CN109308236A - 一种热插拔功能测试方法、装置及相关设备 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种热插拔功能测试方法，包括根据接收的测试指令调取信息读取脚本；通过所述信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息；根据所述状态信息对所述热插拔相关寄存器进行配置；判断热插拔功能是否开启；若所述热插拔功能未开启，则返回所述通过所述信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息的步骤；若所述热插拔功能开启，则发出测试成功提示；该热插拔功能测试方法不仅有效地提高了测试结果的准确性，而且测试方式方便灵活，易于实现，节省了测试时间，避免了人力浪费，提高了测试效率。本申请还公开了一种热插拔功能测试装置、系统以及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。

Description

一种热插拔功能测试方法、装置及相关设备

技术领域

本申请涉及云计算数据中心技术领域，特别涉及一种热插拔功能测试方法，还涉及一种热插拔功能测试装置、系统、以及计算机可读存储介质。

背景技术

随着互联网的飞速发展，人们对数据信息的相关需求不断提升。在当前云计算时代，由于海量数据需要存储和读取，使得大量的硬盘部署于服务器和存储中心中。

其中，硬盘的热插拔功能提供了在不关闭系统，不切断电源的情况下取出、插入和更换硬盘的能力，从而提高了系统对灾难的及时恢复能力、扩展性和灵活性等。因此，热插拔的稳定性关乎整个控制中心的稳定性，在系统使用前都需要进行硬盘热插拔测试。

一般而言，在进行硬盘热插拔测试之前，首先需要确认当前系统是否支持热插拔功能。在现有技术中，当前系统的热插拔能力均需要由技术人员通过查看与热插拔功能相关的标志寄存器进行确认，以通过与寄存器标志位的相关说明进行对比分析，进一步确定该系统是否符合热插拔要求。然而，这种测试方式由于是人工进行操作的，其操作过程易于出错，给技术人员带来了不必要的麻烦，同时，该种测试方式在很大程度上造成了人力和时间的浪费，进一步降低了测试效率。

因此，如何准确且快速的完成系统硬盘热插拔功能的测试是本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种热插拔功能测试方法，该热插拔功能测试方法不仅有效地提高了测试结果的准确性，而且测试方式方便灵活，易于实现，节省了测试时间，避免了人力浪费，提高了测试效率；本申请的另一目的是提供一种热插拔功能测试装置、系统以及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。

为解决上述技术问题，本申请提供了一种热插拔功能测试方法，所述热插拔功能测试方法包括：

根据接收的测试指令调取信息读取脚本；

通过所述信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息；

根据所述状态信息对所述热插拔相关寄存器进行配置；

判断热插拔功能是否开启；

若所述热插拔功能未开启，则返回所述通过所述信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息的步骤；

若所述热插拔功能开启，则发出测试成功提示。

优选的，所述信息读取脚本包括PCIE功能信息读取脚本，插槽功能信息读取脚本，插槽控制信息读取脚本，硬盘资源预分配状态信息读取脚本；

则所述热插拔相关寄存器包括PCIE功能寄存器，插槽功能寄存器，插槽控制寄存器，硬盘资源预分配装置。

优选的，所述根据所述状态信息对所述热插拔相关寄存器进行配置之前，还包括：

对所述状态信息进行解析，获得解析后的状态信息。

优选的，所述根据所述状态信息对所述热插拔相关寄存器进行配置，包括：

判断所述热插拔相关寄存器是否支持自动配置功能；

若支持所述自动配置功能，则根据所述状态信息对所述热插拔相关寄存器进行自动配置；

若不支持所述自动配置功能，则发出配置提示，以便根据所述配置提示对所述热插拔相关寄存器进行配置。

优选的，判断热插拔功能是否开启，包括：

调用热插拔状态信息读取脚本；

通过所述热插拔状态信息读取脚本读取热插拔状态寄存器的当前状态；

根据所述当前状态判断所述热插拔功能是否开启。

优选的，所述返回所述通过所述信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息的步骤之前，还包括：

判断对所述热插拔相关寄存器的配置次数是否超出预设次数；

若未超出所述预设次数，则执行所述返回所述通过所述信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息的步骤；

若超出所述预设次数，则发出测试失败提示。

为解决上述技术问题，本申请还提供了一种热插拔功能测试装置，所述热插拔功能测试装置包括：

脚本调用模块，用于根据接收的测试指令调取信息读取脚本；

信息读取模块，用于通过所述信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息；

寄存器配置模块，用于根据所述状态信息对所述热插拔相关寄存器进行配置；

功能判断模块，用于判断热插拔功能是否开启；若所述热插拔功能未开启，则返回所述信息读取模块；若所述热插拔功能开启，则进入测试成功提示模块；

所述测试成功提示模块，用于发出测试成功提示。

优选的，所述热插拔功能测试装置还包括：

调试次数判断模块，用于判断对所述热插拔相关寄存器的配置次数是否超出预设次数；若未超出所述预设次数，则返回所述信息读取模块；若超出所述预设次数，则进入测试失败提示模块；

