CN109282901A - 一种非制冷红外系统的分置式挡片校正方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种非制冷红外系统的分置式挡片校正方法,所述非制冷红外系统包括:前置式校正挡片(1),挡片电机(2),挡片电机线(3),红外成像光学镜头(6),非制冷红外探测器(8),挡片电机加电接口(4),挡片结构转接环(5)以及非制冷红外探测器结构转接环(7);将前置式校正挡片(1)置于红外成像光学镜头(6)之前,校正时引入因非制冷红外探测器(8)自身TEC温控系统热辐射在红外成像光学镜头(6)结构后表面杂散反射所形成的场景作为参照,进行单点校正,解决图像干扰亮斑问题。本发明优点在于通过挡片前置引入杂散辐射场景作为校正参照,消除图像干扰亮斑,简便易行。
Description
技术领域
本发明涉及一种校正方法,特别是一种非制冷红外系统的分置式挡片校正方法。
背景技术
目前常用的非制冷红外探测器多采用一体集成式挡片进行非均匀校正。即挡片位于非制冷红外探测器光敏元近前,在校正时挡片将光敏元全部遮挡,非制冷红外探测器对挡片自身的辐射进行采样并以该采样结果为基准计算各个光敏元的响应校正系数。然而非制冷红外探测器的TEC温控系统自身产生大量热辐射,该热辐射到达成像光学系统的结构后表面会形成杂散反射,这种杂散反射到达非制冷红外探测器光敏元上会造成干扰响应。
一体集成式挡片校正的缺点在于:在校正时,由于挡片直接遮挡在探测器光敏元之前阻断了杂散反射进入光敏元的光路,故只能以挡片自身的均匀辐射为依据计算校正系数得到均匀的输出图像。一旦校正完毕挡片打开,此时杂散反射不再被阻断即会重新进入探测器光敏元,形成干扰亮斑。所以该干扰亮斑无法通过一体集成式挡片进行校正消除。
发明内容
本发明目的在于提供一种非制冷红外系统的分置式挡片校正方法,采用非制冷红外探测器与校正挡片分离的方法,将校正挡片置于红外成像光学镜头之前,在校正时引入因非制冷红外探测器自身TEC温控系统热辐射在成像光学系统结构后表面杂散反射所形成的场景作为参照,解决由该杂散反射所导致的图像干扰亮斑问题。
针对上述技术问题,本发明的非制冷红外系统的分置式挡片校正方法,所述非制冷红外系统包括:前置式校正挡片,挡片电机,挡片电机线,红外成像光学镜头,非制冷红外探测器,挡片电机加电接口,挡片结构转接环以及非制冷红外探测器结构转接环。
所述系统工作时,将前置式校正挡片置于红外成像光学镜头前方,此两者通过挡片结构转接环固连,非校正状态时,挡片电机不加电,此时前置式校正挡片偏出至红外成像光学镜头外。非制冷红外探测器置于红外成像光学镜头后方,此两者通过非制冷红外探测器结构转接环固连。挡片电机线自挡片电机处引出,向后延伸至非制冷红外探测器处,与非制冷红外探测器侧壁的挡片电机加电接口相连。
所述系统需要校正时,非制冷红外探测器通过挡片电机加电接口对挡片电机加电,前置式校正挡片在挡片电机的带动下旋进至红外成像光学镜头正前方中央位置对红外成像光学镜头形成有效遮挡,在非制冷红外探测器光敏元上产生响应的只有前置式校正挡片自身的均匀辐射以及由非制冷红外探测器的TEC温控系统产生并在红外成像光学镜头结构后表面反射的杂散热辐射,此时以此包含了前置式校正挡片的均匀辐射和非制冷红外探测器TEC温控系统杂散热辐射的场景为依据,通过使用单点校正算法,即可将不均匀杂散辐射校正掉,从而获得均匀的背景图像。
本发明应用于非制冷红外系统中,为解决因非制冷红外探测器TEC温控系统热辐射在成像光学系统结构后表面形成杂散反射所导致的干扰亮斑问题,提供一种有效的校正方法。
本发明优点在于通过挡片前置引入杂散辐射场景作为校正参照,消除图像干扰亮斑,简便易行。
附图说明
图1是本发明提出的一种非制冷红外系统的分置式挡片校正方法在非校正状态的示意图;
