CN113064804A - 记忆设备识别时间的统计方法、模组及存储介质 - Google Patents
记忆设备识别时间的统计方法、模组及存储介质 Download PDFInfo
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Abstract
本发明涉及一种记忆设备识别时间的统计方法、模组及存储介质，所述方法包括：确定目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器；确定所述目标设备中存储所述记忆设备相关信息的第二寄存器，其中，所述第二寄存器的数量包括多个；基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，并输出所述识别时间。如此可以自动统计记忆设备的识别时间，代替人工计时的方式，使得数据避免出现偏差，数据更加准确。
Description
技术领域
本发明涉及存储技术领域，尤其涉及一种记忆设备识别时间的统计方法、模组及存储介质。
背景技术
目前，对设备(例如，模组)进行记忆设备(例如，Trans-flashCard存储，TF卡)热插拔识别时间测试时，由于设备识别记忆设备花费的时间较短，且设备识别记忆设备成功之后，没有明显现象(例如，未存在相关提示来告知设备识别记忆设备成功)，故只能采用人工计时的方式统计设备识别记忆设备花费的时间(简称记忆设备识别时间)。如此采用人工计时的方式统计记忆设备识别时间，会存在偏差，数据不准确。
发明内容
为了解决上述采用人工计时的方式统计记忆设备识别时间，会存在偏差，数据不准确的技术问题，本发明提供了一种记忆设备识别时间的统计方法、模组、电子设备及存储介质。
第一方面，本发明提供了一种记忆设备识别时间的统计方法，所述方法包括：
确定目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器；
确定所述目标设备中存储所述记忆设备相关信息的第二寄存器，其中，所述第二寄存器的数量包括多个；
基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，并输出所述识别时间。
在一个可选的实施方式中，所述基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：
轮询检测所述第一寄存器中存储的信息是否发生变化；
在所述信息发生变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；
轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息；
在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时；
确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。
在一个可选的实施方式中，在所述插槽产生高低电平变化的情况下，所述信息发生变化。
在一个可选的实施方式中，所述相关信息至少包括下述之一：记忆设备内容、记忆设备类型、记忆设备格式、记忆设备容量；
所述方法还包括：输出所述记忆设备识别时间统计。
在一个可选的实施方式中，所述基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：
确定所述目标设备中预先设置的识别时间统计模式，其中，所述识别时间统计模式包括识别时间精确统计模式以及识别时间普通统计模式；
在所述识别时间统计模式为所述识别时间普通统计模式的情况下，基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。
在一个可选的实施方式中，所述方法还包括：
在所述识别时间统计模式为所述识别时间精确统计模式的情况下，基于所述插槽以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。
在一个可选的实施方式中，所述基于所述插槽以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：
轮询检测所述插槽是否产生高低电平变化；
在所述插槽产生高低电平变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；
轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息；
在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时；
确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。
在一个可选的实施方式中，所述识别时间统计模式具体可以通过以下方式预先设置：
确定所述记忆设备的记忆设备容量，并基于所述记忆设备容量预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式。
在一个可选的实施方式中，所述基于所述记忆设备容量预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式，包括：
判断所述记忆设备容量是否超过预设容量阈值；
在所述记忆设备容量超过所述预设容量阈值的情况下，预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式为识别时间普通统计模式；
在所述记忆设备容量未超过所述预设容量阈值的情况下，预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式为识别时间精确统计模式。
第二方面，本发明提供了一种记忆设备识别时间的统计模组，所述模组包括：
第一确定模块，用于确定目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器；
第二确定模块，用于确定所述目标设备中存储所述记忆设备相关信息的第二寄存器，其中，所述第二寄存器的数量包括多个；
时间统计模块，用于基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，并输出所述识别时间。
在一个可选的实施方式中，所述时间统计模块具体用于：
