CN108923871B - 干扰检测方法、装置和电子装置 - Google Patents

干扰检测方法、装置和电子装置 Download PDF

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Abstract

本发明公开一种干扰检测方法、装置和电子装置,其中,方法包括:获取待测样机通过天线与网卡进行通信交互时的标准吞吐量;控制陪测样机中的测试功能模块处于工作状态,其余的非测试功能模块处于停止状态,并获取待测样机通过天线与网卡进行通信交互时的测试吞吐量;根据预设策略对测试吞吐量和标准吞吐量进行处理,确定测试功能模块对待测样机的干扰度。由此,能够确定不同的功能模块对待测样机接收吞吐量的影响程度,且采用多路天线同时测试,提高了测试效率,另外,通过屏蔽箱隔离的方式,有利于对干扰信号的提取和控制,并且保证测试环境的一致性。

Description

干扰检测方法、装置和电子装置
技术领域
本发明涉及无线通信技术领域,尤其涉及一种干扰检测方法、装置和电子装置。
背景技术
随着无线通信的快速发展,无线产品在生活中越来越占有重要位置。其中,无线产品接收信号的强弱很容易收到其它信号的干扰,因此需要对其进行干扰检测,以便对干扰问题进行处理。
相关技术中,如图1所示,通过测试无线产品的接收灵敏度来判断干扰是否产生,这种方式仅仅支持单路的测试,对于整机是否存在干扰问题需要多各个天线同时测试完成后才能进行判断,测试效率比较低,且接收灵敏度只能在某种程度上体现产品的接收性能。
发明内容
本发明的目的旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
为此,本发明第一方面实施例提出一种干扰检测方法,待测样机、陪测样机和网卡分别置于单独屏蔽箱中,所述待测样机通过射频同轴线连接到所述陪测样机的天线上,所述网卡连接到所述陪测样机的天线上,所述方法包括以下步骤:获取所述待测样机通过所述天线与所述网卡进行通信交互时的标准吞吐量;控制所述陪测样机中的测试功能模块处于工作状态,其余的非测试功能模块处于停止状态,并获取所述待测样机通过所述天线与所述网卡进行通信交互时的测试吞吐量;根据预设策略对所述测试吞吐量和所述标准吞吐量进行处理,确定所述测试功能模块对所述待测样机的干扰度。
为达上述目的,本发明第二方面实施例提出了一种干扰检测装置,待测样机、陪测样机和网卡分别置于单独屏蔽箱中,所述待测样机通过射频同轴线连接到所述陪测样机的天线上,所述网卡连接到所述陪测样机的天线上,所述干扰检测装置包括:获取模块,用于获取所述待测样机通过所述天线与所述网卡进行通信交互时的标准吞吐量;第一处理模块,用于控制所述陪测样机中的测试功能模块处于工作状态,其余的非测试功能模块处于停止状态,并获取所述待测样机通过所述天线与所述网卡进行通信交互时的测试吞吐量;第一确定模块,用于根据预设策略对所述测试吞吐量和所述标准吞吐量进行处理,确定所述测试功能模块对所述待测样机的干扰度。
为达上述目的,本发明第三方面实施例提出了一种电子装置,所述电子装置包括待测样机、陪测样机和网卡,所述待测样机、所述陪测样机和所述网卡分别置于单独屏蔽箱中,所述待测样机通过射频同轴线连接到所述陪测样机的天线上,所述网卡连接到所述陪测样机的天线上,所述电子装置还包括:存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时,实现前述实施例所述的干扰检测方法。
为达上述目的,本发明第四个方面实施例提出了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时,实现如前述方法实施例所述的干扰检测方法。
本发明提供的技术方案,至少包括如下有益效果:
将待测样机、陪测样机和网卡分别置于单独屏蔽箱中,待测样机通过射频同轴线连接到陪测样机的天线上,网卡连接到陪测样机的天线上,首先获取待测样机通过天线与网卡进行通信交互时的标准吞吐量,接着控制陪测样机中的测试功能模块处于工作状态,其余的非测试功能模块处于停止状态并获取待测样机通过天线与网卡进行通信交互时的测试吞吐量,最后根据预设策略对测试吞吐量和标准吞吐量进行处理,确定测试功能模块对待测样机的干扰度。由此,能够确定不同的功能模块对待测样机接收吞吐量的影响程度,且采用多路天线同时测试,提高了测试效率,另外,通过屏蔽箱隔离的方式,有利于对干扰信号的提取和控制,并且保证测试环境的一致性。
