CN108872256A - 一种在线检测玻璃原片杂质的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及玻璃原片杂质检测的技术领域，公开了一种在线检测玻璃原片杂质的方法，包括以下步骤：(1)、将玻璃原片放置在玻璃原片传输台上；(2)通过低倍观测线阵对玻璃原片进行检测，发现玻璃原片的杂质并获取杂质的坐标数据；(3)计算机滑台控制模块控制高倍定位识别模块移动至底部观测线阵所发现的杂质的正上方，高倍定位识别模块与杂质同步移动一段时间，高倍定位识别模块通过投影获得杂质轮廓图像数据；(4)高倍定位识别模块将获取的杂质轮廓图像数据传输至计算机图像处理模块，计算机图像处理模块进行特征缺陷类型轮廓判定；(5)循环步骤(3)至(4)，直至完成对低倍观测线阵所发现的所有杂质点的检测；操作简单，检测效率高。

Description

一种在线检测玻璃原片杂质的方法
技术领域
本发明涉及玻璃原片杂质检测的技术领域，尤其是一种在线检测玻璃原片杂质的方法。
背景技术
玻璃原片是玻璃厂生产的固定尺寸的玻璃，在后续的终端用户需求的玻璃尺寸及类型是各式各样的，因此玻璃原片的质量也直接影响了后续加工玻璃的质量，其中钢化玻璃是普通的玻璃切割成要求尺寸通过一系列处理加工而成，但已处理好的钢化玻璃不能进行再切割，磨削等加工，如果玻璃原片中存在缺陷还有可能引起钢化玻璃破损。
而现有技术中，对玻璃原片缺陷的在线检测只是区分为点状缺陷、线道、裂纹、划伤等几大类，以及测试这些缺陷的尺寸，其中点状缺陷的原片生产厂商重点控制的一项。国标GB 11614-2009《平板玻璃》给出了优等品的点状缺陷允许范围；即使对于国外标准，如美标0.02英寸(约0.5mm)大小的缺陷点也是符合原片的出厂要求的。
平板玻璃优等品外观质量点状缺陷要求(GB 11614-2009)
对点状缺陷，尤其是不透明的结石缺陷的识别可以用于判断玻璃原片生产线的熔窑及热工艺问题，而这些结石通常都需要经过取样送检，通过能谱仪等设备进行识别，操作复杂，检测效率低，检测效果差。本发明提出一种通过投影轮廓对不透明点状缺陷进行在线区分与识别的方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种在线检测玻璃原片杂质的方法，旨在解决现有技术中玻璃原片检测效率低的问题。
本发明是这样实现的，一种在线检测玻璃原片杂质的方法，使用在线缺陷检测装置对玻璃原片的不透明杂质点进行观测，并通过投影轮廓对杂质类型进行识别；所述在线缺陷检测装置包括玻璃原片传输台、低倍观测线阵、高倍定位识别模块、计算机滑台控制模块、计算机图像处理模块组成；包括以下步骤：
(1)、将玻璃原片放置在所述玻璃原片传输台上；
(2)通过所述低倍观测线阵对所述玻璃原片进行检测，发现所述玻璃原片的杂质并获取杂质的坐标数据，将杂质的坐标数据传输至所述计算机滑台控制模块；
(3)所述计算机滑台控制模块接收杂质的坐标数据，并控制所述高倍定位识别模块移动至所述底部观测线阵所发现的杂质的正上方，然后高倍定位识别模块与杂质同步移动一段时间，在同步移动的这段时间内，高倍定位识别模块通过投影获得杂质轮廓图像数据；
(4)高倍定位识别模块将获取的杂质轮廓图像数据传输至计算机图像处理模块，计算机图像处理模块进行特征缺陷类型轮廓判定，若判定结果为特定杂质类型则记录该杂质点坐标；
(5)循环步骤(3)至(4)，直至完成对所述低倍观测线阵所发现的所有杂质点的检测。
进一步地，所述高倍定位识别模块包括可水平移动的水平滑台以及与所述水平滑台固定连接的轮廓识别组件，所述轮廓识别组件用于通过投影获得杂质轮廓图像数据，所述水平滑台连接所述计算机滑台控制模块。
进一步地，所述轮廓识别组件包括激光束发射器以及用于接收所述激光束发射器发射出的激光束的高分辨率接收器，所述高分辨率接收器连接所述计算机图像处理模块。
进一步地，所述轮廓识别组件包括位于玻璃原片一侧的高倍工业相机以及位于玻璃原片另一侧的透射光源，所述高倍工业相机连接所述计算机图像处理模块。
进一步地，所述低倍观测线阵包括多个沿垂直于玻璃原片前进方向线性或前后错位排列的低倍工业相机以及用于照射玻璃原片的面光源，所述低倍工业相机以及面光源位于所述玻璃原片的同一侧。
进一步地，所述低倍观测线阵的焦点在玻璃原片的厚度中心平面上。
进一步地，所述低倍观测线阵的景深在玻璃原片的厚度中心平面上下至少四分之一厚度范围内。
与现有技术相比，本发明提供的一种在线检测玻璃原片杂质的方法，实现了对玻璃原片的不透明杂质点进行观测，并通过投影轮廓对杂质类型进行识别，便于后续切割工序进行剔除，操作简单方便，检测效率高，检测效果好。
附图说明
图1是本发明实施例提供的在线检测玻璃原片杂质的方法的流程示意图；
图2是本发明实施例提供的在线检测玻璃原片杂质的方法使用的检测装置的结构示意图；
图3是本发明另一实施例提供的在线检测玻璃原片杂质的方法使用的检测装置的结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件；在本发明的描述中，需要理解的是，若有术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。
以下结合具体实施例对本发明的实现进行详细的描述。
参照图1-3所示，为本发明提供较佳实施例。
一种在线检测玻璃原片9杂质8的方法，使用在线缺陷检测装置对玻璃原片9的不透明杂质8点进行观测，并通过投影轮廓对杂质8类型进行识别；在线缺陷检测装置包括玻璃原片9传输台、低倍观测线阵、高倍定位识别模块、计算机滑台控制模块3、计算机图像处理模块10组成；包括以下步骤：
(1)、将玻璃原片9放置在玻璃原片9传输台上；
(2)通过低倍观测线阵对玻璃原片9进行检测，发现玻璃原片9的杂质8并获取杂质8的坐标数据，将杂质8的坐标数据传输至计算机滑台控制模块3；
(3)计算机滑台控制模块3接收杂质8的坐标数据，并控制高倍定位识别模块移动至底部观测线阵所发现的杂质8的正上方，然后高倍定位识别模块与杂质8同步移动一段时间，在同步移动的这段时间内，高倍定位识别模块通过投影获得杂质8轮廓图像数据；
(4)高倍定位识别模块将获取的杂质8轮廓图像数据传输至计算机图像处理模块10，计算机图像处理模块10进行特征缺陷类型轮廓判定，若判定结果为特定杂质8类型则记录该杂质8点坐标；
(5)循环步骤(3)至(4)，直至完成对低倍观测线阵所发现的所有杂质8点的检测。
上述提供的一种在线检测玻璃原片9杂质8的方法，实现了对玻璃原片9的不透明杂质8点进行观测，并通过投影轮廓对杂质8类型进行识别，便于后续切割工序进行剔除，操作简单方便，检测效率高，检测效果好。
具体地，高倍定位识别模块包括可水平移动的水平滑台4以及与水平滑台4固定连接的轮廓识别组件，轮廓识别组件用于通过投影获得杂质8轮廓图像数据，水平滑台4连接计算机滑台控制模块3；计算机滑台控制模块3能够接收低倍观测线阵所发现的杂质8的坐标数据，并控制水平滑台4移动至杂质8的正上方，与水平滑台4固定连接的轮廓识别组件便可以通过投影获得杂质8轮廓图像数据。
本实施例中，轮廓识别组件包括激光束发射器5以及用于接收激光束发射器5发射出的激光束的高分辨率接收器6，高分辨率接收器6连接计算机图像处理模块10；高分辨率接收器6可通过接收激光束投影获得杂质8点轮廓图像数据，并传输至计算机图像处理模块10进行特征缺陷类型轮廓判定，若判定结果为特定杂质8类型则记录该杂质8点坐标，由后续切割工序进行剔除。
或者，作为其他实施例，轮廓识别组件包括位于玻璃原片9一侧的高倍工业相机7以及位于玻璃原片9另一侧的透射光源，高倍工业相机7连接计算机图像处理模块10；高倍工业相机7通过高倍工业相机7光源投影获得杂质8点轮廓图像数据，并传输至计算机图像处理模块10进行特征缺陷类型轮廓判定，若判定结果为特定杂质8类型则记录该杂质8点坐标，由后续切割工序进行剔除。
本实施例中，低倍观测线阵包括多个沿垂直于玻璃原片9前进方向线性或前后错位排列的低倍工业相机1以及用于照射玻璃原片9的面光源2，低倍工业相机1以及面光源2位于玻璃原片9的同一侧。
低倍观测线阵由数个低倍工业相机1沿垂直于玻璃基片前进方向线性或前后错位排列而成，观测视野覆盖玻璃基片宽度，焦点在玻璃厚度中心平面上，景深在中心平面上下至少四分之一厚度范围；低倍工业相机1架设在玻璃基片传送台上方，配套的面光源2在玻璃基片同侧，相机与光源成一定角度设置；通过反射光观测到玻璃中心区域杂质8缺陷的存在，且能够将杂质8位置以坐标轴数据形式传输至计算机滑台控制模块3。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种在线检测玻璃原片杂质的方法，其特征在于，使用在线缺陷检测装置对玻璃原片的不透明杂质点进行观测，并通过投影轮廓对杂质类型进行识别；所述在线缺陷检测装置包括玻璃原片传输台、低倍观测线阵、高倍定位识别模块、计算机滑台控制模块、计算机图像处理模块组成；包括以下步骤：
(1)、将玻璃原片放置在所述玻璃原片传输台上；
(2)、通过所述低倍观测线阵对所述玻璃原片进行检测，发现所述玻璃原片的杂质并获取杂质的坐标数据，将杂质的坐标数据传输至所述计算机滑台控制模块；
(3)、所述计算机滑台控制模块接收杂质的坐标数据，并控制所述高倍定位识别模块移动至所述底部观测线阵所发现的杂质的正上方，然后所述高倍定位识别模块与杂质同步移动一段时间，在同步移动的这段时间内，所述高倍定位识别模块通过投影获得杂质轮廓图像数据；
(4)、所述高倍定位识别模块将获取的杂质轮廓图像数据传输至计算机图像处理模块，所述计算机图像处理模块进行特征缺陷类型轮廓判定，若判定结果为特定杂质类型则记录该杂质点坐标；
(5)、循环步骤(3)至(4)，直至完成对所述低倍观测线阵所发现的所有杂质点的检测。
2.如权利要求1所述的一种在线检测玻璃原片杂质的方法，其特征在于，所述高倍定位识别模块包括可水平移动的水平滑台以及与所述水平滑台固定连接的轮廓识别组件，所述轮廓识别组件用于通过投影获得杂质轮廓图像数据，所述水平滑台连接所述计算机滑台控制模块。
3.如权利要求2所述的一种在线检测玻璃原片杂质的方法，其特征在于，所述轮廓识别组件包括激光束发射器以及用于接收所述激光束发射器发射出的激光束的高分辨率接收器，所述高分辨率接收器连接所述计算机图像处理模块。
4.如权利要求2所述的一种在线检测玻璃原片杂质的方法，其特征在于，所述轮廓识别组件包括位于玻璃原片一侧的高倍工业相机以及位于玻璃原片另一侧的透射光源，所述高倍工业相机连接所述计算机图像处理模块。
5.如权利要求1-4任意一项所述的一种在线检测玻璃原片杂质的方法，其特征在于，所述低倍观测线阵包括多个沿垂直于玻璃原片前进方向线性或前后错位排列的低倍工业相机以及用于照射玻璃原片的面光源，所述低倍工业相机以及面光源位于所述玻璃原片的同一侧。
6.如权利要求5所述的一种在线检测玻璃原片杂质的方法，其特征在于，所述低倍观测线阵的焦点在玻璃原片的厚度中心平面上。
7.如权利要求6所述的一种在线检测玻璃原片杂质的方法，其特征在于，所述低倍观测线阵的景深在玻璃原片的厚度中心平面上下至少四分之一厚度范围内。
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