CN109186421A - 一种渐开线内花键齿形微小角度偏移测量的方法 - Google Patents

Abstract

发明提供一种渐开线内花键齿形微小角度偏移测量的方法。该方法，包括将叠放测零件、花键心轴穿过零件内花键、测量零件内花键公共区域内壁值等步骤。该方法可实现大批量检测零件关键特性的质量品质，达到控制重要参数特性的目的。

Description

一种渐开线内花键齿形微小角度偏移测量的方法

技术领域

本发明涉及机械加工技术领域，具体涉及渐开线内花键齿形微小角度偏移量的测量。

背景技术

在包含渐开线内花键结构的产品中，经常有渐开线内花键齿形对基准中心线微小角度(＜2°)偏移的要求。渐开线内花键加工后，关键特性必须加以测量与控制。然而，常规方法无法直接测量得到渐开线内花键齿形对基准中心线微小角度偏移量，导致在新产品试制阶段该参数无法加以控制。大批量生产时，产品缺陷尤其突出。

发明内容

本发明的目的是提供一种渐开线内花键齿形微小角度偏移测量的方法，以解决现有技术中存在的问题。

为实现本发明目的而采用的技术方案是这样的，一种渐开线内花键齿形微小角度偏移量的测量方法，包括以下步骤：

1)将两个待测零件叠放在一起。其中，所述待测零件上具有零件内花键和零件基准孔。

2)使用花键心轴依次穿过两个待测零件的零件内花键，将两个待测零件的位置固定。所述两个待测零件的零件内花键重合，两个待测零件的零件基准孔出现位置差异。其中，所述花键心轴的外壁上设置有与零件内花键参数相同的外花键。

3)测量两个待测零件的零件基准孔公共区域内壁值BB′。

进一步，步骤3)之后还具有通过公共区域内壁值BB′计算渐开线内花键微小角度偏移量б的相关步骤。

本发明的技术效果是毋庸置疑的：

A.检验人员可以方便快捷测量并判定渐开线内花键齿形微小角度偏移量是否满足产品设计要求，达到控制重要参数特性的目的；

B.可实现批量检测零件关键特性的质量品质。

附图说明

图1为待测零件结构示意图；

图2为花键心轴结构示意图；

图3为工作示意图；

图4为测量原理图。

图中：花键心轴3、外花键301、待测零件4、零件内花键401、零件基准孔402。

具体实施方式

下面结合实施例对本发明作进一步说明，但不应该理解为本发明上述主题范围仅限于下述实施例。在不脱离本发明上述技术思想的情况下，根据本领域普通技术知识和惯用手段，做出各种替换和变更，均应包括在本发明的保护范围内。

实施例1：

参见图1，待测零件4上具有零件内花键401和零件基准孔402。参见图2，花键心轴3的外壁上设置有与零件内花键401参数相同的外花键301。

待测零件4的零件内花键401对应分度圆的圆心为O₁，零件基准孔402对应圆的圆心为O₂。以O₁O₂连线为基准中心线。待测零件4 对于零件内花键401渐开线内花键齿形相对基准中心线的微小角度偏移量有严格要求。在待测零件4的设计方案中，花键齿顶a相对于基准中心线O₁O₂的角度偏移为1.41°，即直线O₁O₂与直线O₁a之间的设计夹角为1.41°。然而，在实际生产中，渐开线花键相对于名义尺寸位置会出现偏移。常规方法无法直接测量得到渐开线内花键齿形对基准中心线微小角度偏移量，导致在新产品试制阶段该参数无法加以控制。

本实施例经过分析待测零件4的结构特点，将角度测量问题转化为长度测量问题。参见图1，选取零件基准孔402对应圆的一条垂直于直线O₁O₂的直径，该直径与直线O₁a的交点为b。根据三角关系及零件的结构特点可知，花键齿顶a角度的偏移量不同，b点的位置也会随着变化。渐开线内花键齿形相对基准中心线的微小角度偏移量可通过b点的偏移量反映。

本实施例公开一种渐开线内花键齿形微小角度偏移量的测量方法，包括以下步骤：

1)将两个待测零件4叠放在一起。在本实施例中，将两个待测零件4分别标记为零件A和零件B。零件A的零件内花键401对应分度圆的圆心标记为O₁，零件基准孔402对应圆的圆心标记为O₂，花键齿顶标记为a。零件B的零件内花键401对应分度圆的圆心标记为 O₁′，零件基准孔402对应圆的圆心标记为O₂′，花键齿顶标记为 a′。

2)参见图3，使用花键心轴3依次穿过零件A和零件B的零件内花键401，将零件A和零件B的位置固定。此时，外花键301和零件内花键401的分度圆重合。所述外花键3011的齿廓与零件内花键401 的齿廓切接配合。所述零件A和零件B的零件内花键401重合。所述零件A和零件B的零件基准孔402由于零件内花键401齿形微小角度的偏移而发生位置变化。零件A和零件B的零件基准孔402对应圆相交。

3)使用千分尺测量测量零件基准孔402公共区域内壁值BB′。

选取零件A的零件基准孔402对应圆的一条垂直于直线O₁O₂的直径。该直径所在直线与零件A和零件B的零件基准孔402对应圆分别相交于B与B′。参见图4，BB′＝基准孔直径-2×O₂O₂′，O₂O₂′＝O₁O₂×tanб。其中б为角度的微小偏差角度值，б值不同，则O₂O₂′值便不同，所对应的公共区域内壁值BB′值便也不同。角度偏差值越大，O₂O₂′的间距越大，基准孔端的公共区域内壁值BB′则越短。因此，可通过测量公共区域内壁值BB′的长短间接测量角度的微小偏差的变化。

4)比较公共区域内壁值BB′与BB′_min以及BB′_max。若BB′_min≤ BB′≤BB′_max，则渐开线内花键微小角度偏差合格，反之则不合格。其中，BB′_min是BB′值的允许最小值，即角度在允许偏差范围内取极值时BB′对应值。BB′_max则是BB′值的允许最大值，无偏差时(O₂、 O₂′两点重合)的BB′对应值，即基准孔直径。

5)实际生产中，根据需要可通过公共区域内壁值BB′计算渐开线内花键微小角度偏移量б。

本实施例易于实施，实现了不可测量、难于测量到可测量的飞跃。

Claims (2)

1.一种渐开线内花键齿形微小角度偏移量的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)将两个待测零件(4)叠放在一起；其中，所述待测零件(4)上具有零件内花键(401)和零件基准孔(402)；

2)使用所述花键心轴(3)依次穿过两个待测零件(4)的零件内花键(401)，将两个待测零件(4)的位置固定。所述两个待测零件(4)的零件内花键(401)重合，两个待测零件(4)的零件基准孔(402)出现位置差异；其中，所述花键心轴(3)的外壁上设置有与零件内花键(401)参数相同的外花键(301)；

3)测量两个待测零件(4)的零件基准孔(402)公共区域内壁值BB′。

2.根据权利要求1所述的一种渐开线内花键齿形微小角度偏移量的测量方法，其特征在于：步骤3)之后还具有通过公共区域内壁值BB′计算渐开线内花键微小角度偏移量б的相关步骤。