图2是本发明提出的一种非制冷红外系统的分置式挡片校正方法在校正状态示意图;
图3是本发明提出的非制冷红外探测器TEC温控系统干扰热辐射示意图。
1.前置式校正挡片 2.挡片电机 3.挡片电机线 4.挡片电机加电接口 5.挡片结构转接环 6.红外成像光学镜头 7.非制冷红外探测器结构转接环 8.非制冷红外探测器9.红外成像光学镜头 10.光学镜头结构后表面 11.非制冷红外探测器光敏元 12.非制冷红外探测器TEC温控系统 13.非制冷红外探测器外壳 14.非制冷红外探测器TEC温控系统发出的干扰热辐射
具体实施方式
以下结合图1-3对本发明的具体实施方式进行详细说明。
本发明的非制冷红外系统的分置式挡片校正,包括:前置式校正挡片1,挡片电机2,挡片电机线3,红外成像光学镜头6,非制冷红外探测器8。还包括挡片电机加电接口4,挡片结构转接环5以及非制冷红外探测器结构转接环7。
工作时,将前置式校正挡片1置于红外成像光学镜头6前方,此两者通过挡片结构转接环5固连,非校正状态时,挡片电机2不加电,此时前置式校正挡片1偏出至红外成像光学镜头6外。非制冷红外探测器8置于红外成像光学镜头6后方,此两者通过非制冷红外探测器结构转接环7固连。挡片电机线3自挡片电机2处引出,向后延伸至非制冷红外探测器(8)处,与非制冷红外探测器(8)侧壁的挡片电机加电接口4相连。
需要校正时,非制冷红外探测器8通过挡片电机加电接口4对挡片电机2加电,前置式校正挡片1在挡片电机2的带动下旋进至红外成像光学镜头6正前方中央位置,对红外成像光学镜头6形成有效遮挡,此时外部的场景辐射因被前置式校正挡片1遮挡无法进入红外成像光学镜头6内,在非制冷红外探测器8光敏元上产生响应的只有前置式校正挡片1自身的均匀辐射以及由非制冷红外探测器8的TEC温控系统产生并在红外成像光学镜头6结构后表面反射的杂散热辐射,此时以此包含了前置式校正挡片1的均匀辐射和非制冷红外探测器8的TEC温控系统杂散热辐射的场景为依据,通过使用单点校正算法,即可将不均匀杂散热辐射校正掉,从而获得均匀的背景图像。
Claims (2)
1.一种非制冷红外系统的分置式挡片校正方法,所述非制冷红外系统包括:前置式校正挡片(1),挡片电机(2),挡片电机线(3),挡片电机加电接口(4),挡片结构转接环(5),红外成像光学镜头(6),非制冷红外探测器结构转接环(7),非制冷红外探测器(8),其特征在于,
所述系统工作时,将前置式校正挡片(1)置于红外成像光学镜头(6)前方,此两者通过挡片结构转接环(5)固连,非校正状态时,挡片电机(2)不加电,此时前置式校正挡片(1)偏出至红外成像光学镜头(6)外;非制冷红外探测器(8)置于红外成像光学镜头(6)后方,此两者通过非制冷红外探测器结构转接环(7)固连;挡片电机线(3)自挡片电机(2)处引出,向后延伸至非制冷红外探测器(8)处,与非制冷红外探测器(8)侧壁的挡片电机加电接口(4)相连。
2.根据权利要求1所述的非制冷红外系统的分置式挡片校正方法,其特征在于,所述系统需要校正时,非制冷红外探测器(8)通过挡片电机加电接口(4)对挡片电机(2)加电,前置式校正挡片(1)在挡片电机(2)的带动下旋进至红外成像光学镜头(6)正前方中央位置,对红外成像光学镜头(6)形成有效遮挡,,在非制冷红外探测器(8)光敏元上产生响应的只有前置式校正挡片(1)自身的均匀辐射以及由非制冷红外探测器(8)的TEC温控系统产生并在红外成像光学镜头(6)结构后表面反射的杂散热辐射,此时以此包含了前置式校正挡片(1)的均匀辐射和非制冷红外探测器(8)的TEC温控系统杂散热辐射的场景为依据,通过使用单点校正算法,即可将不均匀杂散热辐射校正掉,从而获得均匀的背景图像。
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