CN105928627A - 一种消除制冷型热像仪画面复现非均匀性的方法 - Google Patents
一种消除制冷型热像仪画面复现非均匀性的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN105928627A CN105928627A CN201610216731.9A CN201610216731A CN105928627A CN 105928627 A CN105928627 A CN 105928627A CN 201610216731 A CN201610216731 A CN 201610216731A CN 105928627 A CN105928627 A CN 105928627A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- image
- correction
- source
- infrared imager
- stray radiation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 43
- 238000005057 refrigeration Methods 0.000 title claims abstract description 25
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 52
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 45
- 238000013178 mathematical model Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 24
- 238000001931 thermography Methods 0.000 claims description 20
- 230000008030 elimination Effects 0.000 claims description 16
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 claims description 16
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 14
- 230000000712 assembly Effects 0.000 claims description 13
- 238000000429 assembly Methods 0.000 claims description 13
- 238000010276 construction Methods 0.000 claims description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 4
- ATHVAWFAEPLPPQ-VRDBWYNSSA-N 1-stearoyl-2-oleoyl-sn-glycero-3-phosphocholine Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCC(=O)OC[C@H](COP([O-])(=O)OCC[N+](C)(C)C)OC(=O)CCCCCCC\C=C/CCCCCCCC ATHVAWFAEPLPPQ-VRDBWYNSSA-N 0.000 claims description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 3
- 238000003702 image correction Methods 0.000 claims description 3
- 238000003709 image segmentation Methods 0.000 claims description 3
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 3
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 abstract description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000003331 infrared imaging Methods 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000004313 glare Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 101100117236 Drosophila melanogaster speck gene Proteins 0.000 description 1
- 238000000342 Monte Carlo simulation Methods 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000004451 qualitative analysis Methods 0.000 description 1
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
