CN108827970A - 基于aoi系统的适应不同面板缺陷自动判等方法和系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法和装置，所述方法包括步骤：1)AOI系统对待测面板进行取像、检测，生成检测结果；2)对检测结果进行解析、分类；3)对检测结果进行不检区过滤；4)对检测结果中的缺陷通过单一规则过滤；5)对检测结果中的缺陷进行复合规则过滤，分析缺陷之间的位置关联性；6)将符合规则的所有缺陷进行归类汇总，生成最终缺陷检测报告，上传至客户存储系统。所述系统包括：包括AOI硬件平台、取像服务器PC、运算服务器PC和客户数据存储服务器。不同的厂家客户通过使用本发明自动判等方法及系统，可以对AOI检测结果按照厂家客户制定的规则进行分析，输出符合不同厂家客户自己的需求结果。
Description
技术领域
本发明涉及自动光学检测技术领域，具体地指一种基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法和系统。
背景技术
在现有的自动光学检测(Automatic Optic Inspection，AOI)系统下，不同的厂家客户对AOI系统的检出结果数据需要进行分析判断，并且不同的厂家客户的需求判断均不一样。为了满足不同客户的需求，需要一种能够对不同厂家客户的AOI系统需求规则进行分析的通用方法及框架系统，让各个客户根据自己的需求去制定规则，然后该通用框架通过运用客户制定的规则对面板的缺陷进行分析并输出相应的面板等级。
发明内容
针对现有技术的不足，本发明的目的是提供一种基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法和系统，不同的厂家客户通过使用该自动判等方法及系统，可以通过对AOI检测结果按照厂家客户制定的规则进行分析，输出符合不同厂家客户自己的需求结果。
为实现上述目的，本发明所设计的一种基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法，其特殊之处在于，包括如下步骤：
包括如下步骤：
1)AOI系统对待测面板进行取像、检测，生成检测结果；
2)对检测结果进行解析、分类；
3)对检测结果进行不检区过滤；
4)对检测结果中的缺陷通过单一规则过滤；
5)对检测结果中的缺陷进行复合规则过滤，分析缺陷之间的位置关联性；
6)将符合规则的所有缺陷进行归类汇总，生成最终缺陷检测报告，上传至客户存储系统。
优选地，所述步骤2)中对检测结果进行解析、分类，检测结果中每个缺陷包含以下信息：缺陷类型、缺陷检出画面、缺陷坐标、缺陷面积大小、缺陷长度和宽度、缺陷对比度、缺陷灰度值、缺陷圆形度、缺陷方差、缺陷锐利度。
优选地，所述步骤3)中不检区过滤为对检测结果中一个缺陷的缺陷类型、缺陷检出画面、缺陷坐标、缺陷长度和宽度四个条件与设定值相同时，将该缺陷过滤删除。
优选地，所述步骤4)中单一规则过滤为通过对检测结果中一个缺陷的单一信息与客户规定的该信息的要求值进行比较，将不符合条件的缺陷删除，将符合条件的缺陷按照客户要求进行命名与编码，所述缺陷的单一信息包括检出画面、检出逻辑类型、位置、大小、形状、强度、灰度值、区域对比度、圆形度、锐利度、方差。
优选地，所述步骤5)中复合规则过滤为通过对检测结果中所有缺陷与客户规定的复合规则进行比较，将不符合条件的缺陷删除，将符合条件的缺陷按照客户要求进行命名与编码。
优选地，所述步骤6)中将符合规则的所有缺陷进行归类汇总时，进行缺陷数量卡控过滤、缺陷优先级卡控过滤、缺陷去重卡控过滤、缺陷严重程度比较筛选，最后得到筛选过滤后的缺陷，生成最终缺陷检测报告。
本发明还提出一种实现上述基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法的系统，其特殊之处在于，包括AOI硬件平台、取像服务器PC、运算服务器PC和客户数据存储服务器；
所述AOI硬件平台用于控制相机采集待检测面板图像数据，并传输至取像服务器PC；
所述取像服务器PC用于将待检测面板图像数据传输至运算服务器PC，并根据运算服务器PC输出的检测结果进行缺陷自动判等，生成最终缺陷检测报告，上传至客户数据存储服务器中的客户存储系统；
所述运算服务器PC用于调用检测程式对待检测面板图像数据进行检测，生成检测结果；
所述客户数据存储服务器用于设置客户存储系统，接收最终缺陷检测报告。
进一步地，所述取像服务器PC将待检测面板图像数据传输至两台运算服务器PC，并根据两台运算服务器PC输出的检测结果的集合进行缺陷自动判等。
在现有的自动光学检测(Automatic Optic Inspection，AOI)系统下，不同的厂家客户对AOI系统的检出结果数据需要进行分析判断，并且不同客户的需求判断都不一样。基于此，针对AOI系统，为了满足不同客户的需求，通过对不同厂家客户的需求规则进行分析，本发明提出了一种基于AOI系统的适应不同面板缺陷的自动判等方法及系统。通过该自动判等方法和系统，不同厂家客户可以在该自动判等系统下，结合各厂家客户自己内部的需求，去制定不同的判等规则，进而实现各厂家客户自己的需求。本发明通过一种通用框架，让各个客户根据自己的需求去制定规则，然后该通用框架通过运用客户制定的规则对面板的缺陷进行分析并输出相应面板等级。
附图说明
图1为本发明基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法的流程图。
图2为本发明基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法的系统的框图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步的详细描述。
本发明提出的一种基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法，包括如下步骤：
1)AOI系统对待测面板进行取像、检测，生成检测结果。
2)对检测结果进行解析、分类；对检测结果进行解析、分类，检测结果中每个缺陷包含以下信息：缺陷类型、缺陷检出画面、缺陷坐标、缺陷面积大小、缺陷长度和宽度、缺陷对比度、缺陷灰度值、缺陷圆形度、缺陷方差、缺陷锐利度。
客户可以根据以上缺陷信息制定不同的规则来实现缺陷的定位。
3)对检测结果进行不检区过滤。
不检区，是指当指定缺陷出现在某一位置的时候，直接过滤该缺陷，不再进入判等系统。指定缺陷由缺陷类型和缺陷检出画面两者决定。因此，不检区设置包括缺陷类型、缺陷检出画面、、缺陷坐标、缺陷的长度和宽度三个条件的设置。将汇总的缺陷与不检区设置的信息进行对比，当出现缺陷的类型、检出画面、检出范围三者满足条件的时候，直接将该缺陷过滤删除。
不检区过滤主要是解决相机镜头污点或缺陷导致面板的每张取像画面都会在固定位置出现假缺陷的问题。运用该方法，可以降低过检率。
4)对检测结果中的缺陷通过单一规则过滤；单一规则过滤为通过对检测结果中一个缺陷的单一信息与客户规定的该信息的要求值进行比较，将不符合条件的缺陷删除，将符合条件的缺陷按照客户要求进行命名与编码。单一规则是对面板缺陷结果进行第一步简单分析，通过分析该面板缺陷的类型、检出画面、坐标、面积大小、长度和宽度、对比度、灰度值、圆形度、方差、锐利度来定位该缺陷。
检测软体对面板缺陷进行检测的时候，只是检测出面板所有缺陷的所有属性，客户需要通过缺陷属性来对缺陷进行分类，同时，有的缺陷对客户出货没有影响的也需要过滤掉，此时，就需要通过单一规则对缺陷属性进行卡控，以便最终输出的缺陷符合客户需要的标准，例如，检测软体检测出一个亮点，客户规定只有当亮点的亮度值达到50及以上才能算亮点缺陷，亮度值在50及以下的亮点缺陷不算亮点缺陷，此时就需要通过单一规则进行卡控判断是否属于亮点，不同缺陷会有不同的卡控规则。单一规则里面，客户通过上述的这些维度定位缺陷以后，可以通过制定规则，实现对该缺陷进行命名与编码，最终实现与客户内部系统进行对接。
5)对检测结果中的缺陷进行复合规则过滤，分析缺陷之间的位置关联性；复合规则过滤为通过对检测结果中所有缺陷与客户规定的复合规则进行比较，将不符合条件的缺陷删除，将符合条件的缺陷按照客户要求进行命名与编码。
单一规则的缺点在于只能对单一缺陷进行分析，不能分析多个缺陷之间的关系特征，为了改进该判等系统的不足，该自动判等系统也增加了混合规则，用来实现分析多个缺陷之间的关联性，进一步提高AOI系统的结果准确度。复合规则，实际上是通过分析两个及以上不同缺陷之间的位置关系来进行判等，输出客户想要的结果的过程，复合规则也是通过客户针对自己的需求来进行制定不同的复合规则以满足要求。
当多个缺陷之间位置很近的时候，客户需要重新定义该缺陷的类型，这个时候，需要通过混合规则来进行判断，例如，客户卡控面板暗点缺陷数量达到3个及以上才输出暗点缺陷类型，但是当出现两颗暗点缺陷距离很近的时候又要输出暗点缺陷，如果只按照单一规则进行判断，当出现两颗很近的暗点的时候，单一规则由于判断暗点数目只有两颗没达到3颗的卡控条件，是不会进行过率的，这个时候就需要运用混合规则来进行判断。混合规则主要是用于当单一规则无法对缺陷进行筛选卡控的时候，采用混合规则来进行筛选卡控。
6)将符合规则的所有缺陷进行归类汇总，生成最终缺陷检测报告，上传至客户存储系统。将符合规则的所有缺陷进行归类汇总时，按照一定规则进行卡控过滤，这些规则包括：
缺陷数量卡控过滤
在进行每条缺陷与每条规则进行比对的时候，会出现某条规则卡控到多个缺陷的情况，此时应当记录每条规则卡控到的缺陷数量，当满足当前规则设定的缺陷数量，当前规则就应该记录，不满足则不记录当前规则信息。
缺陷优先级卡控过滤
创建判等规则的时候，每个规则会有一个优先级。最后应对所有规则的优先级进行比较，只保留优先级最高的规则信息，同一级别优先级的规则同时保留。
缺陷去重卡控过滤
当同一位置出现多种缺陷的时候，按照缺陷的严重程度对同一位置的缺陷只输出一种缺陷，其他缺陷过滤。当前步骤属于可选步骤，可以根据实际应用场景来决定是否使用。
缺陷严重程度比较筛选
通过对最终筛选的缺陷进行比较，检出画面和类型相同的缺陷，只输出面积最大的缺陷，其他缺陷过滤。当前步骤属于可选步骤，可以根据实际应用场景来决定是否使用。
通过以上判等步骤，最后得到筛选过滤后的缺陷，生成最终缺陷检测报告，判等结束。
本发明还提出一种实现上述基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法的系统，该系统只是实现方法的一种方式，方法并不局限于依赖该系统实现。如图2所示，系统包括AOI硬件平台、取像服务器PC、运算服务器PC和客户数据存储服务器；AOI硬件平台用于控制相机采集待检测面板图像数据，并传输至取像服务器PC；取像服务器PC用于将待检测面板图像数据传输至运算服务器PC，并根据运算服务器PC输出的检测结果进行缺陷自动判等，缺陷自动判等方法如上所述，生成最终缺陷检测报告，上传至客户数据存储服务器中的客户存储系统；取像服务器PC将待检测面板图像数据传输至两台运算服务器PC，并根据两台运算服务器PC输出的检测结果的集合进行缺陷自动判等。运算服务器PC用于调用检测程式对待检测面板图像数据进行检测，生成检测结果；客户数据存储服务器用于设置客户存储系统，接收最终缺陷检测报告。
本发明的特点包括：
(1)通过自动判等系统制定判定规则，针对不同的面板特性和不同的需求制定不同的规则，可以制定多条规则，也可以制定混合规则，并且支持不检区的设定；
(2)AOI系统对面板缺陷进行检测并生成结果，结果生成完成之后，AOI系统调用自动判等系统对结果进行分析；
(3)自动判等系统，通过调用已经制定的规则对结果进行分析、判等，并对结果进行输出，还要上报到客户存储系统。
以上仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以设计出若干改进，这些改进也应视为本发明的保护范围。
本说明书未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。
Claims (8)
1.一种基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法，其特征在于：包括如下步骤：
1)AOI系统对待测面板进行取像、检测，生成检测结果；
2)对检测结果进行解析、分类；
3)对检测结果进行不检区过滤；
4)对检测结果中的缺陷通过单一规则过滤；
5)对检测结果中的缺陷进行复合规则过滤，分析缺陷之间的位置关联性；
6)将符合规则的所有缺陷进行归类汇总，生成最终缺陷检测报告，上传至客户存储系统。
2.根据权利要求1所述的基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法，其特征在于：所述步骤2)中对检测结果进行解析、分类，检测结果中每个缺陷包含以下信息：缺陷类型、缺陷检出画面、缺陷坐标、缺陷面积大小、缺陷长度和宽度、缺陷对比度、缺陷灰度值、缺陷圆形度、缺陷方差、缺陷锐利度。
3.根据权利要求2所述的基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法，其特征在于：所述步骤3)中不检区过滤为对检测结果中一个缺陷的缺陷类型、缺陷检出画面、缺陷坐标、缺陷长度和宽度四个条件与设定值相同时，将该缺陷过滤删除。
4.根据权利要求2所述的基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法，其特征在于：所述步骤4)中单一规则过滤为通过对检测结果中一个缺陷的单一信息与客户规定的该信息的要求值进行比较，将不符合条件的缺陷删除，将符合条件的缺陷按照客户要求进行命名与编码，所述缺陷的单一信息包括缺陷类型、缺陷检出画面、缺陷坐标、缺陷面积大小、缺陷长度和宽度、缺陷对比度、缺陷灰度值、缺陷圆形度、缺陷方差、缺陷锐利度。
5.根据权利要求2所述的基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法，其特征在于：所述步骤5)中复合规则过滤为通过对检测结果中所有缺陷与客户规定的复合规则进行比较，将不符合条件的缺陷删除，将符合条件的缺陷按照客户要求进行命名与编码。
6.根据权利要求2所述的基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法，其特征在于：所述步骤6)中将符合规则的所有缺陷进行归类汇总时，进行缺陷数量卡控过滤、缺陷优先级卡控过滤、缺陷去重卡控过滤、缺陷严重程度比较筛选，最后得到筛选过滤后的缺陷，生成最终缺陷检测报告。
7.一种实现权利要求1～6中任一项所述的基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法的系统，其特征在于：包括AOI硬件平台、取像服务器PC、运算服务器PC和客户数据存储服务器；
所述AOI硬件平台用于控制相机采集待检测面板图像数据，并传输至取像服务器PC；
所述取像服务器PC用于将待检测面板图像数据传输至运算服务器PC，并根据运算服务器PC输出的检测结果进行缺陷自动判等，生成最终缺陷检测报告，上传至客户数据存储服务器中的客户存储系统；
所述运算服务器PC用于调用检测程式对待检测面板图像数据进行检测，生成检测结果；
所述客户数据存储服务器用于设置客户存储系统，接收最终缺陷检测报告。
8.根据权利要求7所述的基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法的系统，其特征在于：所述取像服务器PC将待检测面板图像数据传输至两台运算服务器PC，并根据两台运算服务器PC输出的检测结果的集合进行缺陷自动判等。
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