本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
图1是现有技术判断是否产生干扰的结构示意图;
图2是本发明实施方式的电子装置的示意图;
图3是根据本发明一个实施例的干扰检测方法的流程图;
图4是根据本发明另一个实施例的干扰检测方法的流程图;
图5是根据本发明又一个实施例的干扰检测方法的流程图
图6是根据本发明一个实施例的干扰检测装置的结构示意图;
图7是根据本发明另一个实施例的干扰检测装置的结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施方式,所述实施方式的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的,仅用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本发明的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本发明的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接或可以相互通讯;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触,也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开,下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然,它们仅仅为示例,并且目的不在于限制本发明。此外,本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母,这种重复是为了简化和清楚的目的,其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外,本发明提供了的各种特定的工艺和材料的例子,但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。
下面参考附图描述本发明实施例的滑动组件的干扰检测方法、装置和电子装置。
为了更加清楚的描述本发明实施例的干扰检测方法,下面首先对本发明的电子装置进行结构上的描述。
具体地,为了有利于对干扰信号的提取和控制,并且保证测试环境的一致性,有利于干扰现象的稳定复现和解决。本发明提出了将待测样机100、陪测样机200和网卡300分别置于单独屏蔽箱中,待测样机100通过射频同轴线400连接到陪测样机200的天线上,网卡300连接到陪测样机200的天线上。
具体而言,如图2所示,引入与待测样机100完全相同的陪测样机200作为干扰源的发生设备,并用两个屏蔽箱将待测样机100、陪测样机200和网卡300进行隔离,使得陪测样机200产生的干扰源信号不会与待测样机100和网卡300的信号相互干扰。另外,采用射频同轴线400将待测样机100和网卡300的信号分别引出,待测样机100的信号通过射频同轴线400连接到陪测样机200的天线上,网卡300的信号连接到天线上。
进一步地,将整个电子装置放置在一个大的屏蔽环境中,可以保证测试对比环境的一致性,有利于干扰问题的复现和处理。需要说明的是,网卡300可以通过可编程衰减器500连接到陪测样机200的天线上,可以更加明显的观察干扰对于接收灵敏度的影响。
下面对干扰检测方法进行具体描述:
图3是根据本发明一个实施例的干扰检测方法的流程图,如图3所示,该方法包括以下步骤:
步骤101,获取待测样机通过天线与网卡进行通信交互时的标准吞吐量。
应当理解的是,待测样机接收吞吐量是衡量待测样机性能的关键指标,本发明实施中,通过对其接收吞吐量恶化情况来判断待测样机是否存在干扰,从而能够在整机工作状态下快速对待测样机的干扰情况进行判断。因此首先需要获取待测样机通过天线与网卡进行通信交互时的接收吞吐量作为标准吞吐量。
需要说明的是,本发明实施例针对的是待测样机的接收性能的受干扰情况,因此标准吞吐量指的是在没有干扰的情况下,待测样机通过天线与网卡进行通信交互时,吞吐量的信号流向主要是从网卡发射到待测样机的接收。
步骤102,控制陪测样机中的测试功能模块处于工作状态,其余的非测试功能模块处于停止状态,并获取待测样机通过天线与网卡进行通信交互时的测试吞吐量。
可以理解的是,可以采用相关命令使待测样机中的测试功能模块如CPU(CentralProcessing Unit,中央处理器)、DDR(Double Data Rate,双倍速率同步动态随机存储器)、USB(Universal Serial Bus,通用串行总线)、PCIE(peripheral component interconnectexpress,总线接口)等可能产生干扰的测试功能模块分别运行或者关闭,并记录不同测试功能模块工作时的接收吞吐量作为测试吞吐量。
作为一种可能实现的方式,CPU作为测试功能模块,开启陪测样机中与测试功能模块CPU对应的天线,并关闭与其余的非测试功能模块对应的天线,从而获取待测样机通过天线与网卡进行通信交互时的接收吞吐量作为测试吞吐量。
作为另一种可能实现的方式,USB作为测试功能模块,通过相关控制指令开启USB处于工作状态,同时关闭剩下的所有测试功能模块,,从而获取待测样机通过天线与网卡进行通信交互时的接收吞吐量作为测试吞吐量。
步骤103,根据预设策略对测试吞吐量和标准吞吐量进行处理,确定测试功能模块对待测样机的干扰度。
具体地,根据实际应用需求,预先设置好相对的策略对测试吞吐量和标准吞吐量进行处理,从而确定测试功能模块对待测样机的干扰度。举例说明如下:
第一种示例,预先设置好比如映射表形式存储,不同的取值区间对应不同的干扰度,比如通过计算测试吞吐量和标准吞吐量之间相差为数值A,然后通过上述映射表A属于干扰范围为X-Y之间,干扰范围X-Y对应的干扰度为B,从而确定待测样机的干扰度为B。
第二种示例,计算测试吞吐量和标准吞吐量之间相差的数值直接输入预设的算法或者模型中进行处理得到待测样机的干扰度。
综上,本发明实施例的干扰检测方法,将待测样机、陪测样机和网卡分别置于单独屏蔽箱中,待测样机通过射频同轴线连接到陪测样机的天线上,网卡连接到陪测样机的天线上,首先获取待测样机通过天线与网卡进行通信交互时的标准吞吐量,接着控制陪测样机中的测试功能模块处于工作状态,其余的非测试功能模块处于停止状态并获取待测样机通过天线与网卡进行通信交互时的测试吞吐量,最后根据预设策略对测试吞吐量和标准吞吐量进行处理,确定测试功能模块对待测样机的干扰度。由此,能够确定不同的功能模块对待测样机接收吞吐量的影响程度,且采用多路天线同时测试,提高了测试效率,另外,通过屏蔽箱隔离的方式,有利于对干扰信号的提取和控制,并且保证测试环境的一致性。
基于上述实施例,可以了解到控制陪测样机单独让每一个功能模块工作,根据不同功能模块的开启或者关闭状态对待测样机接收吞吐量的影响程度就可以确定干扰源具体的产生功能模块。
可以理解的是,可能需要了解全部功能模块或者部分功能模块对待测样机干扰程度的对比情况,因此下面结合图4为例进行详细说明。
图4是根据本发明另一个实施例的干扰检测方法的流程图,如图4所示,在确定好标准吞吐量之后,该方法包括以下步骤:
步骤201,将陪测样机中的每一个功能模块作为测试功能模块,确定与每个功能模块对应的测试吞吐量。
步骤202,根据预设策略对与每个功能模块对应的测试吞吐量和标准吞吐量进行处理,确定每个功能模块对待测样机的干扰度。
步骤203,将每个功能模块对待测样机的干扰度进行排序,并显示排序结果。
具体地,可以将每个功能模块作为测试功能模块,在该功能模块作为测试功能模块时,通过开启测试功能模块对应的天线,并关闭与其余的非测试功能模块对应的天线,确定测试功能模块对应的测试吞吐量。
进一步地,比如通过计算测试吞吐量和标准吞吐量之间差值的绝对值,查询预设的干扰信息,确定差值的绝对值所属的干扰范围,并获取与干扰范围对应的干扰度,将每个功能模块对待测样机的干扰度进行排序,并显示排序结果。
由此,在进行排序显示以后可能更加清楚看到每个功能模块对于待测样机的干扰程度,可以根据实际应用需要选取前几名或者第一名干扰程度最大的工功能模块进行分析处理,从而提高无线通信的质量。
基于上述实施例,为了更加明显的观察干扰对于接收灵敏度的影响,可以要可编程衰减器的调整其衰减值让接收吞吐量维持比如在50%的极限吞吐量下等,具体结合图5描述如下:
图5是根据本发明又一个实施例的干扰检测方法的流程图,如图5所示,网卡通过可编程衰减器500连接到陪测样机的天线上,在获取待测样机通过天线与网卡进行通信交互时的标准吞吐量之后该方法包括以下步骤:
步骤301,检测标准吞吐量是否超过预设阈值。
步骤302,若获知标准吞吐量大于等于预设阈值,则调整可编程衰减器,以使标准吞吐量小于预设阈值。
其中,预设阈值可以根据实际应用需要进行选择设置。
由此,通过调整可编程衰减器将标准吞吐量小于一定的预设阈值,使得更加明显的观察干扰对于待测样机接收灵敏度的影响程度的大小,有利于干扰现象的稳定复现和解决。
为了实现上述实施例,本发明还提出一种干扰检测装置,待测样机、陪测样机和网卡分别置于单独屏蔽箱中,待测样机通过射频同轴线连接到陪测样机的天线上,网卡连接到陪测样机的天线上,如图6所示,干扰检测装置包括:获取模块21、第一处理模块22和第一确定模块23。
其中,获取模块21,用于获取待测样机通过天线与网卡进行通信交互时的标准吞吐量。
第一处理模块22,用于控制陪测样机中的测试功能模块处于工作状态,其余的非测试功能模块处于停止状态,并获取待测样机通过天线与网卡进行通信交互时的测试吞吐量;
第一确定模块23,用于根据预设策略对测试吞吐量和标准吞吐量进行处理,确定测试功能模块对所述待测样机的干扰度。
在本发明的一个实施例中,如图7所示,干扰检测装置还包括:第二确定模块24、第三确定模块25和排序显示模块26。
第二确定模块24,用于将陪测样机中的每一个功能模块作为测试功能模块,确定与每个功能模块对应的测试吞吐量。
第三确定模块25,用于根据预设策略对与每个功能模块对应的测试吞吐量和标准吞吐量进行处理,确定每个功能模块对待测样机的干扰度。
排序显示模块26,用于将每个功能模块对待测样机的干扰度进行排序,并显示排序结果。
在本发明的一个实施例中,第一处理模块22,具体用于开启陪测样机中与测试功能模块对应的天线,并关闭与其余的非测试功能模块对应的天线。
在本发明的一个实施例中,第一确定模块23,具体用于计算测试吞吐量和标准吞吐量之间差值的绝对值;查询预设的干扰信息,确定差值的绝对值所属的干扰范围,并获取与干扰范围对应的干扰度。
在本发明的一个实施例中,网卡通过可编程衰减器连接到陪测样机的天线上,在获取待测样机通过天线与网卡进行通信交互时的标准吞吐量之后,检测标准吞吐量是否超过预设阈值;若获知标准吞吐量大于等于预设阈值,则调整可编程衰减器,以使标准吞吐量小于预设阈值。
综上,本发明实施例的干扰检测装置,将待测样机、陪测样机和网卡分别置于单独屏蔽箱中,待测样机通过射频同轴线连接到陪测样机的天线上,网卡连接到陪测样机的天线上,首先获取待测样机通过天线与网卡进行通信交互时的标准吞吐量,接着控制陪测样机中的测试功能模块处于工作状态,其余的非测试功能模块处于停止状态并获取待测样机通过天线与网卡进行通信交互时的测试吞吐量,最后根据预设策略对测试吞吐量和标准吞吐量进行处理,确定测试功能模块对待测样机的干扰度。由此,能够确定不同的功能模块对待测样机接收吞吐量的影响程度,且采用多路天线同时测试,提高了测试效率,另外,通过屏蔽箱隔离的方式,有利于对干扰信号的提取和控制,并且保证测试环境的一致性。
需要说明的是,前述集中在干扰检测方法实施例中描述的驱动组件和滑动组件,也适用于本发明实施例的干扰检测装置,在此不再对其实施细节和技术效果赘述。
为了实现上述实施例,本发明还提出了一种电子装置,其中,参照图2,将待测样机100、陪测样机200和网卡300分别置于单独屏蔽箱中,待测样机100通过射频同轴线400连接到陪测样机200的天线上,网卡300连接到陪测样机200的天线上,网卡300可以通过可编程衰减器500连接到陪测样机200的天线上,电子装置还包括:存储器700、处理器600及存储在存储器70上并可在处理器上运行的计算机程序,处理器600执行程序时,实现如前述实施例描述的干扰检测方法。
为了实现上述实施例,本发明实施例还提出一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现如前述方法实施例所述的干扰检测方法。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施方式”、“某些实施方式”、“示意性实施方式”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合实施方式或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施方式或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施方式或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施方式或示例中以合适的方式结合。
尽管已经示出和描述了本发明的实施方式,本领域的普通技术人员可以理解:在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施方式进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种干扰检测方法,其特征在于,待测样机和网卡分别置于单独屏蔽箱中,所述待测样机、陪测样机和所述网卡组成的电子装置放置在一个屏蔽环境中,所述陪测样机和所述待测样机完全相同,所述待测样机通过射频同轴线连接到所述陪测样机的天线上,所述网卡的信号连接到所述陪测样机的天线上,所述方法包括以下步骤:
获取所述待测样机通过所述天线与所述网卡进行通信交互时的标准吞吐量;
控制所述陪测样机中的测试功能模块处于工作状态,其余的非测试功能模块处于停止状态,并获取所述待测样机通过所述天线与所述网卡进行通信交互时的测试吞吐量;
根据预设策略对所述测试吞吐量和所述标准吞吐量进行处理,确定所述测试功能模块对所述待测样机的干扰度。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:
将所述陪测样机中的每一个功能模块作为测试功能模块,确定与每个功能模块对应的测试吞吐量;
根据预设策略对与每个功能模块对应的测试吞吐量和所述标准吞吐量进行处理,确定每个功能模块对所述待测样机的干扰度;
将每个功能模块对所述待测样机的干扰度进行排序,并显示排序结果。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述控制所述陪测样机中的测试功能模块处于工作状态,其余的非测试功能模块处于停止状态,包括:
开启所述陪测样机中与所述测试功能模块对应的天线,并关闭与所述其余的非测试功能模块对应的天线。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据预设策略对所述测试吞吐量和所述标准吞吐量进行处理,确定所述测试功能模块对所述待测样机的干扰度,包括:
计算所述测试吞吐量和所述标准吞吐量之间差值的绝对值;
查询预设的干扰信息,确定所述差值的绝对值所属的干扰范围,并获取与所述干扰范围对应的干扰度。
5.如权利要求1-4任一所述的方法,其特征在于,所述网卡通过可编程衰减器连接到所述陪测样机的天线上,在所述获取所述待测样机通过所述天线与所述网卡进行通信交互时的标准吞吐量之后,所述方法还包括:
检测所述标准吞吐量是否超过预设阈值;
若获知所述标准吞吐量大于等于预设阈值,则调整可编程衰减器,以使所述标准吞吐量小于所述预设阈值。
6.一种干扰检测装置,其特征在于,待测样机和网卡分别置于单独屏蔽箱中,所述待测样机、陪测样机和所述网卡组成的电子装置放置在一个屏蔽环境中,所述陪测样机和所述待测样机完全相同,所述待测样机通过射频同轴线连接到所述陪测样机的天线上,所述网卡的信号连接到所述陪测样机的天线上,所述干扰检测装置包括:
获取模块,用于获取所述待测样机通过所述天线与所述网卡进行通信交互时的标准吞吐量;
第一处理模块,用于控制所述陪测样机中的测试功能模块处于工作状态,其余的非测试功能模块处于停止状态,并获取所述待测样机通过所述天线与所述网卡进行通信交互时的测试吞吐量;
第一确定模块,用于根据预设策略对所述测试吞吐量和所述标准吞吐量进行处理,确定所述测试功能模块对所述待测样机的干扰度。
7.如权利要求6所述的装置,其特征在于,还包括:
第二确定模块,用于将所述陪测样机中的每一个功能模块作为测试功能模块,确定与每个功能模块对应的测试吞吐量;
第三确定模块,用于根据预设策略对与每个功能模块对应的测试吞吐量和所述标准吞吐量进行处理,确定每个功能模块对所述待测样机的干扰度;
排序显示模块,用于将每个功能模块对所述待测样机的干扰度进行排序,并显示排序结果。
8.如权利要求6所述的装置,其特征在于,第一处理模块,具体用于:
开启所述陪测样机中与所述测试功能模块对应的天线,并关闭与所述其余的非测试功能模块对应的天线。
9.一种电子装置,其特征在于,所述电子装置包括待测样机、陪测样机和网卡,所述待测样机和所述网卡分别置于单独屏蔽箱中,所述电子装置放置在一个屏蔽环境中,所述陪测样机和所述待测样机完全相同,所述待测样机通过射频同轴线连接到所述陪测样机的天线上,所述网卡的信号连接到所述陪测样机的天线上,所述电子装置还包括:存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时,实现如权利要求1-5中任一所述的干扰检测方法。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-5中任一所述的干扰检测方法。
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