CN108801408B - 用于封闭薄膜包装的内含物的定量质量确定的方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种用于封闭的薄膜包装的内含物的定量的质量确定的方法和装置。在校准程序中，由至少一个封闭的不带有内含物的第一参考包装生成第一组初始X射线照片且由此推导出质量校准特性图案。由至少一个封闭的带有参考内含物的第二参考包装生成第二组初始X射线照片且由此推导出初始参考特性图案。由上述两种特性图案，通过求差推导出参考测量值。参考内含物的参考质量通过称重被定量地确定且关联于参考测量值。在随后的连续测量运行中，由封闭的带有各一内含物的薄膜包装生成至少一组测得的X射线照片且由此推导出测量特性图案。由此且由质量校准特性图案，通过求差推导出用于各个封闭的薄膜包装的测量值，从其中定量地确定内含物的质量。

Description

用于封闭薄膜包装的内含物的定量质量确定的方法和装置

技术领域

本发明涉及一种用于封闭的薄膜包装的内含物(Inhalt)的定量的质量确定的方法以及装置，其中，薄膜包装相应地具有至少一个金属薄膜层。

背景技术

在包装技术中必须满足根据100%的过程中控制(In-Prozess-Kontrolle)的逐渐增加的要求。这同样包含如下可能性，即，可作关于完成的且封闭的包装的填充率的说明而无须打开包装。

尤其在例如制药粉末或类似物的较小填充量的情形中，一方面如下是困难的，即，进行精确的且可重复的配定，而另一方面如下同样是困难的，即，定量地确定或者检验经配定的且被填充的质量。

用于过程中填充控制的X射线仪(Röntgengerät)的使用在原理上是已知的。然而这样的使用具有一系列问题。X射线图像链(Röntgenbildkette)相比于光学工业相机而言相对不稳定。在亮度、光谱分布和成像几何(Abbildungsgeometrie)中的波动相对显著。因此，透射结果(Durchleuchtungsergebnisse)的自动释义在现有技术中仅可受限制地实现，这导致两种不同的场景。在第一种场景中，非金属的、对于X射线射束而言可良好穿透的包装被透射。形成的X射线特性图案(Röntgensignatur)可足够精细地被分辨，以便于可进行内含物的定量的质量确定。在第二种场景中，带有一个或多个金属薄膜层的包装被透射。这样的例如由铝薄膜构成的包装具有非常显著的对穿过的X射线射束的吸收作用，其显著地高于在通常情况中非金属包装内含物的吸收作用。透射图像的特性图案因此被金属薄膜支配且仅相对较少地通过包装内含物影响。因此，透射结果可最佳地允许如下定量的说明，即从整体上看是否存在填充。定量的说明、即关于填充质量的大小的说明因为在金属薄膜方面的显著的屏蔽在实际上是不可能的。简单来说虽然可确定金属薄膜包装是否包含填充，但是不可确定该填充是否具有与期望的目标质量的偏差。

发明内容

本发明基于如下任务，即，说明一种用于封闭的薄膜包装的内含物的定量的质量确定的方法，其同样对于在带有至少一个金属薄膜层的包装的情形中的应用而言可得到。

该任务通过一种用于封闭的薄膜包装的内含物的定量的质量确定的方法来实现，其中，薄膜包装相应地具有带有底面且带有在底面之外的边缘区域的填充空间以及至少一个金属薄膜层，包括如下步骤：

- 在校准程序中，至少一个不带有内含物的封闭的第一参考包装借助于X射线源被透射，且其由此生成第一组初始X射线照片；

- 由第一组初始X射线照片推导出质量校准特性图案；

- 至少一个封闭的带有参考内含物的第二参考包装借助于X射线源被透射，且其由此生成第二组初始X射线照片；

- 由第二组初始X射线照片推导出初始参考特性图案；

- 由初始参考特性图案和质量校准特性图案，通过求差(Differenzbildung)推导出参考测量值；

- 至少一个第二参考包装的参考内含物的质量通过称重被定量地确定为参考质量且关联于参考测量值；

- 校准程序被完成，且跟随有连续的测量运行；

- 在连续的测量运行中，封闭的带有各一内含物的薄膜包装借助于所述X射线源被透射，且其由此生成至少一组测得的X射线照片；

- 由至少一组测得的X射线照片通过以下方式推导出测量特性图案，即，在底面内第一总和信号被确定，在边缘区域中第二总和信号被确定，且测量特性图案通过在第一与第二总和信号之间的求差被确定；

- 由测量特性图案和质量校准特性图案，通过求差推导出用于各个封闭的薄膜包装的测量值；

- 由测量值，在考虑参考质量相对参考测量值的关联的情形下定量地确定封闭的薄膜包装的内含物的质量。

此外，本发明基于如下任务，即，说明一种对此合适的装置。

该任务通过一种用于封闭的薄膜包装的内含物的定量的质量确定的装置来实现，其包括带有X射线源、带有X射线成像仪且带有控制单元的设计用于实施上面提到的方法的X射线站。

根据本发明首先设置有校准程序，其前置于随后的连续的测量运行。在校准程序中，至少一个封闭的不带有内含物的第一参考包装(优选地其整个组)被制造且借助于X射线源被透射。借助于X射线成像仪，由此生成第一组初始X射线照片。由该第一组初始X射线照片推导出质量校准特性图案。

此外，至少一个封闭的这次但是带有各一参考内含物的第二参考包装、优选其整个组被制造且借助于X射线源被透射。由此此时生成第二组初始X射线照片，由此推导出初始参考特性图案。由该初始参考特性图案和更上面所提及的质量校准特性图案，通过求差推导出参考测量值。

此外，在校准程序的范围中至少一个第二参考包装的内含物的质量还通过称重被定量地确定为参考质量且关联于上面提到的参考测量值。此后校准程序被完成，且跟随有连续的测量运行。

在连续的测量运行中，待检验的封闭的带有内含物的薄膜包装借助于X射线源被透射。同样由此生成至少一组X射线照片，由此推导出测量特性图案。由测量特性图案和事先在校准程序中所确定的质量校准特性图案通过求差推导出用于各个封闭的薄膜包装的测量值。在考虑同样在校准程序中进行的参考质量相对参考测量值的关联的情形中，此时可由连续的测量运行的测量值不仅定量地而且同样定性地确定封闭的薄膜包装的内含物的质量。

本发明由如下认识出发，即，当薄膜包装的影响以确定的方式被考虑且以足够的程度被消除时，关于包装内含物的质量的可靠的定量说明才可被作出。如下被认为是主要的问题，即，金属薄膜的成型过程经受局部性分布的公差。在一排或矩阵的成型凹腔(Formmulde)和附属的冲具(Stempel)中实现金属薄膜至泡罩杯(Blisternapf)或类似物的塑性改型(Umformung)，其由于尺寸公差引起在每个单个成型凹腔的区域中的薄膜的略微不同的流动特性。这在附属的单个包装的情形中又分别引起个性化重要的X射线特性图案。这些个性化的偏差但是可重复。换而言之，每组薄膜包装(其来源于一排或矩阵的成型凹腔)具有个性化重要的X射线特性图案的可对照的分布。该最后提到的分布此时在校准程序期间借助于上面提到的质量校准特性图案被确定。在随后的连续的测量运行中，在经填充的且待检验的薄膜包装的情形中出现该对于包装材料而言个性化重要的特性图案的可对照的分布。作为结果，此时所进行的求差引起如下，即，单独由包装材料所产生的、在两个特性图案中但是同样存在的特性图案分布相互消灭。在结果中其影响消失或者被降低到可手操作的程度。作为其替代，在求差的情形中保留作为测量值可完全地、但是至少大部分关联于包装内含物的特性图案。借助于此外在校准程序内所进行的参考质量相对参考测量值的关联，此时由连续的测量值可非常精确地推导出对于各个包装填充的定量的质量说明。概括来说，因此利用根据本发明的方法和根据本发明的装置实现金属薄膜的局部性变化的干扰影响的可靠的算出，从而尽管在金属薄膜方面的占主导的屏蔽，实现定量的质量确定。

X射线照片的“组”的此处不同地使用的概念包括至少一幅单个照片。优选地，这样的组然而包含相应相同状态的多幅照片，其在计算上被彼此相叠、即被叠合成总照片。以该方式可降低图像噪音和其它不利的效应。

如下可能足够，即，将根据本发明的方法或者根据本发明的装置应用到单个包装上。优选地然而在连续的测量运行中，由多个尤其以矩阵形式布置的薄膜包装共同生成一组测得的X射线照片。在先前的校准程序中，与此对应地首先由带有和不带有参考内含物(然而以与薄膜包装相同的数量和以相同的空间布置)的参考包装生成第一和第二组初始X射线照片。此处，本发明的优点完全生效：在薄膜包装的这样的组群或者排列或矩阵内虽然在改型的薄膜方面所产生的X射线特性图案变化且对于每个排列或者矩阵位置是个性化的。在这些个性化不同的在其分布上但是一直反复的特性图案之间的区别然而可通过上面所描述的求差被算出，从而尽管个性化不同的包装，可推导出本身可明确地推断出在其整个组内的各个包装的填充程度的测量值。

在本发明的有利的改进方案中，在校准程序开始时图像链的校准借助于X射线照片的前置的组来执行，其在不带有参考包装或者薄膜的中间层的情形中被生成。由此考虑X射线照片的不同的特质。不同于在常见的光学图像照片的情形中，成像在X射线照片的情形中通过中央投影(Zentralprojektion)实现，在其中X射线射束由几乎呈点状的辐射源出发且被投影到X射线成像仪上。击打在平坦的X射线成像仪上的辐射强度取决于相对辐射源的距离平方。该距离平方由于在X射线成像仪的边缘区域中的中央投影大于在中间区域中，从而得出带有较暗的边缘区域和较亮的中间区域的不均匀的亮度分布。灰度值分布和灰度值转换在X射线成像仪的面上不均匀且此外经受老化引起的漂移。这些不利的影响然而在很大程度上可通过图像链的上面提到的校准、即基于不带有薄膜或者泡罩或包装影响的均匀的面的参考照片被抑制。

各个薄膜包装具有带有底面的填充空间。根据本发明，在该底面内第一总和信号被确定。此外，在底面之外、但是直接与其毗邻地在薄膜包装的边缘区域中，第二总和信号被确定。包含更上面已提及的测量特性图案的不同的特性图案此时通过在第一与第二总和信号之间的求差被确定。由此另外的干扰影响可被排除，这引起用于质量确定的测量结果的进一步改善。即如下被注意，即，中央的、几乎呈点状的X射线辐射源在亮度和位置中波动。这引起在亮度、光谱分布和成像几何中的持续变化。X射线图像链因此在时间上相对不稳定，至少相比于带有LED照明的光学工业相机。同样地，得到使用的薄膜在材料厚度上波动，这通过在封印过程中的波动还被加强。因此形成包装材料的时间上波动的影响，其产生在成像中的波动。在本发明的范围中然而从如下出发，即，这些波动虽然存在，但是在较小的空间延伸内均匀地起作用。因为此时第一和第二总和信号在各个填充空间的底面内以及在直接与其毗邻的边缘区域中被确定，上面提到的时间上的波动对于两个总和信号而言基本上相同地起作用。因此，此时紧接着的在两个总和信号之间的求差排除提到的波动影响，从而使得用于包装内含物的质量确定的测量值由此被免除。上文所描述的方式同样可被用于质量校准特性图案、参考特性图案和测量特性图案的确定。

进一步的改善可通过以下方式来获得，即，第一和第二总和信号被线性化。这尤其简化测量特性图案到用于包装内含物的质量的测量值中的转化。即形成在待确定的质量与测量特性图案的值之间的线性关系。对于相应的线性回归函数而言因此实现两个点的确定。第一点、即偏移点已在空的第一参考包装处被确定。第二点由初始参考特性图案或者由参考测量值在设有在其质量上已知的填充的第二参考包装的透射之后得出。首先提到的值因此与填充质量零相符，而第二个被提到的值与确定的、通过称重被确定的质量相符。由于此时所建立的线性关系，通过线性内推法(Interpolation)或通过线性外推法在连续的测量运行中由每个任意的测量值可简单且精确地推导出附属的填充质量。

另一待考虑的问题还在于如下，即，薄膜带在加工的情形中从成型站通过随后的填充站和同样随后的封印站被拖动直至X射线检验站。这引起如下，即，各个包装填充空间的位置不再精确已知。因此推导出初始图像特性图案，其对于各个薄膜包装的底面的形状和位置而言是独特的。这些特性图案充当用于所谓的“模式匹配(pattern matching)”的参考，以此然后在确定第一和第二总和信号的情形中进行位置确定或者位置校准。由此可确保如下，即，第一总和信号可明确地关联于填充空间而第二总和信号可明确地关联于围绕的边缘区域。

附图说明

随后根据附图对本发明的一实施例作更详细描述。其中：

图1以示意性的框图形式显示了一种在图像链的初始校准期间带有集成的根据本发明的X射线站的用于薄膜包装的成型和填充设施；

图2显示了在确定在空的参考包装处的质量校准特性图案期间在校准程序的情形中根据图1的组件；

图3显示了在确定在经填充的参考包装处的初始参考特性图案期间在校准程序的情形中根据图1和2的组件，且

图4显示了在包装内含物借助于根据图1至3经校准的X射线站的质量确定的情形中在连续的生产和测量运行中根据图1至3的组件。

具体实施方式

图1至4以示意性的框图形式显示了结合图4描述的薄膜包装3的成型和填充设施。这些薄膜包装3相应地具有至少一个(此处甚至两个)金属薄膜层(4,5)且此外相应地以内含物17(图4)来填充。在此其可例如是制药粉末。但是其它内含物17同样可被考虑。此处所显示的组件除了经填充的薄膜包装3的制造之外尤其同样用于通过所有薄膜包装3的各个内含物17借助于无干扰的检验的定量的质量确定的100%的过程中控制，其借助于本发明尽管至少一个金属薄膜层4,5的有问题的影响仍可进行。

该设施包括成型站6、填充站7和封印站8，其功能在更下面结合图2和3被描述。后置于其，在封印站8的输出侧存在带有X射线源13和X射线成像仪14的X射线站9。在X射线源13中存在至少近似呈点状的辐射源，其图形表明的射束以中央投影的形式击打到构造成平坦的板的X射线成像仪14上。X射线成像仪14构造成像素矩阵(Pixelmatrix)，其借助于后置的示意性表明的控制单元15产生取决于击打的X射线射束的强度的精细分辨的灰度级图像(Graustufenbilder)。X射线站9且尤其控制单元15作为根据本发明的装置设计用于实施下面所描述的根据本发明的方法：

在更下面结合图4描述的连续的生产和测量运行开始之前，首先执行校准程序。该校准程序的第一步在图1中示出。在此，成型、填充和封印站6,7,8首先尚未运行且不带有功能。在X射线站9中，在X射线源13与X射线成像仪14之间丝毫不存在包装材料。包括X射线源13和X射线成像仪14的图像链此时被校准。借助于X射线源13和X射线成像仪14为此生成前置的第一组X射线照片。因为包装材料或类似物绝不被定位在X射线源13与X射线成像仪14之间，所以均匀表面的重叠图像以该方式被采集。由此在X射线成像仪14的面上确定隐藏地存在的不均匀的亮度分布。其用于从此时起实施的灰度值校准程序，从而在X射线成像仪14的每个单独的像素处可由相同校准的灰度值出发。

图2显示了在校准程序的下一步骤的情形中的根据图1的组件。为此，首先至少一个(在所显示的优选的实施例中多个)此处呈矩阵状布置的第一参考包装1被制造。这些第一参考包装1是空的，因此丝毫不具有内含物。其由与紧接着还将说明的第二参考包装2(图3)以及在稍后连续的运行中所产生的薄膜包装3(图4)相同的材料且以相同的配置来构建。其相应地包括至少一个金属薄膜层4,5。在所显示的实施例中，其通过下面的金属薄膜层4和上面的金属薄膜层5形成。金属薄膜层这一概念在该上下文中意味着如下，即，金属(如铝或类似物)以这样的方式面型分布地得到使用，即，其在稍后的X射线透射的情形中对于成像(Bildgebung)而言是重要的。其因此可以是纯粹的金属薄膜。当然，带有纸或塑料层合的金属薄膜同样可得到使用，这同样包含带有封印胶或类似物的覆层。在所显示的实施例中，两个薄膜层4,5是金属薄膜层。同样地但是可设想如下，即，其中仅一个构造成金属薄膜层。在每种情况中，此处所述的不仅适用于此处结合图2描述的第一参考包装1的构造，而且适用于稍后结合图3和图4描述的第二参考包装且同样适用于在稍后连续的运行中所产生的薄膜包装3。

首先，下面的薄膜层4被从滚筒抽出且供应给成型站6。该成型站包括一定数量的带有附属的成型冲具11的成型凹腔10。其可以是单个成型凹腔10和单个附属的成型冲具11。优选地，多个成型凹腔10和附属的成型冲具11得到使用，其例如以一排或如此处所显示的那样以矩阵的形式布置。通过冲具11的往复运动，其在下部薄膜层4的中间层下方浸入到成型凹腔10中。由此，下部的金属薄膜层4如此地经历冷成型，使得此时呈矩阵状的组群或者一组填充空间18同时被压入到下部的薄膜层4中。在成型站6下方示意性地显示了下部的薄膜层4的俯视图，因此填充空间18以所提及的矩阵形式布置且相应地具有此处仅示例地圆形的底面19。自然地，底面19的每个任意的其它的合适形状可被选择。无论如何各个填充空间18以其底面19相应地被直接毗邻的边缘区域20包围。

以该方式设有被压入的填充空间18的下部的薄膜层4此时在通过箭头21所说明的朝着封印站8的进给方向上被引导。在此，其经过定位在其间的填充站7，该填充站然而在该方法步骤中保持成无功能。填充空间18丝毫不获得填充。在封印站8处，上面的薄膜层5被由滚筒抽出且被如此地放到下面的薄膜层4上，即，其盖住向上首先尚敞开的填充空间18。封印站8的密封冲具12此时以已知的热封印工艺朝向下面的薄膜层5的边缘区域20密封上面的薄膜层5，从而形成一组不带有内含物的第一参考包装1。

这样的一组封闭的第一参考包装1(其各个参考包装1以在成型站6处被示意性表明的矩阵形式被定位)此时在进给方向21上被供应给X射线站9且被定位在X射线源13与X射线成像仪14之间。在该处到达且停止，该组第一参考包装1借助于X射线源13被透射，从而在X射线成像仪14上形成第一组初始X射线照片。由此，在控制单元15中推导出在X射线成像仪14的面上或者在该组第一参考包装1的面上分布的质量校准特性图案。其与灰度值分布相符，如其通过一组空的包装所产生的那样，而可能存在的内含物不影响提到的灰度值分布。

然后此时跟随有在校准程序的范围中的下一方法步骤，如其在图3中所示出的那样。为此首先制造一组封闭的第二参考包装2。该制造由相同的薄膜层4,5根据与图2中相同的制造方法以同样相同的数量和空间布置(此处即以相同的矩阵形式)实现。唯一的区别在于如下，即，此时在成型站6中的成型(Formgebung)之后、但是尚在到达封印站8之前填充站7得到使用。借助于填充站7，参考内含物16被填充到该组第二参考包装2的所有填充空间18中。参考内含物16尤其是与在连续的生产运行(图4)中的薄膜包装3的稍后所填充的内含物17相同的材料。无论如何，在封印站8处的密封(Absiegeln)之后存在一组封闭的第二参考包装2，其中，各个参考包装2相应地区别于根据图2的第一参考包装1不是空的，而是包含参考内含物16。

该组封闭的第二参考包装2此时在进给方向21上被引导至X射线站9，在该处其处在X射线源13与X射线成像仪14之间且被停止。如同样在第一参考包装1的情形中那样此时实现该组第二参考包装2借助于X射线源13的透射，其中，借助于X射线成像仪14生成第二组初始X射线照片。由后者此时在控制单元15中又推导出特性图案、这次为初始参考特性图案。区别于上述的质量校准特性图案，初始参考特性图案但是与通过包装材料和相应的参考内含物16的总和所产生的那样的灰度值分布相符。

在本发明的范围中识别出，即，成型凹腔10、成型冲具11和下面的薄膜层4的由此所产生的局部的改型在如下这样的范围中经受彼此具有公差的偏差，即，这对于测量值形成而言是重要的。根据意义，相同的同样例如适用于在封印站8中的密封的情形中的局部变化的影响。这样的局部偏差或者局部的分布在包装组内作为相比各个参考包装1,2或者薄膜包装3彼此的静态特性图案区别而重新得到。此外，静态特性图案差别在第一参考包装1的制造、第二参考包装2的制造以及惯常的薄膜包装3的更下面所描述的制造的情形中在一组包装内或者在其矩阵内是可重复的，因此在每个制造步骤中重复。其因此跟随有由带有填充影响的此处所描述的初始参考特性图案与不带有填充影响的更上面结合图2描述的质量校准特性图案构成的求差。由于该求差，参考特性图案和质量校准特性图案的保持相同的静态特性图案差相互消除，由此薄膜层4,5的影响被排除。求差仅保留可关联于各个参考内含物16的参考测量值。此外，各个参考内含物16的单个质量还通过称重被定量地确定为相应的参考质量且关联于上面提到的参考测量值。换而言之，对于被同时手操作的包装的每个排列、矩阵或其余的布置而言变量集的组群由填充质量和参考测量值(参考灰度值总和)构成且由此计算出与组群相关的回归函数。

还实现更下面所描述的线性化(Linearisierung)，从而可建立在参考测量值与参考质量之间的线性关系。校准程序此时被完成。

在完成校准程序之后实现连续的生产和测量运行。在此，带有各个内含物17的薄膜包装3被制造且在X射线站9中相应于图3经受带有定量的质量确定的100%的过程中控制。带有相应的内含物17的薄膜包装3的制造类似于带有参考内含物16的第二参考包装2的制造来实现，这同样包含带有其底面19和边缘区域20的填充空间18在薄膜包装3或者第二参考包装2的同时制造的组内的数量和分布。同样地，薄膜层4,5的材料是相同的。因此在该点处参照对于图3的同样可应用的描述。唯一的区别在于如下，即，对于校准程序而言各一组第一参考包装1和第二参考包装2足够，而在根据图4的连续运行中有节奏地依次制造且检验任意数量的组的薄膜包装3。

薄膜包装3的连续的组类似于根据图3的图示在连续的运行中被供应给X射线站9且在该处被定位在X射线源13与X射线成像仪14之间。在该处，薄膜包装3的连续的带子被停止。各个薄膜包装3关联有各一个识别号。

类似于根据图3的方法步骤，此时带有各一内含物17的封闭的薄膜包装3借助于X射线源13被透射，从而在X射线成像仪14处生成一组测得的X射线照片。由此在控制单元15中推导出测量特性图案。该测量特性图案示出为灰度值分布，其与各个薄膜包装3和其内含物17相符。对此必要的计算步骤如同样下面还将说明的步骤为了节省时间优选地当控制单元15已初始化在其内下一组经填充的薄膜包装3被供应给X射线站9的下一处理节拍时才被实施。自然地，如下同样可为适宜的，即，将这时被透射的组的薄膜包装3如此长地保留在X射线站9中，直至质量确定的评估被完成。

类似于根据图3的校准程序的最后的方法步骤，此时同样在根据图4的连续的测量运行中实现求差，这次但是由带有内含物17的影响的此时所产生的测量特性图案和不带有根据图2的任何内含物的影响的质量校准特性图案。同样在此，类似于根据图3的图示在各个填充空间18之间的静态的特性图案区别或者特性图案分布被排除。求差仅保留可关联于各个薄膜包装3的各个内含物17以及附属的识别号的测量值。因为此外在根据图3的校准步骤中进行参考质量相对参考测量值的关联且相应的回归函数被确定，由此构建地可由当前的测量值以较高的精度进行各个内含物17的质量的定量的确定。

先前所描述的方法步骤虽然考虑了静态的一直重复的在其一单个组内的不同参考包装1,2或薄膜包装3之间的特性图案差，但是未考虑时间上的波动，其由于在X射线站9的图像链中的亮度波动或由于在薄膜层4,5中的厚度波动形成。这些时间上的波动然而能够以如下方式被排除，即，根据图2的质量校准特性图案、根据图3的参考特性图案和根据图4的测量特性图案以与如下类似的方式被确定：由图2、3和4与在相应的成型站6的区域中的示意性的框图得出如下，即，各个参考包装1,2且同样地薄膜包装3相应地具有带有底面19的填充空间18，且这些底面19直接与其毗邻地由边缘区域20包围。在所有三种情况中，首先第一总和信号被确定，这示出了灰度值总和或者灰度值在相应的底面19上的积分。此外第二总和信号被确定，这覆盖直接毗邻的边缘区域20且示出了局部的灰度值总和或者灰度值在边缘区域20上的积分。通过在相应的第一与第二总和信号之间的求差，此时根据图2的质量校准特性图案、根据图3的参考特性图案或者根据图4的质量校准特性图案被确定。因为上面提到的时间上的亮度波动至少在各个参考包装1,2或各个薄膜包装3的区域中同样作用于附属的第一总和信号和附属的第二总和信号，这些作用通过提到的求差被完全排除。

自然地，这以如下为先决条件，即，刚好在填充空间18的底面19与围绕的边缘区域20之间可被区别。由参考包装1,2或薄膜包装3的测量因此首先推导出图像特性图案，其对于填充空间18的底面19的位置而言是独特的。关于所谓的“模式匹配”，此时借助该独特的、所谓理想的图像特性图案在计算上进行对于底面19而言的位置确定或者位置校准，从而使得第一和第二总和信号可被精确定义地确定且被彼此分开。

此外，第一和第二总和信号的线性化还被证实为有用的。于是形成在根据图4对于各个填充空间18而言所确定的灰度值或者测量值与相应地处在其中的内含物17的质量之间的线性关系。

无论如何，在所有薄膜包装3的填充空间18的每个单个内含物17的100%的过程中控制的范围中尽管存在至少一个金属薄膜层4,5，仍进行精确的定量的质量确定。相应的数值上的质量或者重量值此时关联于各个薄膜包装3的各个识别号。对于每个单个的薄膜包装3而言因此可作其内含物具有多少质量且/或相应地内含物17以期望的质量在所设置的公差内是否存在的说明。

Claims (7)

1.一种用于封闭的薄膜包装(3)的内含物(17)的定量的质量确定的方法，其中，所述薄膜包装(3)相应地具有带有底面(19)且带有在所述底面(19)之外的边缘区域(20)的填充空间(18)以及至少一个金属薄膜层(4,5)，包括如下方法步骤：

- 在校准程序中，至少一个不带有内含物的封闭的第一参考包装(1)借助于X射线源(13)被透射，且由此生成第一组初始X射线照片；

- 由所述第一组初始X射线照片推导出质量校准特性图案；

- 至少一个封闭的带有参考内含物(16)的第二参考包装(2)借助于所述X射线源(13)被透射，且由此生成第二组初始X射线照片；

- 由所述第二组初始X射线照片推导出初始参考特性图案；

- 由所述初始参考特性图案和所述质量校准特性图案，通过求差推导出参考测量值；

- 所述至少一个第二参考包装(2)的参考内含物(16)的质量通过称重被定量地确定为参考质量且关联于所述参考测量值；

- 所述校准程序被完成，且跟随有连续的测量运行；

- 在所述连续的测量运行中，封闭的带有各一内含物(17)的薄膜包装(3)借助于所述X射线源(13)被透射，且由此生成至少一组测得的X射线照片；

- 由所述至少一组测得的X射线照片通过以下方式推导出测量特性图案，即，在所述底面(19)内第一总和信号被确定，在所述边缘区域(20)中第二总和信号被确定，且所述测量特性图案通过在所述第一总和信号与第二总和信号之间的求差被确定；

- 由所述测量特性图案和所述质量校准特性图案，通过求差推导出用于各个封闭的薄膜包装(3)的测量值；

- 由所述测量值，在考虑参考质量相对所述参考测量值的关系的情形下定量地确定所述封闭的薄膜包装(3)的内含物(17)的质量。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在多个薄膜包装(3)的连续的测量运行中共同生成一组测得的X射线照片，且在带有和不带有参考内含物(16)的参考包装(1,2)的先前的校准程序中以相同的数量和相同的空间布置生成第一初始X射线照片和第二组初始X射线照片。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，多个薄膜包装(3)以矩阵形式布置。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述校准程序开始时图像链的校准借助于不带有参考包装(1,2)的X射线照片的前置组来执行。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一总和信号和第二总和信号被线性化。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，由测得的X射线照片的组推导出图像特性图案，其对于所述填充空间(18)的底面(19)的位置而言是独特的，且由此进行用于确定所述第一总和信号和第二总和信号的位置校准。

7.一种用于封闭的薄膜包装(3)的内含物的定量的质量确定的装置，其包括带有X射线源(13)、带有X射线成像仪(14)且带有控制单元(15)的设计用于实施根据权利要求1至6中任一项所述的方法的X射线站(9)。

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