CN109341612A - 一种以非法向长圆孔为基准建立坐标系的方法 - Google Patents

一种以非法向长圆孔为基准建立坐标系的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109341612A
CN109341612A CN201811308110.9A CN201811308110A CN109341612A CN 109341612 A CN109341612 A CN 109341612A CN 201811308110 A CN201811308110 A CN 201811308110A CN 109341612 A CN109341612 A CN 109341612A
Authority
CN
China
Prior art keywords
datum
plane
hole
coordinate system
slotted hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201811308110.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109341612B (zh
Inventor
代建设
闻丽
丁圣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xian Aircraft Industry Group Co Ltd
Original Assignee
Xian Aircraft Industry Group Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xian Aircraft Industry Group Co Ltd filed Critical Xian Aircraft Industry Group Co Ltd
Priority to CN201811308110.9A priority Critical patent/CN109341612B/zh
Publication of CN109341612A publication Critical patent/CN109341612A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109341612B publication Critical patent/CN109341612B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

本申请公开了一种以非法向长圆孔为基准建立坐标系的方法，以待测工件的平面为第一基准平面，以垂直于平面的法向孔为第二基准孔，以非法向长圆孔为第三基准长圆孔，第一基准平面的矢量方向作为Z轴方向，第一基准平面作为Z轴方向的零平面；第二基准孔在第一基准平面的投影圆的圆心为测量坐标系X轴与Y轴的零点；第三基准长圆孔的两长直边平面中分面与Z平面相交获得相交直线；以第二基准孔到第三基准长圆孔中心的理论尺寸为半径构建圆，与交线相交获得交点；以投影圆圆心和交点构造直线，建立测量坐标系X轴方向，根据坐标系“右手定则”完成测量坐标系建立。

Description

一种以非法向长圆孔为基准建立坐标系的方法
技术领域
本发明属于数字化检测领域，是一种以非法向长圆孔为基准建立坐标系的方法。
背景技术
飞机生产线工装存在基准要素为非法向长圆孔的情况。这种产品设计以平面为第一基准，圆孔为第二基准，第三基准为矢量方向与第一基准面不垂直的非法向长圆孔。要求在此基准标注下对产品的孔位置度检测要素进行检测。
传统设计基准以平面、法向圆孔等作为基准元素。这些元素具有可直接用于建立测量基准的恒定矢量方向和零点。长圆孔在设计中往往作为被测量要素出现，以长圆孔作为基准元素，还有一些是非法向长圆孔。这些非法向长圆孔还具备以下设计特征：1.该非法向基准长圆孔的两半圆端头不具备高加工精度，不能用于产品质量控制；2.非法向基准长圆孔的两长直边具备较高加工精度，两长直边的对称中心到第二基准圆孔的尺寸得到控制保证。
第一基准平面和其矢量方向用于建立测量坐标系的第一轴与第一轴零点；第二基准圆孔在第一基准面上的投影圆用于建立测量坐标系第二轴零点和第三轴零点。非法向长圆孔做为第三基准，如何与第一基准和第二基准联合使用，建立测量坐标系的第二轴方向是该测量方法的核心问题。
如果长圆孔的半圆组成部分具有较高的加工精度，达到可以作为基准使用的条件，那么可以采用下述方法完成测量：测量两侧半圆孔并投影至第一基准平面，测量软件计算两投影圆的圆心的中分点，第二基准圆孔在第一基准平面的投影圆与中分点的连线建立测量坐标系的第二轴，完成测量。但是长圆孔两侧半圆部分加工精度不高，上述测量方法不具备使用条件。
发明内容
为了解决上述问题，本发明提供了一种以非法向长圆孔为基准建立坐标系的方法。通过本发明，能够对以非法向长圆孔为基准的飞机生产线工装进行测量。
一种以非法向长圆孔为基准建立坐标系的方法，以待测工件的平面为第一基准平面，以垂直于平面的法向孔为第二基准孔，以矢量方向与第一基准面不垂直的非法向长圆孔为第三基准长圆孔，包括以下步骤：
1测量第一基准平面，将第一基准平面的矢量方向定义为测量坐标系Z轴方向，第一基准平面作为Z轴方向的零平面；
2测量第二基准孔的中心坐标，定义第二基准孔在第一基准平面的投影圆的圆心为测量坐标系X轴与Y轴的零点；
3测量第三基准长圆孔的两长直边平面，用测量机软件功能对两平面求中分获得中分面，将中分面与第一基准平面相交获得相交直线；
4以第二基准孔在第一基准平面的投影圆的圆心为圆心，以第二基准孔到第三基准长圆孔中心的理论尺寸为半径构建圆，该圆与步骤3中获得的交线相交，获得交点；
5以第二基准孔在第一基准平面的投影圆圆心和步骤4中获得的交点构造直线，建立测量坐标系X轴方向，根据坐标系“右手定则”，Y轴方向同时确定；完成测量坐标系建立。
本发明通过分析长圆孔加工状态，提出一种使用长圆孔长直边平面建立测量坐标系的方法，解决了飞机生产线工装以非法向长圆孔作为基准的测量问题。
附图说明
图1建立坐标系Z轴示意图
图2建立坐标系X和Y轴示意图。
图中编号说明：1、第一基准平面；2、第二基准孔；3、第三基准长圆孔
具体实施方式
如图1、2所示，在飞机生产线工装测量中以非法向长圆孔为基准建立坐标系，以待测工件的平面为第一基准平面1，以垂直于平面的法向孔为第二基准孔2，以矢量方向与第一基准面不垂直的非法向长圆孔为第三基准长圆孔3，包括以下步骤：
1测量第一基准平面1，将第一基准平面1的矢量方向定义为测量坐标系Z轴方向，第一基准平面1作为Z轴方向的零平面；
2测量第二基准孔2的中心坐标，定义第二基准孔2在第一基准平面1的投影圆的圆心为测量坐标系X轴与Y轴的零点；
3测量第三基准长圆孔3的两长直边平面，用测量机软件功能对两平面求中分获得中分面，将中分面与第一基准平面1相交获得相交直线；
4以第二基准孔2在第一基准平面1的投影圆的圆心为圆心，以第二基准孔2到第三基准长圆孔3中心的理论尺寸为半径构建圆，该圆与步骤3中获得的交线相交，获得交点；
5以第二基准孔2在第一基准平面1的投影圆圆心和步骤4中获得的交点构造直线，建立测量坐标系X轴方向，根据坐标系“右手定则”，Y轴方向同时确定；完成测量坐标系建立。