所述测试失败提示模块，用于发出测试失败提示。

为解决上述技术问题，本申请还提供了一种热插拔功能测试系统，所述热插拔功能测试系统包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于运行所述计算机程序时实现上述任意一种热插拔功能测试方法的步骤。

为解决上述技术问题，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一种热插拔功能测试方法的步骤。

本申请所提供的一种热插拔功能测试方法，包括根据接收的测试指令调取信息读取脚本；通过所述信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息；根据所述状态信息对所述热插拔相关寄存器进行配置；判断热插拔功能是否开启；若所述热插拔功能未开启，则返回所述通过所述信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息的步骤；若所述热插拔功能开启，则发出测试成功提示。

可见，本申请所提供的技术方案，通过设置系统热插拔相关寄存器的信息读取脚本完成对其相应状态信息的读取，进一步根据读取的状态信息对寄存器进行配置，以实现系统热插拔功能的调试，完成硬盘热插拔环境的自动检测。该测试方法只需通过执行相应的程序指令即可完成热插拔功能的测试，无需进行人工操作，因而有效提高了其测试结果的准确性，为产品的热插拔功能提供了可靠性保障。此外，该种测试方式方便灵活，易于实现，极大的节省了测试时间，避免了人力浪费，进一步提高了测试效率。

本申请所提供的一种热插拔功能测试装置、系统、硬盘以及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果，在此不再赘述。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本申请所提供的一种热插拔功能测试方法的流程示意图；

图2为本申请所提供的一种热插拔相关寄存器配置方法的流程示意图；

图3为本申请所提供的一种热插拔功能判断方法的流程示意图；

图4为本申请所提供的另一种热插拔功能测试方法的流程示意图；

图5为本申请所提供的一种热插拔功能测试装置的结构示意图；

图6为本申请所提供的另一种热插拔功能测试装置的结构示意图；

图7为本申请所提供的一种热插拔功能测试系统的结构示意图。

具体实施方式

本申请的核心是提供一种热插拔功能测试方法，该热插拔功能测试方法不仅有效地提高了测试结果的准确性，而且测试方式方便灵活，易于实现，节省了测试时间，避免了人力浪费，提高了测试效率；本申请的另一核心是提供一种热插拔功能测试装置、系统以及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。

在现有技术中，系统是否支持热插拔功能的测试方式一般是人工进行操作的，其操作过程易于出错，给技术人员带来了不必要的麻烦，同时，该种测试方式在很大程度上造成了人力和时间的浪费，降低了测试效率。为解决上述问题，本申请提供了一种热插拔功能的测试方法，该测试方法只需通过执行相应的程序指令即可完成热插拔功能的测试，无需进行人工操作，有效提高了其测试结果的准确性，为产品的热插拔功能提供了可靠性保障。此外，该种测试方式方便灵活，易于实现，节省了测试时间，避免了人力浪费，极大地提高了测试效率。

请参考图1，图1为本申请所提供的一种热插拔功能测试方法的流程示意图，该热插拔功能测试方法可以包括：

S101：根据接收的测试指令调取信息读取脚本；

具体的，为有效判断当前系统是否支持热插拔功能，可发送相应的测试指令至处理器，由处理器根据该测试指令完成上述热插拔功能的测试。进一步，处理器在接收到上述测试指令后，即可根据该测试指令调取相关的信息读取脚本，该信息读取脚本可对应于与热插拔功能相关的各个寄存器，即下述热插拔相关寄存器，通过运行不同的信息读取脚本即可读取获得相应热插拔相关寄存器的状态信息。

其中，上述信息读取脚本的数量与当前系统中的热插拔相关寄存器的数量相同，当然，对于不同的系统，其内部设置的热插拔相关寄存器的数量并不唯一，因此，上述信息读取脚本的数量也不唯一。此外，上述信息读取脚本可由技术人员预先根据其对应的热插拔相关寄存器进行编程设计获得，并存储于相应的存储介质中，以便处理器的后续调用。

另外，对于上述测试指令的获取方式，本申请同样不做具体限定，可由技术人员直接通过相应的客户端发送至处理器进行后续测试，也可以通过移动终端、遥控设备等实现，其具体实现方式并不影响本技术方案的实施。

