CN109061236A - 一种用于测试充电芯片的设备 - Google Patents

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CN109061236A CN201810828008.5A CN201810828008A CN109061236A CN 109061236 A CN109061236 A CN 109061236A CN 201810828008 A CN201810828008 A CN 201810828008A CN 109061236 A CN109061236 A CN 109061236A
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Abstract

本发明提供了一种用于测试充电芯片的设备，包括：测试电路以及底座、固定在底座上的垂直支架和与垂直支架连接的固定支架；固定支架固定有传动机构，传动机构包括：传动机构固定件、导向筒、联动轴、连接件和扳手；转动扳手的手柄端，在扳手的转力带动下，连接件带动联动轴在导向筒内上下滑动，联动轴带动下压板下压或上升；底座上设置有限位槽，限位槽用于将淬盘限定在限位槽内，淬盘上设有产品容置槽；底座上还设置有弹力探针，弹力探针的两个针脚分别与测试电路的两个接入端电连接，在待测试产品放置于产品容置槽内时，弹力探针的位置正对待测试产品的测试接口；在下压板的下压下，待测试产品的测试接口与弹力探针触压接触，以完成对待测试产品的测试。

Description

一种用于测试充电芯片的设备
技术领域
本发明涉及一种电子技术领域，尤其涉及一种用于测试充电芯片的设备。
背景技术
为了保证用户的网银交易安全，银行在为用户办理银行卡时还可以给用户颁发智能密码设备，协助用户办理网银交易。用户在进行网银交易时，只有使用智能密码设备才能完成各种金钱交易，否则，客户端会提示用户插入智能密码设备。
随着智能密码设备的快速发展以及网银交易对智能密码设备的依赖，智能密码设备被用户频繁的使用，尤其是经常办理大额网银交易的用户。但是，由于智能密码设备不可拆卸，因此，无法更换电池，为了提高智能密码设备的使用续航时间，业内多采用充电芯片来实现对智能密码设备的电池进行充电。
而充电芯片是由工厂的生产线大批量生产的，在投入使用之前，为了保证使用在智能密码设备中的充电芯片均可以达到良好的充电能力，急需一种简单的对充电芯片工作是否正常的用于测试充电芯片的设备。
此外，如何能够快速测试芯片是否工作正常一直是用于测试充电芯片的设备领域需要解决的问题之一。目前，传统的测试方式一般为人工对芯片进行测试，但是，上述测试方式检测速度慢，准确率较低，而且还容易出现漏检的问题。因此，也急需一种可以提高测试速度和准确率、避免漏检的芯片用于测试充电芯片的设备。
发明内容
本发明旨在解决上述问题/之一。
本发明的主要目的在于提供一种用于测试充电芯片的设备。
为达到上述目的，本发明的技术方案具体是这样实现的：
本发明一方面提供了一种用于测试充电芯片的设备，包括：底座和跨设于所述底座上的支撑架，所述支撑架包括垂直固定在所述底座两侧的两个垂直支架和与两个所述垂直支架连接的固定支架；所述固定支架固定有传动机构，所述用于测试充电芯片的设备还包括下压板，其中：所述传动机构至少包括：传动机构固定件、导向筒、联动轴、连接件和扳手；其中，所述传动机构固定件固定在所述固定支架上；所述导向筒固定在所述传动机构固定件的一个自由端；所述联动轴穿过所述导向筒，并沿所述导向筒上下滑动，所述联动轴的一端与所述下压板连接，另一端与所述连接件的一端连接；所述扳手呈L型，所述扳手的前端与所述传动机构固定件的另一自由端可转动连接，所述扳手的弯折处与所述连接件的另一端可转动连接；转动所述扳手的手柄端，在所述扳手的转力带动下，所述连接件带动所述联动轴在所述导向筒内上下滑动，所述联动轴向靠近所述底座的方向运动时带动所述下压板下压，所述联动轴向远离所述底座的