轮询检测所述第一寄存器中存储的信息是否发生变化；
在所述信息发生变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；
轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息；
在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时；
确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。
在一个可选的实施方式中，在所述插槽产生高低电平变化的情况下，所述信息发生变化。
在一个可选的实施方式中，所述相关信息至少包括下述之一：记忆设备内容、记忆设备类型、记忆设备格式、记忆设备容量；
所述模组还包括：信息输出模块，用于输出所述相关信息。
在一个可选的实施方式中，所述时间统计模块具体用于：
确定所述目标设备中预先设置的识别时间统计模式，其中，所述识别时间统计模式包括识别时间精确统计模式以及识别时间普通统计模式；
在所述识别时间统计模式为所述识别时间普通统计模式的情况下，基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。
在一个可选的实施方式中，所述时间统计模块还用于：
在所述识别时间统计模式为所述识别时间精确统计模式的情况下，基于所述插槽以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。
在一个可选的实施方式中，所述时间统计模块还具体用于：
轮询检测所述插槽是否产生高低电平变化；
在所述插槽产生高低电平变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；
轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息；
在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时；
确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。
在一个可选的实施方式中，所述模组还包括：
模式设置模块，用于确定所述记忆设备的记忆设备容量，并基于所述记忆设备容量预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式。
在一个可选的实施方式中，所述模式设置模块具体用于：
判断所述记忆设备容量是否超过预设容量阈值；
在所述记忆设备容量超过所述预设容量阈值的情况下，预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式为识别时间普通统计模式；
在所述记忆设备容量未超过所述预设容量阈值的情况下，预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式为识别时间精确统计模式。
第三方面，本发明提供了一种电子设备，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；
存储器，用于存放计算机程序；
处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现第一方面中任一项实施例所述的记忆设备识别时间的统计方法的步骤。
第四方面，本发明提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面中任一项实施例所述的记忆设备识别时间的统计方法的步骤。
本发明实施例提供的技术方案，通过确定目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器，以及确定目标设备中存储记忆设备相关信息的第二寄存器，从而基于第一寄存器以及第二寄存器，统计记忆设备的识别时间，并输出识别时间。如此可以自动统计记忆设备的识别时间，代替人工计时的方式，使得数据避免出现偏差，数据更加准确。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种记忆设备识别时间的统计方法的实施流程示意图；
图2为本发明实施例提供的另一种记忆设备识别时间的统计方法的实施流程示意图；
图3为本发明实施例提供的另一种记忆设备识别时间的统计方法的实施流程示意图；
图4为本发明实施例提供的一种记忆设备识别时间的精确统计方法的实施流程示意图；
图5为本发明实施例提供的一种识别时间统计模式的预先设置方法的实施流程示意图；
图6为本发明实施例提供的一种记忆设备识别时间的统计模组的结构示意图；
图7为本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
当前，在对目标设备(例如模组)进行记忆设备(例如，Trans-flash Card存储，TF卡)热插拔识别时间测试的过程中，当将记忆设备插入目标设备的插槽时，目标设备的插槽产生高低电平变化(例如，由高电平下降为低电平，或者由低电平上升为高电平)，导致相应寄存器中存储的信息发生变化(例如，由1变为0，或者由0变为1)，此时表明记忆设备插入目标设备的插槽，可以开始计时，相应的存储寄存器存储了记忆设备相关信息，此时表明记忆设备被目标设备成功识别，可以结束计时，自此可以自动统计出目标设备识别记忆设备花费的时间(简称记忆设备识别时间)，可以替代人工计时的方式，使得数据避免出现偏差，数据更加准确。
基于上述发明思想，如图1所示，为本发明实施例提供的一种记忆设备识别时间的统计方法的实施流程示意图，该方法具体可以由处理器执行，包括以下步骤：
S101，确定目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器。
在本发明实施例中，对于目标设备中记忆设备对应的插槽，存在相应的第一寄存器，可以确定该第一寄存器。
例如，对于模组中TF卡对应的TF卡插槽，存在相应寄存器，本发明实施例可以确定该相应寄存器。
需要说明的是，对于记忆设备，可以是TF卡，可以是内存卡，当然还可以是其他类型的记忆设备，本发明实施例对此不作限定。
需要说明的是，对于模组，可以是需要记忆设备的任意类型的模组，本发明实施例对此不作限定。