S102：通过信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息；

具体的，在处理器完成各个信息读取脚本的调用后，即可运行各个信息读取脚本，以读取相应的热插拔相关寄存器当前的状态信息，进一步即可根据各个状态信息实现后续测试过程。其中，对于上述状态信息，可根据实际需求进行采集，并在信息脚本中进行相应的设置即可，例如可以为热插拔相关寄存器的状态位和标志位，本申请对此不做限定。

优选的，上述信息读取脚本可以包括PCIE功能信息读取脚本，插槽功能信息读取脚本，插槽控制信息读取脚本，硬盘资源预分配状态信息读取脚本；则上述热插拔相关寄存器可以包括PCIE功能寄存器，插槽功能寄存器，插槽控制寄存器，硬盘资源预分配装置。

具体的，本申请提供了较为具体的热插拔相关寄存器的类型，以及其发对应的信息读取脚本，如上述PCIE功能寄存器及对应的PCIE功能信息读取脚本，插槽功能寄存器及对应的插槽功能信息读取脚本，插槽控制寄存器及对应的插槽控制信息读取脚本，硬盘资源预分配装置及对应的硬盘资源预分配状态信息读取脚本。当然，以上仅为本申请所提供的几种类型，不同的系统中，其内部设置的热插拔相关寄存器的数量和种类并不完全相同，只需根据系统类型对信息读取脚本进行相应的编辑设计即可。

S103：根据状态信息对热插拔相关寄存器进行配置；

具体的，在本申请中，将上述状态信息设置为热插拔相关寄存器的状态位，进一步，处理器在获得各个状态位后，即可对各个状态位对应的热插拔相关寄存器进行相应的配置。此处，对热插拔相关寄存器的配置过程即为调试过程，一般而言，寄存器的状态位分为1和0，因此，此处对热插拔相关寄存器的配置即为由0置1或由1置0的调试过程。

作为一种优选实施例，请参考图2，图2为本申请所提供的一种热插拔相关寄存器配置方法的流程示意图，上述根据状态信息对热插拔相关寄存器进行配置，可以包括：

S301：判断热插拔相关寄存器是否支持自动配置功能；

S302：若支持自动配置功能，则根据状态信息对热插拔相关寄存器进行自动配置；

S303：若不支持自动配置功能，则发出配置提示，以便根据配置提示对热插拔相关寄存器进行配置。

具体的，对于系统中的热插拔相关寄存器，根据其类型的不同，有些可支持自动配置功能，有些则需要人工进行配置，因此，在对热插拔相关寄存器进行配置时，可先判断热插拔相关寄存器是否支持自动配置功能，如果支持，则直接根据获取的状态信息进行配置即可，如上述由0置1或由1置0的调试过程；如果不支持自动配置功能，则可以发出相应的配置提示，以便于技术人员可根据工作提示对其进行相应配置。对于不支持自动配置功能的热插拔相关寄存器，例如，只能通过BIOS进行设置的相关寄存器，以及相关组件等，其中，对于只能通过BIOS进行设置的相关寄存器，可直接给出从BIOS中设置的提示，对于不符合热插拔要求的相关组件，也可给出进行更换的提示；对于硬盘中未进行硬盘资源预分配或资源预分配不准确的，可给出正确进行硬盘资源预分配的提示；进一步，技术人员即可根据上述各个提示完成相应的配置操作，并完成热插拔功能测试。此外，对于上述提示给出的方式，可通过语音提示、客户端文字提示等方式实现，本申请对此不作任何限定。

作为一种优选实施例，上述根据状态信息对热插拔相关寄存器进行配置之前，还可以包括：对状态信息进行解析，获得解析后的状态信息。

具体的，本步骤旨在当处理器获得热插拔相关寄存器的状态信息后，可对其进行解析处理，以获得相应的解析后的状态信息，并根据解析后的状态信息实现当前系统是否支持热插拔功能的测试。当然，对于上述状态信息的解析方式，参照已有技术即可，其具体实现方式并不影响本技术方案的实施。

S104：判断热插拔功能是否开启；若热插拔功能未开启，则返回S102；若热插拔功能开启，则进入S105；

S105：发出测试成功提示。

具体的，在完成一次调试之后，即可判断当前系统的热插拔功能是否开启，如果处于未开启状态，则可以返回S102重新进行调试，如果处于开启状态，即可发出测试成功提示。其中，对于上述发出测试成功提示的方式，本申请不做限定，可以文字形式直接显示于客户端或移动终端的显示界面，也可以为语音提示等。当然，如果当前系统中的各个热插拔相关寄存器的标志位在经过所有调试后仍然未能发出测试成功提示，即可说明当前系统不支持热插拔功能，此时发出测试失败提示即可。

作为一种优选实施例，请参考图3，图3为本申请所提供的一种热插拔功能判断方法的流程示意图，上述判断热插拔功能是否开启的过程可以包括：

S401：调用热插拔状态信息读取脚本；

S402：通过热插拔状态信息读取脚本读取热插拔状态寄存器的当前状态；

S403：根据当前状态判断热插拔功能是否开启。

具体的，本申请提供了一种较为具体的系统热插拔功能是否开启地判断方式，可以通过读取相应的寄存器状态信息进行判断，因此，在完成对热插拔相关寄存器的配置后，即可调取热插拔状态信息读取脚本，该热插拔状态信息读取脚本与上述各个信息读取脚本的实现方式类似，本申请在此不再赘述；进一步，即可通过该热插拔状态信息读取脚本读取热插拔状态寄存器的当前状态，并根据该当前状态判断当前系统的热插拔功能是否开启。例如，当热插拔状态寄存器置为1时，可确定热插拔功能开启；当热插拔状态寄存器置为0时，可确定热插拔功能未开启。

当然，上述判断方式仅为本申请所提供的一种实施方式，并不唯一，也可通过相应的传感器实现上述当前状态的采集，或通过不同颜色、不同状态的指示灯等进行显示，其具体实现方式并不影响本技术方案的实施。

本申请所提供的热插拔功能测试方法，通过设置系统热插拔相关寄存器的信息读取脚本完成对其相应状态信息的读取，进一步根据读取的状态信息对寄存器进行配置，以实现系统热插拔功能的调试，完成硬盘热插拔环境的自动检测。该测试方法只需通过执行相应的程序指令即可完成热插拔功能的测试，无需进行人工操作，因而有效提高了其测试结果的准确性，为产品的热插拔功能提供了可靠性保障。此外，该种测试方式方便灵活，易于实现，极大的节省了测试时间，避免了人力浪费，进一步提高了测试效率。

在上述实施例的基础上，请参考图4，图4为本申请所提供的另一种热插拔功能测试方法的流程示意图。

作为一种优选实施例，上述返回通过信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息的步骤之前，还可以包括：

S600：判断对热插拔相关寄存器的配置次数是否超出预设次数；若未超出预设次数，则返回S200；若超出预设次数，则进入S700；

S700：发出测试失败提示。

具体的，为提高测试效率，可预先设置测试次数，即上述预设次数，若系统的热插拔功能处于未开启状态，则可进一步判断对热插拔相关寄存器的配置次数是否超出预设次数，若未超出预设次数，即可返回S102，重新进行调试以及测试即可，若超出预设次数，则说明当前系统不支持热插拔功能，此时，直接发出测试失败提示即可，由此，即可有效的提高系统热插拔功能的测试效率。

对于本申请实施例的其他部分，参照上一具体实施例即可，本申请在此不再赘述。

为解决上述问题，请参考图5，图5为本申请所提供的一种热插拔功能测试装置的结构示意图，该热插拔功能测试装置可以包括：

脚本调用模块10，用于根据接收的测试指令调取信息读取脚本；

信息读取模块20，用于通过信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息；

寄存器配置模块30，用于根据状态信息对热插拔相关寄存器进行配置；

功能判断模块40，用于判断热插拔功能是否开启；若热插拔功能未开启，则返回信息读取模块20；若热插拔功能开启，则进入测试成功提示模块50；

测试成功提示模块50，用于发出测试成功提示。

在上述实施例的基础上，请参考图6，图6为本申请所提供的另一种热插拔功能测试装置的结构示意图。

作为一种优选实施例，该热插拔功能测试装置还可以包括：

信息解析模块60，用于对状态信息进行解析，获得解析后的状态信息。

作为一种优选实施例，上述寄存器配置模块30可以包括：

配置判断子模块31，用于判断热插拔相关寄存器是否支持自动配置功能；

自动配置子模块32，用于若热插拔相关寄存器支持自动配置功能，则根据状态信息对热插拔相关寄存器进行自动配置；

配置提示子模块33，用于若热插拔相关寄存器不支持自动配置功能，则发出配置提示，以便根据配置提示对热插拔相关寄存器进行配置。

作为一种优选实施例，上述功能判断模块40可以包括：

脚本调用子模块41，用于调用热插拔状态信息读取脚本；

状态读取子模块42，用于通过热插拔状态信息读取脚本读取热插拔状态寄存器的当前状态；

功能判断子模块43，用于根据当前状态判断热插拔功能是否开启。

作为一种优选实施例，该热插拔功能测试装置还可以包括：

调试次数判断模块70，用于判断对热插拔相关寄存器的配置次数是否超出预设次数；若未超出预设次数，则返回信息读取模块20；若超出预设次数，则进入测试失败提示模块80；

测试失败提示模块80，用于发出测试失败提示。

对于本申请提供的装置的介绍请参照上述方法实施例，本申请在此不做赘述。

为解决上述问题，请参考图7，图7为本申请所提供的一种热插拔功能测试系统的结构示意图，该热插拔功能测试系统可以包括：

存储器1，用于存储计算机程序；

处理器2，用于运行计算机程序时可实现如下步骤：

根据接收的测试指令调取信息读取脚本；通过信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息；根据状态信息对热插拔相关寄存器进行配置；判断热插拔功能是否开启；若热插拔功能未开启，则返回通过信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息的步骤；若热插拔功能开启，则发出测试成功提示。

对于本申请提供的系统的介绍请参照上述方法实施例，本申请在此不做赘述。

为解决上述问题，本申请还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时可实现如下步骤：

根据接收的测试指令调取信息读取脚本；通过信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息；根据状态信息对热插拔相关寄存器进行配置；判断热插拔功能是否开启；若热插拔功能未开启，则返回通过信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息的步骤；若热插拔功能开启，则发出测试成功提示。

该计算机可读存储介质可以包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

对于本申请提供的计算机可读存储介质的介绍请参照上述方法实施例，本申请在此不做赘述。

说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。

以上对本申请所提供的热插拔功能测试方法、装置、系统、硬盘以及计算机可读存储介质进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以对本申请进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围要素。

Claims (10)

1.一种热插拔功能测试方法，其特征在于，包括：

根据接收的测试指令调取信息读取脚本；

通过所述信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息；

根据所述状态信息对所述热插拔相关寄存器进行配置；

判断热插拔功能是否开启；

若所述热插拔功能未开启，则返回所述通过所述信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息的步骤；

若所述热插拔功能开启，则发出测试成功提示。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述信息读取脚本包括PCIE功能信息读取脚本，插槽功能信息读取脚本，插槽控制信息读取脚本，硬盘资源预分配状态信息读取脚本；

则所述热插拔相关寄存器包括PCIE功能寄存器，插槽功能寄存器，插槽控制寄存器，硬盘资源预分配装置。

3.如权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述状态信息对所述热插拔相关寄存器进行配置之前，还包括：

对所述状态信息进行解析，获得解析后的状态信息。

4.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述状态信息对所述热插拔相关寄存器进行配置，包括：

判断所述热插拔相关寄存器是否支持自动配置功能；

若支持所述自动配置功能，则根据所述状态信息对所述热插拔相关寄存器进行自动配置；

若不支持所述自动配置功能，则发出配置提示，以便根据所述配置提示对所述热插拔相关寄存器进行配置。

5.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，判断热插拔功能是否开启，包括：

调用热插拔状态信息读取脚本；

通过所述热插拔状态信息读取脚本读取热插拔状态寄存器的当前状态；

根据所述当前状态判断所述热插拔功能是否开启。

6.如权利要求1至5任意一项所述的测试方法，其特征在于，所述返回所述通过所述信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息的步骤之前，还包括：

判断对所述热插拔相关寄存器的配置次数是否超出预设次数；

若未超出所述预设次数，则执行所述返回所述通过所述信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息的步骤；

若超出所述预设次数，则发出测试失败提示。

7.一种热插拔功能测试装置，其特征在于，包括：

脚本调用模块，用于根据接收的测试指令调取信息读取脚本；

信息读取模块，用于通过所述信息读取脚本读取热插拔相关寄存器的状态信息；

寄存器配置模块，用于根据所述状态信息对所述热插拔相关寄存器进行配置；

功能判断模块，用于判断热插拔功能是否开启；若所述热插拔功能未开启，则返回所述信息读取模块；若所述热插拔功能开启，则进入测试成功提示模块；

所述测试成功提示模块，用于发出测试成功提示。

8.如权利要求7所述的测试装置，其特征在于，还包括：

调试次数判断模块，用于判断对所述热插拔相关寄存器的配置次数是否超出预设次数；若未超出所述预设次数，则返回所述信息读取模块；若超出所述预设次数，则进入测试失败提示模块；

所述测试失败提示模块，用于发出测试失败提示。

9.一种热插拔功能测试系统，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于运行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任意一项所述的热插拔功能测试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任意一项所述的热插拔功能测试方法的步骤。