CN109239415B - 一种超导带材测试装置 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种超导带材测试装置,包括引线触头和支撑板;引线触头包括:导电触头和磁体;磁体设置有用于导电触头穿过的通孔;支撑板包括:板体和导磁件;导磁件固定设置于板体表面。本申请提供的超导带材测试装置通过磁吸力使得引线触头和超导带材连接,可以方便快捷的调整两个引线触头之间的距离,不会对超导带材造成损伤,解决了现有技术中通过焊接的方式导致的焊点距离测量不确定度大、焊点会对超导带造成不可逆损伤的问题,提高了测量的效率和精度。
Description
技术领域
本申请涉及超导带材测试技术领域,尤其涉及一种超导带材测试装置。
背景技术
经过二十多年的发展,以BSCCO和YBCO为代表的高温超导带材已能批量商业化生产,广泛应用于超导电力电缆、超导故障电流限流器、超导磁体等装备技术领域。无论是实验室研究还是实际超导电力装备,测量超导带的临界电流、交流损耗、电流冲击特性等实验测试项目均需要测试超导带单位长度的电势。
传统方法是在超导带上焊接两根电势引线并测量两个焊点之间的距离,从而可以获得单位长度的电势。传统的焊接电势引线具有所需设备简单、接触可靠等优势,但也存在焊点距离测量不确定度大、焊点会对超导带造成不可逆损伤等问题。
发明内容
本申请的目的在于提供一种超导带材测试装置,使得在不对超导带材造成损伤的前提下,准确的对超导带材进行测试。
有鉴于此,本申请提供了一种超导带材测试装置,包括:引线触头和支撑板;
所述引线触头包括:导电触头和磁体;
所述磁体设置有用于导电触头穿过的通孔;
所述支撑板包括:板体和导磁件;
所述导磁件固定设置于所述板体表面。
优选的,
所述引线触头还包括绝缘套管;
所述绝缘套管固定设置于所述通孔和所述导电触头之间。
优选的,
所述导电触头与待检测超导带材接触的端面为球面。
优选的,
所述导电触头的球面设置有导电层。
优选的,
所述板体设置有用于安装所述导磁件的安装槽。
优选的,
所述安装槽的安装面为圆形。
优选的,
所述导磁件为圆柱体结构。
优选的,
所述磁体为圆柱体结构。
优选的,
所述磁体的侧面和与待检测超导带材接触的接触面之间加工为倒角。
与现有技术相比,本申请实施例的优点在于:
本申请实施例中,提供了一种超导带材测试装置,包括引线触头和支撑板。引线触头由导电触头和磁体组成,支撑板由板体和导磁件组成。在对超导带材进行测量时,将超导带材放置在支撑板上,将引线触头放置在超导带材上,通过磁体与导磁件之间的磁吸力,引线触头和超导带材紧密接触并实现电导通。在单位长度上设置两个引线触头和对应的导磁件,可以实现测量单位长度上超导带材的电势。
与现有技术相比,本申请所提供的超导带材测试装置结构简单,接触可靠,通过磁吸力使得引线触头和超导带材连接,可以方便快捷的调整两个引线触头之间的距离,不会对超导带材造成损伤,解决了现有技术中通过焊接的方式导致的焊点距离测量不确定度大、焊点会对超导带造成不可逆损伤的问题,提高了测量的效率和精度。
附图说明
为了更清楚地说明本申请具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本申请的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例所提供的超导带材测试装置的导电触头的结构示意图;
图2为申请实施例所提供的超导带材测试装置的支撑板的结构示意图;
图3为本申请所提供的超导带材测试装置的测量方法示意图。
标号:导电触头1;绝缘套管2;磁体3;板体4;导磁件5。
具体实施方式
下面将结合附图对本申请的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
在本申请的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本申请和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
请参阅图1和图2,图1为本申请实施例所提供的超导带材测试装置的导电触头的结构示意图,图2为申请实施例所提供的超导带材测试装置的支撑板的结构示意图。
本申请设计了一种超导带材测试装置,包括引线触头和支撑板。
引线触头包括导电触头1和磁体3。磁体3设置有通孔,用于导电触头1的穿过。导电触头1穿过磁体3,导电触头1的第一端为连接端,用于连接测试引线,第二端为触点,用于接触待检测超导带材。可以理解的是,为了同时满足磁吸力需求和与超导带材的连接效果,导电触头1的触点应略突出于磁体3的表面;为了更方便的连接测试引线,导电触头1的连接端应当预留出较多的空余。
支撑板包括板体4和导磁件5。导磁件5固定设置于在板体4上。
需要说明的是,导磁件5与磁体3具有磁吸力。其中,磁体3可以为永磁体,导磁件5可以是软铁等高导磁材料,板体4一般为常规的环氧支撑板。当需要对超导带单位距离长度的电势进行测量时,只需在板体4的预置单位距离长度的两端位置分别固定两个导磁件5。测试时,将超导带材放置在板体4的一侧,导磁件5固定设置在板体4的另一侧,导电触头1的触点接触待检测超导带材,两个引线触头的磁体3分别于两个位置的导磁件5通过磁力吸紧超导带材和触点。微调两个触点的位置,稳定后即可进行测量的后续步骤。
通过在板体4的不同位置固定导磁件5,可以根据实验要求,实现对不同单位长度的超导带材进行测量,测量条件更加灵活。
本申请所提供的超导带材测试装置,利用了磁体3的强磁性对导磁件5的磁性吸引力,将导电触头1与超导带表面压紧,引出电势信号,测试过程的接触可靠、操作简便。相比起现有技术中的焊接方法,本申请所提供的超导带材测试装置结构简单,制作工艺不复杂,距离测量的不确定度小,测量效率高,解决了现有技术中通过焊接的方法导致的焊点对超导带材造成不可逆损伤的问题。
进一步的,为了避免导电触头1和磁体3之间有电流,确保电势引线的电信号仅来自导电触头1,可以在导电触头的1与磁体3接触的面上进行电绝缘处理,一种优选的方式是在导电触头1和磁体3之间增设绝缘套管2。绝缘套管2具体可以为环氧绝缘套管,可以理解的是,绝缘套管2为中空结构,绝缘套管2的内侧面与导电触头1的外侧面尺寸相配合,绝缘套管2的外侧面与磁体3的通孔的尺寸相配合。绝缘套管2的设置位置可以为,在导电触头1触点的一端与磁体3表面平齐,另一端则略高于磁体3的表面。
进一步的,为了获得与超导带材的点接触,使得测量的精度提高,导电触头1的触点可以加工为曲面,当导电触头1为圆柱体结构时,其触点具体可以加工为圆球形或球面。
进一步的,为了获得良好的接触效果,导电触头1的触点还可以进行表面处理,例如设置一层导电层,其导电层可以为镀金、镀铟等的金属层。
进一步的,为了使导磁件5能更好的定位安装在板体4中,可以在板体4上加工一个用于安装导磁件5的安装槽。可以理解的是,安装槽的尺寸应当与导磁件5的尺寸相配合,以便于导磁件5固定或嵌入在板体4中。
进一步的,安装槽的安装面可以为圆形,导磁件5也可以为圆柱体结构,同时,为了获得更好的接触效果,磁体3也可以为与导磁件5形状配合的中空的圆柱体结构。当磁体3为中空的圆柱体结构,导电触头1也为圆柱体结构,且设置有中空圆柱体结构的绝缘套管2时,一种优选的位置关系是,磁体3,导电触头1和绝缘套管2三部分为同心结构。
进一步的,磁体3的侧面和与待检测超导带材接触的接触面之间可以加工为倒角,具体可以为加工圆倒角。一方面,倒角可以用于区分导电触头1的触点和连接端,另一方面,倒角有助于在对超导带材检测完毕后将磁体3与超导带材分离开。
请参考图3,图3为本申请所提供的超导带材测试装置的测量方法示意图。
测量超导带材临界电流、交流损耗、电流冲击等特性时,将超导带材居中平放于支撑板之上,将两个引线触头放置在超导带材之上后,磁力将吸紧超导带材和触点。微调触点的位置,稳定后即可放入低温环境开始测量。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本申请的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。
Claims (8)
1.一种超导带材测试装置,其特征在于,包括引线触头和支撑板;
所述引线触头包括:导电触头和磁体;
所述磁体设置有用于所述导电触头穿过的通孔;
所述支撑板包括:板体和导磁件;
所述导磁件固定设置于所述板体表面;
所述导电触头具体包括连接端和触点端,所述触点端略突出于所述磁体的表面;
所述连接端用于连接测试引线,所述触点端用于接触所述超导带材;
所述引线触头还包括绝缘套管;
所述绝缘套管固定设置于所述通孔和所述导电触头之间;
所述磁体与所述导磁件分别设置于所述板体的两侧,所述磁体与所述导磁件通过磁力吸紧所述超导带材和所述触点端。
2.根据权利要求1所述的超导带材测试装置,其特征在于,
所述导电触头与待检测超导带材接触的端面为球面。
3.根据权利要求2所述的超导带材测试装置,其特征在于,
所述导电触头的球面设置有导电层。
4.根据权利要求1所述的超导带材测试装置,其特征在于,
所述板体设置有用于安装所述导磁件的安装槽。
5.根据权利要求4所述的超导带材测试装置,其特征在于,
所述安装槽的安装面为圆形。
6.根据权利要求5所述的超导带材测试装置,其特征在于,
所述导磁件为圆柱体结构。
7.根据权利要求1所述的超导带材测试装置,其特征在于,
所述磁体为圆柱体结构。
8.根据权利要求1-7任一项所述的超导带材测试装置,其特征在于,
所述磁体的侧面和与待检测超导带材接触的接触面之间加工为倒角。
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Legal Events
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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