S102，确定所述目标设备中存储所述记忆设备相关信息的第二寄存器，其中，所述第二寄存器的数量包括多个。
在本发明实施例中，对于目标设备中，存在相应的第二寄存器，用于存储记忆设备相关信息，由此可以确定该第二寄存器，该第二寄存器的数量包括多个。
例如，对于模组中，存在相应的存储寄存器，用于存储TF卡相关信息，可以确定该存储寄存器，该存储寄存器的数量包括多个。
需要说明的是，对于记忆设备相关信息，至少包括下述之一：记忆设备内容、记忆设备类型、记忆设备格式、记忆设备容量，本发明实施例对此不作限定。
S103，基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，并输出所述识别时间。
对于目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器，以及目标设备中存储记忆设备相关信息的第二寄存器，本发明实施例可以基于该第一寄存器以及第二寄存器，统计记忆设备的识别时间，并输出该识别时间。如此可以自动统计记忆设备的识别时间，代替人工计时的方式，使得数据避免出现偏差，数据更加准确。
例如，对于模组中TF卡的TF卡插槽对应的相关寄存器，以及模组中存储TF卡相关信息的存储寄存器，本发明实施例可以基于该相关寄存器以及该存储寄存器，统计TF卡的识别时间，即模组识别TF卡花费的时间，并输出该识别时间。如此可以自动统计TF卡的识别时间，代替人工计时的方式，使得数据避免出现偏差，数据更加准确。
通过上述对本发明实施例提供的技术方案的描述，通过确定目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器，以及确定目标设备中存储记忆设备相关信息的第二寄存器，从而基于第一寄存器以及第二寄存器，统计记忆设备的识别时间，并输出识别时间。如此可以自动统计记忆设备的识别时间，代替人工计时的方式，使得数据避免出现偏差，数据更加准确。
为了实现基于该第一寄存器以及第二寄存器，统计记忆设备的识别时间，如图2所示，为本发明实施例提供的另一种记忆设备识别时间的统计方法的实施流程示意图，该方法具体可以由处理器执行，包括以下步骤：
S201，确定目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器。
在本发明实施例中，本步骤与上述步骤S101类似，本发明实施例在此不再一一赘述。
S202，确定所述目标设备中存储所述记忆设备相关信息的第二寄存器，其中，所述第二寄存器的数量包括多个。
在本发明实施例中，本步骤与上述步骤S102类似，本发明实施例在此不再一一赘述。
S203，轮询检测所述第一寄存器中存储的信息是否发生变化。
在本发明实施例中，对于目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器，可以轮询检测该第一寄存器中存储的信息是否发生变化。
例如，对于模组中TF卡的TF卡插槽相对应的相关寄存器，本发明实施例可以轮询检测该相关寄存器中存储的信息是否发生变化。
需要说明的是，对于目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器，本发明实施例可以遵循一定的周期，轮询检测该第一寄存器中存储的信息是否发生变化，本发明实施例对此不作限定。
S204，在所述信息发生变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时。
对于目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器，在该第一寄存器中存储的信息发生变化的情况下，此时表明记忆设备插入插槽，由此可以确定记忆设备插入插槽，并可以利用计时器开始计时。
例如，对于模组中TF卡的TF卡插槽相对应的相关寄存器，在该相关寄存器中存储的0由0变为1的情况下，此时表明TF卡插入TF卡插槽，由此可以确定TF卡插入TF卡插槽，并可以利用计时器开始计时。
例如，对于模组中TF卡的TF卡插槽相对应的相关寄存器，在该相关寄存器中存储的1由1变为0的情况下，此时表明TF卡插入TF卡插槽，由此可以确定TF卡插入TF卡插槽，并可以利用计时器开始计时。
需要说明的是，对于目标设备中记忆设备的插槽，在记忆设备插入该插槽的情况下，该插槽相应的会产生高低电平变化。由此，在插槽产生高低电平变化的情况下，将导致该第一寄存器中存储的信息发生变化。
S205，轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息。
在本发明实施例中，对于目标设备中存储记忆设备相关信息的第二寄存器，可以轮询检测该第二寄存器中是否存储记忆设备相关信息。
例如，对于模组中存储TF卡相关信息的存储寄存器，可以轮询检测该存储寄存器中是否存储了TF卡相关信息。
需要说明的是，对于目标设备中存储记忆设备相关信息的第二寄存器，本发明实施例可以遵循一定的周期，轮询检测该第二寄存器中是否存储记忆设备相关信息，本发明实施例对此不作限定。
S206，在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时。
对于目标设备中存储记忆设备相关信息的第二寄存器，在该第二寄存器存储了记忆设备相关信息的情况下，此时表明目标设备识别记忆设备成功，由此可以确定目标设备识别记忆设备成功，并利用计时器结束计时。
例如，对于模组中存储TF卡相关信息的存储寄存器，在该存储寄存器存储了TF卡相关信息的情况下，此时表明模组识别TF卡成功，由此可以确定模组识别TF卡成功，并利用计时器结束计时。
需要说明的是，对于TF卡相关信息，至少包括下述之一：TF卡内容、TF卡类型、TF卡格式、TF卡容量，本发明实施例对此不作限定。
S207，确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间，并输出所述识别时间。
对于计时器，可以确定该计时器统计的时间为记忆设备的识别时间，并输出该识别时间。此外，还可以输出记忆设备相关信息。
例如，对于计时器，可以确定该计时器统计的时间为TF卡的识别时间，并输出该识别时间。此外，还可以输出TF卡相关信息。
此外，对于不同的记忆设备，可以采用不同的策略统计识别时间，如图3所示，为本发明实施例提供的另一种记忆设备识别时间的统计方法的实施流程示意图，该方法具体可以由处理器执行，包括以下步骤：
