CN108718222A - 杂散干扰程度测试方法、装置、计算机设备和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种杂散干扰程度测试方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括获取待检测波形,根据预设扫描参数,确定待检测波形中的突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数,根据占用扫描点数,提取待检测波形中的突发脉冲序列,确定突发脉冲序列的待检测比特区间对应的扫描范围,提取待检测比特区间对应的扫描范围的电平最大值,并根据电平最大值确定待检测波形的杂散干扰程度。整个测试方法不依赖于频谱仪的触发精度,直接对待检测波形进行分析处理,测试实现过程简单且测试结果精度高。
Description
技术领域
本申请涉及通信技术领域,特别是涉及一种杂散干扰程度测试方法、装置、计算机设备和存储介质。
背景技术
随着通讯设备的普及,频谱质量面临巨大挑战。当前全球移动系统(GlobalSystem for Mobile Communication,GSM)仍然占据较大的市场份额,越来越多的干扰来源于发射机,接收机面临的干扰越来越多,所面临的通讯干扰日渐严重。为了确保通讯质量,必须严格遵守各地区对频谱的要求。GSM的输出频谱测试则非常重要,而输出频谱测试中的接收机频段杂散测试是最重要的测试之一,为了确保接收机所受干扰在协议范围内,就必须完善输出频谱测试中的接收机频段杂散干扰测试。
目前输出频谱测试中的接收机频段杂散干扰测试,在行业中均借助于频谱仪的延时触发功能进行测试,如果频谱仪延时触发精度降低,则会导致测试结果不准确,测试过程对频谱仪本身的触发精度的依赖程度高,导致测试的实现过程复杂。
发明内容
基于此,有必要针对测试的实现过程复杂技术问题,提供一种简单且高精度的杂散干扰程度测试方法、装置、计算机设备和存储介质。
一种杂散干扰程度测试方法,所述方法包括:
获取待检测波形;
根据预设扫描参数,确定所述待检测波形中的突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数;
根据所述占用扫描点数,提取所述待检测波形中的所述突发脉冲序列;
确定所述突发脉冲序列的待检测比特区间对应的扫描范围;
提取所述待检测比特区间对应的扫描范围的电平最大值,并根据所述电平最大值确定所述待检测波形的杂散干扰程度。
在其中一个实施例中,所述根据预设扫描参数,确定所述待检测波形中的突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数之前,还包括:
根据所述突发脉冲序列的帧长特性,设定扫描周期对应的扫描时间和扫描点数。
在其中一个实施例中,所述根据所述占用扫描点数,提取所述待检测波形中的所述突发脉冲序列包括:
获取所述待检测波形各扫描点的电平值;
将所述各扫描点按照电平值的大小顺序排列,提取与所述占用扫描点数对应数量的目标扫描点;
将所述目标扫描点按照扫描时间的先后顺序排列,生成所述突发脉冲序列。
在其中一个实施例中,所述确定所述突发脉冲序列待检测比特区间对应的扫描范围包括:
根据频谱协议要求,确定所述突发脉冲序列待检测比特区间;
根据所述待检测比特区间、所述预设扫描参数以及所述突发脉冲序列的帧长特性,确定所述突发脉冲序列待检测比特区间对应的扫描范围。
在其中一个实施例中,所述确定所述突发脉冲序列待检测比特区间对应的扫描范围之后,还包括:
标记并输出所述突发脉冲序列待检测比特区间对应的扫描范围。
在其中一个实施例中,所述根据所述电平最大值确定所述待检测波形的杂散干扰程度包括:
获取预设的杂散干扰允许范围,当检测到所述电平最大值超过所述杂散干扰允许范围时,判定所述待检测波形为不合格波形。
在其中一个实施例中,所述根据所述电平最大值确定所述待检测波形的杂散干扰程度还包括:
确定所述不合格波形中电平值超过所述杂散干扰允许范围的不合格扫描点数;
根据所述不合格扫描点数,确定所述待检测波形的杂散干扰程度。
一种杂散干扰程度测试装置,所述装置包括:
待检测波形获取模块,用于获取待检测波形;
突发脉冲序列占用扫描点数确定模块,用于根据预设扫描参数,确定所述待检测波形中的突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数;
突发脉冲序列提取模块,用于根据所述占用扫描点数,提取所述待检测波形中的所述突发脉冲序列;