- 238000004454 trace mineral analysis Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/20—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using resistors, thermistors or semiconductors sensitive to radiation, e.g. photoconductive devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/80—Calibration
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J2005/0077—Imaging
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/20—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using resistors, thermistors or semiconductors sensitive to radiation, e.g. photoconductive devices
- G01J2005/202—Arrays
Abstract
本发明属于红外探测技术领域，具体涉及一种消除制冷型热像仪成像复现非均匀性的方法，包括以下步骤：(1)确定本方法的实施硬件环境：红外热像仪、面源黑体、传感器、上位计算机；(2)定位来源；(3)红外热像仪正常上电；(4)参数采集；(5)进行数学模型建立和校正参数的计算、存储；(6)在红外探测机芯组件中设置消除复现非均匀性的校正模块；(7)去除传感器、面源黑体、上位计算机；(8)重启红外热像仪。经校正后的输出图像画面清晰、动态范围高、各像素对同样辐射响应均匀，可弥补由内部杂散辐射等因素造成的图像缺陷，具备长时间工作不复现图像非均匀性的特性，可提高制冷型热像仪对工作环境的适应能力。
Description
技术领域
本发明属于红外探测技术领域，具体涉及一种消除制冷型热像仪成像复现非均匀性的方法。
背景技术
红外成像技术是将目标视场内各物体表面因温度或发射率不同而产生的红外辐射差异转化为可见图像的技术。在军事领域，红外成像广泛应用于对军事目标的搜索、观瞄、侦察、识别与跟踪；对远、中、近程军事目标的监视、告警、预警与跟踪；红外成像的精确制导；武器平台的驾驶、导航；探测隐身武器系统、进行光电对抗等。
制冷型红外热像仪具有更高的温度敏感性和精度，得到了最广泛的应用。在红外成像过程中广泛存在图像非均匀性，不仅影响图像的清晰度和灵敏度，而且也大大地限制了红外热像仪的动态范围。以下因素会导致红外图像的非均匀性：
1)由于工艺水平和其它因素的限制，红外焦平面探测器中每个光敏元的响应度不可能完全一致，其直流偏置也不同，探测元件中电荷包具有不同传输损耗等，这些差别使成像系统即使在均匀的目标辐射下，形成的图像亮度也不一样。
2)同时，由于光学系统设计的成像能量分布不均也会带来成像的差异。
3)制冷型热像仪杜瓦内低温器件持续工作在80K左右的低温下，低温器件经光学系统成像反射在焦平面上成像，形成黑斑。
经过常规的基于定标或场景的非均匀性校正算法，可以一定程度上消除红 外图像的非均匀性。但是随着使用时间的增长和工作环境温度的提升，红外图像会重新出现具备特定样式的非均匀性。针对此复现的非均匀性，目前对其机理没有较深入研究，也未提出有效的可行的解决方法。
杂散辐射，也称为杂光，是指扩散于光学系统像面或者探测器接收面上的非目标光线或非成像光线辐射能。红外成像系统中杂散辐射一般可以分为外部杂散辐射、内部杂散辐射和镜面缺陷造成的散射等三种类型。其中内部杂散辐射指内部器件表面自发辐射传输到探测器表面。内部杂散辐射是红外图像复现非均匀性的主导诱因。使用LightTools软件工具，基于蒙特卡洛方法，对光线进行追迹分析，是一种常见的杂光分析方法。对内部杂散光的分析可以定性的为消除复现非均匀性提供理论支持。
因此，亟需研制一种基于对内部杂散光分析的消除制冷型热像仪成像复现非均匀性方法。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种消除制冷型热像仪成像复现非均匀性方法，从而消除在制冷型红外热像仪工作中的红外图像复现非均匀性。
为了实现这一目的，本发明采取的技术方案是：
一种消除制冷型热像仪成像复现非均匀性的方法，包括以下步骤：
(1)确定本方法的实施硬件环境：红外热像仪、面源黑体、传感器、上位计算机；
(2)定位来源：根据红外热像仪中机芯组件的光学和结构参数，按照光线逆向追迹和正向追迹的方法定位复现非均匀性的辐射源，确定杂散光辐射区域；
(3)红外热像仪正常上电，进行常规两点校正和盲元替换；设置面源黑体温度，使红外热像仪镜头正对面源黑体；
(4)参数采集：在红外热像仪内部设置传感器，传感器的设置位置和数量根据系统属性确定；
利用GPIO端口将传感器数据采集至红外热像仪处理电路中的FPGA中；
将上位计算机编写的采集、传输程序烧写在FPGA中，以帧为单位，建立当前图像和当前温度的一一对应关系，同时按照时间戳顺序，通过lvds接口芯片，实时将系统设定的工作参数和图像传输给上位计算机；
(5)进行数学模型建立和校正参数的计算、存储；