S301，确定目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器。
在本发明实施例中，本步骤与上述步骤S101类似，本发明实施例在此不再一一赘述。
S302，确定所述目标设备中存储所述记忆设备相关信息的第二寄存器，其中，所述第二寄存器的数量包括多个。
在本发明实施例中，本步骤与上述步骤S102类似，本发明实施例在此不再一一赘述。
S303，确定所述目标设备中预先设置的识别时间统计模式，其中，所述识别时间统计模式包括识别时间精确统计模式以及识别时间普通统计模式。
在本发明实施例中，可以预先在目标设备中设置识别时间统计模式，对于该识别时间统计模式，包括识别时间精确统计模式以及识别时间普通统计模式。
例如，在本发明实施例中，可以预先在模组中设置识别时间统计模式，对于该识别时间统计模式，包括识别时间精确统计模式以及识别时间普通统计模式，如下表1所示。
| 识别时间统计模式 | 相应的指代参数 |
| 识别时间精确统计模式 | 1，指代识别时间精确统计模式 |
| 识别时间普通统计模式 | 0，指代识别时间普通统计模式 |
表1
基于此，本发明实施例可以确定目标设备中预先设置的识别时间统计模式。例如，基于上述表1，可以确定模组中预先设置的识别时间普通统计模式。
S304，在所述识别时间统计模式为所述识别时间普通统计模式的情况下，基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，并输出所述识别时间。
对于目标设备中预先设置的识别时间统计模式，在识别时间统计模式为识别时间普通统计模式的情况下，本发明实施例可以基于第一寄存器以及第二寄存器，统计记忆设备的识别时间，并输出识别时间，具体可以参考上述步骤S203～S207，本发明实施例在此不再一一赘述。
S305，在所述识别时间统计模式为所述识别时间精确统计模式的情况下，基于所述插槽以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，并输出所述识别时间。
对于目标设备中记忆设备的插槽，在记忆设备插入该插槽的情况下，该插槽相应的会产生高低电平变化，在插槽产生高低电平变化的情况下，将导致该第一寄存器中存储的信息发生变化，这期间将产生一定的时延，即该插槽相应的会产生高低电平变化，经过一段时间之后，该第一寄存器中存储的信息才会发生变化，故在统计记忆设备的识别时间的过程中，可以考虑加上这一段时间，使得记忆设备的识别时间统计数据更加准确。
故对于目标设备中预先设置的识别时间统计模式，在识别时间统计模式为识别时间精确统计模式的情况下，可以基于插槽以及第二寄存器，统计记忆设备的识别时间，并输出识别时间。例如，对于模组中预先设置的识别时间统计模式，在识别时间统计模式为识别时间精确统计模式的情况下，可以基于TF卡插槽以及存储寄存器，统计TF卡的识别时间，并输出识别时间。
具体地，为了更加精确的统计记忆设备的识别时间，如图4所示，为本发明实施例提供的一种记忆设备识别时间的精确统计方法的实施流程示意图，该方法具体可以由处理器执行，包括以下步骤：
S401，轮询检测所述插槽是否产生高低电平变化。
在本发明实施例，对于目标设备中记忆设备相对应的插槽，可以轮询检测该插槽是否产生高低电平变化。
例如，对于模组中TF卡的TF卡插槽，可以轮询检测该TF卡插槽是否产生高低电平变化。
需要说明的是，对于目标设备中记忆设备相对应的插槽，本发明实施例可以遵循一定的周期，轮询检测该插槽是否产生高低电平变化，本发明实施例对此不作限定。
S402，在所述插槽产生高低电平变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；
对于目标设备中记忆设备相对应的插槽，在该插槽产生高低电平变化的情况下，此时表明记忆设备插入插槽，由此可以确定记忆设备插入插槽，可以利用计时器开始计时。
例如，对于模组中TF卡相对应的TF卡插槽，在该TF卡插槽产生由高电平下降为低电平的高低电平变化的情况下，此时表明TF卡插入TF卡插槽，由此可以确定TF卡插入TF卡插槽，可以利用计时器开始计时。
例如，对于模组中TF卡相对应的TF卡插槽，在该TF卡插槽产生由低电平上升为高电平的高低电平变化的情况下，此时表明TF卡插入TF卡插槽，由此可以确定TF卡插入TF卡插槽，可以利用计时器开始计时。
S403，轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息。
在本发明实施例中，本步骤与上述步骤S205类似，本发明实施例在此不再一一赘述。
S404，在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时。
在本发明实施例中，本步骤与上述步骤S206类似，本发明实施例在此不再一一赘述。
S405，确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。
在本发明实施例中，本步骤与上述步骤S207类似，本发明实施例在此不再一一赘述。
此外，为了实现对于目标设备中的识别时间统计模式的预先设置，如图5所示，为本发明实施例提供的一种识别时间统计模式的预先设置方法的实施流程示意图，该方法可以由处理器执行，包括以下步骤：
S501，确定所述记忆设备的记忆设备容量。
在本发明实施例中，可以确定记忆设备的记忆设备容量。其中，可以由用户输入记忆设备的记忆设备容量，从而获取用户输入的记忆设备的记忆设备容量，由此确定记忆设备的记忆设备容量。
例如，可以由用户输入TF卡的容量：64GB，从而获取用户输入的TF卡的容量，由此确定TF卡的容量。
S502，基于所述记忆设备容量预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式。
对于记忆设备的记忆设备容量，本发明实施例可以基于该记忆设备的记忆设备容量，预先设置目标设备中的识别时间统计模式。
例如，对于TF卡的容量，本发明实施例可以基于该TF卡的容量，预先设置模组中的识别时间统计模式。
具体地，本发明实施例基于记忆设备的记忆设备容量，具体通过以下方式预先设置目标设备中的识别时间统计模式：
判断记忆设备容量是否超过预设容量阈值；在记忆设备容量超过预设容量阈值的情况下，预先设置目标设备中的识别时间统计模式为识别时间普通统计模式；在记忆设备容量未超过预设容量阈值的情况下，预先设置目标设备中的识别时间统计模式为识别时间精确统计模式。