Claims (1)

1.一种以非法向长圆孔为基准建立坐标系的方法，以待测工件的平面为第一基准平面，以垂直于平面的法向孔为第二基准孔，以矢量方向与第一基准面不垂直的非法向长圆孔为第三基准长圆孔，其特征在于包括以下步骤：
1-1测量第一基准平面，将第一基准平面的矢量方向定义为测量坐标系Z轴方向，第一基准平面作为Z轴方向的零平面；
1-2测量第二基准孔的中心坐标，定义第二基准孔在第一基准平面的投影圆的圆心为测量坐标系X轴与Y轴的零点；
1-3测量第三基准长圆孔的两长直边平面，用测量机软件功能对两平面求中分获得中分面，将中分面与第一基准平面相交获得相交直线；
1-4以第二基准孔在第一基准平面的投影圆的圆心为圆心，以第二基准孔到第三基准长圆孔中心的理论尺寸为半径构建圆，该圆与步骤1-3中获得的交线相交，获得交点；
1-5以第二基准孔在第一基准平面的投影圆圆心和步骤1-4中获得的交点构造直线，建立测量坐标系X轴方向，根据坐标系“右手定则”，Y轴方向同时确定；完成测量坐标系建立。
CN201811308110.9A 2018-11-05 2018-11-05 一种以非法向长圆孔为基准建立坐标系的方法 Active CN109341612B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811308110.9A CN109341612B (zh) 2018-11-05 2018-11-05 一种以非法向长圆孔为基准建立坐标系的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811308110.9A CN109341612B (zh) 2018-11-05 2018-11-05 一种以非法向长圆孔为基准建立坐标系的方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109341612A true CN109341612A (zh) 2019-02-15
CN109341612B CN109341612B (zh) 2020-11-13