上位计算机根据按照固定帧频，采集系统设定时间的工作参数和对应的实时图像，之后进行图像处理和模型构建，利用构建的模型生成杂散辐射校正系数查找表，实现实时红外视频通路中的复现非均匀性校正消除；
将杂散辐射校正系数查找表存储入FPGA片上的RAM和片外的FLASH中，并固化杂散辐射校正系数查找表；杂散辐射校正系数查找表的输入为当前工作温度和当前工作时间，输出为像素灰度校正系数参数；
(6)在红外探测机芯组件中设置消除复现非均匀性的校正模块，校正模块的功能为实时获取当前工作参数值，访问存储的杂散辐射校正系数查找表以获得校正系数，使用此系数进行图像修正，完成实时校正。
(7)去除传感器、面源黑体、上位计算机；
(8)重启红外热像仪。
进一步的，如上所述的一种消除制冷型热像仪成像复现非均匀性的方法，步骤(1)中，红外热像仪中的机芯组件用于红外图像信号读出、常规非均匀性校正、盲元替换、图像增强处理；该方法的运行平台是红外热像仪机芯组件上基于FPGA和Nios软核实现的SOPC系统。
进一步的，如上所述的一种消除制冷型热像仪成像复现非均匀性的方法， 步骤(2)中，逆向追迹将红外焦平面阵列作为光源，反向分解出造成杂散辐射的内部器件，正向追迹通过设定这些杂散辐射器件的辐射特性，估算最终由探测器接收到的二维辐射强度分布图。
进一步的，如上所述的一种消除制冷型热像仪成像复现非均匀性的方法，步骤(3)中，控制红外热像仪镜头和面源黑体之间的距离小于20mm。
进一步的，如上所述的一种消除制冷型热像仪成像复现非均匀性的方法，步骤(5)中，工作参数包括工作温度以及开机时间。
进一步的，如上所述的一种消除制冷型热像仪成像复现非均匀性的方法，步骤(5)通过一套基于VC+Matlab混合编程的功能软件实现：
图像处理包括首先对图像进行平台直方图均衡处理；其次按照定位的杂散辐射来源区域进行图像分割；再次进行有杂散辐射区域和无杂散辐射区域的图像灰度均值提取；
模型构建的具体方式是进行图像均值和工作温度以及开机时间关系的曲线拟合，建立复现非均匀性现象的图像与工作温度以及开机时间之间的数学模型。
与传统方式比较，本发明技术方案的有益效果如下：
本发明提出的方法对红外图像复现非均匀性进行定性分析、模型构建和定量消除，经校正后的输出图像画面清晰、动态范围高、各像素对同样辐射响应均匀，可弥补由内部杂散辐射等因素造成的图像缺陷，具备长时间工作不复现图像非均匀性的特性，避免复现非均匀性导致图像中感兴趣目标被淹没无法识别等故障，可提高制冷型热像仪对工作环境的适应能力。
附图说明
图1为本方法的实施硬件环境示意图。
图中：1面源黑体、2红外热像仪、3红外热像仪中的机芯组件、4传感器、 5上位计算机。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明技术方案进行详细说明。
如图1所示，本发明一种消除制冷型热像仪成像复现非均匀性的方法，本发明提出方法的实施时机是，使用制冷型红外热像仪成像过程中，校正后随时间重新出现非均匀性的情况。具体包括以下步骤：
(1)确定本方法的实施硬件环境：红外热像仪、面源黑体、传感器、上位计算机；
(2)定位来源：光学系统内部杂散辐射经过光学系统最终在红外焦平面阵列(IRFPA)上形成不均匀的辐射强度分布。在辐射能量不变时，经过常规非均匀性校正，可以用校正的漂移系数予以修正，当探测器工作参数变化导致辐射能量发生变化时，此分布产生新的变化，造成图像复现非均匀性。
根据红外热像仪中机芯组件的光学和结构参数，按照光线逆向追迹和正向追迹的方法定位复现非均匀性的辐射源，确定杂散光辐射区域；红外热像仪中的机芯组件用于红外图像信号读出、常规非均匀性校正、盲元替换、图像增强处理；该方法的运行平台是红外热像仪机芯组件上基于FPGA和Nios软核实现的SOPC系统。在本实施例中，逆向追迹将红外焦平面阵列作为光源，反向分解出造成杂散辐射的内部器件，正向追迹通过设定这些杂散辐射器件的辐射特性，估算最终由探测器接收到的二维辐射强度分布图。
(3)红外热像仪正常上电，进行常规两点校正和盲元替换；设置面源黑体温度，使红外热像仪镜头正对面源黑体；控制红外热像仪镜头和面源黑体之间的距离小于20mm。
(4)参数采集：在红外热像仪内部设置传感器，传感器的设置位置和数量 根据系统属性确定；
由大量实验证明，复现非均匀性与热像仪内部各器件工作参数变化有关。为获得对应某工作参数的复现非均匀性图像，本方法利用GPIO端口将传感器数据采集至红外热像仪处理电路中的FPGA中；
将上位计算机编写的采集、传输程序烧写在FPGA中，以帧为单位，建立当前图像和当前温度的一一对应关系，同时按照时间戳顺序，通过lvds接口芯片，实时将系统设定的工作参数和图像传输给上位计算机；
(5)进行数学模型建立和校正参数的计算、存储；
上位计算机根据按照固定帧频，采集系统设定时间的工作参数和对应的实时图像，之后进行图像处理和模型构建，利用构建的模型生成杂散辐射校正系数查找表，实现实时红外视频通路中的复现非均匀性校正消除；
将杂散辐射校正系数查找表存储入FPGA片上的RAM和片外的FLASH中，并固化杂散辐射校正系数查找表；杂散辐射校正系数查找表的输入为当前工作温度和当前工作时间，输出为像素灰度校正系数参数；
在本实施例中，工作参数包括工作温度以及开机时间。步骤(5)通过一套基于VC+Matlab混合编程的功能软件实现：图像处理包括首先对图像进行平台直方图均衡处理；其次按照定位的杂散辐射来源区域进行图像分割；再次进行有杂散辐射区域和无杂散辐射区域的图像灰度均值提取；模型构建的具体方式是进行图像均值和工作温度以及开机时间关系的曲线拟合，建立复现非均匀性现象的图像与工作温度以及开机时间之间的数学模型。
