CN108956615A - 一种电子产品外壳激光表面修复工艺 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种电子产品外壳激光表面修复工艺，利用检测修复设备对电子产品进行检测修复；所述检测修复设备包括CCD相机、激光打标机、固定工位座。本发明利用CCD相机对电子产品外壳进行扫描拍摄，采用图像处理方法对表面图像处理，再进行缺陷轮廓，从而得到打标轮廓，再利用激光打标机进行精准定位修复。本发明缺陷检测准确率高，精准性好，能够快速实现对电子产品外壳表面进行检测并进行精准定位修复，降低了产品的不良率。

Description

一种电子产品外壳激光表面修复工艺
技术领域
本发明涉及表面检测修复领域，特别涉及一种电子产品外壳激光表面修复工艺。
背景技术
铝及铝合金由于质量轻，散热好，易成型等优点，被广泛应用与各种电子产品的外壳。为了克服铝合金表面硬度、耐磨损性等方面的缺陷，扩大应用范围，延长使用寿命，表面处理技术成为铝合金使用中不可缺少的一环，而阳极氧化技术是目前应用最广且最成功的。具体的，是将铝及其合金在相应的电解液和特定的工艺条件下，由于外加电流的作用下，在铝制品(阳极)上形成一层氧化膜的过程。同时为了使电子产品具有良好的传输信号，会在电子产品外壳上嵌设塑料条。但是在阳极氧化过程中，在塑料条附近的电子产品的铝合金外壳上易出现表面缺陷白点，需要对产品表面进行白点异色视觉检测与修复。目前没有有效的方式能够对白点异色进行检测修复，只能将具有白点异色的电子产品外壳作为不良品。
发明内容
为解决上述技术问题，本发明提供了一种电子产品外壳激光表面修复工艺，能够对电子产品外壳上的白点异色进行修复，解决了目前没有有效的方式能够对白点异色进行检测修复，只能将具有白点异色的电子产品外壳作为不良品，存在产品不良率高，同时造成了资源的极大浪费的问题。
为达到上述目的，本发明的技术方案如下：一种电子产品外壳激光表面修复工艺，
利用检测修复设备对电子产品进行检测修复；所述检测修复设备包括CCD相机、激光打标机、固定工位座；所述CCD相机和所述激光打标机安装在Z轴位移机构上，在Z轴位移机构的驱动下，沿竖直方向进行移动；所述固定工位座安装于运动驱动模组上；所述运动驱动模组包括X轴位移机构、Y轴位移机构、翻转机构和旋转机构；所述X轴位移机构和所述Y轴位移机构驱动所述固定工位座进行水平面内的运动；所述翻转机构驱动所述固定工位座做竖直平面内的翻转运动；所述旋转机构驱动所述固定工位座进行周向转动；
包括以下步骤：
步骤1，将待检测产品放置在固定工位座上，调节Z轴位移机构和运动驱动模组，调整所述CCD相机和所述激光打标机与固定工位座之间的距离；
步骤2，红外吸收程度可以帮助分辨金属和塑料，根据塑料条的形状，确定CCD相机的扫描路径；
步骤3，通过CCD相机获得待检测产品沿塑料条的表面图像；
步骤4，根据表面图像，获取检测灰度图像；
步骤5，对检测灰度图像进行缺陷检测，得到缺陷轮廓，根据缺陷轮廓，确定打标轮廓；
步骤6，通过激光打标机沿打标轮廓对待检测产品进行修复，修复颜色接近待检测产品的底色。
作为本发明的一种优选方案，采用环形LED灯作为背景灯进行照射。
作为本发明的一种优选方案，步骤4中，将所述表面图像进行灰度变换，得到初始灰度图像；对所述初始灰度图像进行傅立叶变换并卷积，再进行傅立叶逆变换，得到检测灰度图像。
作为本发明的一种优选方案，采用阈值分割法计算所述检测灰度图像中的缺陷数据。
作为本发明的一种优选方案，根据塑料条将待检测产品划分为多段区域，依次对每段区域进行检测和修复，直至完成整个检测修复过程。
作为本发明的一种优选方案，调节翻转机构和旋转机构，使CCD相机扫描拍摄过程，始终垂直正对待检测产品的表面。
作为本发明的一种优选方案，多次进行步骤1至步骤6，直至对检测灰度图像进行缺陷检测，无缺陷轮廓。
作为本发明的一种优选方案，所述CCD相机采用远心镜头，像素为1000W像素以上。
通过上述技术方案，本发明技术方案的显著有益效果是：本发明利用CCD相机对电子产品外壳进行扫描拍摄，采用图像处理方法对表面图像处理，再进行缺陷轮廓，从而得到打标轮廓，再利用激光打标机进行精准定位修复。本发明缺陷检测准确率高，精准性好，能够快速实现对电子产品外壳表面进行检测并进行精准定位修复，降低了产品的不良率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明电子产品外壳待检测修复的区域图。
图2为本发明修复前的状态图。
图3为本发明修复后的状态图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例
结合图1至图3，本发明公开了一种电子产品外壳激光表面修复工艺，用于对电子产品外壳进行阳极氧化后出现的白点异色缺陷进行检测修复。本发明主要利用检测修复设备对电子产品进行检测修复。所述检测修复设备包括CCD相机、激光打标机、固定工位座。所述CCD相机和所述激光打标机安装在Z轴位移机构上，在Z轴位移机构的驱动下，沿竖直方向进行移动；所述固定工位座安装于运动驱动模组上；所述运动驱动模组包括X轴位移机构、Y轴位移机构、翻转机构和旋转机构；所述X轴位移机构和所述Y轴位移机构驱动所述固定工位座进行水平面内的运动；所述翻转机构驱动所述固定工位座做竖直平面内的翻转运动；所述旋转机构驱动所述固定工位座进行周向转动。为了提高CCD相机的拍摄效果，可以采用环形LED灯作为背景灯进行照射。所述CCD相机采用远心镜头，像素为1000W像素以上。
本发明主要包括以下步骤：
步骤1，将待检测产品放置在固定工位座上，调节Z轴位移机构和运动驱动模组，调整所述CCD相机和所述激光打标机与固定工位座之间的距离。
步骤2，红外吸收程度可以帮助分辨金属和塑料，根据塑料条的形状，确定CCD相机的扫描路径。
步骤3，通过CCD相机获得待检测产品沿塑料条的表面图像。
步骤4，根据表面图像，获取检测灰度图像；步骤4中，将所述表面图像进行灰度变换，得到初始灰度图像；对所述初始灰度图像进行傅立叶变换并卷积，再进行傅立叶逆变换，得到检测灰度图像。
步骤5，对检测灰度图像进行缺陷检测，得到缺陷轮廓，根据缺陷轮廓，确定打标轮廓。具体的，可以采用与标准灰度图像进行对比，进行缺陷检测，得到缺陷数据；也可以采用阈值分割法计算所述检测灰度图像中的缺陷数据。再通过缺陷数据，结合坐标信息，得到缺陷轮廓。
步骤6，通过激光打标机沿打标轮廓对待检测产品进行修复，修复颜色接近待检测产品的底色。
在上述检测修复过程中，调节翻转机构和旋转机构，使CCD相机扫描拍摄过程，始终垂直正对待检测产品的表面。为了提高检测和修复的效率，可以根据塑料条将待检测产品划分为多段区域，依次对每段区域进行检测和修复，直至完成整个检测修复过程。
为了避免一次检测修复无法达到预计的效果，可以多次进行步骤1至步骤6，直至对检测灰度图像进行缺陷检测，无缺陷轮廓。
通过上述具体实施例，本发明的有益效果是：结合图2，图3，本发明利用CCD相机对电子产品外壳进行扫描拍摄，采用图像处理方法对表面图像处理，再进行缺陷轮廓，从而得到打标轮廓，再利用激光打标机进行精准定位修复。本发明缺陷检测准确率高，精准性好，能够快速实现对电子产品外壳表面进行检测并进行精准定位修复，降低了产品的不良率。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (8)

