二坐标，是在同一坐标系下的坐标。
第一坐标和第二坐标，可能并非同一坐标系下的坐标，在本发明实施例中，可对第一坐标和第二坐标进行坐标转换，从而转换到同一坐标系下，这一转换过程属于现有技术，此处不再进行赘述。
步骤103，针对待检验虚线的每个端点，确定出该端点对应的与该端点距离最近的目标第一采样点。
本发明实施例中，可根据下述方法步骤确定出目标第一采样点：
步骤1031，将至少一对第一采样点添加到待检验地图中。
步骤1032，针对待检验虚线的每个端点，以该端点为圆心，以第一预设半径长度为半径做第一圆。
第一预设半径长度，可为任意长度，可根据实际情况进行设置。
步骤1033，针对待检验虚线的每个端点对应的第一圆，判断落入该第一圆中的第一采样点的第一数量大于1还是等于1。
若判断出落入该第一圆中的第一采样点的第一数量等于1，则执行步骤步骤1033；若判断出落入该第一圆中的第一采样点的第一数量大于1，则执行步骤1034。
步骤1033，将落入该第一圆中的第一采样点，确定为该待检验虚线的端点对应的目标第一采样点。
步骤1034，将落入该第一圆中的、距离该第一圆的圆心距离最近的第一采样点，确定为该待检验虚线的端点对应的目标第一采样点。
其中，在确定距离该第一圆的圆心距离最近的第一采样点时，可分别计算出落入第一圆中的各第一采样点与圆心的距离，将计算出的最小距离对应的第一采样点，确定为距离该第一圆的圆心距离最近的第一采样点。
现有技术中，是人工确定距离待检验虚线的每个端点最近的第一采样点的，导致效率较低，而本发明实施例中，可自动确定出，提高了效率。
步骤104，针对待检验虚线的每个端点，根据该端点的第二坐标和该端点对应的目标第一采样点的第一坐标，计算出该端点与该端点对应的目标第一采样点，在坐标系下的不同方向上的第一方向差和第一距离差。
本发明实施例中，坐标系可为三维坐标系，不同方向可为X轴、Y轴、Z轴方向。第一方向差，可以为任一端点的坐标减去该端点对应的目标第一采样点的坐标。第一距离差，为XY平面上的距离差。比如，任一端点的坐标为(X1，Y1，Z1)，该端点对应的目标第一采样点的坐标为(X2，Y2，Z2)，那么第一距离差为
Figure GDA0001842142180000091
步骤105，将第一方向差和第一距离差，确定为待检验地图的第一精度。
本发明实施例中，可自动确定出人目标第一采样点，然后自动确定出待检验地图的第一精度，相较于现有技术来说，提高了确定地图精度的效率。
在一种实施场景中，为了获取到待检验地图的第二精度，还可执行下述步骤：
步骤201，获取至少一组第二采样点分别对应的第三坐标。
其中，每一组第二采样点，是实际道路中的任一车道的中轴线上的至少两个点，每两个相邻第二采样点之间的距离为第一预设距离。
步骤202，获取待检验地图中的待检验车道的中轴线上的至少两个待检验点对应的第四坐标，其中，每两个相邻待检验点之间的距离为第一预设距离。
步骤203，针对每个待检验点，确定出该待检验点对应的距离最近的目标第二采样点。
本发明实施例中，可执行下述步骤来确定出目标第二采样点：
步骤2031，将至少一组第二采样点添加到待检验地图中。
步骤2032，针对每个待检验点，以该端点为圆心，以第二预设半径长度为半径做第二圆。
步骤2033，针对每个待检验点对应的第二圆，判断落入该第二圆中的第二采样点的第二数量大于1还是等于1。
步骤2034，若判断出落入该第二圆中的第二采样点的第二数量等于1，则将落入该第二圆中的第二采样点，确定为该待检验点对应的目标第二采样点。
步骤2035，若判断出落入该第二圆中的第二采样点的第二数量大于1，则将落入该第二圆中的、距离该第二圆的圆心距离最近的第二采样点，确定为该待检验点对应的目标第二采样点。
步骤204，针对每个目标第二采样点，根据该目标第二采样点对应的第三坐标，并根据至少两个第四坐标，确定出该目标第二采样点到待检验地图中的待检验车道的中轴线的第一最短距离。
其中，各个第一最短距离，可为各目标第二采样点到待检验地图中的待检验车道的中轴线的垂线的长度。可事先获取到待检验车道的中轴线的轨迹对应的轨迹坐标，根据轨迹坐标，并根据各目标第二采样点对应的第四坐标，计算出各第一最短距离。