方向运动时带动所述下压板上升；所述底座上设置有限位槽，所述限位槽的位置与所述下压板的位置对应；所述限位槽用于将淬盘限定在所述限位槽内，所述淬盘上设有产品容置槽，用于容置待测试产品；所述底座上还设置有弹力探针，在所述待测试产品放置于所述产品容置槽内时，所述弹力探针的位置正对所述待测试产品的测试接口；所述待测试产品在所述下压板的下压下，所述待测试产品的测试接口与所述弹力探针触压接触，以完成对所述待测试产品的测试；所述用于测试充电芯片的设备还包括基于充电芯片的测试电路，其中，所述基于充电芯片的测试电路包括：模拟电池电路、待检测电路、充电芯片和充电电流测量电路；其中，所述模拟电池电路至少包括：供电端口、第一控制端口、第一PMOS管、第一NMOS管、第一电阻、第二电阻、第三电阻、整流二极管、模拟电池内阻和第一电容；其中：所述供电端口与供电电源电连接；所述第一PMOS管的源极与所述供电端口电连接，所述第一PMOS管的漏极与所述整流二极管的正向接入端电连接，所述第一PMOS管的栅极与所述第一NMOS管的漏极电连接；所述第一NMOS管的源极与所述供电电源的地端电连接，所述第一NMOS管的栅极与所述第三电阻的一端电连接，所述第三电阻的另一端连接至所述第一控制端口，在所述第一控制端口输出的控制信号的控制下导通或关断所述第一PMOS管；所述第一电阻电连接在所述供电端口与所述第一PMOS管的栅极之间；所述第二电阻电连接在所述第一NMOS管的栅极与所述供电电源的地端之间；所述模拟电池内阻与所述第一电容并联，并电连接在所述整流二极管的反向接入端与所述供电电源的地端之间；所述待检测电路至少包括：第二控制端口、待测电阻、第二PMOS管、第二NMOS管、第四电阻、第五电阻、第六电阻和第二输出端；其中：所述待测电阻的一端与所述整流二极管的反向接入端电连接，所述待测电阻的另一端与所述第二PMOS管的漏极电连接，所述第二PMOS管的源极与所述第二输出端电连接，所述第二PMOS管的栅极与所述第二NMOS管的漏极电连接；所述第二NMOS管的源极与所述供电电源的地端电连接，所述第二NMOS管的栅极与所述第六电阻的一端电连接，所述第六电阻的另一端连接至所述第二控制端口，在所述第二控制端口输出的控制信号的控制下导通或关断所述第二PMOS管；所述第四电阻电连接在所述第二NMOS管的栅极与所述供电电源的地端之间；所述第五电阻电连接在所述第二PMOS管的栅极与所述第二输出端之间；所述弹力探针的两个用于检测充电芯片的针脚分别与所述第二输出端口和所述供电电源的地端电连接；所述充电芯片连接至所述第二输出端口与所述供电电源的地端之间，以为所述模拟电池电路充电，在所述充电芯片为所述模拟电池电路充电时，产生电流流经所述待测电阻；所述充电电流测量芯片的第一检测接入端与第二检测接入端电连接至所述待测电路的两端；所述充电电流测量芯片的输出端输出电压测量值，所述电压测量值是根据流经所述待测电阻的电流得到的。
可选的，该设备还包括：滑动轴；所述滑动轴的两端固定在所述底座和所述固定支架上；所述滑动轴与所述底座的表面垂直，与所述垂直支架平行；所述滑动轴垂直穿过所述下压板，以使得所述下压板稳定地沿所述滑动轴运行。
可选的，所述固定支架包括滑动轴固定件，用于固定所述滑动轴的一端，所述滑动轴的另一端固定在所述底座的表面上。
可选的，所述滑动轴至少包括一对，所述滑动轴固定件与所述滑动轴匹配设置。
可选的，所述淬盘设有多个产品容置槽，以容置多个所述待测试产品。
可选的，所述弹力探针包括多组，每组弹力探针包括多根探针；所述弹力探针与所述淬盘的产品容置槽匹配设置。
可选的，该设备还包括：第一增益调节电阻和第二增益调节电阻；所述第一增益调节电阻电连接在所述充电电流测量芯片的输出端与所述充电电流测量芯片的反馈端之间，所述第二增益调节电阻电连接在所述充电电流测量芯片的反馈端与所述充电电流测量芯片的参考端之间，所述参考端与所述供电电源的地端电连接。
可选的，该设备还包括：第二电容；所述第二电容与所述第一增益调节电阻并联，连接在所述充电电流测量芯片的输出端与所述充电电流测量芯片的反馈端之间。
可选的，其中，VOUT为所述电压测量值，Isample为流经所述待测电阻的电流，R22为待测电阻，Ra1所述第一增益调节电阻，Ra2为所述第二增益调节电阻。
可选的，所述充电电流测量芯片采用MAX9922芯片。
由上述本发明提供的技术方案可以看出，本发明提供了一种用于测试充电芯片的设备，通过传动机构以及下压板等机械结构将待测产品固定在底座的产品容置槽中，方便弹力探针完成对产品的测试，弹力探针连接到测试电路，可以实现机器测试，提高了测试效率和准确率，并能够避免对产品的漏检；而且通过充电电流测量电路输出的电压测量值，可以监控充电芯片是否处于正常的工作状态，以及时发现有问题的充电芯片。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。
图1为本发明实施例1提供的用于测试充电芯片的设备的结构示意图；
图2为本发明实施例1提供的基于充电芯片的测试电路的结构示意图。
具体实施方式
下面结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明的保护范围。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或数量或位置。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
下面将结合附图对本发明实施例作进一步地详细描述。
实施例1
本实施例提供了一种用于测试充电芯片的设备，该用于测试充电芯片的设备包括：工装结构和基于充电芯片的测试电路。其中：图1是根据本发明一个实施例的用于测试充电芯片的设备的结构示意图。该用于测试充电芯片的设备用于测试充电芯片工作是否正常。
如图1所示，工装结构包括：底座1和跨设于底座1上的支撑架2，支撑架包括垂直固定在底座两侧的两个垂直支架21(图上只示出一侧支架，另一侧未示出)和与两个垂直支架连接的固定支架22；
固定支架22固定有传动机构3，所述工装结构还包括下压板4，其中：传动机构3至少包括：传动机构固定件301、导向筒302、联动轴303、连接件304和扳手305；其中，传动机构固定件301固定在固定支架22上；导向筒302固定在传动机构固定件301的一个自由端；联动轴303穿过导向筒302，并沿导向筒302上下滑动，联动轴303的一端与下压板4连接，另一端与连接件304的一端连接；扳手305呈L型，扳手305的前端与传动机构固定件301的另一自由端可转动连接，扳手305的弯折处与连接件304的另一端可转动连接；转动扳手305的手柄端，在扳手305的转力带动下，连接件304带动联动轴303在导向筒302内上下滑动，联动轴303向靠近底座1的方向运动时带动下压板4下压，联动轴303向远离底座1的方向运动时带动下压板4上升；
底座1上设置有限位槽5，限位槽5的位置与下压板4的位置对应；限位槽5用于将淬盘6限定在限位槽5内，淬盘6上设有产品容置槽7，用于容置待测试产品；
底座1上还设置有弹力探针(图中未示出)，在待测试产品放置于产品容置槽7内时，弹力探针的位置正对待测试产品的测试接口；待测试产品在下压板4的下压下，待测试产品的测试接口与弹力探针触压接触，以完成对待测试产品的测试。
本实施例提供的工装结构通过传动机构以及下压板等机械结构将待测产品固定在底座的产品容置槽中，方便弹力探针完成对产品的测试，弹力探针连接到测试电路，可以实现机器测试，提高了测试效率和准确率，并能够避免对产品的漏检。
此外，该用于测试充电芯片的设备还包括基于充电芯片的测试电路(图1未示出)。其中，测试电路中具有两个连接端，分别与所述弹力探针的两个用于检测充电芯片的针脚电连接。图2为本实施例提供的基于充电芯片的测试电路的结构示意图，具体请参见下文中对图2的具体描述。
在本实施例中，如图1所示，固定支架22可以设置为与两个垂直支架21连接，且与底座1的表面垂直的固定面板(如图1所示)，也可以设置为与底座1的表面平行的固定面板(图1上未示出)。对于前一种设置，传动机构固定件301可以如图1所示，其固定端固定在固定支架22上，对于后一种设置，传动机构固定件301的固定端固定在固定支架22面向底座1的一面上，两个自由端分别固定导向筒302和扳手305的前端，但无论传动机构固定件301采用上述哪种方式固定在固定支架22，导向筒302以及联动轴303构成的联动部分都与底座1的表面垂直，从而可以垂直地带动下压板上升或下降。
作为一种可选的实施方式，如图1所示，工装结构还包括：滑动轴8；滑动轴8的两端固定在底座1和固定支架22上；滑动轴8与底座1的表面垂直，与垂直支架21平行；滑动轴8垂直穿过下压板，以使得下压板稳定地沿滑动轴运行，以使得下压板4稳定地沿滑动轴8运行。可选的，滑动轴8至少包括一对(如图1所示的801和802)，当然，滑动轴可以设置为多组，可根据设计人员的需求进行设置。通过多组滑动轴可以保证下压板4在联动轴303的带动下能够更稳定的下压或上升。
作为一种可选的实施方式，如图1所示，固定支架22包括滑动轴固定件221，用于固定滑动轴8(801和802)的一端，滑动轴的另一端固定在底座1上。该滑动轴固定件221与滑动轴匹配设置，如图1所示，固定支架22上设置有一对滑动轴固定件221。通过固定轴固定件可以更加牢固的固定滑动轴，使其更稳定。
作为一种可选的实施方式，淬盘6设有多个产品容置槽，以容置多个待测试产品，从而可以同时测试多个产品，提高测试效率。
作为本实施例的一种可选实施方式，弹力探针包括多组，每组弹力探针包括多根探针；弹力探针与淬盘的产品容置槽匹配设置，以完成对每个产品容置槽容置的产品的测试。
作为本实施例的一种可选实施方式，如图1所示，限位槽5包括限位沿(如上未示出)，限位沿用于卡住淬盘6的边沿，以固定淬盘6；淬盘6还设有手柄9，拉动手柄9以将淬盘6沿着限位沿拉出或推入限位槽5中，方便技术人员操作。
本实施例提供的工装结构通过上述传动机构以及下压板将待测产品固定在底座的产品容置槽中，方便弹力探针完成对产品的测试，弹力探针连接到测试电路，可以实现机器测试，提高了测试效率和准确率，并能够避免对产品的漏检。
本实施例提供了一种基于充电芯片的测试电路。如图2所示，该测试电路包括：模拟电池电路10、待检测电路20、充电芯片30和充电电流测量电路40；其中：
模拟电池电路10包括：供电端口VBAT-OUT、第一控制端口CHAR-TEST_EN、第一PMOS管Q1、第一NMOS管Q2、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、整流二极管D1、模拟电池内阻R11和第一电容C1；其中，第一PMOS管Q1、第一NMOS管Q2、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3构成第一开关电路104，第一PMOS管Q1为第一开关单元1041，第一NMOS管Q2为第二开关单元1042。其中：供电端口VBAT-OUT电连接至供电电源；第一PMOS管Q1的源极(S)与供电端口电连接，第一PMOS管Q1的漏极(D)与整流二极管D1的正向接入端(1)电连接，第一PMOS管Q1的栅极(G)与第一NMOS管Q2的漏极(D)电连接；第一NMOS管Q2的源极(S)与供电电源的地端GND电连接，第一NMOS管Q2的栅极(G)与第三电阻R3的一端电连接，第三电阻R3的另一端连接至第一控制端口CHAR-TEST_EN，在第一控制端口CHAR-TEST_EN输出的控制信号的控制下导通或关断第一PMOS管Q1；第一电阻R1电连接在供电端口VBAT-OUT与第一PMOS管的栅极(G)之间；第二电阻R2电连接在第一NMOS管Q2的栅极(G)与供电电源的地端GND之间；整流二极管D1的反向接入端(2)电连接至待测电阻R22的一端；模拟电池内阻R11与第一电容C1并联，并电连接在整流二极管D1的反向接入端(2)与供电电源的地端GND之间；在需要对待测的充电芯片进行测试时，模拟电池电路10才需要工作，所以，当控制信号为高电平时，第一NMOS管Q2与第一PMOS管Q1导通，第一开关电路104导通，模拟电池电路10工作正常。当控制信号为低电平时，第一NMOS管Q2与第一PMOS管Q1关断，第一开关电路104关断，模拟电池电路10停止工作。在不需要进行测试时，可以通过控制信号控制模拟电池电路停止工作，从而可以减少对电路的损耗。
待检测电路20包括：第二控制端口CHAR-TEST_EN、待测电阻R22、第二PMOS管Q3、第二NMOS管Q4、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6和第二输出端VBAT-OUT1；其中：整流二极管D1的反向接入端(2)电连接至待测电阻R22的一端；待测电阻R22的另一端与第二PMOS管Q3的漏极(D)电连接，第二PMOS管Q3的源极(S)与第二输出端VBAT-OUT1电连接，第二PMOS管Q3的栅极(G)与第二NMOS管Q4的漏极(D)电连接；第二NMOS管Q4的源极(S)与供电电源的地端GND电连接，第二NMOS管Q4的栅极(G)与第六电阻R6的一端电连接，第六电阻R6的另一端连接至第二控制端口CHAR-TEST_EN，在第二控制端口CHAR-TEST_EN输出的控制信号的控制下导通或关断第二PMOS管；第四电阻R4电连接在第二NMOS管Q4的栅极(G)与供电电源的地端GND之间；第五电阻电R5连接在第二PMOS管Q3的栅极(G)与第二输出端VBAT-OUT1之间。只有在需要对待测的充电芯片进行测试时，待检测电路20才需要工作，所以，当第二控制端口CHAR-TEST_EN输出的控制信号为高电平时，第二NMOS管Q4与第二PMOS管Q3导通，第二开关电路204导通，待检测电路20工作正常。当控制信号为低电平时，第二NMOS管Q4与第二PMOS管Q3关断，第二开关电路204关断，待检测电路20停止工作。在不需要进行测试时，可以通过控制信号控制待检测电路20停止工作，从而可以减少对电路的损耗。弹力探针的两个用于检测充电芯片30的针脚分别与第二输出端口VBAT-OUT1和供电电源的地端GND电连接，从而检测充电芯片工作是否正常。测试电路中的两个与所述弹力探针的用于检测充电芯片的针脚电连接的连接端为第二输出端口VBAT-OUT1和供电电源的地端GND。
充电芯片30连接至第二输出端口VBAT-OUT1与供电电源的地端GND之间，以为模拟电池电路10充电，在充电芯片30为模拟电池电路10充电时，产生电流流经待测电阻R22。如图2所示，充电芯片30与待测电阻R22、模拟电池内阻R11、供电电源的地端GND形成回路。在充电芯片30检测到模拟电池电路10的电压值小于预设值时，开启充电模式，电流从VBAT-OUT1流经R22、R11，最后流入地端GND。此时，有电流流经待测电阻R22，充电电流测量电路40通过检测待测电路R22的电流得到输出电压测量值，通过检测电压测量值是否符合充电芯片在给产品的内部电池充电正常工作的电压范围，就可以测试出该充电芯片是否为合格的芯片。
充电电流测量芯片包括第一检测接入端RS+、第二检测接入端RS-和输出端OUT，第一检测接入端RS+与第二检测接入端RS-电连接在待测电阻R22的两端，输出端OUT输出电压测量值，电压测量值是根据流经待测电阻的电流得到的。
由此，本发明实施例提供的基于充电芯片的测试电路，通过充电电流测量电路输出的电压测量值，可以监控充电芯片是否处于正常的工作状态，以及时发现有问题的充电芯片。
作为一种可选的实施方式，如图2所示，该测试电路还包括：第一增益调节电阻Ra1和第二增益调节电阻Ra2；其中，第一增益调节电阻Ra1电连接在充电电流测量芯片的输出端OUT与充电电流测量芯片的反馈端FB之间，第二增益调节电阻Ra2电连接在充电电流测量芯片的反馈端FB与充电电流测量芯片的参考端REF之间，参考端REF与供电电源的地端电GND连接。在本实施例中，可选的，高边电流检测放大器可以采用MAX9922芯片。通过以下公式得到电压测量值：其中，VOUT为电压测量值，Isample为流经待测电阻的电流，R22为待测电阻，Ra1为第一增益调节电阻，Ra2为第二增益调节电阻。通过第一增益调节电阻和第二增益调节电阻确定输出电压的放大倍数使得输出端OUT输出的电压测量值便于观测。
作为一种可选的实施方式，如图2所示，该测试电路还包括：第二电容C2，其中：第二电容C2与第一增益调节电阻Ra1并联，连接在充电电流测量芯片的输出端OUT与充电电流测量芯片的反馈端FB之间，起到隔离直流信号，将供电端口VBAT-OUT输入的电源中残余的交流及谐波成份回路入地的作用。
在本实施例中，正常工作时，由控制端CHAR-TEST_EN输出高电平，使得Q1、Q2、Q3、Q4均导通，充电芯片在检测到需要为模拟电池电路充电时，为模拟电池电路充电，待测电路R22上流过电流，测量芯片根据流经R22上的电流输出电压测量值，以此供技术人员分析该充电芯片是否工作在正常的充电电压范围内。在不需要工作时，由控制端CHAR-TEST_EN输出低电平，使得Q1、Q2、Q3、Q4均关断，测量芯片输出的电压测量值为零。
流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。
应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。
本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。
此外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。
上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。本发明的范围由所附权利要求及其等同限定。

Claims (10)

1.一种用于测试充电芯片的设备，其特征在于，包括：
底座和跨设于所述底座上的支撑架，所述支撑架包括垂直固定在所述底座两侧的两个垂直支架和与两个所述垂直支架连接的固定支架；
所述固定支架固定有传动机构，所述用于测试充电芯片的设备还包括下压板，其中：所述传动机构至少包括：传动机构固定件、导向筒、联动轴、连接件和扳手；其中，所述传动机构固定件固定在所述固定支架上；所述导向筒固定在所述传动机构固定件的一个自由端；所述联动轴穿过所述导向筒，并沿所述导向筒上下滑动，所述联动轴的一端与所述下压板连接，另一端与所述连接件的一端连接；所述扳手呈L型，所述扳手的前端与所述传动机构固定件的另一自由端可转动连接，所述扳手的弯折处与所述连接件的另一端可转动连接；转动所述扳手的手柄端，在所述扳手的转力带动下，所述连接件带动所述联动轴在所述导向筒内上下滑动，所述联动轴向靠近所述底座的方向运动时带动所述下压板下压，所述联动轴向远离所述底座的方向运动时带动所述下压板上升；
所述底座上设置有限位槽，所述限位槽的位置与所述下压板的位置对应；所述限位槽用于将淬盘限定在所述限位槽内，所述淬盘上设有产品容置槽，用于容置待测试产品；
所述底座上还设置有弹力探针，在所述待测试产品放置于所述产品容置槽内时，所述弹力探针的位置正对所述待测试产品的测试接口；所述待测试产品在所述下压板的下压下，所述待测试产品的测试接口与所述弹力探针触压接触，以完成对所述待测试产品的测试；
所述用于测试充电芯片的设备还包括基于充电芯片的测试电路，其中，所述基于充电芯片的测试电路包括：模拟电池电路、待检测电路、充电芯片和充电电流测量电路；其中，
所述模拟电池电路至少包括：供电端口、第一控制端口、第一PMOS管、第一NMOS管、第一电阻、第二电阻、第三电阻、整流二极管、模拟电池内阻和第一电容；其中：所述供电端口与供电电源电连接；所述第一PMOS管的源极与所述供电端口电连接，所述第一PMOS管的漏极与所述整流二极管的正向接入端电连接，所述第一PMOS管的栅极与所述第一NMOS管的漏极电连接；所述第一NMOS管的源极与所述供电电源的地端电连接，所述第一NMOS管的栅极与所述第三电阻的一端电连接，所述第三电阻的另一端连接至所述第一控制端口，在所述第一控制端口输出的控制信号的控制下导通或关断所述第一PMOS管；所述第一电阻电连接在所述供电端口与所述第一PMOS管的栅极之间；所述第二电阻电连接在所述第一NMOS管的栅极与所述供电电源的地端之间；所述模拟电池内阻与所述第一电容并联，并电连接在所述整流二极管的反向接入端与所述供电电源的地端之间；
所述待检测电路至少包括：第二控制端口、待测电阻、第二PMOS管、第二NMOS管、第四电阻、第五电阻、第六电阻和第二输出端；其中：所述待测电阻的一端与所述整流二极管的反向接入端电连接，所述待测电阻的另一端与所述第二PMOS管的漏极电连接，所述第二PMOS管的源极与所述第二输出端电连接，所述第二PMOS管的栅极与所述第二NMOS管的漏极电连接；所述第二NMOS管的源极与所述供电电源的地端电连接，所述第二NMOS管的栅极与所述第六电阻的一端电连接，所述第六电阻的另一端连接至所述第二控制端口，在所述第二控制端口输出的控制信号的控制下导通或关断所述第二PMOS管；所述第四电阻电连接在所述第二NMOS管的栅极与所述供电电源的地端之间；所述第五电阻电连接在所述第二PMOS管的栅极与所述第二输出端之间；所述弹力探针的两个用于检测充电芯片的针脚分别与所述第二输出端口和所述供电电源的地端电连接；
所述充电芯片连接至所述第二输出端口与所述供电电源的地端之间，以为所述模拟电池电路充电，在所述充电芯片为所述模拟电池电路充电时，产生电流流经所述待测电阻；
所述充电电流测量芯片的第一检测接入端与第二检测接入端电连接至所述待测电路的两端；所述充电电流测量芯片的输出端输出电压测量值，所述电压测量值是根据流经所述待测电阻的电流得到的。
2.根据权利要求1所述的用于测试充电芯片的设备，其特征在于，还包括：滑动轴；
所述滑动轴的两端固定在所述底座和所述固定支架上；所述滑动轴与所述底座的表面垂直，与所述垂直支架平行；所述滑动轴垂直穿过所述下压板，以使得所述下压板稳定地沿所述滑动轴运行。
3.根据权利要求2所述的用于测试充电芯片的设备，其特征在于，
所述固定支架包括滑动轴固定件，用于固定所述滑动轴的一端，所述滑动轴的另一端固定在所述底座的表面上。
4.根据权利要求3所述的用于测试充电芯片的设备，其特征在于，
所述滑动轴至少包括一对，所述滑动轴固定件与所述滑动轴匹配设置。
5.根据权利要求1至4任一项所述的用于测试充电芯片的设备，其特征在于，所述淬盘设有多个产品容置槽，以容置多个所述待测试产品。
6.根据权利要求1至5任一项所述的用于测试充电芯片的设备，其特征在于，
所述弹力探针包括多组，每组弹力探针包括多根探针；所述弹力探针与所述淬盘的产品容置槽匹配设置。
7.根据权利要求1至6任一项所述的用于测试充电芯片的设备，其特征在于，还包括：第一增益调节电阻和第二增益调节电阻；
所述第一增益调节电阻电连接在所述充电电流测量芯片的输出端与所述充电电流测量芯片的反馈端之间，所述第二增益调节电阻电连接在所述充电电流测量芯片的反馈端与所述充电电流测量芯片的参考端之间，所述参考端与所述供电电源的地端电连接。
8.根据权利要求7所述的用于测试充电芯片的设备，其特征在于，还包括：第二电容；
所述第二电容与所述第一增益调节电阻并联，连接在所述充电电流测量芯片的输出端与所述充电电流测量芯片的反馈端之间。
9.根据权利要求7或8所述的用于测试充电芯片的设备，其特征在于，
其中，VOUT为所述电压测量值，Isample为流经所述待测电阻的电流，R22为待测电阻，Ra1所述第一增益调节电阻，Ra2为所述第二增益调节电阻。
10.根据权利要求1至9任一项所述的用于测试充电芯片的设备，其特征在于，
所述充电电流测量芯片采用MAX9922芯片。
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