1.一种电子产品外壳激光表面修复工艺，其特征在于，
利用检测修复设备对电子产品进行检测修复；所述检测修复设备包括CCD相机、激光打标机、固定工位座；所述CCD相机和所述激光打标机安装在Z轴位移机构上，在Z轴位移机构的驱动下，沿竖直方向进行移动；所述固定工位座安装于运动驱动模组上；所述运动驱动模组包括X轴位移机构、Y轴位移机构、翻转机构和旋转机构；所述X轴位移机构和所述Y轴位移机构驱动所述固定工位座进行水平面内的运动；所述翻转机构驱动所述固定工位座做竖直平面内的翻转运动；所述旋转机构驱动所述固定工位座进行周向转动；
包括以下步骤：
步骤1，将待检测产品放置在固定工位座上，调节Z轴位移机构和运动驱动模组，调整所述CCD相机和所述激光打标机与固定工位座之间的距离；
步骤2，红外吸收程度可以帮助分辨金属和塑料，根据塑料条的形状，确定CCD相机的扫描路径；
步骤3，通过CCD相机获得待检测产品沿塑料条的表面图像；
步骤4，根据表面图像，获取检测灰度图像；
步骤5，对检测灰度图像进行缺陷检测，得到缺陷轮廓，根据缺陷轮廓，确定打标轮廓；
步骤6，通过激光打标机沿打标轮廓对待检测产品进行修复，修复颜色接近待检测产品的底色。
2.根据权利要求1所述的电子产品外壳激光表面修复工艺，其特征在于，采用环形LED灯作为背景灯进行照射。
3.根据权利要求2所述的电子产品外壳激光表面修复工艺，其特征在于，步骤4中，将所述表面图像进行灰度变换，得到初始灰度图像；对所述初始灰度图像进行傅立叶变换并卷积，再进行傅立叶逆变换，得到检测灰度图像。
4.根据权利要求3所述的电子产品外壳激光表面修复工艺，其特征在于，采用阈值分割法计算所述检测灰度图像中的缺陷数据。
5.根据权利要求4所述的电子产品外壳激光表面修复工艺，其特征在于，根据塑料条将待检测产品划分为多段区域，依次对每段区域进行检测和修复，直至完成整个检测修复过程。
6.根据权利要求4所述的电子产品外壳激光表面修复工艺，其特征在于，调节翻转机构和旋转机构，使CCD相机扫描拍摄过程，始终垂直正对待检测产品的表面。
7.根据权利要求4所述的电子产品外壳激光表面修复工艺，其特征在于，多次进行步骤1至步骤6，直至对检测灰度图像进行缺陷检测，无缺陷轮廓。
8.根据权利要求4所述的电子产品外壳激光表面修复工艺，其特征在于，所述CCD相机采用远心镜头，像素为1000W像素以上。
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