例如，对于TF卡的容量，判断TF卡的容量是否超过预设容量阈值(比如32GB)，在TF卡的容量超过预设容量阈值的情况下，预先设置模组中的识别时间统计模式为识别时间普通统计模式，而在TF卡的容量未超过预设容量阈值的情况下，预先设置模组中的识别时间统计模式为识别时间精确统计模式。
需要说明的是，对于记忆设备的记忆设备容量，在记忆设备的记忆设备容量足够小的情况下，上述的时延在整个忆设备的识别时间中的占比较大，故在记忆设备容量未超过预设容量阈值的情况下，预先设置目标设备中的识别时间统计模式为识别时间精确统计模式；而在记忆设备的记忆设备容量足够大的情况下，上述的时延在整个忆设备的识别时间中的占比可以忽略不计，故在记忆设备容量超过预设容量阈值的情况下，预先设置目标设备中的识别时间统计模式为识别时间普通统计模式。
与上述方法实施例相对应，本发明实施例还提供了一种记忆设备识别时间的统计模组，如图6所示，该模组可以包括：第一确定模块610、第二确定模块620、时间统计模块630。
第一确定模块610，用于确定目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器；
第二确定模块620，用于确定所述目标设备中存储所述记忆设备相关信息的第二寄存器，其中，所述第二寄存器的数量包括多个；
时间统计模块630，用于基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，并输出所述识别时间。
在本发明实施例的具体实施方式中，所述时间统计模块630具体用于：
轮询检测所述第一寄存器中存储的信息是否发生变化；
在所述信息发生变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；
轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息；
在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时；
确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。
在本发明实施例的具体实施方式中，在所述插槽产生高低电平变化的情况下，所述信息发生变化。
在本发明实施例的具体实施方式中，所述相关信息至少包括下述之一：记忆设备内容、记忆设备类型、记忆设备格式、记忆设备容量；
所述模组还包括：信息输出模块，用于输出所述相关信息。
在本发明实施例的具体实施方式中，所述时间统计模块630具体用于：
确定所述目标设备中预先设置的识别时间统计模式，其中，所述识别时间统计模式包括识别时间精确统计模式以及识别时间普通统计模式；
在所述识别时间统计模式为所述识别时间普通统计模式的情况下，基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。
在本发明实施例的具体实施方式中，所述时间统计模块630还用于：
在所述识别时间统计模式为所述识别时间精确统计模式的情况下，基于所述插槽以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。
在本发明实施例的具体实施方式中，所述时间统计模块630还具体用于：
轮询检测所述插槽是否产生高低电平变化；
在所述插槽产生高低电平变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；
轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息；
在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时；
确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。
在本发明实施例的具体实施方式中，所述模组还包括：
模式设置模块，用于确定所述记忆设备的记忆设备容量，并基于所述记忆设备容量预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式。
在本发明实施例的具体实施方式中，所述模式设置模块具体用于：
判断所述记忆设备容量是否超过预设容量阈值；
在所述记忆设备容量超过所述预设容量阈值的情况下，预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式为识别时间普通统计模式；
在所述记忆设备容量未超过所述预设容量阈值的情况下，预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式为识别时间精确统计模式。
如图7所示，本发明实施例提供了一种电子设备(电子设备具体可以为能够实现定位通信功能的模组或包含模组的终端设备等，终端设备具体可以为移动终端和/或智能设备等，移动终端具体可以为手机、平板电脑、笔记本电脑等中的至少一种，智能设备具体可以为智能手表、智能冰箱、智能音箱、智能洗衣机、智能电视机等中的至少一种，模组具体可以为2G通信模组、3G通信模组、4G通信模组、5G通信模组、NB-IOT通信模组等中任意一种)，包括处理器71、通信接口72、存储器73和通信总线74，其中，处理器71，通信接口72，存储器73通过通信总线74完成相互间的通信，
存储器73，用于存放计算机程序；
在本发明一个实施例中，处理器71，用于执行存储器73上所存放的程序时，实现前述任意一个方法实施例提供的记忆设备识别时间的统计方法，包括：
确定目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器；
确定所述目标设备中存储所述记忆设备相关信息的第二寄存器，其中，所述第二寄存器的数量包括多个；
基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，并输出所述识别时间。
在一个可选的实施方式中，所述基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：
轮询检测所述第一寄存器中存储的信息是否发生变化；
在所述信息发生变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；
轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息；
在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时；
确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。
在一个可选的实施方式中，在所述插槽产生高低电平变化的情况下，所述信息发生变化。
在一个可选的实施方式中，所述相关信息至少包括下述之一：记忆设备内容、记忆设备类型、记忆设备格式、记忆设备容量；
所述方法还包括：输出所述记忆设备识别时间统计。
在一个可选的实施方式中，所述基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：
确定所述目标设备中预先设置的识别时间统计模式，其中，所述识别时间统计模式包括识别时间精确统计模式以及识别时间普通统计模式；
在所述识别时间统计模式为所述识别时间普通统计模式的情况下，基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。
在一个可选的实施方式中，所述方法还包括：
在所述识别时间统计模式为所述识别时间精确统计模式的情况下，基于所述插槽以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。
在一个可选的实施方式中，所述基于所述插槽以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：
轮询检测所述插槽是否产生高低电平变化；
在所述插槽产生高低电平变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；
轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息；
在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时；
确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。
在一个可选的实施方式中，所述识别时间统计模式具体可以通过以下方式预先设置：
确定所述记忆设备的记忆设备容量，并基于所述记忆设备容量预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式。
在一个可选的实施方式中，所述基于所述记忆设备容量预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式，包括：
判断所述记忆设备容量是否超过预设容量阈值；
在所述记忆设备容量超过所述预设容量阈值的情况下，预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式为识别时间普通统计模式；
在所述记忆设备容量未超过所述预设容量阈值的情况下，预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式为识别时间精确统计模式。
本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如前述任意一个方法实施例提供的记忆设备识别时间的统计方法的步骤，包括：
确定目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器；
确定所述目标设备中存储所述记忆设备相关信息的第二寄存器，其中，所述第二寄存器的数量包括多个；
基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，并输出所述识别时间。
在一个可选的实施方式中，所述基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：
轮询检测所述第一寄存器中存储的信息是否发生变化；
在所述信息发生变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；
轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息；
在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时；
确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。
在一个可选的实施方式中，在所述插槽产生高低电平变化的情况下，所述信息发生变化。
在一个可选的实施方式中，所述相关信息至少包括下述之一：记忆设备内容、记忆设备类型、记忆设备格式、记忆设备容量；
所述方法还包括：输出所述记忆设备识别时间统计。
在一个可选的实施方式中，所述基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：
确定所述目标设备中预先设置的识别时间统计模式，其中，所述识别时间统计模式包括识别时间精确统计模式以及识别时间普通统计模式；
在所述识别时间统计模式为所述识别时间普通统计模式的情况下，基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。
在一个可选的实施方式中，所述方法还包括：
在所述识别时间统计模式为所述识别时间精确统计模式的情况下，基于所述插槽以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。
在一个可选的实施方式中，所述基于所述插槽以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：
轮询检测所述插槽是否产生高低电平变化；
在所述插槽产生高低电平变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；
轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息；
在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时；
确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。
在一个可选的实施方式中，所述识别时间统计模式具体可以通过以下方式预先设置：
确定所述记忆设备的记忆设备容量，并基于所述记忆设备容量预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式。
在一个可选的实施方式中，所述基于所述记忆设备容量预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式，包括：
判断所述记忆设备容量是否超过预设容量阈值；
在所述记忆设备容量超过所述预设容量阈值的情况下，预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式为识别时间普通统计模式；
在所述记忆设备容量未超过所述预设容量阈值的情况下，预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式为识别时间精确统计模式。
需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (12)
1.一种记忆设备识别时间的统计方法，其特征在于，所述方法包括：
确定目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器；
确定所述目标设备中存储所述记忆设备相关信息的第二寄存器，其中，所述第二寄存器的数量包括多个；
基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，并输出所述识别时间。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：
轮询检测所述第一寄存器中存储的信息是否发生变化；
在所述信息发生变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；
轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息；
在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时；
确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述插槽产生高低电平变化的情况下，所述信息发生变化。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述相关信息至少包括下述之一：记忆设备内容、记忆设备类型、记忆设备格式、记忆设备容量；
所述方法还包括：输出所述相关信息。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：
确定所述目标设备中预先设置的识别时间统计模式，其中，所述识别时间统计模式包括识别时间精确统计模式以及识别时间普通统计模式；
在所述识别时间统计模式为所述识别时间普通统计模式的情况下，基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
在所述识别时间统计模式为所述识别时间精确统计模式的情况下，基于所述插槽以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于所述插槽以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：
轮询检测所述插槽是否产生高低电平变化；
在所述插槽产生高低电平变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；
轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息；
在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时；
确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。
8.根据权利要求5至7中任一项所述的方法，其特征在于，所述识别时间统计模式具体可以通过以下方式预先设置：
确定所述记忆设备的记忆设备容量，并基于所述记忆设备容量预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述基于所述记忆设备容量预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式，包括：
判断所述记忆设备容量是否超过预设容量阈值；
在所述记忆设备容量超过所述预设容量阈值的情况下，预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式为识别时间普通统计模式；
在所述记忆设备容量未超过所述预设容量阈值的情况下，预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式为识别时间精确统计模式。
10.一种记忆设备识别时间的统计模组，其特征在于，所述模组包括：
第一确定模块，用于确定目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器；
第二确定模块，用于确定所述目标设备中存储所述记忆设备相关信息的第二寄存器，其中，所述第二寄存器的数量包括多个；
时间统计模块，用于基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，并输出所述识别时间。
11.一种电子设备，其特征在于，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；
存储器，用于存放计算机程序；
处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现权利要求1-9中任一项所述的记忆设备识别时间的统计方法的步骤。
12.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-9中任一项所述的记忆设备识别时间的统计方法的步骤。
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