CN109164367B - 曲面触控屏测试方法 - Google Patents

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Abstract

一种曲面触控屏测试方法，包括：一曲面触控屏提供步骤，包括提供一曲面触控屏，其中所述曲面触控屏具有一全平面区、一外围区，且具有四个圆弧顶角、多个像素单元、多个发射电极通道线、以及多个接收电极通道线；一通道屏蔽步骤，包括屏蔽对应所述外围区的发射电极通道线及像素单元，并且屏蔽对应所述外围区的所述接收电极通道线及像素单元；一顶点捕捉步骤，包括启动所述曲面触控屏上未被屏蔽的像素单元，驱动一触控屏测试机捕捉所述曲面触控屏上的被启动的像素单元，并根据所述被启动的像素单元找寻所述全平面区的所述四个顶角顶点；以及一测试步骤，包括驱动所述触控屏测试机依据所述四个顶角顶点来对所述全平面区进行一触控测试。上述测试方法可测试各种曲面触控屏。

Description

曲面触控屏测试方法
技术领域
本发明关于一种曲面触控屏测试方法，所述曲面触控屏测试方法能够在一曲面触控屏上的平面区域中设定一测试区域，并且在所述测试区域的其中一顶角顶点设定一座标原点，再以一触控屏测试机对所述曲面触控屏进行测试，藉此避免触控屏测试机无法在所述曲面触控屏的曲面边缘上找到顶角顶点，而无法在顶角顶点上设定一座标原点，导致无法进行测试的问题。
背景技术
请参照图1，现有的触控屏测试机在进行触摸测试或划线测试时，必须通过一传统矩形全平面触控屏80的直角顶角的顶点81进行对位，并在其中一顶点上设定一座标原点，进而定义出一对应所述全平面触控屏80的座标系统。
随着主动有机发光二极管(Active-matrix organic light-emitting diode,AMOLED)显示技术的日渐成熟，包括了立体(3D)曲面触控屏及具二维圆弧顶角的触控屏的曲面触控屏等产品也越来越多。
请参照图2，当以上述触控屏测试机对一曲面触控屏90(包括立体(3D)曲面触控屏及具二维圆弧顶角的触控屏)进行测试时，由于所述曲面触控屏90仅有圆弧顶角91而不具直角顶角，所述触控屏测试机无法依据直角顶角设定座标原点并定义出座标系统。因此，触控屏测试机无法对曲面触控屏90进行打点测试或划线测试。
故，有必要提供一种曲面触控屏测试方法，以解决上述技术问题。
发明内容
本发明主要目的在于提供一种曲面触控屏测试方法，所述曲面触控屏测试方法能够在一曲面触控屏上的平面区域中设定一测试区域，并且在所述测试区域的其中一顶角顶点设定一座标原点，再以一触控屏测试机对所述曲面触控屏进行测试，藉此避免触控屏测试机无法在所述曲面触控屏的曲面边缘上找到顶角顶点，而无法在顶角顶点上设定一座标原点，导致无法进行测试的问题。
为达上述目的，本发明提供一种曲面触控屏测试方法，其特征在于包括：
一曲面触控屏提供步骤，包括提供一曲面触控屏，其中所述曲面触控屏具有：
一全平面区，所述全平面区呈矩形而具有四顶角顶点；
一外围区，围绕所述全平面区，且具有四个圆弧顶角；
多个像素单元，设置在所述曲面触控屏上；
多个发射电极通道线，并排设置在所述曲面触控屏上；以及
多个接收电极通道线，并排设置在所述曲面触控屏上，且与所述多个发射电极通道线相交，其中各所述接收电极通道线对应所述曲面触控屏的部分像素单元，各所述发射电极通道线对应所述曲面触控屏的部分像素单元；
一通道屏蔽步骤，包括屏蔽对应所述外围区的至少二所述发射电极通道线及屏蔽所述至少二发射电极通道线所对应的像素单元，并且屏蔽对应所述外围区的至少二所述接收电极通道线及屏蔽所述至少二接收电极通道线所对应的像素单元，其中未被屏蔽的发射电极通道线、未被屏蔽的接收电极通道线及未被屏蔽的像素单元位于所述全平面区内；
一顶点捕捉步骤，包括启动所述曲面触控屏上未被屏蔽的像素单元，驱动一触控屏测试机捕捉所述曲面触控屏上的被启动的像素单元，并根据所述被启动的像素单元找寻所述全平面区的所述四个顶角顶点；以及
一测试步骤，包括驱动所述触控屏测试机依据所述四个顶角顶点来对所述全平面区进行一触控测试。
在本发明中，所述曲面触控屏的外围区具有二第一侧边以及二第二侧边，各所述第一侧边的二端分别形成有一第一圆弧部，二所述第二侧边垂直于二所述第一侧边，各所述第二侧边的二端分别形成有一第二圆弧部，其中，各所述第一侧边的其中一第一圆弧部与相邻于所述第一侧边的所述第二侧边的其中一第二圆弧部相连接而形成所述曲面触控屏的四个圆弧顶角的其中一个；所述多个发射电极通道线平行所述二第一侧边，其中各所述第一侧边对应所述多个发射电极通道线的至少其中一个；以及所述多个接收电极通道线平行所述二第二侧边，其中各所述第二侧边对应所述多个接收电极通道线的至少其中一个。
在本发明中，所述通道屏蔽步骤包括屏蔽对应各所述第一侧边的所述至少一发射电极通道线及屏蔽所述至少一发射电极通道线所对应的像素单元，并且屏蔽对应各所述第二侧边的所述至少一接收电极通道线及屏蔽所述至少一接收电极通道线所对应的像素单元。
在本发明中，所述测试方法包括一在所述测试步骤之前的座标系统设定步骤，所述座标系统设定步骤包括驱动所述触控屏测试机依据所找寻到的所述四个顶角顶点设定出一对应所述全平面区的测试座标系统；在所述测试步骤中，所述触控屏测试机依据所述测试座标系统所对应的所述全平面区进行所述触控测试。
在本发明中，在所述座标系统设定步骤中，所述触控屏测试机将所找寻到的所述四个顶角顶点的其中一个设定为一座标原点，并且根据所述座标原点进一步设定出所述对应所述全平面区的测试座标系统。
在本发明中，在所述顶点捕捉步骤中，所述触控屏测试机具有一摄像装置，并以所述摄像装置捕捉所述全平面区的所述四个顶角顶点。
在本发明中，所述摄像装置为一感光耦合元件摄像装置。
在本发明中，所述触控测试包括一打点测试和一划线测试中的至少一者。
在本发明中，所述全平面区的四个顶角顶点为直角顶角顶点。
在本发明中，各所述第一侧边和第二侧边中的至少一者为圆弧侧边。
与现有技术相较，本发明的曲面触控屏测试方法解决了触控屏测试机无法对曲面触控屏测试的问题。本发明的曲面触控屏测试方法可事先屏蔽曲面触控屏上的边缘的发射电极通道线及接收电极通道线及屏蔽所述发射电极通道线与所述接收电极通道线所对应的像素单元，再启动其余未被屏蔽的像素单元来进行发光，以供所述触控屏测试机捕捉到所述曲面触控屏上的全平面区的四个直角顶角顶点，确保所述触控屏测试机能够准确对位所述曲面触控屏的全平面区，并且对所述全平面区进行打点测试、划线测试或其他相关触控测试。藉此，本发明的曲面触控屏测试方法可使触控屏测试机能够对各种曲面触控屏进行触控测试。
为让本发明的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，幷配合所附图式，作详细说明如下：
附图说明
图1为现有技术的全平面触控屏的俯视图。
图2为现有技术的曲面触控屏的俯视图。
图3为本发明曲面触控屏测试方法的曲面触控屏的俯视图。
图4为为本发明曲面触控屏测试方法的曲面触控屏的发射电极通道线与接收电极通道线的配置示意图。
图5为本发明曲面触控屏测试方法的曲面触控屏的发射电极通道线与接收电极通道线与多个像素的配置示意图，其中对应外围区的发射电极通道线与接收通道的多个像素Px2被屏蔽而不启动，其余对应全平面区的发射电极通道线与接收通道的多个像素Px1被启动。
图6为本发明曲面触控屏测试方法的一实施例。
图7为本发明曲面触控屏测试方法的另一实施例。
具体实施方式
请参照图6，本发明的曲面触控屏测试方法主要包括：一曲面触控屏提供步骤S01、一通道屏蔽步骤S02、一顶点捕捉步骤S03、一测试步骤S05。
请参照图3至图5，所述曲面触控屏提供步骤S01包括提供一曲面触控屏10。
所述曲面触控屏10可为立体(3D)曲面触控屏或是二维圆弧顶角的触控屏，且包括：一全平面区100、一外围区110、多个像素单元Px1、Px2、多个发射电极通道线Tx以及多个接收电极通道线Rx。
所述全平面区100呈矩形而具有四顶角顶点CP，所述四个顶角顶点CP可为直角顶角顶点CP。所述外围区110围绕所述全平面区100，且具有四个圆弧顶角103。所述多个像素单元Px1、Px2设置在所述曲面触控屏10上。图5的像素单元Px1、Px2以多个方格表示，各方格分别代表一组像素单元Px1、Px2。此外，具有"X"记号的方格为被屏蔽的一组像素单元Px2，而空白的方格为被启动的一组像素单元Px1。所述多个发射电极通道线Tx并排设置在所述曲面触控屏10上。所述多个接收电极通道线Rx并排设置在所述曲面触控屏10上，且与所述多个发射电极通道线Tx相交，其中各所述接收电极通道线Rx对应所述曲面触控屏10的部分像素单元Px1、Px2，各所述发射电极通道线Tx对应所述曲面触控屏10的部分像素单元Px1、Px2。
所述通道屏蔽步骤S02包括屏蔽对应所述外围区110的至少二所述发射电极通道线Tx及屏蔽所述至少二发射电极通道线Tx所对应的像素单元Px1、Px2，并且屏蔽对应所述外围区110的至少二所述接收电极通道线Rx及屏蔽所述至少二接收电极通道线Rx所对应的像素单元Px1、Px2，其中未被屏蔽的发射电极通道线Tx、未被屏蔽的接收电极通道线Rx及未被屏蔽的像素单元Px1、Px2位于所述全平面区100内。
所述顶点捕捉步骤S03包括启动所述曲面触控屏10上未被屏蔽的像素单元Px1、Px2，驱动一触控屏测试机(图中未示)捕捉所述曲面触控屏10上的被启动的像素单元Px1、Px2，并根据所述被启动的像素单元Px1、Px2找寻所述全平面区100的所述四个顶角顶点CP。由于被启动的像素单元Px1、Px2是对应所述全平面区100，因此只要找寻到位于被启动的像素单元Px1、Px2中位于四个角落的像素单元Px1、Px2，即可找到所述全平面区100的所述四个顶角顶点CP。在本发明较佳实施例中，所述触控屏测试机具有一摄像装置，并以所述摄像装置捕捉所述全平面区100的所述四个顶角顶点CP。所述摄像装置可为一感光耦合元件(Charge-coupled Device,CCD)摄像装置。
所述测试步骤S05包括驱动所述触控屏测试机依据所述四个顶角顶点CP来对所述全平面区100进行一触控测试。所述触控测试可包括一打点测试或一划线测试，亦可同时包括所述打点测试以及所述划线测试。所述打点测试即是以一笔状元件碰触所述曲面触控屏10，所述划线测试即是以所述笔状元件在所述曲面触控屏10上划直线或弧线。
在本发明较佳实施例中，所述曲面触控屏10的外围区110具有二第一侧边101以及二第二侧边102。各所述第一侧边101的二端分别形成有一第一圆弧部1010，二所述第二侧边102垂直于二所述第一侧边101，各所述第二侧边102的二端分别形成有一第二圆弧部1020，其中，各所述第一侧边101的其中一第一圆弧部1010与相邻于所述第一侧边101的所述第二侧边102的其中一第二圆弧部1020相连接而形成所述曲面触控屏10的四个圆弧顶角103的其中一个。所述多个发射电极通道线Tx平行所述二第一侧边101，其中各所述第一侧边101对应所述多个发射电极通道线Tx的至少其中一个；以及所述多个接收电极通道线Rx平行所述二第二侧边102，其中各所述第二侧边102对应所述多个接收电极通道线Rx的至少其中一个。此外，在本发明一实施例中，各所述第一侧边101为圆弧侧边(Rounded Edge)，各所述第二侧边102为圆弧侧边(Rounded Edge)。
在本发明较佳实施例中，所述通道屏蔽步骤S02包括屏蔽对应各所述第一侧边101的所述至少一发射电极通道线Tx及屏蔽所述至少一发射电极通道线Tx所对应的像素单元Px1、Px2，并且屏蔽对应各所述第二侧边102的所述至少一接收电极通道线Rx及屏蔽所述至少一接收电极通道线Rx所对应的像素单元Px1、Px2。
请参照图7，在本发明较佳实施例中，所述测试方法进一步包括一座标系统设定步骤S04。所述座标系统设定步骤S04是在所述测试步骤S05之前执行，且包括驱动所述触控屏测试机依据所找寻到的所述四个顶角顶点CP设定出一对应所述全平面区100的测试座标系统；另外，在所述测试步骤S05中，所述触控屏测试机依据所述测试座标系统所对应的所述全平面区100进行所述触控测试。此外，在所述座标系统设定步骤S04中，所述触控屏测试机将所找寻到的所述四个顶角顶点CP的其中一个设定为一座标原点，并且根据所述座标原点进一步设定出所述对应所述全平面区100的测试座标系统。
请参照图4与图5，以下为一根据上述测试方法的范例说明。在所述范例中，所述曲面触控屏10的解析度(像素单元Px1、Px2总数)为1440x 2960，其中所述曲面触控屏10具1400条源极线(source line)以及2960条栅极线(gate line)以用于形成所述多个像素单元Px1、Px2。曲面触控屏10的总通道数为15条发射电极通道线Tx与31条接收电极通道线Rx的乘积，即是15x 31。各所述发射电极通道线Tx占所述源极线级数为1440/15＝96，各所述接收电极通道线Rx占所述栅极线级数：2960/31≈96。
所述曲面触控屏10的感测器间距(sensor pitch)面积尺寸为4mm x 4mm，测试线性度规范为+/-1mm，每1cm占24级像素。因此，图3中的圆弧顶角103只要占源极线和栅极线不超过120级，都可以将所述外围区110的发射电极通道线Tx和接收电极通道线Rx屏蔽。藉此，保证所述曲面触控屏10的启动区域(Activated Area，即是像素被启动的区域)的四个顶角顶点CP落在所述曲面触控屏10的全平面区100，使所述触控屏测试机设置座标原点实现对位。此外，全平面区100的解析度为1248x 2768，可供测试所述曲面触控屏10的性能。
与现有技术相较，本发明的曲面触控屏测试方法解决了触控屏测试机无法对曲面触控屏10测试的问题。本发明的曲面触控屏测试方法可事先屏蔽曲面触控屏10上的边缘的发射电极通道线Tx及接收电极通道线Rx及屏蔽所述发射电极通道线Tx与所述接收电极通道线Rx所对应的像素单元Px1、Px2，再启动其余未被屏蔽的像素单元Px1、Px2来进行发光，以供所述触控屏测试机捕捉到所述曲面触控屏10上的全平面区100的四个直角顶角顶点CP，确保所述触控屏测试机能够准确对位所述曲面触控屏10的全平面区100，并且对所述全平面区100进行打点测试、划线测试或其他相关触控测试。藉此，本发明的曲面触控屏测试方法可使触控屏测试机能够对各种曲面触控屏10进行触控测试。

Claims (10)

1.一种曲面触控屏测试方法，其特征在于包括︰
一曲面触控屏提供步骤，包括提供一曲面触控屏，其中所述曲面触控屏具有：
一全平面区，所述全平面区呈矩形而具有四顶角顶点；
一外围区，围绕所述全平面区，且具有四个圆弧顶角；
多个像素单元，设置在所述曲面触控屏上；
多个发射电极通道线，并排设置在所述曲面触控屏上；以及
多个接收电极通道线，并排设置在所述曲面触控屏上，且与所述多个发射电极通道线相交，其中各所述接收电极通道线对应所述曲面触控屏的部分像素单元，各所述发射电极通道线对应所述曲面触控屏的部分像素单元；
一通道屏蔽步骤，包括屏蔽对应所述外围区的至少二所述发射电极通道线及屏蔽所述至少二发射电极通道线所对应的像素单元，并且屏蔽对应所述外围区的至少二所述接收电极通道线及屏蔽所述至少二接收电极通道线所对应的像素单元，其中未被屏蔽的发射电极通道线、未被屏蔽的接收电极通道线及未被屏蔽的像素单元位于所述全平面区内；
一顶点捕捉步骤，包括启动所述曲面触控屏上未被屏蔽的像素单元，驱动一触控屏测试机捕捉所述曲面触控屏上的被启动的像素单元，并根据所述被启动的像素单元找寻所述全平面区的所述四个顶角顶点；以及
一测试步骤，包括驱动所述触控屏测试机依据所述四个顶角顶点来对所述全平面区进行一触控测试。
2.如权利要求1所述的曲面触控屏测试方法，其特征在于：所述曲面触控屏的外围区具有二第一侧边以及二第二侧边，各所述第一侧边的二端分别形成有一第一圆弧部，二所述第二侧边垂直于二所述第一侧边，各所述第二侧边的二端分别形成有一第二圆弧部，其中，各所述第一侧边的其中一第一圆弧部与相邻于所述第一侧边的所述第二侧边的其中一第二圆弧部相连接而形成所述曲面触控屏的四个圆弧顶角的其中一个；所述多个发射电极通道线平行所述二第一侧边，其中各所述第一侧边对应所述多个发射电极通道线的至少其中一个；以及所述多个接收电极通道线平行所述二第二侧边，其中各所述第二侧边对应所述多个接收电极通道线的至少其中一个。
3.如权利要求2所述的曲面触控屏测试方法，其特征在于：所述通道屏蔽步骤包括屏蔽对应各所述第一侧边的所述至少一发射电极通道线及屏蔽所述至少一发射电极通道线所对应的像素单元，并且屏蔽对应各所述第二侧边的所述至少一接收电极通道线及屏蔽所述至少一接收电极通道线所对应的像素单元。
4.如权利要求1所述的曲面触控屏测试方法，其特征在于：所述曲面触控屏测试方法包括一在所述测试步骤之前的座标系统设定步骤，所述座标系统设定步骤包括驱动所述触控屏测试机依据所找寻到的所述四个顶角顶点设定出一对应所述全平面区的测试座标系统；在所述测试步骤中，所述触控屏测试机依据所述测试座标系统所对应的所述全平面区进行所述触控测试。
5.如权利要求4所述的曲面触控屏测试方法，其特征在于：所述座标系统设定步骤中，所述触控屏测试机将所找寻到的所述四个顶角顶点的其中一个设定为一座标原点，并且根据所述座标原点进一步设定出所述对应所述全平面区的测试座标系统。
6.如权利要求1所述的曲面触控屏测试方法，其特征在于：所述顶点捕捉步骤中，所述触控屏测试机具有一摄像装置，并以所述摄像装置捕捉所述全平面区的所述四个顶角顶点。
7.如权利要求6所述的曲面触控屏测试方法，其特征在于：所述摄像装置为一感光耦合元件摄像装置。
8.如权利要求1所述的曲面触控屏测试方法，其特征在于：所述触控测试包括一打点测试和一划线测试中的至少一者。
9.如权利要求1所述的曲面触控屏测试方法，其特征在于：所述全平面区的四个顶角顶点为直角顶角顶点。
10.如权利要求2所述的曲面触控屏测试方法，其特征在于：各所述第一侧边和第二侧边中的至少一者为圆弧侧边。
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