待检测比特区间扫描范围确定模块,用于根据频谱协议要求,确定所述突发脉冲序列的待检测比特区间对应的扫描范围;
杂散干扰程度确定模块,用于提取所述待检测比特区间对应的扫描范围的电平最大值,并根据所述电平最大值确定所述待检测波形的杂散干扰程度。
一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤:
获取待检测波形;
根据预设扫描参数,确定所述待检测波形中的突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数;
根据所述占用扫描点数,提取所述待检测波形中的所述突发脉冲序列;
确定所述突发脉冲序列的待检测比特区间对应的扫描范围;
提取所述待检测比特区间对应的扫描范围的电平最大值,并根据所述电平最大值确定所述待检测波形的杂散干扰程度。
一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:
获取待检测波形;
根据预设扫描参数,确定所述待检测波形中的突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数;
根据所述占用扫描点数,提取所述待检测波形中的所述突发脉冲序列;
确定所述突发脉冲序列的待检测比特区间对应的扫描范围;
提取所述待检测比特区间对应的扫描范围的电平最大值,并根据所述电平最大值确定所述待检测波形的杂散干扰程度。
上述杂散干扰程度测试方法、装置、计算机设备和存储介质,通过获取待检测波形,并根据预设扫描参数,确定突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数,根据占用扫描点数,提取待检测波形中的突发脉冲序列,并进一步检测突发脉冲序列的待检测比特区间的电平值来判断待检测波形的杂散干扰程度,整个测试方法不依赖于频谱仪的触发精度,直接对待检测波形进行分析处理,测试实现过程简单且测试结果精度高。
附图说明
图1为本申请一个实施例中杂散干扰程度测试方法的流程示意图;
图2为本申请另一个实施例中杂散干扰程度测试方法的流程示意图;
图3为本申请另一个实施例中杂散干扰程度测试方法的流程示意图;
图4为本申请一个应用实例中杂散干扰程度测试方法的扫描结果图;
图5为本申请一个实施例中杂散干扰程度测试装置的结构框图;
图6为本申请一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
为确保接收机频段具有良好的频谱特性,协议规定:对于GSM400、T-GSM810、GSM900和DCS1800的杂散测量频段850MHz~866MHz、925MHz~935MHz、935MHz~960MHz和1805MHz~1880MHz,限值分别为-79dBm、-67dBm、-79dBm、-71dBm,按照协议指定测试方法,测量结果不得超过限值要求,但允许925MHz~960MHz和1805MHz~1880MHz所测量结果中有小于等于5个扫描点超过限值,但不允许超过-36dBm。对于GSM400,有另外要求,杂散测量频段460.4MHz~467.6MHz、488.8MHz~496MHz测量结果不得超过-67dBm,但允许测量结果中有小于等于3个扫描点超过限值,但不允许超过-36dBm。
对于GSM700、GSM850和PCS(Personal Communications Service,个人通讯服务)1900MS的测量频段728MHz~736MHz、736MHz~746MHz、747MHz~757MHz、757MHz~763MHz、869MHz~894MHz、1930MHz~1990MHz,限值分别为-73dBm、-79dBm、-79dBm、-73dBm、-79dBm、-71dBm,按照协议指定测试方法,测量结果不得超过限值要求。但允许728MHz~736MHz、736MHz~746MHz、747MHz~757MHz、757MHz~763MHz、869MHz~894MHz、1930MHz~1990MHz所测量结果中有小于等于5个扫描点超过限值,但不允许超过-36dBm。
在一个实施例中,如图1所示,提供了一种杂散干扰程度测试方法,包括:
步骤S100,获取待检测波形。
杂散是指除去主频以外的无用信号功率,是一个系统频段外的杂散辐射落入到另外一个系统的接收频段内造成的干扰,又称杂散干扰,杂散干扰是由发射机产生的,包括功放产生和放大的热噪声、系统的互调产物,以及接收频率范围内收到的其他干扰,待检测波形可以通过SCPI(Standard Commands for Programmable Instruments,可编程仪器标准命令)标准命令获取到待检测波形轨迹的所有组成点的电平,待检测波形主要是检测接收机频段的频率是否受到杂散干扰,以及受到的杂散干扰的程度是否在在协议范围内,杂散干扰测试结果可以通过频谱仪对待检测波形进行检测获得,频谱仪是一种主要用于射频和微波信号的频域分析的测试测量仪器。