步骤205，计算出至少两个第一最短距离的平均值。
步骤206，将至少两个第一最短距离的平均值，作为待检验地图的第二精度。
为了使得读者交容易理解是如何确定出第二精度的，下面举例说明，参见图3，直线W为待检验地图中的待检验车道的中轴线，直线W上的待检验点分别为待检验点A、B、C，图中的其他点为第二采样点。分别以待检验点A、B、C为圆心，以第二预设半径长度做第二圆，作完第一圆后的图可参见图4，图4中，落入各第二圆中的点的数量均为1，则将落入各第二圆中的点，确定位该圆对应的目标第二采样点。然后，分别做各目标第二采样点到曲线A的垂线，得到图5，计算出各垂线的距离，作为各第一最短距离。需要说明的是，图3～5是二维坐标系下的图。第二预设半径长度，可为任意长度，可根据实际情况进行设置。
在另一种实施场景中，为了获知在制作待检验地图前，是在某一道路中的哪个车道中采样的，可执行下述操作步骤：
步骤301，获取待检验地图中的待检验道路中的待检验车道的中轴线上的至少两个第三采样点分别对应的第五坐标。
步骤302，获取预设的待检验地图中的不同道路与采样轨迹之间的对应关系。
步骤303，根据预设的待检验地图中的不同道路与采样轨迹之间的对应关系，确定出待检验地图中的待检验道路对应的目标采样轨迹。
步骤304，根据至少两个第五坐标，并根据目标采样轨迹，确定出待检验地图中的待检验道路中的待检验车道的中轴线上的每个第三采样点到目标采样轨迹的第二最短距离。
计算出第二最短距离的方法可参见计算第一最短距离的方法，这里不再进行赘述。
例如，参见图6，图6为待检验车道的中轴线M，和目标采样轨迹N的示意图，分别做出M上的各第三采样点到N的垂线，计算出各垂线的距离，便为第二最短距离。
步骤305，针对每个第二最短距离，判断该第二最短距离是否大于预设车道宽度的一半。
预设车道宽度的一半，可以是任一长度，可根据实际情况进行设置。
步骤306，若判断结果为是，则判定该第二最短距离对应的第三采样点，位于所述目标采样轨迹所在的实际道路中的车道中。
步骤307，若判断结果为否，则判定该第二最短距离对应的第三采样点，不位于所述目标采样轨迹所在的实际道路中的车道中。
在另一种实施场景中，为了获知根据不同采样结果生成的同一道路对应的地图之间的误差，可执行下述操作步骤：
步骤401，获取两次采样结果。
其中，不同采样结果，是针对实际道路中的不同位置进行采样得到的采样结果。不同采样结果可以为不同的采样轨迹，比如一次采样轨迹是图1中示出的三车道中的左侧虚线，另一次采样轨迹是图1中示出的三车道中的右侧虚线。
步骤402，根据每次采样结果，生成该采样结果对应的待评估地图。
生成待评估地图的方法为现有技术中的生成方法，这里不再进行赘述。
步骤403，确定出待评估的两个待评估地图中的任一同一道路中的任一同一待评估虚线。
步骤404，计算两个待评估虚线之间的方向差。
步骤405，计算两个待评估虚线的每一同侧端点在坐标系下的不同方向上的第三距离差。
确定出待评估的两个待评估地图中的任一同一道路中的任一同一待评估虚线，具体包括：
在一个待评估地图中，将任一道路中的任一虚线，确定为第一待评估虚线；
针对第一待评估虚线的每个端点，确定出该端点对应的距离最近的另一待评估地图中的虚线的点；
将确定出的另一待评估地图中的两个虚线的点组成的虚线，确定为第二待评估虚线；
将第一待评估虚线和第二待评估虚线，确定为待评估虚线；
则
针对第一待评估虚线的每个端点，确定出该端点对应的距离最近的另一待评估地图中的虚线的点，具体包括：
将另一待评估地图中的全部虚线的端点添加到一个待评估地图中；
针对第一待评估虚线的每个端点，以该端点为圆心，以第三预设半径长度为半径作第三圆；
针对第一待评估虚线的每个端点对应的第三圆，判断落入该第三圆中的另一待评估地图中的虚线的点的第三数量大于1还是等于1；
若判断出落入该第三圆中的另一待评估地图中的虚线的点的第三数量等于1，则将该点确定为该第一待评估虚线的端点对应的另一待评估地图中的虚线的点；