Family

ID=65313768

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201811308110.9A Active CN109341612B (zh) 2018-11-05 2018-11-05 一种以非法向长圆孔为基准建立坐标系的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109341612B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110726368A (zh) * 2019-10-15 2020-01-24 广东长盈精密技术有限公司 产品中心的机械坐标的获取方法
CN118654609A (zh) * 2024-08-19 2024-09-17 广州广合科技股份有限公司 一种pcb偏孔检测方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11264727A (ja) * 1998-03-18 1999-09-28 Nissan Motor Co Ltd 三次元計測器による長孔計測方法
CN101907455A (zh) * 2010-01-19 2010-12-08 奇瑞汽车股份有限公司 与基准面不垂直定位销的三坐标测量方法
CN104440384A (zh) * 2014-10-15 2015-03-25 中航飞机股份有限公司西安飞机分公司 一种建立工件数控加工坐标系的方法
CN105547206A (zh) * 2015-12-10 2016-05-04 广东长盈精密技术有限公司 工件尺寸的测量方法
CN105716552A (zh) * 2015-05-28 2016-06-29 中国电子科技集团公司第四十一研究所 太赫兹波导法兰定位销钉孔位置度的判定方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11264727A (ja) * 1998-03-18 1999-09-28 Nissan Motor Co Ltd 三次元計測器による長孔計測方法
CN101907455A (zh) * 2010-01-19 2010-12-08 奇瑞汽车股份有限公司 与基准面不垂直定位销的三坐标测量方法
CN104440384A (zh) * 2014-10-15 2015-03-25 中航飞机股份有限公司西安飞机分公司 一种建立工件数控加工坐标系的方法
CN105716552A (zh) * 2015-05-28 2016-06-29 中国电子科技集团公司第四十一研究所 太赫兹波导法兰定位销钉孔位置度的判定方法
CN105547206A (zh) * 2015-12-10 2016-05-04 广东长盈精密技术有限公司 工件尺寸的测量方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110726368A (zh) * 2019-10-15 2020-01-24 广东长盈精密技术有限公司 产品中心的机械坐标的获取方法
CN118654609A (zh) * 2024-08-19 2024-09-17 广州广合科技股份有限公司 一种pcb偏孔检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN109341612B (zh) 2020-11-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102183213B (zh) 一种基于相位测量偏折术的非球面镜检测方法
CN109032069B (zh) 一种采用电涡流位移传感器的非接触式R-test测量仪球心坐标计算方法
CN107570983B (zh) 一种曲面零件自动装配的方法及系统
CN104596390B (zh) 利用三坐标测量机实现多工位测量元素计算的方法
CN106403873B (zh) 一种基于曲面基准建立工件测量坐标系的方法
CN101907455B (zh) 与基准面不垂直定位销的三坐标测量方法
CN104764415A (zh) 桥梁钢结构三维测量检测系统及测量方法
CN102494641A (zh) 一种孔位轴线检测工具及其检测方法
CN102944163A (zh) 一种测量任意轴剖面环形燕尾槽轮廓度的装置及方法
US11934743B2 (en) Method for measuring the surface shape of a toric mirror
CN103542791A (zh) 法兰多参数集成测量方法及其测量装置
CN109341612A (zh) 一种以非法向长圆孔为基准建立坐标系的方法
CN105526885A (zh) 一种基于复合测头的锥孔锥角高精度检测方法
CN102445170A (zh) 一种钢结构构件检测方法
CN105758364A (zh) 非正交轴系激光经纬仪视准轴动态模型建立方法
CN104006786A (zh) 曲面法矢测量装置
CN104457522B (zh) 一种轴类零件键槽对称度的测量方法
CN106017315A (zh) 一种精确光学坐标检测方法
CN105651147B (zh) 一种测量槽口内固定点到投影面距离的转接器及测量方法
CN208872233U (zh) 一种工程项目用检测尺
CN105627918B (zh) 用于视觉精密测量的轴孔基准现场快速引出工装及方法
CN106643629A (zh) 一种管状结构内表面粗糙度测量计算方法
CN108195267B (zh) 一种利用三坐标测量机对多孔相交位置度的检测方法
CN104006781B (zh) 曲面法矢测量精度的计算方法
CN205138403U (zh) 一种检测空间相交孔对称度的量具

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant