CN108153635B - 系统内存边缘测试方法、系统设备及计算机可读存储介质 - Google Patents

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Abstract

本申请公开了一种系统内存边缘测试方法系统设备及可读存储介质，其中，该方法包括：获取系统内存边缘测试指令，得到目标指令；根据所述目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果；通过预设串口输出所述测试结果。可见，本发明通过计算机程序或系统自动进行系统内存边缘的测试，与现有技术中，系统内存边缘的测试的每个步骤需要人工开启相比，大幅度提高了生产效率，对于服务器大规模生产具有重要的使用价值。

Description

系统内存边缘测试方法、系统设备及计算机可读存储介质
技术领域
本发明涉及服务器生产领域，特别涉及一种系统内存边缘测试方法、系统设备及计算机可读存储介质。
背景技术
内存边缘测试，是一种通过不同算法的读写操作来检验主板与内存兼容性的测试方法，是X86平台上设计过程中必须要做的一项测试。通常情况下这种测试仅限用于设计阶段的测试，由测试人员手动开启此功能，并通过串口工具完成测试结果收集，最后使用结果解析工具完成结果检验。此测试是一种极限测试，找出内存兼容性设计上的不足，根据测试结果完成设计优化，对保障产品质量起到非常重要的作用。
基于以上所述，现有技术的内存边缘测试仅用于设计测试阶段，依靠人工进行少数样品测试的方法执行效率上也是非常低的，更不能适用于大批量的内存边缘测试；总起来说，利用人工进行内存边缘测试生产效率很低。
因此，如何提高内存边缘测试的生产效率是本领域技术人员亟待解决的问题。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提供一种系统内存边缘测试方法、系统设备及计算机可读存储介质，提高内存边缘测试的生产效率。其具体方案如下：
一种系统内存边缘测试方法，包括：
获取系统内存边缘测试指令，得到目标指令；
根据所述目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果；
通过预设串口输出所述测试结果。
优选的，所述预设条件包括预设电压。
优选的，所述根据所述目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果的过程包括：
根据所述目标指令，调用边缘测试程序；
当相应的内存电压为预设电压时，在相应的内存地址写入参考数据并读取，得到读取数据；
比较所述读取数据与所述参考数据，得到测试结果。
优选的，所述预设条件包括预设内存延时值。
优选的，所述根据所述目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果的过程包括：
根据所述目标指令，调用边缘测试程序；
当相应的内存延时值为预设内存延时值时，在相应的内存地址写入参考数据并读取，得到读取数据；
比较所述读取数据与所述参考数据，得到测试结果。
优选的，所述通过预设串口输出所述测试结果的过程包括：
通过所述预设串口输出所述测试结果至BMC。
优选的，所述通过所述预设串口输出所述测试结果至BMC的过程包括：
通过所述预设串口输出所述测试结果至BMC，并以预设格式的文件保存。
相应的，本发明还提供了一种系统内存边缘测试系统，包括：
指令获取模块，用于获取系统内存边缘测试指令，得到目标指令；
测试模块，用于根据所述目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果；
结果输出模块，用于通过预设串口输出所述测试结果。
相应的，本发明还提供了一种系统内存边缘测试设备，所述系统内存边缘测试设备包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的系统内存边缘测试程序，所述系统内存边缘测试程序配置为实现如上述的系统内存边缘测试方法的步骤。
相应的，本发明还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有单芯片系统内存边缘测试程序，所述系统内存边缘测试程序被处理器执行时实现如上述的系统内存边缘测试方法的步骤。
本发明提供的一种系统内存边缘测试方法，包括：获取系统内存边缘测试指令，得到目标指令；根据目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果；通过预设串口输出测试结果。可见，本发明通过计算机程序或系统自动进行系统内存边缘的测试，与现有技术中，系统内存边缘的测试的每个步骤需要人工开启相比，大幅度提高了生产效率，对于服务器大规模生产具有重要的使用价值。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种系统内存边缘测试方法的流程图；
图2为本发明实施例提供的一种系统内存边缘测试系统的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例公开了一种系统内存边缘测试方法，如图1所示，包括：
步骤S11：获取系统内存边缘测试指令，得到目标指令。
需要进行说明的是，系统内存边缘测试指令为用户需要进行内存测试时发出的指令，可以利用操作系统的界面发出指令。至于目标指令采用的编码语言及具体的形式可以根据用户的实际需求进行编写。
步骤S12：根据目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果。
需要进行说明的是，在大规模生产线都利用生产管理OS(OS，Operating System，操作系统)来进行生产环节的操作管理时，本发明实施例中，将内存边缘测试的自动化开启脚本集成到这个OS内，在目标机器完成各种固件更新后，即可调用此脚本完成功能开启。即根据目标指令，根据上述脚本调用边缘测试程序，并开始测试。进一步的，测试的进行是有目的地进行测试，即需要在预设条件下进行测试，这里预设条件包括但不限于预设电压和预设内存延时。
需要进行进一步说明的是，当预设条件为预设电压时，内存边缘测试的过程具体为：
根据目标指令，调用边缘测试程序；当相应的内存电压为预设电压时，在相应的内存地址写入参考数据并读取，得到读取数据；比较读取数据与参考数据，得到测试结果。
需要进行进一步说明的是，当预设条件为预设内存延时值时，内存边缘测试的过程具体为：
根据目标指令，调用边缘测试程序；当相应的内存延时值为预设内存延时值时，在相应的内存地址写入参考数据并读取，得到读取数据；比较读取数据与参考数据，得到测试结果。
需要对上述内存测试过程进行解释说明的是，上述预设电压通常在1.2V左右，具体范围为1.1-1.3V。上述参考数据的格式包括但不限于0x5AA5数据形式。测试结果是将参考数据和读取数据进行比对，因此测试结果包括“fail”和“pass”，当然也包括测试出错的次数、错误地址等，必要情况下也可以是其他种类的信息数据。
步骤S13：通过预设串口输出测试结果。
需要进行说明的是，上述预设串口为用户根据实际需求进行设置。
具体地，上述步骤S13的过程具体可以是：通过预设串口输出测试结果至BMC(BMC，Base Board Controller，服务器上的管理单元)，并以预设格式的文件保存。具体的预设格式根据用户的需要进行确定。需要进一步说明的是，在操作系统重新启动到生产管理OS后，调用预先自动化脚本完成结果的检验，同时调用关闭内存边缘测试的脚本。在目标机器下次重启后完成功能关闭动作。
综上，本发明实施例提供的一种系统内存边缘测试方法，包括：获取系统内存边缘测试指令，得到目标指令；根据目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果；通过预设串口输出测试结果。可见，本发明通过计算机程序或系统自动进行系统内存边缘的测试，与现有技术中，系统内存边缘的测试的每个步骤需要人工开启相比，实现了自动化测试，大幅度提高了生产效率，对于服务器大规模生产具有重要的使用价值。
本发明实施例还提供了一种系统内存边缘测试方法的具体实施方式，包括以下步骤：
步骤一：将内存边缘测试的自动化开启脚本集成到这个OS内，在目标机器完成各种固件更新后，就可调用此脚本完成功能开启。
步骤二：系统重启后，在BIOS(BIOS，Basic Input Output System，基本输入输出系统)启动阶段将会在基于BIOS预设的电压值或内存延时等参数的环境下，对系统所接的内存进行顺序写入，读出，并检验的操作，同时记录下错误次数，错误地址。
步骤三、完成测试后，BIOS把结果输出到BMC保存为文件。系统重新启动到生产管理OS后，调用自动化脚本完成结果的检验，同时调用关闭内存边缘测试的脚本。在目标机器下次重启后完成功能关闭动作。
相应的，本发明实施例还提供了一种系统内存边缘测试系统，如图2所示，包括：
指令获取模块11，用于获取系统内存边缘测试指令，得到目标指令；
测试模块12，用于根据目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果；
需要进行进一步说明的是，当上述预设条件为预设电压时，内存边缘测试的过程具体为：
根据目标指令，调用边缘测试程序；当相应的内存电压为预设电压时，在相应的内存地址写入参考数据并读取，得到读取数据；比较读取数据与参考数据，得到测试结果。
需要进行进一步说明的是，当上述预设条件为预设内存延时值时，内存边缘测试的过程具体为：
根据目标指令，调用边缘测试程序；当相应的内存延时值为预设内存延时值时，在相应的内存地址写入参考数据并读取，得到读取数据；比较读取数据与参考数据，得到测试结果。
结果输出模块13，用于通过预设串口输出测试结果。
相应的，本发明实施例还提供了一种系统内存边缘测试设备，系统内存边缘测试设备包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的系统内存边缘测试程序，系统内存边缘测试程序配置为实现如上述的系统内存边缘测试方法的步骤。
相应的，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有单芯片系统内存边缘测试程序，系统内存边缘测试程序被处理器执行时实现如上述的系统内存边缘测试方法的步骤。
最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上对本发明所提供的一种系统内存边缘测试方法、系统设备及计算机可读存储介质进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (6)

1.一种系统内存边缘测试方法，其特征在于，包括：
获取系统内存边缘测试指令，得到目标指令；
根据所述目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果；
通过预设串口输出所述测试结果；
其中，若所述预设条件包括预设电压；
对应的，所述根据所述目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果的过程包括：
根据所述目标指令，调用边缘测试程序；
当相应的内存电压为预设电压时，在相应的内存地址写入参考数据并读取，得到读取数据；
比较所述读取数据与所述参考数据，得到测试结果；
若所述预设条件包括预设内存延时值；
对应的，所述根据所述目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果的过程包括：
根据所述目标指令，调用边缘测试程序；
当相应的内存延时值为预设内存延时值时，在相应的内存地址写入参考数据并读取，得到读取数据；
比较所述读取数据与所述参考数据，得到测试结果。
2.根据权利要求1所述的系统内存边缘测试方法，其特征在于，所述通过预设串口输出所述测试结果的过程包括：
通过所述预设串口输出所述测试结果至BMC。
3.根据权利要求2所述的系统内存边缘测试方法，其特征在于，所述通过所述预设串口输出所述测试结果至BMC的过程包括：
通过所述预设串口输出所述测试结果至BMC，并以预设格式的文件保存。
4.一种系统内存边缘测试系统，其特征在于，包括：
指令获取模块，用于获取系统内存边缘测试指令，得到目标指令；
测试模块，用于根据所述目标指令，调用边缘测试程序，在预设条件下进行测试，得到测试结果；
其中，若所述预设条件包括预设电压；
对应的，所述测试模块用于根据所述目标指令，调用边缘测试程序；当相应的内存电压为预设电压时，在相应的内存地址写入参考数据并读取，得到读取数据；比较所述读取数据与所述参考数据，得到测试结果；
若所述预设条件包括预设内存延时值；
对应的，所述测试模块用于根据所述目标指令，调用边缘测试程序；当相应的内存延时值为预设内存延时值时，在相应的内存地址写入参考数据并读取，得到读取数据；比较所述读取数据与所述参考数据，得到测试结果；
结果输出模块，用于通过预设串口输出所述测试结果。
5.一种系统内存边缘测试设备，其特征在于，所述系统内存边缘测试设备包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的系统内存边缘测试程序，所述系统内存边缘测试程序配置为实现如权利要求1或2所述的系统内存边缘测试方法的步骤。
6.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有单芯片系统内存边缘测试程序，所述系统内存边缘测试程序被处理器执行时实现如权利要求1或2所述的系统内存边缘测试方法的步骤。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113381901A (zh) * 2020-03-10 2021-09-10 阿里巴巴集团控股有限公司 设备测试系统、方法、装置、设备
CN113496758A (zh) * 2020-04-01 2021-10-12 森富科技股份有限公司 内存操作能力预测方法
CN115841842A (zh) * 2022-12-16 2023-03-24 深圳市章江科技有限公司 内存测试方法、系统及计算机可读存储介质

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103412807A (zh) * 2013-08-12 2013-11-27 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种内存检验测试系统
CN105094265A (zh) * 2014-05-07 2015-11-25 腾讯科技（深圳）有限公司 电量测试方法及装置
CN106250317A (zh) * 2016-08-10 2016-12-21 英业达科技有限公司 电子设备及其应用的测试方法及系统

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080256503A1 (en) * 2006-09-12 2008-10-16 International Business Machines Corporation Power management architecture and method of modulating oscillator frequency based on voltage supply
CN102012881B (zh) * 2010-11-29 2012-09-05 杭州中天微系统有限公司 基于总线监控器的系统芯片总线优先级动态配置装置
CN104978261B (zh) * 2014-04-03 2018-11-09 腾讯科技（深圳）有限公司 应用程序的测试方法、装置及系统
CN107368422A (zh) * 2017-08-02 2017-11-21 网易有道信息技术（北京）有限公司 一种应用程序app的测试方法、装置和介质

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103412807A (zh) * 2013-08-12 2013-11-27 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种内存检验测试系统
CN105094265A (zh) * 2014-05-07 2015-11-25 腾讯科技（深圳）有限公司 电量测试方法及装置
CN106250317A (zh) * 2016-08-10 2016-12-21 英业达科技有限公司 电子设备及其应用的测试方法及系统

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