CN105975132A - 一种触摸屏精确度的检测方法和装置 - Google Patents

一种触摸屏精确度的检测方法和装置 Download PDF

Info

Publication number
CN105975132A
CN105975132A CN201610293787.4A CN201610293787A CN105975132A CN 105975132 A CN105975132 A CN 105975132A CN 201610293787 A CN201610293787 A CN 201610293787A CN 105975132 A CN105975132 A CN 105975132A
Authority
CN
China
Prior art keywords
touch screen
test point
coordinate
coordinates
mcore
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201610293787.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN105975132B (zh
Inventor
宋伟
单体江
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Goertek Techology Co Ltd
Original Assignee
Qingdao Goertek Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Qingdao Goertek Co Ltd filed Critical Qingdao Goertek Co Ltd
Priority to CN201610293787.4A priority Critical patent/CN105975132B/zh
Publication of CN105975132A publication Critical patent/CN105975132A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN105975132B publication Critical patent/CN105975132B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G06F3/0418—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers for error correction or compensation, e.g. based on parallax, calibration or alignment

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Position Input By Displaying (AREA)

Abstract

本发明公开了一种触摸屏精确度的检测方法和装置。所述方法包括：在触摸屏整个区域内选取多个测试点，获取每个测试点的物理坐标和逻辑坐标；确定触摸屏的核心区域，利用核心区域内每个测试点的逻辑坐标和物理坐标计算触摸屏的位移偏差和角度偏差；根据角度偏差和位移偏差对整个区域测试点的逻辑坐标进行旋转和位移矫正，得到整个区域内每个测试点的矫正坐标；计算整个区域内每个测试点的矫正坐标相对其物理坐标的距离，得到每个测试点的误差数据；对所有误差数据进行排序，去除预定数量的最大误差数据，将剩余误差数据中最大的误差数据作为触摸屏的精确度。相比于现有技术，本发明的技术方案能够有效地提高触摸屏精确度的检测结果的准确性。

Description

一种触摸屏精确度的检测方法和装置
技术领域
本发明涉及触摸屏检测技术领域，特别涉及一种触摸屏精确度的检测方法和装置。
背景技术
目前，触摸屏已广泛应用在数码类电子产品上，如手机、PAD、游戏手柄、自动提款机、自动售货机等产品均已支持触控类操作，触摸屏领域也获得快速发展。
一般通过检测触摸屏的报点率、精确度、线性度、抖动度等性能指标判定触摸屏合格与否。在检测高精度触摸屏时，由于该种触摸屏要求较高的精度，精确度测试更为重要。如果在测试的时候，不能保证触摸屏完全放水平，就会导致触摸屏存在些微的旋转和位移，若此时直接进行精确度的检测，会导致检测结果存在偏差，导致检测结果不准确。
发明内容
鉴于上述问题，本发明提供了一种触摸屏精确度的检测方法和装置，以解决现有技术触摸屏的精确度检测结果准确性差的问题。
为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：
一方面，本发明提供了一种触摸屏精确度的检测方法，所述方法包括：
按照等分原则在触摸屏整个区域内选取多个测试点，并获取每个测试点的物理坐标和逻辑坐标；
确定所述触摸屏的核心区域，利用核心区域内每个测试点的逻辑坐标和物理坐标计算所述触摸屏的位移偏差；以及，对所述核心区域内每个测试点的逻辑坐标和物理坐标进行坐标变换，利用相应测试点变换后的逻辑坐标和物理坐标计算所述触摸屏的角度偏差；
根据所述触摸屏的角度偏差和位移偏差依次对整个区域内测试点的逻辑坐标进行相应的旋转矫正和位移矫正，得到整个区域内每个测试点逻辑坐标矫正后的矫正坐标；
计算整个区域内每个测试点的矫正坐标相对其物理坐标的距离，得到每个测试点的误差数据；
对所有测试点的误差数据进行排序，并根据统计学正态分布经验法则去除预定数量的最大误差数据，将剩余误差数据中最大的误差数据作为所述触摸屏的精确度。
优选地，所述按照等分原则在触摸屏整个区域内选取多个测试点，并获取每个测试点的物理坐标和逻辑坐标具体为：
根据所述触摸屏整个区域的大小、形状以及所述触摸屏的精度，得到均匀分布在所述触摸屏整个区域内的多个测试点，以及每个测试点的物理坐标；
利用机械臂控制金属手指依次接触所述触摸屏整个区域内的每个测试点物理坐标对应的位置，并根据设定的报点率和金属手指接触测试点的接触时间获得该测试点的逻辑坐标。
进一步优选地，所述触摸屏的核心区域的边缘与所述触摸屏的边缘之间的直线距离为金属手指半径长度；
所述利用核心区域内每个测试点的逻辑坐标和物理坐标计算所述触摸屏的位移偏差具体为：
根据公式Xoffest＝average(Xmcore-Xrcore)和Yoffest＝average(Ymcore-Yrcore)计算所述触摸屏的位移偏差；
所述对所述核心区域内每个测试点的逻辑坐标和物理坐标进行坐标变换具体为：
根据公式Xmcore-centered＝Xmcore-average(Xmcore)和Ymcore-centered＝Ymcore-average(Ymcore)对核心区域内每个测试点的物理坐标进行坐标变换，以及根据公式Xrcore-centered＝Xrcore-average(Xrcore)和Yrcore-centered＝Yrcore-average(Yrcore)对核心区域内每个测试点的逻辑坐标进行坐标变换；
所述利用相应测试点变换后的逻辑坐标和物理坐标计算所述触摸屏的角度偏差具体为：
根据公式α＝average(θr-θm)计算所述触摸屏的角度偏差；
其中，(Xmcore，Ymcore)为核心区域内测试点的物理坐标，(Xrcore，Yrcore)为核心区域内测试点的逻辑坐标，(Xoffest，Yoffest)为所述触摸屏的位移偏差，(Xmcore-centered，Ymcore-centered)为核心区域内测试点逻辑坐标进行坐标变换后的变换坐标，(Xrcore-centered，Yrcore-centered)为核心区域内每个测试点物理坐标进行坐标变换后的变换坐标，α为所述触摸屏的角度偏差，θr和θm相同测试点的逻辑坐标和物理坐标对应的变换坐标与其中心点连线的夹角。
进一步优选地，所述相应测试点具体为：变换后的物理坐标与中心点(average(Xmcore)，average(Ymcore))的距离大于距离阈值，且变换后的逻辑坐标与中心点(average(Xrcore)，average(Yrcore))的距离大于所述距离阈值的测试点，所述距离阈值根据所述触摸屏的精度确定。
优选地，根据下述公式对整个区域内的测试点进行旋转矫正；
X r - r o t a t e d Y r - r o t a t e d = cos α - sin α sin α cos α X r - a v e r a g e ( X m ) Y r - a v e r a g e ( Y m ) + a v e r a g e ( X m ) a v e r a g e ( Y m )
其中，(Xm，Ym)为整个区域内每个测试点的物理坐标，(Xr，Yr)为整个区域内每个测试点的逻辑坐标，(Xr-rotated，Yr-rotated)为整个区域内每个测试点的旋转矫正坐标。
另一方面，本发明还提供了一种触摸屏精确度的检测装置，所述装置包括：
测试点获取单元，用于按照等分原则在触摸屏整个区域内选取多个测试点，并获取每个测试点的物理坐标和逻辑坐标；
偏差计算单元，用于确定所述触摸屏的核心区域，利用核心区域内每个测试点的逻辑坐标和物理坐标计算所述触摸屏的位移偏差；以及，对所述核心区域内每个测试点的逻辑坐标和物理坐标进行坐标变换，利用相应测试点变换后的逻辑坐标和物理坐标计算所述触摸屏的角度偏差；
测试点矫正单元，用于根据触摸屏的角度偏差和位移偏差依次对整个区域内测试点的逻辑坐标进行相应的旋转矫正和位移矫正，得到整个区域内每个测试点逻辑坐标矫正后的矫正坐标；
误差数据计算单元，用于计算整个区域内每个测试点的矫正坐标相对其物理坐标的距离，得到每个测试点的误差数据；
精确度确定单元，用于对所有测试点的误差数据进行排序，并根据统计学正态分布经验法则去除预定数量的最大误差数据，将剩余误差数据中最大的误差数据作为所述触摸屏的精确度。
优选地，所述测试点获取单元包括：
物理坐标获取模块，用于根据所述触摸屏整个区域的大小、形状以及所述触摸屏的精度，得到均匀分布在所述触摸屏整个区域内的多个测试点，以及每个测试点的物理坐标；
逻辑坐标获取模块，用于利用机械臂控制金属手指依次接触所述触摸屏整个区域内的每个测试点物理坐标对应的位置，并根据设定的报点率和金属手指接触测试点的接触时间获得该测试点的逻辑坐标。
优选地，所述触摸屏的核心区域的边缘与所述触摸屏的边缘之间的直线距离为金属手指半径长度；所述偏差计算单元包括：位移偏差计算模块、坐标变换模块和角度偏差计算模块；
所述位移偏差计算模块，用于根据公式Xoffest＝average(Xmcore-Xrcore)和Yoffest＝average(Ymcore-Yrcore)计算所述触摸屏的位移偏差；
所述坐标变换模块，用于根据公式Xmcore-centered＝Xmcore-average(Xmcore)和Ymcore-centered＝Ymcore-average(Ymcore)对核心区域内每个测试点的物理坐标进行坐标变换，以及根据公式Xrcore-centered＝Xrcore-average(Xrcore)和Yrcore-centered＝Yrcore-average(Yrcore)对核心区域内每个测试点的逻辑坐标进行坐标变换；
所述角度偏差计算模块，用于根据公式α＝average(θr-θm)计算所述触摸屏的角度偏差；
其中，(Xmcore，Ymcore)为核心区域内测试点的物理坐标，(Xrcore，Yrcore)为核心区域内测试点的逻辑坐标，(Xoffest，Yoffest)为所述触摸屏的位移偏差，(Xmcore-centered，Ymcore-centered)为核心区域内测试点逻辑坐标进行坐标变换后的变换坐标，(Xrcore-centered，Yrcore-centered)为核心区域内每个测试点物理坐标进行坐标变换后的变换坐标，α为所述触摸屏的角度偏差，θr和θm相同测试点的逻辑坐标和物理坐标对应的变换坐标与其中心点连线的夹角。
进一步优选地，所述相应测试点具体为：变换后的物理坐标与中心点(average(Xmcore)，average(Ymcore))的距离大于距离阈值，且变换后的逻辑坐标与中心点(average(Xrcore)，average(Yrcore))的距离大于所述距离阈值的测试点，所述距离阈值根据所述触摸屏的精度确定。
优选地，测试点矫正单元包括旋转矫正模块；
所述转矫正模块，用于根据下述公式对整个区域内测试点的逻辑坐标进行旋转矫正；
X r - r o t a t e d Y r - r o t a t e d = cos α - sin α sin α cos α X r - a v e r a g e ( X m ) Y r - a v e r a g e ( Y m ) + a v e r a g e ( X m ) a v e r a g e ( Y m )
其中，(Xm，Ym)为整个区域内每个测试点的物理坐标，(Xr，Yr)为整个区域内每个测试点的逻辑坐标，(Xr-rotated，Yr-rotated)为整个区域内每个测试点的旋转矫正坐标。
本发明实施例的有益效果是：1、本发明通过机械臂控制金属手指在触摸屏的整个区域内选取均匀覆盖触摸屏的多个测试点，并获得每个测试点的逻辑坐标和物理坐标，避免测试点获取过程中引入操作误差，提高测试点获取的精度；2、本发明通过利用位于触摸屏核心区域内的测试点的物理坐标和逻辑坐标计算触摸屏的位移偏差和角度偏差，避免由于非核心区域的测试点的精度差降低计算结果的精度；3、本发明通过利用所得到的位移偏差和角度偏差对触摸屏的整个区域内的测试点的逻辑坐标进行矫正，以最大程度地消除测试点获取过程中由于触摸屏未摆放好而导致所得到的测试点的逻辑坐标存在位移和角度方面的偏差，使最后得到的检测结果具有较高的精度。
附图说明
图1为实施例一提供的触摸屏精确度的检测方法流程图；
图2为实施例一提供的触摸屏的核心区域及其测试点的示意图；
图3为实施例一提供的在触摸屏的整个区域选取到的测试点的示意图；
图4为实施例一提供的所有测试点的误差数据的展现效果图；
图5为实施例二提供的触摸屏精确度的检测装置的结构框图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
由于触摸屏未被摆放好，使得坐标提取工具获得的触摸屏上的测试点的逻辑坐标与其物理坐标存在一定的偏差，如位移或角度方面的偏差，若果直接利用获得的逻辑坐标进行触摸屏精确度的检测会导致检测结果精度较差。基于此，本发明的整体技术构思为：通过计算触摸屏的位移偏差和角度偏差，并利用这些偏差对测试点的逻辑坐标进行矫正，利用矫正后的逻辑坐标计算触摸屏的精确度，进而提高触摸屏精确度检测结果的准确度。
实施例一：
图1为本实施例提供的触摸屏精确度的检测方法流程图，如图1所示，图1中的方法包括：
S110，按照等分原则在触摸屏整个区域内选取多个测试点，并获取每个测试点的物理坐标和逻辑坐标。
本实施例通过下述方式得到每个测试点的物理坐标和逻辑坐标：
根据触摸屏整个区域的大小、形状以及触摸屏的精度，得到均匀分布在触摸屏整个区域内的多个测试点，以及每个测试点的物理坐标；
利用机械臂控制金属手指依次接触触摸屏整个区域内的每个测试点物理坐标对应的位置，并根据设定的报点率和金属手指接触测试点的接触时间获得该测试点的逻辑坐标。
需要说明的是，本发明所述的物理坐标是指测试点的实际位置，而逻辑坐标是指该测试点被触摸时，经过坐标提取工具获得的测试坐标。
S120，确定触摸屏的核心区域，利用核心区域内每个测试点的逻辑坐标和物理坐标计算触摸屏的位移偏差；以及，对核心区域内每个测试点的逻辑坐标和物理坐标进行坐标变换，利用相应测试点变换后的逻辑坐标和物理坐标计算触摸屏的角度偏差。
若在步骤S110中，利用机械臂控制金属手指依次接触触摸屏整个区域内的每个测试点物理坐标对应的位置，并根据设定的报点率和金属手指接触触摸屏测试点的接触时间获得该测试点的逻辑坐标，则本步骤S120优选地确定触摸屏的核心区域的边缘与触摸屏的边缘之间的直线距离为金属手指半径长度，这是因为在触摸屏的非核心区域上，金属手指会有部分不能接触到触摸屏，使得基于金属手指触摸得到的测试点的逻辑坐标精度相对较低，因此本实施例利用测试点精度相对高的核心区域的测试点计算触摸屏的位移偏差和角度偏差，提高所得到触摸屏的位移偏差和角度偏差的精度。
S130，根据所述触摸屏的角度偏差和位移偏差依次对整个区域内测试点的逻辑坐标进行相应的旋转矫正和位移矫正，得到整个区域内每个测试点逻辑坐标矫正后的矫正坐标。
在实际应用中，可以先根据触摸屏的角度偏差对整个区域内测试点的逻辑坐标进行旋转矫正，再根据触摸屏的位移偏差对进行旋转矫正的逻辑坐标进行位移矫正，得到整个区域内每个测试点逻辑坐标矫正后的矫正坐标；也可以先根据触摸屏的位移偏差对整个区域内测试点的逻辑坐标进行位移矫正，再根据触摸屏的角度偏差对进行位移矫正的逻辑坐标进行旋转矫正。
S140，计算整个区域内每个测试点的矫正坐标相对其物理坐标的距离，得到每个测试点的误差数据。
S150，对所有测试点的误差数据进行排序，并根据统计学正态分布经验法则去除预定数量的最大误差数据，将剩余误差数据中最大的误差数据作为所述触摸屏的精确度。
本实施例利用机械臂控制金属手指在触摸屏的整个区域内选取均匀覆盖触摸屏的多个测试点，并获得每个测试点的逻辑坐标和物理坐标，避免测试点获取过程中引入操作误差，提高测试点获取的精度；并通过利用位于触摸屏核心区域内测试点的物理坐标和逻辑坐标计算触摸屏的位移偏差和角度偏差，避免由于非核心区域的测试点的精度差降低计算结果的精度；最后利用所得到的位移偏差和角度偏差对触摸屏的整个区域内的测试点的逻辑坐标进行矫正，以最大程度地消除测试点获取过程中由于触摸屏未摆放好导致所得到的测试点的逻辑坐标存在位移和角度方面的偏差，使得最后得到的检测结果具有较高的精度。
为了更详细地说明本实施例的有益效果，下面通过一个具体实现方案进行说明。
在本具体实现方案中，为便于描述假设触摸屏的整个区域为矩形，金属手指的半径为4mm。本具体实现方案触摸屏的整个区域对应为一个矩形图片，则上述金属手指的半径对应用像素个数描述时，该金属手指的半径为40。以下所涉及的各参数的数值均为像素尺度下的数值。
参考图2所示，图2为本实施例提供的触摸屏的核心区域及其测试点的示意图，在本实现方案中，触摸屏的整个区域的原点origin设置为图2中左上侧的顶点(0,0)，整个区域的大小为428×210。
本具体实现方案根据触摸屏整个区域的大小、形状以及触摸屏的精度，得到均匀分布在触摸屏整个区域内的多个测试点，以及每个测试点的物理坐标；利用机械臂控制金属手指依次接触触摸屏整个区域内的每个测试点物理坐标对应的位置，并根据设定的报点率和金属手指接触测试点的接触时间获得该测试点的逻辑坐标。即首先在触摸屏的整个区域上选取均匀覆盖触摸屏的若干测试点，并得到每个测试点的物理坐标和逻辑坐标。
在触摸屏整个区域选取测试点时，测试点个数的选取步骤和测试点逻辑坐标的获取步骤会影响最后检测结果的精度。
本发明在进行测试点个数选取时，根据触摸屏的精度确定选取的测试点个数。假设上述触摸屏精度的理论值为10，则可以以接近10的采用间隔在触摸屏上选取测试点，如可以以11为采样间隔进行测试点的选取，如图3所示，图3为以11为采样间隔在触摸屏的整个区域选取到的测试点的示意图，这样所选取的测试点均匀分布在触摸屏的整个区域上，且由于任意相邻测试点的水平距离和竖直距离均为11，因此可以根据触摸屏的形状和尺寸得到每个测试点的物理坐标值。当然，为了使得后续得到的检测结果具有更高的精度，我们可以适当减少采样间隔的数值，对此本发明不做限制。
本发明在进行测试点逻辑坐标获取时，根据金属手指接触触摸屏上测试点的时间和坐标提取工具的报点率得到测试点的逻辑坐标。假设机械臂控制金属手机接触触摸屏上的每个测试点的时间为6秒钟，坐标提取工具的报点率为每分钟200点，那么坐标提取工具给出的该测试点的逻辑坐标对应为20个测试坐标的平均值，通常测试坐标的个数越多，坐标提取工具给出的测试点的逻辑坐标值越精确，因此可以根据金属手指接触触摸屏上测试点的时间和坐标提取工具的报点率调整所得到的测试点的逻辑坐标值的精确度。
由于在触摸屏的边缘区域上，金属手指会有部分不能接触到触摸屏，使得基于金属手指触摸得到的测试点的逻辑坐标精度相对较低，因此本具体实现方案利用测试点精度相对高的核心区域的测试点计算触摸屏的位移偏差和角度偏差，提高所得到的位移偏差和角度偏差的精度。参考图2所示，图2中小矩形所在区域即为触摸屏的核心区域，触摸屏的核心区域的边缘与触摸屏的边缘之间的直线距离为金属手指半径长度40。
在确定触摸屏的核心区域后，根据公式Xoffest＝average(Xmcore-Xrcore)和Yoffest＝average(Ymcore-Yrcore)计算触摸屏的位移偏差。
在得到触摸屏的位移偏差后，通过下述步骤计算触摸屏的角度偏差：
首先，根据公式Xmcore-centered＝Xmcore-average(Xmcore)和Ymcore-centered＝Ymcore-average(Ymcore)对核心区域内每个测试点的物理坐标进行坐标变换，以及根据公式Xrcore-centered＝Xrcore-average(Xrcore)和Yrcore-centered＝Yrcore-average(Yrcore)对核心区域内每个测试点的逻辑坐标进行坐标变换；
需要说明的是，图2中标识的center点的坐标为(average(Xmcore)，average(Ymcore))，即本具体实现方案在对核心区域测试点的物理坐标进行变换时，将核心区域测试点的基于左上角原点origin(0,0)的物理坐标对应变换为基于center(average(Xmcore)，average(Ymcore))的物理变换坐标；同样地，本具体实现方案在对核心区域测试点的逻辑坐标进行变换时，将核心区域测试点的基于左上角(由于测试得到的逻辑坐标存在偏差，左上角原点的逻辑坐标一般不为(0,0))的物理坐标对应变换为基于center’(average(Xrcore)，average(Yrcore))的物理变换坐标，基于上述坐标变换以便于根据公式α＝average(θr-θm)求出触摸屏的角度偏差。
然后，利用相应测试点变换后的逻辑坐标和物理坐标计算触摸屏的角度偏差具体为：根据公式α＝average(θr-θm)计算触摸屏的角度偏差。
其中，(Xmcore，Ymcore)为核心区域内测试点的物理坐标，(Xrcore，Yrcore)为核心区域内测试点的逻辑坐标，(Xoffest，Yoffest)为触摸屏的位移偏差，(Xmcore-centered，Ymcore-centered)为核心区域内测试点逻辑坐标进行坐标变换后的变换坐标，(Xrcore-centered，Yrcore-centered)为核心区域内每个测试点物理坐标进行坐标变换后的变换坐标，α为触摸屏的角度偏差，θr和θm相同测试点的逻辑坐标和物理坐标对应的变换坐标与其中心点连线的夹角。
其中，相应测试点具体为：变换后的物理坐标与中心点(average(Xmcore)，average(Ymcore))的距离大于距离阈值，且变换后的逻辑坐标与中心点(average(Xrcore)，average(Yrcore))的距离大于距离阈值的测试点，距离阈值根据触摸屏的精度确定。
根据大量的数据仿真发现，在根据测试点坐标变换后的物理坐标和逻辑坐标进行角度计算时，距离center点为触摸屏精度的理论值的测试点，即距离center点为10的测试点会导致正切值tan不稳定，因此，在计算触摸屏的角度偏差时，要去除这些不稳定点，以避免影响角度偏差的精度。
在得到触摸屏的位移偏差和角度偏差后，根据触摸屏的角度偏差对整个区域内的测试点进行旋转矫正，以及根据触摸屏的位移偏差对整个区域内的测试点进行位移矫正，得到整个区域内每个测试点矫正后的矫正坐标。
其中，根据下述公式对整个区域内的测试点进行旋转矫正；
X r - r o t a t e d Y r - r o t a t e d = cos α - sin α sin α cos α X r - a v e r a g e ( X m ) Y r - a v e r a g e ( Y m ) + a v e r a g e ( X m ) a v e r a g e ( Y m )
(Xm，Ym)为整个区域内每个测试点的物理坐标，(Xr，Yr)为整个区域内每个测试点的逻辑坐标，(Xr-rotated，Yr-rotated)为整个区域内每个测试点逻辑坐标的旋转矫正坐标。
本具体实现方案中，可以先利用位移偏差对整个区域内的测试点进行位移矫正，然后利用角度偏差对进行位移矫正后的整个区域内的测试点进行旋转矫正。
具体的，根据公式计算整个区域内每个测试点进行位移矫正的坐标，然后根据公式计算整个区域内每个测试点进行旋转矫正的坐标，即整个区域内每个测试点的矫正坐标。
当然，也可以先利用角度偏差对整个区域内的测试点进行旋转矫正，然后利用位移偏差对进旋转移矫正后的整个区域内的测试点进行位移矫正。
具体的，根据公式计算整个区域内每个测试点进行位移矫正的坐标，然后根据公式计算整个区域内每个测试点进行旋转矫正的坐标，即整个区域内每个测试点的矫正坐标。
其中，(Xr-shifted，Yr-shifted)为整个区域内每个测试点逻辑坐标的位移矫正坐标，(Xr-correted，Yr-corrected)为整个区域内每个测试点逻辑坐标进行位移矫正和旋转矫正后的最终的矫正坐标。
在得到整个区域内每个测试点矫正后的矫正坐标后，利用两点间的距离的计算公式计算整个区域内的每个测试点的矫正坐标到其对应的物理坐标间的直线距离，该直线距离值即为该测试点的误差数据。
在得到所有测试点的误差数据后，对所有测试点的误差数据进行排序，并根据统计学正态分布经验法则去除预定数量的最大误差数据，将剩余误差数据中最大的误差数据作为触摸屏的精确度。如抛弃最大的0.3％的误差数据，取剩余99.7％误差数据中的最大值作为本具体实现方案中触摸屏的精确度。
本具体实现方案还可利用关联的显示装置显示所有测试点的误差数据，参考图4所示，图4为本实施例提供的所有测试点的误差数据的展现效果图，通过对测试点的误差数据进行显示，使得操作者能够更直觉的看到误差数据的大小。
即此，本具体实现方案通过上述方法即可得到触摸屏的线性度，本发明在触摸屏的整个区域内获得均匀覆盖触摸屏的若干测试点的物理坐标和逻辑坐标后，后续依据测试点的物理坐标和逻辑坐标所进行的一系列技术步骤都可以由计算机程序实现，在硬件上不增加成本，因此相比于现有技术依靠各种精密的矫正仪器进行触摸屏精确度的检查方法，本发明不但具有逻辑清晰、实现简单、成本低的优势，还由于在计算触摸屏精确度的检测结果中并未引进任何矫正仪器，因此还避免了仪器误差和操作误差对检测结果的影响。
实施例二：
基于与实施例一相同的技术构思，本发明还提供了一种触摸屏精确度的检测装置。
图5为本实施例提供的触摸屏精确度的检测装置的结构框图，如图5所示，该检测装置包括：
测试点获取单元51，用于按照等分原则在触摸屏整个区域内选取多个测试点，并获取每个测试点的物理坐标和逻辑坐标。
优选地，测试点获取单元51包括：物理坐标获取模块和逻辑坐标获取模块；
物理坐标获取模块，用于根据触摸屏整个区域的大小、形状以及触摸屏的精度，得到均匀分布在触摸屏整个区域内的多个测试点，以及每个测试点的物理坐标；
逻辑坐标获取模块，用于利用机械臂控制金属手指依次接触触摸屏整个区域内的每个测试点物理坐标对应的位置，并根据设定的报点率获得该测试点的逻辑坐标。
偏差计算单元52，用于确定触摸屏的核心区域，利用核心区域内每个测试点的逻辑坐标和物理坐标计算触摸屏的位移偏差；以及，对核心区域内每个测试点的逻辑坐标和物理坐标进行坐标变换，利用相应测试点变换后的逻辑坐标和物理坐标计算触摸屏的角度偏差。
优选地，触摸屏的核心区域的边缘与触摸屏的边缘之间的直线距离为金属手指半径长度。
测试点矫正单元53，用于根据触摸屏的角度偏差和位移偏差依次对整个区域内测试点的逻辑坐标进行相应的旋转矫正和位移矫正，得到整个区域内每个测试点逻辑坐标矫正后的矫正坐标。
误差数据计算单元54，用于计算整个区域内每个测试点的矫正坐标相对其物理坐标的距离，得到每个测试点的误差数据。
精确度确定单元55，用于对所有测试点的误差数据进行排序，并根据统计学正态分布经验法则去除预定数量的最大误差数据，将剩余误差数据中最大的误差数据作为触摸屏的精确度。
在本实施例的一个具体实现方案中，偏差计算单元52包括：位移偏差计算模块、坐标变换模块和角度偏差计算模块；
位移偏差计算模块，用于根据公式Xoffest＝average(Xmcore-Xrcore)和Yoffest＝average(Ymcore-Yrcore)计算触摸屏的位移偏差；
坐标变换模块，用于根据公式Xmcore-centered＝Xmcore-average(Xmcore)和Ymcore-centered＝Ymcore-average(Ymcore)对核心区域内每个测试点的物理坐标进行坐标变换，以及根据公式Xrcore-centered＝Xrcore-average(Xrcore)和Yrcore-centered＝Yrcore-average(Yrcore)对核心区域内每个测试点的逻辑坐标进行坐标变换；
角度偏差计算模块，用于根据公式α＝average(θr-θm)计算触摸屏的角度偏差；
其中，(Xmcore，Ymcore)为核心区域内测试点的物理坐标，(Xrcore，Yrcore)为核心区域内测试点的逻辑坐标，(Xoffest，Yoffest)为所述触摸屏的位移偏差，(Xmcore-centered，Ymcore-centered)为核心区域内测试点逻辑坐标进行坐标变换后的变换坐标，(Xrcore-centered，Yrcore-centered)为核心区域内每个测试点物理坐标进行坐标变换后的变换坐标，α为所述触摸屏的角度偏差，θr和θm相同测试点的逻辑坐标和物理坐标对应的变换坐标与其中心点连线的夹角。
其中，相应测试点具体为：变换后的物理坐标与中心点(average(Xmcore)，average(Ymcore))的距离大于距离阈值，且变换后的逻辑坐标与中心点(average(Xrcore)，average(Yrcore))的距离大于所述距离阈值的测试点，所述距离阈值根据所述触摸屏的精度确定。
在本实施例的上述个具体实现方案中，测试点矫正单元53包括旋转矫正模块；
转矫正模块，用于根据下述公式对整个区域内测试点的逻辑坐标进行旋转矫正；
X r - r o t a t e d Y r - r o t a t e d = cos α - sin α sin α cos α X r - a v e r a g e ( X m ) Y r - a v e r a g e ( Y m ) + a v e r a g e ( X m ) a v e r a g e ( Y m )
其中，(Xm，Ym)为整个区域内每个测试点的物理坐标，(Xr，Yr)为整个区域内每个测试点的逻辑坐标，(Xr-rotated，Yr-rotated)为整个区域内每个测试点的旋转矫正坐标。
本发明装置实施例的各单元模块的具体工作方式可以参见本发明的方法实施例，在此不再赘述。
综上所述，本发明公开了一种触摸屏精确度的检测方法和装置，1、本发明通过机械臂控制金属手指在触摸屏的整个区域内选取均匀覆盖触摸屏的多个测试点，并获得每个测试点的逻辑坐标和物理坐标，避免测试点获取过程中引入操作误差，提高测试点获取的精度；2、本发明通过利用位于触摸屏核心区域内的测试点的物理坐标和逻辑坐标计算触摸屏的位移偏差和角度偏差，避免由于非核心区域的测试点的精度差降低计算结果的精度；3、本发明通过利用所得到的位移偏差和角度偏差对触摸屏的整个区域内的测试点的逻辑坐标进行矫正，以最大程度地消除测试点获取过程中由于触摸屏未摆放好而导致所得到的测试点的逻辑坐标存在位移和角度方面的偏差，使最后得到的检测结果具有较高的精度。
为了便于清楚描述本发明实施例的技术方案，在发明的实施例中，采用了“第一”、“第二”等字样对功能和作用基本相同的相同项或相似项进行区分，本领域技术人员可以理解“第一”、“第二”等字样并不对数量和执行次序进行限定。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。

Claims (10)

1.一种触摸屏精确度的检测方法，其特征在于，所述方法包括：
按照等分原则在触摸屏整个区域内选取多个测试点，并获取每个测试点的物理坐标和逻辑坐标；
确定所述触摸屏的核心区域，利用核心区域内每个测试点的逻辑坐标和物理坐标计算所述触摸屏的位移偏差；以及，对所述核心区域内每个测试点的逻辑坐标和物理坐标进行坐标变换，利用相应测试点变换后的逻辑坐标和物理坐标计算所述触摸屏的角度偏差；
根据所述触摸屏的角度偏差和位移偏差依次对整个区域内测试点的逻辑坐标进行相应的旋转矫正和位移矫正，得到整个区域内每个测试点逻辑坐标矫正后的矫正坐标；
计算整个区域内每个测试点的矫正坐标相对其物理坐标的距离，得到每个测试点的误差数据；
对所有测试点的误差数据进行排序，并根据统计学正态分布经验法则去除预定数量的最大误差数据，将剩余误差数据中最大的误差数据作为所述触摸屏的精确度。
2.根据权利要求1所述的触摸屏精确度的检测方法，其特征在于，所述按照等分原则在触摸屏整个区域内选取多个测试点，并获取每个测试点的物理坐标和逻辑坐标具体为：
根据所述触摸屏整个区域的大小、形状以及所述触摸屏的精度，得到均匀分布在所述触摸屏整个区域内的多个测试点，以及每个测试点的物理坐标；
利用机械臂控制金属手指依次接触所述触摸屏整个区域内的每个测试点物理坐标对应的位置，并根据设定的报点率和金属手指接触测试点的接触时间获得该测试点的逻辑坐标。
3.根据权利要求2所述的触摸屏精确度的检测方法，其特征在于，所述触摸屏的核心区域的边缘与所述触摸屏的边缘之间的直线距离为金属手指半径长度；
所述利用核心区域内每个测试点的逻辑坐标和物理坐标计算所述触摸屏的位移偏差具体为：
根据公式Xoffest＝average(Xmcore-Xrcore)和Yoffest＝average(Ymcore-Yrcore)计算所述触摸屏的位移偏差；
所述对所述核心区域内每个测试点的逻辑坐标和物理坐标进行坐标变换具体为：
根据公式Xmcore-centered＝Xmcore-average(Xmcore)和Ymcore-centered＝Ymcore-average(Ymcore)对核心区域内每个测试点的物理坐标进行坐标变换，以及根据公式Xrcore-centered＝Xrcore-average(Xrcore)和Yrcore-centered＝Yrcore-average(Yrcore)对核心区域内每个测试点的逻辑坐标进行坐标变换；
所述利用相应测试点变换后的逻辑坐标和物理坐标计算所述触摸屏的角度偏差具体为：
根据公式α＝average(θr-θm)计算所述触摸屏的角度偏差；
其中，(Xmcore，Ymcore)为核心区域内测试点的物理坐标，(Xrcore，Yrcore)为核心区域内测试点的逻辑坐标，(Xoffest，Yoffest)为所述触摸屏的位移偏差，(Xmcore-centered，Ymcore-centered)为核心区域内测试点逻辑坐标进行坐标变换后的变换坐标，(Xrcore-centered，Yrcore-centered)为核心区域内每个测试点物理坐标进行坐标变换后的变换坐标，α为所述触摸屏的角度偏差，θr和θm相同测试点的逻辑坐标和物理坐标对应的变换坐标与其中心点连线的夹角。
4.根据权利要求3所述的触摸屏精确度的检测方法，其特征在于，所述相应测试点具体为：变换后的物理坐标与中心点(average(Xmcore)，average(Ymcore))的距离大于距离阈值，且变换后的逻辑坐标与中心点(average(Xrcore)，average(Yrcore))的距离大于所述距离阈值的测试点，所述距离阈值根据所述触摸屏的精度确定。
5.根据权利要求3所述的触摸屏精确度的检测方法，其特征在于，根据下述公式对整个区域内测试点的逻辑坐标进行旋转矫正；
X r - r o t a t e d Y r - r o t a t e d = cos α - sin α sin α cos α X r - a v e r a g e ( X m ) Y r - a v e r a g e ( Y m ) + a v e r a g e ( X m ) a v e r a g e ( Y m )
其中，(Xm，Ym)为整个区域内每个测试点的物理坐标，(Xr，Yr)为整个区域内每个测试点的逻辑坐标，(Xr-rotated，Yr-rotated)为整个区域内每个测试点的旋转矫正坐标。
6.一种触摸屏精确度的检测装置，其特征在于，所述装置包括：
测试点获取单元，用于按照等分原则在触摸屏整个区域内选取多个测试点，并获取每个测试点的物理坐标和逻辑坐标；
偏差计算单元，用于确定所述触摸屏的核心区域，利用核心区域内每个测试点的逻辑坐标和物理坐标计算所述触摸屏的位移偏差；以及，对所述核心区域内每个测试点的逻辑坐标和物理坐标进行坐标变换，利用相应测试点变换后的逻辑坐标和物理坐标计算所述触摸屏的角度偏差；
测试点矫正单元，用于根据所述触摸屏的角度偏差和位移偏差依次对整个区域内测试点的逻辑坐标进行相应的旋转矫正和位移矫正，得到整个区域内每个测试点逻辑坐标矫正后的矫正坐标；
误差数据计算单元，用于计算整个区域内每个测试点的矫正坐标相对其物理坐标的距离，得到每个测试点的误差数据；
精确度确定单元，用于对所有测试点的误差数据进行排序，并根据统计学正态分布经验法则去除预定数量的最大误差数据，将剩余误差数据中最大的误差数据作为所述触摸屏的精确度。
7.根据权利要求6所述的检测装置，其特征在于，所述测试点获取单元包括：
物理坐标获取模块，用于根据所述触摸屏整个区域的大小、形状以及所述触摸屏的精度，得到均匀分布在所述触摸屏整个区域内的多个测试点，以及每个测试点的物理坐标；
逻辑坐标获取模块，用于利用机械臂控制金属手指依次接触所述触摸屏整个区域内的每个测试点物理坐标对应的位置，并根据设定的报点率和金属手指接触测试点的接触时间获得该测试点的逻辑坐标。
8.根据权利要求7所述的检测装置，其特征在于，所述触摸屏的核心区域的边缘与所述触摸屏的边缘之间的直线距离为金属手指半径长度；所述偏差计算单元包括：位移偏差计算模块、坐标变换模块和角度偏差计算模块；
所述位移偏差计算模块，用于根据公式Xoffest＝average(Xmcore-Xrcore)和Yoffest＝average(Ymcore-Yrcore)计算所述触摸屏的位移偏差；
所述坐标变换模块，用于根据公式Xmcore-centered＝Xmcore-average(Xmcore)和Ymcore-centered＝Ymcore-average(Ymcore)对核心区域内每个测试点的物理坐标进行坐标变换，以及根据公式Xrcore-centered＝Xrcore-average(Xrcore)和Yrcore-centered＝Yrcore-average(Yrcore)对核心区域内每个测试点的逻辑坐标进行坐标变换；
所述角度偏差计算模块，用于根据公式α＝average(θr-θm)计算所述触摸屏的角度偏差；
其中，(Xmcore，Ymcore)为核心区域内测试点的物理坐标，(Xrcore，Yrcore)为核心区域内测试点的逻辑坐标，(Xoffest，Yoffest)为所述触摸屏的位移偏差，(Xmcore-centered，Ymcore-centered)为核心区域内测试点逻辑坐标进行坐标变换后的变换坐标，(Xrcore-centered，Yrcore-centered)为核心区域内每个测试点物理坐标进行坐标变换后的变换坐标，α为所述触摸屏的角度偏差，θr和θm相同测试点的逻辑坐标和物理坐标对应的变换坐标与其中心点连线的夹角。
9.根据权利要求8所述的检测装置，其特征在于，所述相应测试点具体为：变换后的物理坐标与中心点(average(Xmcore)，average(Ymcore))的距离大于距离阈值，且变换后的逻辑坐标与中心点(average(Xrcore)，average(Yrcore))的距离大于所述距离阈值的测试点，所述距离阈值根据所述触摸屏的精度确定。
10.根据权利要求8所述的检测装置，其特征在于，测试点矫正单元包括旋转矫正模块；
所述转矫正模块，用于根据下述公式对整个区域内测试点的逻辑坐标进行旋转矫正；
X r - r o t a t e d Y r - r o t a t e d = cos α - sin α sin α cos α X r - a v e r a g e ( X m ) Y r - a v e r a g e ( Y m ) + a v e r a g e ( X m ) a v e r a g e ( Y m )
其中，(Xm，Ym)为整个区域内每个测试点的物理坐标，(Xr，Yr)为整个区域内每个测试点的逻辑坐标，(Xr-rotated，Yr-rotated)为整个区域内每个测试点的旋转矫正坐标。
CN201610293787.4A 2016-05-05 2016-05-05 一种触摸屏精确度的检测方法和装置 Active CN105975132B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610293787.4A CN105975132B (zh) 2016-05-05 2016-05-05 一种触摸屏精确度的检测方法和装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610293787.4A CN105975132B (zh) 2016-05-05 2016-05-05 一种触摸屏精确度的检测方法和装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105975132A true CN105975132A (zh) 2016-09-28
CN105975132B CN105975132B (zh) 2019-07-19

Family

ID=56991937

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610293787.4A Active CN105975132B (zh) 2016-05-05 2016-05-05 一种触摸屏精确度的检测方法和装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN105975132B (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108733248A (zh) * 2018-03-20 2018-11-02 黄石瑞视光电技术股份有限公司 一种触摸屏线性度补偿方法及使用该方法的装置
CN108762567A (zh) * 2018-05-30 2018-11-06 北京硬壳科技有限公司 一种位置解析度测量方法及装置
CN109164367A (zh) * 2018-07-10 2019-01-08 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 曲面触控屏测试方法
WO2019201335A1 (zh) * 2018-04-19 2019-10-24 京东方科技集团股份有限公司 触控测试装置和触控测试方法
CN111311687A (zh) * 2020-01-21 2020-06-19 上海悦易网络信息技术有限公司 一种手机屏幕像素点的空间位置检测方法及设备

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101727244A (zh) * 2008-10-28 2010-06-09 广达电脑股份有限公司 校正装置及校正方法
CN102591525A (zh) * 2012-01-13 2012-07-18 广州视源电子科技有限公司 一种触摸屏的校准方法、触摸屏系统及校准装置
US20140055404A1 (en) * 2012-08-21 2014-02-27 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Digitizer

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101727244A (zh) * 2008-10-28 2010-06-09 广达电脑股份有限公司 校正装置及校正方法
CN102591525A (zh) * 2012-01-13 2012-07-18 广州视源电子科技有限公司 一种触摸屏的校准方法、触摸屏系统及校准装置
US20140055404A1 (en) * 2012-08-21 2014-02-27 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Digitizer

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108733248A (zh) * 2018-03-20 2018-11-02 黄石瑞视光电技术股份有限公司 一种触摸屏线性度补偿方法及使用该方法的装置
CN108733248B (zh) * 2018-03-20 2021-07-23 黄石瑞视光电技术股份有限公司 一种触摸屏线性度补偿方法及使用该方法的装置
WO2019201335A1 (zh) * 2018-04-19 2019-10-24 京东方科技集团股份有限公司 触控测试装置和触控测试方法
CN110398682A (zh) * 2018-04-19 2019-11-01 京东方科技集团股份有限公司 触控测试装置和触控测试方法
US11698407B2 (en) 2018-04-19 2023-07-11 Boe Technology Group Co., Ltd. Touch-control test apparatus and touch-control test method
CN108762567A (zh) * 2018-05-30 2018-11-06 北京硬壳科技有限公司 一种位置解析度测量方法及装置
CN108762567B (zh) * 2018-05-30 2021-02-09 北京硬壳科技有限公司 一种位置解析度测量方法及装置
CN109164367A (zh) * 2018-07-10 2019-01-08 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 曲面触控屏测试方法
CN109164367B (zh) * 2018-07-10 2020-10-27 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 曲面触控屏测试方法
CN111311687A (zh) * 2020-01-21 2020-06-19 上海悦易网络信息技术有限公司 一种手机屏幕像素点的空间位置检测方法及设备
CN111311687B (zh) * 2020-01-21 2022-12-02 上海万物新生环保科技集团有限公司 一种手机屏幕像素点的空间位置检测方法及设备

Also Published As

Publication number Publication date
CN105975132B (zh) 2019-07-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105975132B (zh) 一种触摸屏精确度的检测方法和装置
US20240036658A1 (en) Pointer positioning method and apparatus, and instrument
US20120242594A1 (en) Input device and input method
US9146648B2 (en) Touch sensing method for touch panel
US20110161046A1 (en) System and method for verifying a probe tip
US20130197862A1 (en) Latency measurement
CN114220757B (zh) 晶圆检测对位方法、装置和系统及计算机介质
CN107958458A (zh) 图像分割方法、图像分割系统及包括其的设备
TW201925801A (zh) 應用於半導體檢測裝置的對位方法
CN103809309A (zh) 基板检测设备及方法
CN116125176A (zh) 触摸精度检测方法、装置、设备及存储介质
JP6303575B2 (ja) タッチパネルのタッチ位置検出方法、タッチパネル検査方法、及びタッチパネル検査装置
EP3605299A1 (en) Touch panel device, method for display control thereof, and program
CN102314387A (zh) 触摸屏精确度的测量方法
CN105094405A (zh) 自动调整有效触点的方法及装置
CN106547394B (zh) 一种触摸显示屏的校准方法、装置及系统
CN105094404A (zh) 自适应有效点触方法及装置
CN115361497A (zh) 摄像头模组的倾斜角度测量方法、装置、设备及存储介质
CN110569799B (zh) 一种指纹模组的位移量检测方法、装置及终端设备
CN105468245B (zh) 一种终端及终端操作界面的显示方法
CN106462311B (zh) 模拟触摸面板装置
CN102063352B (zh) 测试指标器于显示装置所显示的光标的方法
CN116313967A (zh) 预定线位置校正方法和装置、电子设备及存储介质
WO2018161421A1 (zh) 终端设备的触摸显示屏幕的性能测试方法和性能测试装置
CN105759151B (zh) 一种触摸屏线性度的检测方法和装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
TR01 Transfer of patent right
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20240509

Address after: 266104 No. 500, Songling Road, Laoshan District, Qingdao, Shandong

Patentee after: GOERTEK TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Country or region after: China

Address before: 266061 5, 3 building, Fortune Plaza, 18 Qinling Mountains Road, Laoshan District, Qingdao, Shandong.

Patentee before: QINGDAO GOERTEK TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Country or region before: China