步骤S200,根据预设扫描参数,确定待检测波形中的突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数。
扫描参数是指频谱仪对待检测波形进行扫描时的参数,扫描参数包括中心频点,扫描范围,检波方式,扫描点数,扫描时间,解析带宽,视频带宽以及触发方式。根据预设的扫描点数和扫描时间,可以确定扫描步长。根据扫描步长以及待检测波形中的突发脉冲序列对应的时隙长,可以确定突发脉冲占用的扫描点数。
在其中一个实施例中,扫描参数可以是中心频点为待检测波形频率,扫描范围为0MHz(即时域下进行),检波方式为平均检波,扫描点数为1001,扫描时间为3ms,解析带宽为100KHz,视频带宽为100KHz,触发方式为外部触发。例如,如图4(a)所示,当扫描点数为1001,扫描时间为3ms时,扫描步长为3ms/1000即为3us。在GSM系统中,采用TDMA(Timedivision multiple access,时分多址)技术,TDMA是一种为实现共享传输介质(一般是无线电领域)或者网络的通信技术,允许多个用户在不同的时间片(时隙)来使用相同的频率。它把时间分割成周期性的帧,每一个帧再分割成若干个时隙向基站发送信号,在满足定时和同步的条件下,基站可以分别在各时隙中接收到各移动终端的信号而不混扰。在同一对频率信道上,可供8个用户同时进行业务信息的传输。在GSM系统中,每个TDMA帧的发送要有帧号,TDMA帧号是以3.5小时(2715648个TDMA帧)为周期循环编号的。每2715648个TDMA帧为一个超高帧,每一个超高帧又可分为2048个超帧,一个超帧持续时间为6.12s,每个超帧又是由复帧组成,复帧包括26帧的复帧,它包括26个TDMA帧,持续时长120ms,51个这样的复帧组成一个超帧。TDMA系统中,在一个时隙信道上,信息是以突发脉冲序列的形式发送的。26TDMA复帧长120ms,即一个TDMA帧长为120ms/26=4.615ms,每个TDMA帧分为8个时隙,即GSM一个时隙长为4.615/8=0.577ms,该频点GSM突发脉冲所占用的点数577us/3us=192个。
步骤S300,根据占用扫描点数,提取待检测波形中的突发脉冲序列。
突发脉冲序列在无线信道上进行突发传输时,在突发脉冲序列起始时,载波电平从最低值迅速上升到额定值,在突发脉冲序列结束时,载波电平必须从额定值下降到最低值。在预设的扫描时间内对应有预设数量的扫描点,各个扫描点对应有电平值,突发脉冲序列对应为电平值大的一段区间的扫描点,根据突发脉冲序列的占用扫描点数,以及各个扫描点数的电平值,可以提取突发脉冲序列。在一个应用实例中,GSM突发脉冲所占用的点数为192个时,对应的突发脉冲序列如图4(b)所示。
步骤S400,确定突发脉冲序列的待检测比特区间对应的扫描范围。
突发脉冲序列包含156.25bit,其中,用于判断是否受到杂散干扰的待检测比特区间为87bit~132bit,根据1个bit所占用的时间、扫描步长,可以确定突发脉冲序列的待检测比特区间对应的扫描范围。在实施例中,1个bit所占用的时间为0.577ms/156.25bit=3.6928us,扫描步长为3us,所以对应的扫描范围为107~162,即(87bit*3.6928us/bit/3us)~(132bit*3.6928us/bit/3us),具体对应的扫描点可参见图4(c)所示。
步骤S500,提取待检测比特区间对应的扫描范围的电平最大值,并根据电平最大值确定待检测波形的杂散干扰程度。
杂散干扰程度用于表征待检测波形是否测试合格,当待检测比特区间对应的扫描范围内的所有电平值满足协议要求范围,该待检测波形即为测试合格,在判断该扫描范围的所有电平值是否满足协议要求范围时,通过提取电平最大值,并判断电平最大值是否超过第一限值要求,当电平最大值小于第一限值要求时,说明待检测比特区间对应的所有电平值均满足协议要求,该待检测波形即为测试合格,当电平最大值大于第一限值要求且不超过第二限值要求时,进一步判断大于限制要求的电平值的扫描点的个数是否超过数量要求,当个数小于数量要求时,该待检测波形即为测试合格,否则为不合格波形。
上述杂散干扰程度测试方法、装置、计算机设备和存储介质,通过获取待检测波形,并根据预设扫描参数,确定突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数,根据占用扫描点数,提取待检测波形中的突发脉冲序列,并进一步检测突发脉冲序列的待检测比特区间的电平值来判断待检测波形的杂散干扰程度,整个测试方法不依赖于频谱仪的触发精度,直接对待检测波形进行分析处理,测试实现过程简单且测试结果精度高。
如图2所示,在一个实施例中,步骤S200之前,还包括:
步骤S120,根据突发脉冲序列的帧长特性,设定扫描周期对应的扫描时间和扫描点数。
根据GSM突发脉冲序列的帧长特点,一帧长度为156.25bit,一个bit所占用的时间为0.577ms/156.25bit=3.6928us/bit。在实施例中,扫描点数为1001,扫描时间为3ms时,扫描步长为3ms/1000即为3us,频谱仪点数之间以3us步径进行扫描,精度方面满足要求。可以理解,在其他实施例中,扫描周期对应的扫描时间和扫描点数可以根据精度要求进行设定。
在一个实施例中,步骤S300包括:
步骤S320,获取待检测波形各扫描点的电平值。
对待检测波形进行扫描,扫描结果由多个扫描点构成,各个扫描点有对应的电平值,电平的单位为分贝(dB)。获取到的电平值按照扫描时间的先后顺序排列。
步骤S340,将各扫描点按照电平值的大小顺序排列,提取与占用扫描点数对应数量的目标扫描点。
待检测波形中电平值大的扫描点部分对应的区间为突发脉冲序列所在的区间,将各扫描点按照电平值的大小顺序排列,利用突发脉冲序列的占用扫描点数,提取出与占用扫描点数对应数量的目标扫描点,即为组成突发脉冲序列的扫描点。
步骤S360,将目标扫描点按照扫描时间的先后顺序排列,生成突发脉冲序列。
由于提取的目标扫描点是按照电平值的大小顺序排列的,但实际的突发脉冲序列的对应的扫描点的组成形式为按照时间排列,将目标扫描点按照扫描时间的先后顺序排列,生成突发脉冲序列。
在一个实施例中,步骤S400包括:
步骤S420,根据频谱协议要求,确定突发脉冲序列待检测比特区间。
步骤S440,根据待检测比特区间、预设扫描参数以及突发脉冲序列的帧长特性,确定突发脉冲序列待检测比特区间对应的扫描范围。
突发脉冲序列包含156.25bit,包括尾比特、信息比特、偷帧比特、训练比特以及保护间隔比特。其中,用于判断是否受到杂散干扰的待检测比特区间为信息比特,对应的位置为87bit~132bit,根据1个bit所占用的时间、扫描步长,可以确定突发脉冲序列的待检测比特区间对应的扫描范围。在实施例中,1个bit所占用的时间为0.577ms/156.25bit=3.6928us,扫描步长为3us,所以对应的扫描范围为107~162,即(87bit*3.6928us/bit/3us)~(132bit*3.6928us/bit/3us)。
在一个实施例中,步骤S400之后,还包括:
步骤S460,标记并输出突发脉冲序列待检测比特区间对应的扫描范围。
输出待检测波形中的突发脉冲序列,并通过标记突发脉冲序列待检测比特区间对应的扫描范围,以便用户观察测试结果,在实施例中,可以通过在待检测比特区间的开始和结束位置对应的扫描点标记时间竖线或标记颜色并输出。
如图3所示,在一个实施例中,步骤S500包括:
步骤S520,获取预设的杂散干扰允许范围,当检测到电平最大值超过杂散干扰允许范围时,判定待检测波形为不合格波形。
预设的杂散干扰允许范围包括第一限定阈值和第二限定阈值,第一限定阈值是各个频段对应的允许电平值,不同频段的波形对应的限定阈值不同,第二限定阈值是协议中允许的部分频点超过第一限定阈值,但不允许超过的极限电平值。通过比较电平最大值与协议规定的第一限定阈值,以及特定频段中超过第一限定阈值且不超过第二限定阈值的点数,判定待检测波形是否测定合格。在其中一个实施例中,获取到电平最大值后,确定电平最大值对应的时间点,标记电平最大值并输出,以便用户直观地得到测试结果。
在一个实施例中,步骤S500还包括:
步骤S540,确定不合格波形中电平值超过杂散干扰允许范围的不合格扫描点数。
步骤S560,根据不合格扫描点数,确定待检测波形的杂散干扰程度。
电平最大值以及不合格扫描点数的数量表征了待检测波形的杂散干扰程度,电平最大值越大,或是超过杂散干扰允许范围的点数越多,说明杂散干扰程度越大。
应该理解的是,虽然图1-3的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,这些步骤可以以其它的顺序执行。而且,图1-3中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段,这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
如图5所示,一种杂散干扰程度测试装置,装置包括:
待检测波形获取模块100,用于获取待检测波形;
突发脉冲序列占用扫描点数确定模块200,用于根据预设扫描参数,确定待检测波形中的突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数;
突发脉冲序列提取模块300,用于根据占用扫描点数,提取待检测波形中的突发脉冲序列;
待检测比特区间扫描范围确定模块400,用于根据频谱协议要求,确定突发脉冲序列的待检测比特区间对应的扫描范围;
杂散干扰程度确定模块500,用于提取待检测比特区间对应的扫描范围的电平最大值,并根据电平最大值确定待检测波形的杂散干扰程度。
上述杂散干扰程度测试装置,通过获取待检测波形,并根据预设扫描参数,确定突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数,根据占用扫描点数,提取待检测波形中的突发脉冲序列,并进一步检测突发脉冲序列的待检测比特区间的电平值来判断待检测波形的杂散干扰程度,整个测试方法不依赖于频谱仪的触发精度,直接对待检测波形进行分析处理,测试实现过程简单且测试结果精度高。
在一个实施例中,突发脉冲序列占用扫描点数确定模块200,还用于根据突发脉冲序列的帧长特性,设定扫描周期对应的扫描时间和扫描点数。
在一个实施例中,突发脉冲序列提取模块300,包括:
电平值获取单元,用于获取待检测波形各扫描点的电平值;
第一排序单元,用于将各扫描点按照电平值的大小顺序排列,提取与占用扫描点数对应数量的目标扫描点;
第二排序单元,用于将目标扫描点按照扫描时间的先后顺序排列,生成突发脉冲序列。
在一个实施例中,待检测比特区间扫描范围确定模块400包括:
待检测比特区间确定单元,用于根据频谱协议要求,确定突发脉冲序列待检测比特区间;
待检测扫描范围确定单元,用于根据待检测比特区间、预设扫描参数以及突发脉冲序列的帧长特性,确定突发脉冲序列待检测比特区间对应的扫描范围。
在一个实施例中,待检测比特区间扫描范围确定模块400还包括:
标记与输出单元,用于标记并输出突发脉冲序列待检测比特区间对应的扫描范围。
在一个实施例中,杂散干扰程度确定模块500包括:
不合格波形判定单元,用于获取预设的杂散干扰允许范围,当检测到电平最大值超过杂散干扰允许范围时,判定待检测波形为不合格波形。
在一个实施例中,根据电平最大值确定待检测波形的杂散干扰程度还包括:
不合格点数确定单元,用于确定不合格波形中电平值超过杂散干扰允许范围的不合格扫描点数;
杂散干扰程度确定单元,用于根据不合格扫描点数,确定待检测波形的杂散干扰程度。
关于杂散干扰程度测试装置的具体限定可以参见上文中对于杂散干扰程度测试方法的限定,在此不再赘述。上述杂散干扰程度测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中,也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中,以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中,提供了一种计算机设备,该计算机设备可以是终端,其内部结构图可以如图6所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中,该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种杂散干扰程度测试方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏,该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层,也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板,还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解,图6中示出的结构,仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图,并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定,具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者具有不同的部件布置。
一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,处理器执行计算机程序时实现以下步骤:
获取待检测波形;
根据预设扫描参数,确定待检测波形中的突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数;
根据占用扫描点数,提取待检测波形中的突发脉冲序列;
确定突发脉冲序列的待检测比特区间对应的扫描范围;
提取待检测比特区间对应的扫描范围的电平最大值,并根据电平最大值确定待检测波形的杂散干扰程度。
上述用于实现杂散干扰程度测试方法的计算机设备,通过获取待检测波形,并根据预设扫描参数,确定突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数,根据占用扫描点数,提取待检测波形中的突发脉冲序列,并进一步检测突发脉冲序列的待检测比特区间的电平值来判断待检测波形的杂散干扰程度,整个测试方法不依赖于频谱仪的触发精度,直接对待检测波形进行分析处理,测试实现过程简单且测试结果精度高。
在一个实施例中,处理器执行计算机程序时还实现以下步骤:
根据突发脉冲序列的帧长特性,设定扫描周期对应的扫描时间和扫描点数。
在一个实施例中,处理器执行计算机程序时还实现以下步骤:
获取待检测波形各扫描点的电平值;
将各扫描点按照电平值的大小顺序排列,提取与占用扫描点数对应数量的目标扫描点;
将目标扫描点按照扫描时间的先后顺序排列,生成突发脉冲序列。
在一个实施例中,处理器执行计算机程序时还实现以下步骤:
根据频谱协议要求,确定突发脉冲序列待检测比特区间;
根据待检测比特区间、预设扫描参数以及突发脉冲序列的帧长特性,确定突发脉冲序列待检测比特区间对应的扫描范围。
在一个实施例中,处理器执行计算机程序时还实现以下步骤:
标记并输出突发脉冲序列待检测比特区间对应的扫描范围。
在一个实施例中,处理器执行计算机程序时还实现以下步骤:
获取预设的杂散干扰允许范围,当检测到电平最大值超过杂散干扰允许范围时,判定待检测波形为不合格波形。
在一个实施例中,处理器执行计算机程序时还实现以下步骤:
确定不合格波形中电平值超过杂散干扰允许范围的不合格扫描点数;
根据不合格扫描点数,确定待检测波形的杂散干扰程度。
一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:
获取待检测波形;
根据预设扫描参数,确定待检测波形中的突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数;
根据占用扫描点数,提取待检测波形中的突发脉冲序列;
确定突发脉冲序列的待检测比特区间对应的扫描范围;
提取待检测比特区间对应的扫描范围的电平最大值,并根据电平最大值确定待检测波形的杂散干扰程度。
上述用于实现杂散干扰程度测试方法的存储介质,通过获取待检测波形,并根据预设扫描参数,确定突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数,根据占用扫描点数,提取待检测波形中的突发脉冲序列,并进一步检测突发脉冲序列的待检测比特区间的电平值来判断待检测波形的杂散干扰程度,整个测试方法不依赖于频谱仪的触发精度,直接对待检测波形进行分析处理,测试实现过程简单且测试结果精度高。
在一个实施例中,计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤:
根据突发脉冲序列的帧长特性,设定扫描周期对应的扫描时间和扫描点数。
在一个实施例中,计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤:
获取待检测波形各扫描点的电平值;
将各扫描点按照电平值的大小顺序排列,提取与占用扫描点数对应数量的目标扫描点;
将目标扫描点按照扫描时间的先后顺序排列,生成突发脉冲序列。
在一个实施例中,计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤:
根据频谱协议要求,确定突发脉冲序列待检测比特区间;
根据待检测比特区间、预设扫描参数以及突发脉冲序列的帧长特性,确定突发脉冲序列待检测比特区间对应的扫描范围。
在一个实施例中,计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤:
标记并输出突发脉冲序列待检测比特区间对应的扫描范围。
在一个实施例中,计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤:
获取预设的杂散干扰允许范围,当检测到电平最大值超过杂散干扰允许范围时,判定待检测波形为不合格波形。
在一个实施例中,计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤:
确定不合格波形中电平值超过杂散干扰允许范围的不合格扫描点数;
根据不合格扫描点数,确定待检测波形的杂散干扰程度。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中,该计算机程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,RAM以多种形式可得,诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上实施例仅表达了本申请的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请的保护范围。因此,本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种杂散干扰程度测试方法,其特征在于,包括:
获取待检测波形;
根据预设扫描参数,确定所述待检测波形中的突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数;
根据所述占用扫描点数,提取所述待检测波形中的所述突发脉冲序列;
确定所述突发脉冲序列的待检测比特区间对应的扫描范围;
提取所述待检测比特区间对应的扫描范围的电平最大值,并根据所述电平最大值确定所述待检测波形的杂散干扰程度。
2.根据权利要求1所述的杂散干扰程度测试方法,其特征在于,所述根据预设扫描参数,确定所述待检测波形中的突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数之前,还包括:
根据所述突发脉冲序列的帧长特性,设定扫描周期对应的扫描时间和扫描点数。
3.根据权利要求1所述的杂散干扰程度测试方法,其特征在于,所述根据所述占用扫描点数,提取所述待检测波形中的所述突发脉冲序列包括:
获取所述待检测波形各扫描点的电平值;
将所述各扫描点按照电平值的大小顺序排列,提取与所述占用扫描点数对应数量的目标扫描点;
将所述目标扫描点按照扫描时间的先后顺序排列,生成所述突发脉冲序列。
4.根据权利要求1所述的杂散干扰程度测试方法,其特征在于,所述确定所述突发脉冲序列待检测比特区间对应的扫描范围包括:
根据频谱协议要求,确定所述突发脉冲序列待检测比特区间;
根据所述待检测比特区间、所述预设扫描参数以及所述突发脉冲序列的帧长特性,确定所述突发脉冲序列待检测比特区间对应的扫描范围。
5.根据权利要求4所述的杂散干扰程度测试方法,其特征在于,所述确定所述突发脉冲序列待检测比特区间对应的扫描范围之后,还包括:
标记并输出所述突发脉冲序列待检测比特区间对应的扫描范围。
6.根据权利要求1所述的杂散干扰程度测试方法,其特征在于,所述根据所述电平最大值确定所述待检测波形的杂散干扰程度包括:
获取预设的杂散干扰允许范围,当检测到所述电平最大值超过所述杂散干扰允许范围时,判定所述待检测波形为不合格波形。
7.根据权利要求6所述的杂散干扰程度测试方法,其特征在于,所述根据所述电平最大值确定所述待检测波形的杂散干扰程度还包括:
确定所述不合格波形中电平值超过所述杂散干扰允许范围的不合格扫描点数;
根据所述不合格扫描点数,确定所述待检测波形的杂散干扰程度。
8.一种杂散干扰程度测试装置,其特征在于,所述装置包括:
待检测波形获取模块,用于获取待检测波形;
突发脉冲序列占用扫描点数确定模块,用于根据预设扫描参数,确定所述待检测波形中的突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数;
突发脉冲序列提取模块,用于根据所述占用扫描点数,提取所述待检测波形中的所述突发脉冲序列;
待检测比特区间扫描范围确定模块,用于根据频谱协议要求,确定所述突发脉冲序列的待检测比特区间对应的扫描范围;
杂散干扰程度确定模块,用于提取所述待检测比特区间对应的扫描范围的电平最大值,并根据所述电平最大值确定所述待检测波形的杂散干扰程度。
9.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。
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