若判断出落入该第三圆中的另一待评估地图中的虚线的点的第三数量大于1，则将距离该第三圆的圆心距离最近的点，则将该点确定为该第一待评估虚线的端点对应的另一待评估地图中的虚线的点。
步骤406，将两个待评估虚线之间的方向差和第三距离差，确定为两个待评估地图之间的误差。
或
步骤501，获取两次采样结果，其中，不同采样结果，是针对实际道路中的不同位置进行采样得到的采样结果。
步骤502，根据每次采样结果，生成该采样结果对应的待评估地图。
步骤503，确定出待评估的两个待评估地图中的任一同一道路中的任一同一车道的待评估中轴线。
步骤504，计算两个待评估中轴线之间的平均距离。
在一个待评估地图中，将任一道路中的任一车道的中轴线，确定为第一待评估中轴线；
确定出第一待评估中轴线中的至少一个待评估点；
针对第一待评估中轴线中的各待评估点，确定出该待评估点对应的距离最近的另一待评估地图中的中轴线的点；
将确定出的另一待评估地图中的两个中轴线的点组成的中轴线，确定为第二待评估中轴线；
将第一待评估中轴线和第二待评估中轴线，确定为待评估中轴线；
则
计算两个待评估中轴线之间的平均距离，具体包括：
将另一待评估地图中的全部中轴线的添加到一个待评估地图中；
针对第一待评估中轴线的各待评估点，以该待评估点为圆心，以第四预设半径长度为半径作第四圆；
针对每个待评估点对应的第四圆，判断落入该第四圆中的另一待评估地图中的中轴线的点的第四数量大于1还是等于1；
若判断出落入该第四圆中的另一待评估地图中的中轴线的点的第四数量等于1，则将该点确定为该待评估点对应的目标中轴线点；
若判断出落入该第四圆中的另一待评估地图中的中轴线的点的第四数量大于1，则将距离该待评估点最近的另一待评估地图中的中轴线的点，确定为该待评估点对应的目标中轴线点；
计算出每个目标中轴线点到第一待评估中轴线的第一距离；
计算出至少一个第一距离的平均值；
将至少一个第一距离的平均值，作为两个待评估中轴线之间的平均距离。
步骤505，将两个待评估中轴线之间的平均距离，确定为两个待评估地图之间的误差。
实施例2
本发明实施例2还提供一种地图精度确定装置，该装置的结构示意图可参见图7，图7中，该装置包括：
获取模块11，用于获取至少一对第一采样点分别对应的第一坐标，其中，每一对第一采样点，是实际道路中的任一条虚线在宽度方向上的中轴线的两个端点；
获取模块11，还用于获取待检验地图中的待检验虚线的两个端点分别对应的第二坐标，其中，每个第一坐标与每个第二坐标，是在同一坐标系下的坐标；
确定模块12，用于针对待检验虚线的每个端点，确定出该端点对应的与该端点距离最近的目标第一采样点；
计算模块13，用于针对待检验虚线的每个端点，根据该端点的第二坐标和该端点对应的目标第一采样点的第一坐标，计算出该端点与该端点对应的目标第一采样点，在坐标系下的不同方向上的第一距离差；
确定模块12，还用于确定出两个目标第一采样点之间的连线，与待检验虚线之间的第一方向差；
确定模块12，还用于将第一距离差和第一方向差，确定为待检验地图的第一精度。
上述实施例1和2中各技术特征可自由组合，本发明对此不进行任何限定。
虽然，上文中已经用一般性说明及具体实施例对本发明作了详尽的描述，但在本发明基础上，可以对之作一些修改或改进，这对本领域技术人员而言是显而易见的。因此，在不偏离本发明精神的基础上所做的这些修改或改进，均属于本发明要求保护的范围。

Claims (4)

1.一种地图精度确定方法，其特征在于，所述方法包括：
获取至少一对第一采样点分别对应的第一坐标，其中，每一对第一采样点，是实际道路中的任一条虚线的长度方向上的中轴线的两个端点；
获取待检验地图中的待检验虚线的两个端点分别对应的第二坐标，其中，每个第一坐标与每个第二坐标，是在同一坐标系下的坐标；
针对所述待检验虚线的每个端点，确定出该端点对应的与该端点距离最近的目标第一采样点；
针对所述待检验虚线的每个端点，根据该端点的第二坐标和该端点对应的目标第一采样点的第一坐标，计算出该端点与该端点对应的目标第一采样点，在所述坐标系下的第一方向差和第一距离差；
将所述第一方向差和所述第一距离差，确定为所述待检验地图的第一精度；
针对所述待检验虚线的每个端点，确定出该端点对应的与该端点距离最近的目标第一采样点，具体包括：
将所述至少一对第一采样点添加到所述待检验地图中；
针对所述待检验虚线的每个端点，以该端点为圆心，以第一预设半径长度为半径做第一圆；
针对所述待检验虚线的每个端点对应的第一圆，判断落入该第一圆中的第一采样点的第一数量大于1还是等于1；
若判断出落入该第一圆中的第一采样点的第一数量等于1，则将落入该第一圆中的第一采样点，确定为该待检验虚线的端点对应的目标第一采样点；
若判断出落入该第一圆中的第一采样点的第一数量大于1，则将落入该第一圆中的、距离该第一圆的圆心距离最近的第一采样点，确定为该待检验虚线的端点对应的目标第一采样点；
所述方法还包括：
获取至少一组第二采样点分别对应的第三坐标，其中，每一组第二采样点，是所述实际道路中的任一车道的中轴线上的至少两个点，每两个相邻第二采样点之间的距离为第一预设距离；
获取所述待检验地图中的待检验车道的中轴线上的至少两个待检验点对应的第四坐标，其中，每两个相邻待检验点之间的距离为所述第一预设距离；
针对每个待检验点，确定出该待检验点对应的距离最近的目标第二采样点；
针对每个目标第二采样点，根据该目标第二采样点对应的第三坐标，并根据至少两个第四坐标，确定出该目标第二采样点到所述待检验地图中的待检验车道的中轴线的第一最短距离；
计算出至少两个第一最短距离的平均值；
将所述至少两个第一最短距离的平均值，作为所述待检验地图的第二精度；
针对每个待检验点，确定出该待检验点对应的距离最近的目标第二采样点，具体包括：
将所述至少一组第二采样点添加到所述待检验地图中；
针对所述每个待检验点，以该端点为圆心，以第二预设半径长度为半径做第二圆；
针对所述每个待检验点对应的第二圆，判断落入该第二圆中的第二采样点的第二数量大于1还是等于1；
若判断出落入该第二圆中的第二采样点的第二数量等于1，则将落入该第二圆中的第二采样点，确定为该待检验点对应的目标第二采样点；
若判断出落入该第二圆中的第二采样点的第二数量大于1，则将落入该第二圆中的、距离该第二圆的圆心距离最近的第二采样点，确定为该待检验点对应的目标第二采样点；
所述方法还包括：
获取所述待检验地图中的待检验道路中的待检验车道的中轴线上的至少两个第三采样点分别对应的第五坐标；
获取预设的所述待检验地图中的不同道路与采样轨迹之间的对应关系；
根据所述预设的所述待检验地图中的不同道路与采样轨迹之间的对应关系，确定出所述待检验地图中的待检验道路对应的目标采样轨迹；
根据至少两个第五坐标，并根据所述目标采样轨迹，确定出所述待检验地图中的待检验道路中的待检验车道的中轴线上的每个第三采样点到所述目标采样轨迹的第二最短距离；
针对每个第二最短距离，判断该第二最短距离是否大于预设车道宽度的一半；
若判断结果为是，则判定该第二最短距离对应的第三采样点，位于所述目标采样轨迹所在的实际道路中的车道中；
若判断结果为否，则判定该第二最短距离对应的第三采样点，不位于所述目标采样轨迹所在的实际道路中的车道中；
所述方法还包括：
获取两次采样结果，其中，不同采样结果，是针对所述实际道路中的不同位置进行采样得到的采样结果；
根据每次采样结果，生成该采样结果对应的待评估地图；
确定出待评估的两个待评估地图中的任一同一道路中的任一同一待评估虚线；
计算两个待评估虚线之间的方向差；
计算所述两个待评估虚线的每一同侧端点在所述坐标系下的不同方向上的第三距离差；
将所述两个待评估虚线之间的方向差和所述第三距离差，确定为所述两个待评估地图之间的误差；
或
确定出待评估的两个待评估地图中的任一同一道路中的任一同一车道的待评估中轴线；
计算两个待评估中轴线之间的平均距离；
将所述两个待评估中轴线之间的平均距离，确定为所述两个待评估地图之间的误差；
确定出待评估的两个待评估地图中的任一同一道路中的任一同一待评估虚线，具体包括：
在一个待评估地图中，将任一道路中的任一虚线，确定为第一待评估虚线；