(6)在红外探测机芯组件中设置消除复现非均匀性的校正模块，校正模块的功能为实时获取当前工作参数值，访问存储的杂散辐射校正系数查找表以获得校正系数，使用此系数进行图像修正，完成实时校正。
(7)去除传感器、面源黑体、上位计算机；
(8)重启红外热像仪。
Claims (6)
1.一种消除制冷型热像仪成像复现非均匀性的方法，其特征在于：包括以下步骤：
(1)确定本方法的实施硬件环境：红外热像仪、面源黑体、传感器、上位计算机；
(2)定位来源：根据红外热像仪中机芯组件的光学和结构参数，按照光线逆向追迹和正向追迹的方法定位复现非均匀性的辐射源，确定杂散光辐射区域；
(3)红外热像仪正常上电，进行常规两点校正和盲元替换；设置面源黑体温度，使红外热像仪镜头正对面源黑体；
(4)参数采集：在红外热像仪内部设置传感器，传感器的设置位置和数量根据系统属性确定；
利用GPIO端口将传感器数据采集至红外热像仪处理电路中的FPGA中；
将上位计算机编写的采集、传输程序烧写在FPGA中，以帧为单位，建立当前图像和当前温度的一一对应关系，同时按照时间戳顺序，通过lvds接口芯片，实时将系统设定的工作参数和图像传输给上位计算机；
(5)进行数学模型建立和校正参数的计算、存储；
上位计算机根据按照固定帧频，采集系统设定时间的工作参数和对应的实时图像，之后进行图像处理和模型构建，利用构建的模型生成杂散辐射校正系数查找表，实现实时红外视频通路中的复现非均匀性校正消除；
将杂散辐射校正系数查找表存储入FPGA片上的RAM和片外的FLASH中，并固化杂散辐射校正系数查找表；杂散辐射校正系数查找表的输入为当前工作温度和当前工作时间，输出为像素灰度校正系数参数；
(6)在红外探测机芯组件中设置消除复现非均匀性的校正模块，校正模块的功能为实时获取当前工作参数值，访问存储的杂散辐射校正系数查找表以获得校正系数，使用此系数进行图像修正，完成实时校正。
(7)去除传感器、面源黑体、上位计算机；
(8)重启红外热像仪。
2.如权利要求1所述的一种消除制冷型热像仪成像复现非均匀性的方法，其特征在于：步骤(1)中，红外热像仪中的机芯组件用于红外图像信号读出、常规非均匀性校正、盲元替换、图像增强处理；该方法的运行平台是红外热像仪机芯组件上基于FPGA和Nios软核实现的SOPC系统。
3.如权利要求1所述的一种消除制冷型热像仪成像复现非均匀性的方法，其特征在于：步骤(2)中，逆向追迹将红外焦平面阵列作为光源，反向分解出造成杂散辐射的内部器件，正向追迹通过设定这些杂散辐射器件的辐射特性，估算最终由探测器接收到的二维辐射强度分布图。
4.如权利要求1所述的一种消除制冷型热像仪成像复现非均匀性的方法，其特征在于：步骤(3)中，控制红外热像仪镜头和面源黑体之间的距离小于20mm。
5.如权利要求1所述的一种消除制冷型热像仪成像复现非均匀性的方法，其特征在于：步骤(5)中，工作参数包括工作温度以及开机时间。
6.如权利要求5所述的一种消除制冷型热像仪成像复现非均匀性的方法，其特征在于：步骤(5)通过一套基于VC+Matlab混合编程的功能软件实现：
图像处理包括首先对图像进行平台直方图均衡处理；其次按照定位的杂散辐射来源区域进行图像分割；再次进行有杂散辐射区域和无杂散辐射区域的图像灰度均值提取；
模型构建的具体方式是进行图像均值和工作温度以及开机时间关系的曲线拟合，建立复现非均匀性现象的图像与工作温度以及开机时间之间的数学模型。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201610216731.9A CN105928627B (zh) | 2016-04-08 | 2016-04-08 | 一种消除制冷型热像仪画面复现非均匀性的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201610216731.9A CN105928627B (zh) | 2016-04-08 | 2016-04-08 | 一种消除制冷型热像仪画面复现非均匀性的方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN105928627A true CN105928627A (zh) | 2016-09-07 |
| CN105928627B CN105928627B (zh) | 2019-01-08 |
Family
ID=56840543
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201610216731.9A Active CN105928627B (zh) | 2016-04-08 | 2016-04-08 | 一种消除制冷型热像仪画面复现非均匀性的方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN105928627B (zh) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106644078A (zh) * | 2016-12-30 | 2017-05-10 | 电子科技大学 | 一种用于太赫兹图像非均匀性校正的方法 |
| CN107770410A (zh) * | 2017-10-16 | 2018-03-06 | 深圳市中瑞微视光电有限公司 | 彩色面阵ccd的自适应矫正 |
| CN108717370A (zh) * | 2018-05-07 | 2018-10-30 | 济南和普威视光电技术有限公司 | 用于制冷热成像机芯开机画面的灰度图像gui设计方法 |
| CN109360165A (zh) * | 2018-09-28 | 2019-02-19 | 浙江兆晟科技股份有限公司 | 一种基于场景的盲元图像修复方法及系统 |
| CN109521415A (zh) * | 2018-12-19 | 2019-03-26 | 上海同繁勘测工程科技有限公司 | 辐射校正装置及系统 |
| CN113039417A (zh) * | 2018-11-05 | 2021-06-25 | 索尼集团公司 | 温度估计装置、温度估计方法和温度估计程序 |
| CN113865722A (zh) * | 2021-09-28 | 2021-12-31 | 北京环境特性研究所 | 基于漫反射金属板的面阵制冷红外热像仪校正方法 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1811360A (zh) * | 2006-02-24 | 2006-08-02 | 昆明物理研究所 | 凝视红外焦平面探测器自适应非均匀性校正方法 |
| CN102564597A (zh) * | 2011-12-31 | 2012-07-11 | 南京理工大学 | 红外模拟探测器及其设计方法 |
| US20130147966A1 (en) * | 2009-02-23 | 2013-06-13 | Flir System, Inc. | Flat field correction for infrared cameras |
| CN204043795U (zh) * | 2014-09-09 | 2014-12-24 | 南京理工大学 | 结合非均匀性定标和温度定标的热像仪标定装置 |
| CN104240206A (zh) * | 2014-09-30 | 2014-12-24 | 成都市晶林科技有限公司 | 非制冷红外焦平面探测器图像处理系统及方法 |
| CN104424383A (zh) * | 2013-08-22 | 2015-03-18 | 南京理工大学 | 基于红外图像的硬件处理算法效果评价装置及其评价方法 |
| CN105466566A (zh) * | 2015-12-05 | 2016-04-06 | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 | 一种红外非均匀性校正实时补偿方法 |
-
2016
- 2016-04-08 CN CN201610216731.9A patent/CN105928627B/zh active Active
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1811360A (zh) * | 2006-02-24 | 2006-08-02 | 昆明物理研究所 | 凝视红外焦平面探测器自适应非均匀性校正方法 |
| US20130147966A1 (en) * | 2009-02-23 | 2013-06-13 | Flir System, Inc. | Flat field correction for infrared cameras |
| CN102564597A (zh) * | 2011-12-31 | 2012-07-11 | 南京理工大学 | 红外模拟探测器及其设计方法 |
| CN104424383A (zh) * | 2013-08-22 | 2015-03-18 | 南京理工大学 | 基于红外图像的硬件处理算法效果评价装置及其评价方法 |
| CN204043795U (zh) * | 2014-09-09 | 2014-12-24 | 南京理工大学 | 结合非均匀性定标和温度定标的热像仪标定装置 |
| CN104240206A (zh) * | 2014-09-30 | 2014-12-24 | 成都市晶林科技有限公司 | 非制冷红外焦平面探测器图像处理系统及方法 |
| CN105466566A (zh) * | 2015-12-05 | 2016-04-06 | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 | 一种红外非均匀性校正实时补偿方法 |
Non-Patent Citations (3)
| Title |
|---|
| LIU YANG等: "Accurate and fast stray radiation calculation based on improved backward ray tracing", 《APPLIED OPTICS》 * |
| 杜丽等: "一种自适应红外图像非均匀型校正方法及其FPGA实现", 《红外》 * |
| 杨加强等: "基于Lighttools和Matlab的内辐射杂光分析方法研究", 《激光与红外》 * |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106644078A (zh) * | 2016-12-30 | 2017-05-10 | 电子科技大学 | 一种用于太赫兹图像非均匀性校正的方法 |
| CN107770410A (zh) * | 2017-10-16 | 2018-03-06 | 深圳市中瑞微视光电有限公司 | 彩色面阵ccd的自适应矫正 |
| CN108717370A (zh) * | 2018-05-07 | 2018-10-30 | 济南和普威视光电技术有限公司 | 用于制冷热成像机芯开机画面的灰度图像gui设计方法 |
| CN108717370B (zh) * | 2018-05-07 | 2020-12-11 | 济南和普威视光电技术有限公司 | 用于制冷热成像机芯开机画面的灰度图像gui设计方法 |
| CN109360165A (zh) * | 2018-09-28 | 2019-02-19 | 浙江兆晟科技股份有限公司 | 一种基于场景的盲元图像修复方法及系统 |
| CN113039417A (zh) * | 2018-11-05 | 2021-06-25 | 索尼集团公司 | 温度估计装置、温度估计方法和温度估计程序 |
| CN113039417B (zh) * | 2018-11-05 | 2024-04-23 | 索尼集团公司 | 温度估计装置、温度估计方法、计算机可读存储介质和计算机程序产品 |
| CN109521415A (zh) * | 2018-12-19 | 2019-03-26 | 上海同繁勘测工程科技有限公司 | 辐射校正装置及系统 |
| CN113865722A (zh) * | 2021-09-28 | 2021-12-31 | 北京环境特性研究所 | 基于漫反射金属板的面阵制冷红外热像仪校正方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN105928627B (zh) | 2019-01-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN105928627A (zh) | 一种消除制冷型热像仪画面复现非均匀性的方法 | |
| CN107677375B (zh) | 一种红外辐射测量系统定标装置及定标方法 | |
| CN106197690B (zh) | 一种宽温范围条件下的图像校准方法及系统 | |
| CN106500846B (zh) | 一种红外成像系统的非均匀性校正方法 | |
| CN109060140A (zh) | 基于多点标定及拟合的红外图像非均匀性校正方法 | |
| CN203375949U (zh) | 高温适性红外观瞄系统光轴平行性及mrtd野外检测仪 | |
| CN108204888B (zh) | 一种仿真用红外动态场景模拟器现场校准装置 | |
| CN108426640A (zh) | 一种针对红外探测器缺损像元的校正方法 | |
| CN105043552B (zh) | 比色测温系统显示与标定方法 | |
| CN107341780A (zh) | 一种红外图像预处理校正方法 | |
| CN105466566A (zh) | 一种红外非均匀性校正实时补偿方法 | |
| CN106327474A (zh) | 一种自动在线盲元检测方法 | |
| KR20200004680A (ko) | 하늘 영상을 이용한 미세먼지 측정 시스템 | |
| Kim | Two-point correction and minimum filter-based nonuniformity correction for scan-based aerial infrared cameras | |
| CN111028187B (zh) | 一种光线自适应的机载双光图像侦察装置及方法 | |
| CN104849241B (zh) | 推进剂烟雾光遮蔽能力测试系统的校准方法 | |
| Ishibashi et al. | Performance of hayabusa2 dcam3-d camera for short-range imaging of sci and ejecta curtain generated from the artificial impact crater formed on asteroid 162137 ryugu (1999 ju 3 ju_3) | |
| CN208366471U (zh) | 一种用于自动确定红外成像仪的最小可辨温差的装置 | |
| CN108163223B (zh) | 一种便携式飞行器红外隐身性能评估装置和方法 | |
| CN112710397B (zh) | 一种基于温度替代的两点校正方法及系统 | |
| KR101177365B1 (ko) | 합성 적외선 영상 주입장치 | |
| CN109708764A (zh) | 一种制冷型红外焦平面探测器高动态范围图像融合方法 | |
| CN110567585B (zh) | 一种实时红外图像“锅盖效应”抑制方法 | |
| Zhou et al. | Realized multipoint method for real-time correction of nonuniformity of uncooled IRFPA | |
| KR20180092089A (ko) | 적외선 모델러 검증 장치 및 방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |