CN208847670U - 一种在线检测玻璃原片杂质的装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及玻璃原片的杂质检测的技术领域，公开了一种在线检测玻璃原片杂质的装置，包括用于放置待检测玻璃原片的玻璃原片传输台、用于发现玻璃原片的杂质并获取杂质的具体坐标的低倍观测线阵、可水平位移的水平滑台、用于接收低倍观测线阵所获取的杂质的坐标信息并控制水平滑台位移至正对杂质的位置的计算机滑台控制模块、与水平滑台固定连接的轮廓识别组件以及与轮廓识别组件连接的计算机图像处理模块；轮廓识别组件用于获取低倍观测线阵所发现的玻璃原片的杂质的轮廓图像数据，计算机图像处理模块用于获得轮廓识别组件所获取的轮廓图像数据并进行特征缺陷类型轮廓判定；操作简单方便，检测效率高，检测效果好。
Description
技术领域
本实用新型涉及玻璃原片的杂质检测的技术领域，尤其是一种在线检测玻璃原片杂质的装置。
背景技术
玻璃原片是玻璃厂生产的固定尺寸的玻璃，在后续的终端用户需求的玻璃尺寸及类型是各式各样的，因此玻璃原片的质量也直接影响了后续加工玻璃的质量，其中钢化玻璃是普通的玻璃切割成要求尺寸通过一系列处理加工而成，但已处理好的钢化玻璃不能进行再切割，磨削等加工，如果玻璃原片中存在缺陷还有可能引起钢化玻璃破损。
而现有技术中，对玻璃原片缺陷的在线检测只是区分为点状缺陷、线道、裂纹、划伤等几大类，以及测试这些缺陷的尺寸，其中点状缺陷是原片生产厂商重点控制的一项。
对点状缺陷，尤其是不透明的结石缺陷的识别可以用于判断玻璃原片生产线的熔窑及热工艺问题，而这些结石通常都需要经过取样送检，通过能谱仪等设备进行识别，操作复杂麻烦，检测效率低；本发明提出一种通过投影轮廓对不透明点状缺陷进行在线区分与识别的装置。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种在线检测玻璃原片杂质的装置，旨在解决现有技术中玻璃原片的杂质的检测效率低，操作复杂的问题。
本实用新型是这样实现的，一种在线检测玻璃原片杂质的装置，包括用于放置待检测玻璃原片的玻璃原片传输台、用于发现玻璃原片的杂质并获取杂质的具体坐标的低倍观测线阵、可水平位移的水平滑台、用于接收低倍观测线阵所获取的杂质的坐标信息并控制所述水平滑台位移至正对杂质的位置的计算机滑台控制模块、与所述水平滑台固定连接的轮廓识别组件以及与所述轮廓识别组件连接的计算机图像处理模块；所述轮廓识别组件用于获取所述低倍观测线阵所发现的玻璃原片的杂质的轮廓图像数据，所述计算机图像处理模块用于获得所述轮廓识别组件所获取的轮廓图像数据并进行特征缺陷类型轮廓判定，当判定结果为特定杂质类型时，所述计算机图像处理模块记录该杂质点坐标信息。
进一步地，所述轮廓识别组件包括激光束发射器以及用于接收所述激光束发射器发射出的激光束的高分辨率接收器，所述高分辨率接收器连接所述计算机图像处理模块。
进一步地，所述轮廓识别组件包括位于玻璃原片一侧的高倍工业相机以及位于玻璃原片另一侧的透射光源，所述高倍工业相机连接所述计算机图像处理模块。
进一步地，所述低倍观测线阵包括多个沿垂直于玻璃原片前进方向线性或前后错位排列的低倍工业相机以及用于照射玻璃原片的面光源，所述低倍工业相机以及面光源位于所述玻璃原片的同一侧。
进一步地，所述低倍观测线阵的焦点在玻璃原片的厚度中心平面上。
进一步地，所述低倍观测线阵的景深在玻璃原片的厚度中心平面上下至少四分之一厚度范围内。
与现有技术相比，本实用新型提供的一种在线检测玻璃原片杂质的装置，通过设置用于放置待检测玻璃原片的玻璃原片传输台、用于发现玻璃原片的杂质并获取杂质的具体坐标的低倍观测线阵、可水平位移的水平滑台、用于接收低倍观测线阵所获取的杂质的坐标信息并控制水平滑台位移至正对杂质的位置的计算机滑台控制模块、与水平滑台固定连接的轮廓识别组件以及与轮廓识别组件连接的计算机图像处理模块；轮廓识别组件用于获取低倍观测线阵所发现的玻璃原片的杂质的轮廓图像数据，计算机图像处理模块用于获得轮廓识别组件所获取的轮廓图像数据并进行特征缺陷类型轮廓判定，当判定结果为特定杂质类型时，计算机图像处理模块记录该杂质点坐标信息；由后续切割工序进行剔除；操作简单方便，检测效率高，检测效果好。
附图说明
图1是本实用新型一实施例提供的在线检测玻璃原片杂质的装置的结构示意图；
图2是本实用新型另一实施例提供的在线检测玻璃原片杂质的装置的结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
本实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件；在本实用新型的描述中，需要理解的是，若有术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。
以下结合具体实施例对本实用新型的实现进行详细的描述。
参照图1-2所示，为本实用新型提供较佳实施例。
一种在线检测玻璃原片9杂质8的装置，包括用于放置待检测玻璃原片9的玻璃原片9传输台、用于发现玻璃原片9的杂质8并获取杂质8的具体坐标的低倍观测线阵、可水平位移的水平滑台4、用于接收低倍观测线阵所获取的杂质8的坐标信息并控制水平滑台4位移至正对杂质8的位置的计算机滑台控制模块3、与水平滑台4固定连接的轮廓识别组件以及与轮廓识别组件连接的计算机图像处理模块10；轮廓识别组件用于获取低倍观测线阵所发现的玻璃原片9的杂质8的轮廓图像数据，计算机图像处理模块10用于获得轮廓识别组件所获取的轮廓图像数据并进行特征缺陷类型轮廓判定，当判定结果为特定杂质8类型时，计算机图像处理模块10记录该杂质8点坐标信息。
上述提供的一种在线检测玻璃原片9杂质8的装置，通过设置用于放置待检测玻璃原片9的玻璃原片9传输台、用于发现玻璃原片9的杂质8并获取杂质8的具体坐标的低倍观测线阵、可水平位移的水平滑台4、用于接收低倍观测线阵所获取的杂质8的坐标信息并控制水平滑台4位移至正对杂质8的位置的计算机滑台控制模块3、与水平滑台4固定连接的轮廓识别组件以及与轮廓识别组件连接的计算机图像处理模块10；轮廓识别组件用于获取低倍观测线阵所发现的玻璃原片9的杂质8的轮廓图像数据，计算机图像处理模块10用于获得轮廓识别组件所获取的轮廓图像数据并进行特征缺陷类型轮廓判定，当判定结果为特定杂质8类型时，计算机图像处理模块10记录该杂质8点坐标信息；由后续切割工序进行剔除；操作简单方便，检测效率高，检测效果好。
在线检测玻璃原片9杂质8的装置主要由低倍观测线阵、水平滑台4、计算机滑台控制模块3、轮廓识别组件、计算机图像处理模块10等部分组成；低倍观测线阵和高倍滑台定位识别模块在玻璃移动方向上属于上下游关系。
低倍观测线阵由数个低倍工业相机1沿垂直于玻璃原片9前进方向线性或前后错位排列而成，观测视野覆盖玻璃原片9宽度，焦点在玻璃厚度中心平面上，景深在中心平面上下至少四分之一厚度范围；低倍工业相机1架设在玻璃原片9传送台上方，配套的面光源2在玻璃原片9同侧，相机与光源成一定角度设置；通过反射光观测到玻璃中心区域杂质8缺陷的存在，且能够将杂质8位置以坐标轴数据形式传输至计算机滑台控制模块3。
本实施例中，轮廓识别组件可以是激光束发射器5以及与其配套的高分辨率接收器6组成的组件。
或者，作为其他实施例，轮廓识别组件为高倍工业相机7以及位于玻璃原片9另一侧的透射光源组成的组件。
轮廓识别组件安装在水平滑台4上，水平滑台4由计算机滑台控制模块3控制，可根据低倍观测线阵输出的杂质8坐标数据将轮廓识别组件移动并定位至杂质8的正对位置处，并与杂质8点同步移动一段时间，在此时间内轮廓识别组件可通过接收激光束投影或高倍工业相机7光源投影获得杂质8点轮廓图像数据，并传输至计算机图像处理模块10进行特征缺陷类型轮廓判定，若判定结果为特定杂质8类型则记录该杂质8点坐标，由后续切割工序进行剔除。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种在线检测玻璃原片杂质的装置，其特征在于，包括用于放置待检测玻璃原片的玻璃原片传输台、用于发现玻璃原片的杂质并获取杂质的具体坐标的低倍观测线阵、可水平位移的水平滑台、用于接收低倍观测线阵所获取的杂质的坐标信息并控制所述水平滑台位移至正对杂质的位置的计算机滑台控制模块、与所述水平滑台固定连接的轮廓识别组件以及与所述轮廓识别组件连接的计算机图像处理模块；所述轮廓识别组件用于获取所述低倍观测线阵所发现的玻璃原片的杂质的轮廓图像数据，所述计算机图像处理模块用于获得所述轮廓识别组件所获取的轮廓图像数据并进行特征缺陷类型轮廓判定，当判定结果为特定杂质类型时，所述计算机图像处理模块记录该杂质点坐标信息。
2.如权利要求1所述的一种在线检测玻璃原片杂质的装置，其特征在于，所述轮廓识别组件包括激光束发射器以及用于接收所述激光束发射器发射出的激光束的高分辨率接收器，所述高分辨率接收器连接所述计算机图像处理模块。
3.如权利要求1所述的一种在线检测玻璃原片杂质的装置，其特征在于，所述轮廓识别组件包括位于玻璃原片一侧的高倍工业相机以及位于玻璃原片另一侧的透射光源，所述高倍工业相机连接所述计算机图像处理模块。
4.如权利要求1-3任意一项所述的一种在线检测玻璃原片杂质的装置，其特征在于，所述低倍观测线阵包括多个沿垂直于玻璃原片前进方向线性或前后错位排列的低倍工业相机以及用于照射玻璃原片的面光源，所述低倍工业相机以及面光源位于所述玻璃原片的同一侧。
5.如权利要求4所述的一种在线检测玻璃原片杂质的装置，其特征在于，所述低倍观测线阵的焦点在玻璃原片的厚度中心平面上。
6.如权利要求5所述的一种在线检测玻璃原片杂质的装置，其特征在于，所述低倍观测线阵的景深在玻璃原片的厚度中心平面上下至少四分之一厚度范围内。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN201821503616.0U CN208847670U (zh) | 2018-09-13 | 2018-09-13 | 一种在线检测玻璃原片杂质的装置 |
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| CN201821503616.0U CN208847670U (zh) | 2018-09-13 | 2018-09-13 | 一种在线检测玻璃原片杂质的装置 |
Publications (1)
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ID=66371962
Family Applications (1)
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| CN201821503616.0U Active CN208847670U (zh) | 2018-09-13 | 2018-09-13 | 一种在线检测玻璃原片杂质的装置 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN208847670U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110756488A (zh) * | 2019-10-30 | 2020-02-07 | 安徽省六二八光电科技有限公司 | 一种玻璃检测清洁装置 |
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2018
- 2018-09-13 CN CN201821503616.0U patent/CN208847670U/zh active Active
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