针对所述第一待评估虚线的每个端点，确定出该端点对应的距离最近的另一待评估地图中的虚线的点；
将确定出的所述另一待评估地图中的两个虚线的点组成的虚线，确定为第二待评估虚线；
将所述第一待评估虚线和所述第二待评估虚线，确定为待评估虚线；
则
针对所述第一待评估虚线的每个端点，确定出该端点对应的距离最近的所述另一待评估地图中的虚线的点，具体包括：
将所述另一待评估地图中的全部虚线的端点添加到所述一个待评估地图中；
针对所述第一待评估虚线的每个端点，以该端点为圆心，以第三预设半径长度为半径作第三圆；
针对所述第一待评估虚线的每个端点对应的第三圆，判断落入该第三圆中的所述另一待评估地图中的虚线的点的第三数量大于1还是等于1；
若判断出落入该第三圆中的所述另一待评估地图中的虚线的点的第三数量等于1，则将该点确定为该第一待评估虚线的端点对应的所述另一待评估地图中的虚线的点；
若判断出落入该第三圆中的所述另一待评估地图中的虚线的点的第三数量大于1，则将距离该第三圆的圆心距离最近的点，则将该点确定为该第一待评估虚线的端点对应的所述另一待评估地图中的虚线的点。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，确定出待评估的两个待评估地图中的任一同一道路中的任一同一车道的待评估中轴线，具体包括：
在一个待评估地图中，将任一道路中的任一车道的中轴线，确定为第一待评估中轴线；
确定出所述第一待评估中轴线中的至少一个待评估点；
针对所述第一待评估中轴线中的各待评估点，确定出该待评估点对应的距离最近的另一待评估地图中的中轴线的点；
将确定出的所述另一待评估地图中的两个中轴线的点组成的中轴线，确定为第二待评估中轴线；
将所述第一待评估中轴线和所述第二待评估中轴线，确定为待评估中轴线；
则
计算两个待评估中轴线之间的平均距离，具体包括：
将所述另一待评估地图中的全部中轴线的添加到所述一个待评估地图中；
针对所述第一待评估中轴线的各待评估点，以该待评估点为圆心，以第四预设半径长度为半径作第四圆；
针对每个待评估点对应的第四圆，判断落入该第四圆中的所述另一待评估地图中的中轴线的点的第四数量大于1还是等于1；
若判断出落入该第四圆中的所述另一待评估地图中的中轴线的点的第四数量等于1，则将该点确定为该待评估点对应的目标中轴线点；
若判断出落入该第四圆中的所述另一待评估地图中的中轴线的点的第四数量大于1，则将距离该待评估点最近的另一待评估地图中的中轴线的点，确定为该待评估点对应的目标中轴线点；
计算出每个目标中轴线点到所述第一待评估中轴线的第一距离；
计算出至少一个第一距离的平均值；
将所述至少一个第一距离的平均值，作为所述两个待评估中轴线之间的平均距离。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法应用于高精度地图领域。
4.一种基于权利要求1-3任一项所述方法的地图精度确定装置，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，用于获取至少一对第一采样点分别对应的第一坐标，其中，每一对第一采样点，是实际道路中的任一条虚线在长度方向上的中轴线的两个端点；
所述获取模块，还用于获取待检验地图中的待检验虚线的两个端点分别对应的第二坐标，其中，每个第一坐标与每个第二坐标，是在同一坐标系下的坐标；
确定模块，用于针对所述待检验虚线的每个端点，确定出该端点对应的与该端点距离最近的目标第一采样点；
计算模块，用于针对所述待检验虚线的每个端点，根据该端点的第二坐标和该端点对应的目标第一采样点的第一坐标，计算出该端点与该端点对应的目标第一采样点，在所述坐标系下的不同方向上的第一距离差；
所述确定模块，还用于确定出两个目标第一采样点之间的连线，与所述待检验虚线之间的第一方向差；
所述确定模块，还用于将所述第一距离差和所述第一方向差，确定为所述待检验地图的第一精度。
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