CN108709503A - 印花面料纬斜测量方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及印花面料纬斜测量方法及装置，属于纺织印染技术领域。本发明的目的在于提高印花面料纬斜检验效率，避免常规测量纬斜造成的面料浪费，优化测量流程，可更快、更准确、更经济的测量出印花面料的纬斜。本发明印花面料纬斜测量方法，包括以下步骤：(1)投射；(2)设定基准；(3)设定偏移；(4)测量；(5)计算。本发明印花面料纬斜测量装置，设置在验布机的验布台上，包括：光源，用于投射纬向水平光线；横向测距装置，用于测量布面幅宽；纵向测距装置，用于测量偏移线与待测布面印花的纵向边界间距。

Description

印花面料纬斜测量方法及装置
技术领域
本发明涉及印花面料纬斜测量方法及装置，属于纺织印染技术领域。
背景技术
随着市场需求的变化，近年来客户审美观不断提高，印花面料以“时尚”、“潮流”、“新颖”等特点，迅速得到市场的青睐，各种花色、花型，满足了不同消费群体的需求，但由于印花面料布面花型的特点，要求花型纬斜及底部面料纬斜需一致，且需要在合格范围之内，若超出范围或纬斜不一致，极易造成对花不正，花型错格等问题，特别对领子、肩部和下摆等关键部位影响较大。
传统印花面料测量纬斜的方法，取一段布面用标签笔将花型一一连接，再用米尺或三角尺对花型偏移距离进行测量，再根据织物有效幅宽计算纬斜，耗用时间长，尤其是局部纬斜情况，每个部位不一样，需要测量的次数多，造成成品检验工作效率低，浪费面料。
专利申请号CN200410060096.7，提出一种纺织品纬斜的检测方法和检测装置，该专利通过摄像器件拍摄待测纺织品的图像，然后对拍摄到的图像信号进行处理，获得纺织品在摄像器件处的纬斜，该申请在待测纺织品色差较大时，图像信号识别较为清晰，可以获得纬斜，但很多面料与印花色差较为相近，图像信号在进行处理时，无法有效识别印花边界，获得的纬斜误差较大。
发明内容
本发明的目的在于提出一种印花面料纬斜测量方法及装置，提高印花面料纬斜检验效率，避免常规测量纬斜造成的面料浪费，优化测量流程，可更快、更准确、更经济的测量出印花面料的纬斜。
本发明印花面料纬斜测量方法，包括以下步骤：
(1)投射，投射纬向水平光线至验布面；
(2)设定基准，设定一条纬向水平光线作为基准线；
(3)设定偏移，设定另一条纬向水平光线作为偏移线，使偏移线与基准线的间距与布面印花未出现偏移时的纵向边界间距相同；
(4)测量，测量布面幅宽c和偏移距离a，偏移距离a为偏移线与待测布面印花纵向边界的间距；
(5)计算，计算纬斜
所述的，步骤(2)中，基准线与待测印花纵向边界最低端对齐。
所述的，步骤(4)中，a为待测布面印花边界最高点到偏移线的垂直距离。
所述的，纬向水平光线覆盖布面两端。
本发明还提供一种印花面料纬斜测量装置，设置在验布机的验布台上，包括：光源、横向测距装置和纵向测距装置，光源，用于投射纬向水平光线；横向测距装置，用于测量布面幅宽；纵向测距装置，用于测量偏移线与待测布面印花的纵向边界间距。
所述的，光源为镭射灯，镭射灯前端固定直线透镜模组。
所述的，镭射灯通过调节云台与验布台上横梁固定连接。
所述的，横向测距装置为测距尺，验布台下横梁上设置测距尺。
测距尺用于测量通过验布台的布面幅宽
所述的，纵向测距装置包括直尺和平行设置在验布台左、右横梁间的第一横担、第二横担，直尺一端固定套筒，所述套筒沿第一横担滑动。
本发明的有益效果是：
本发明所述的印花面料纬斜测量方法，通过投射基准线和偏移线至布面，仅需要测量两个参数即可完成纬斜计算，通过纵向测距装置测量偏移线与待测布面印花的纵向边界间距即可得到待测点布面印花的偏移距离，通过横向测距装置测量即可得到布面幅宽，省去画线、裁边时间，测量简单，效率高；光源采用镭射灯，镭射灯前端固定直线透镜模组，投射的基准线和偏移线光线稳定精度高，使测量准确，误差小。
附图说明
图1是一种实施例结构主视图；
图2是一种实施例结构侧视图；
图中：1、基准线；2、偏移线；3、镭射灯；4、上横梁；5、测距尺；6、下横梁；7、直尺；8、第一横担；9、第二横担；10、布面；11、印花。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步说明。
如图1、2所示，本发明所述的印花面料纬斜测量装置，设置在验布机的验布台上，包括光源、横向测距装置和纵向测距装置，光源，用于投射纬向水平光线；横向测距装置，用于测量布面幅宽；纵向测距装置，用于测量偏移线2与待测布面印花的纵向边界间距，具体的所述光源为镭射灯3，镭射灯3前端固定直线透镜模组，所述镭射灯3通过调节云台与验布台上横梁4固定连接；所述横向测距装置为测距尺5，验布台下横梁6上设置测距尺5；所述纵向测距装置包括直尺7和平行设置在验布台左、右横梁间的第一横担8、第二横担9，直尺7一端固定套筒，所述套筒沿第一横担8滑动。
镭射灯3投射的光线稳定性高，误差小，镭射灯3通过调节云台调节镭射灯3投射在布面上的位置，固定在镭射灯3前端的直线透镜模组将两条水平光线投射到验布面，测距尺5用于测量布面有效幅宽，布面纺织过程中在两端形成一厘米左右的针眼区，两端针眼区内的水平间距为布面的有效幅宽，直尺7一端通过套筒可沿第一横担8横向移动，直尺7另一端搭在第二横担9上，与第二横担9相接触，测量布面印花纬斜时，将直尺7横向移动到待测点，方便读数。
本发明所述的印花面料纬斜测量方法，包括以下步骤：
(1)投射，投射纬向水平光线至验布面；
(2)设定基准，设定一条纬向水平光线作为基准线1；
(3)设定偏移，设定另一条纬向水平光线作为偏移线2，使偏移线2与基准线1的间距与布面印花未出现偏移时的纵向边界间距相同；
(4)测量，测量布面幅宽c和偏移距离a，偏移距离a为偏移线2与待测布面印花纵向边界的间距；
(5)计算，计算纬斜
其中，步骤(2)中，基准线1与待测印花纵向边界最低端对齐；步骤(4)中，a为待测布面印花边界最高点到偏移线2的垂直距离，纬向水平光线覆盖布面两端。
通过镭射灯3投射基准线1和偏移线2至验布面，使投射基准线1和偏移线2的间距与纬斜为零时，布面印花纵向边界间距相同；调整布面将基准线1与待测区域印花纵向边界最低端对齐，通过移动直尺7测量待测区域布面印花边界的最高点到偏移线2的垂直距离a，通过测距尺5测量布面幅宽c，布面幅宽c为布面的有效幅宽，然后计算纬斜K，镭射灯3投射的纬向水平光线覆盖布面10两端，防止幅宽变化造成纬斜测量不准。
当然，上述内容仅为本发明的较佳实施例，不能被认为用于限定对本发明的实施例范围。本发明也并不仅限于上述举例，本技术领域的普通技术人员在本发明的实质范围内所做出的均等变化与改进等，均应归属于本发明的专利涵盖范围内。

Claims (9)

1.一种印花面料纬斜测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
(1)投射，投射纬向水平光线至验布面；
(2)设定基准，设定一条纬向水平光线作为基准线(1)；
(3)设定偏移，设定另一条纬向水平光线作为偏移线(2)，使偏移线(2)与基准线(1)的间距与布面印花未出现偏移时的纵向边界间距相同；
(4)测量，测量布面幅宽c和偏移距离a，偏移距离a为偏移线(2)与待测布面印花纵向边界的间距；
(5)计算，计算纬斜
2.根据权利要求1所述的印花面料纬斜测量方法，其特征在于：步骤(2)中，基准线(1)与待测印花纵向边界最低端对齐。
3.根据权利要求1所述的印花面料纬斜测量方法，其特征在于：步骤(4)中，a为待测布面印花边界最高点到偏移线(2)的垂直距离。
4.根据权利要求1所述的印花面料纬斜测量方法，其特征在于：所述纬向水平光线覆盖布面两端。
5.一种印花面料纬斜测量装置，设置在验布机的验布台上，其特征在于包括：
光源，用于投射纬向水平光线；
横向测距装置，用于测量布面幅宽；
纵向测距装置，用于测量偏移线(2)与待测布面印花的纵向边界间距。
6.根据权利要求5所述的印花面料纬斜测量装置，其特征在于：所述光源为镭射灯(3)，镭射灯前端固定直线透镜模组。
7.根据权利要求6所述的印花面料纬斜测量装置，其特征在于：所述镭射灯(3)通过调节云台与验布台上横梁(4)固定连接。
8.根据权利要求5所述的印花面料纬斜测量装置，其特征在于：所述横向测距装置为测距尺(5)，验布台下横梁(6)上设置测距尺(5)。
9.根据权利要求5所述的印花面料纬斜测量装置，其特征在于：所述纵向测距装置包括直尺(7)和平行设置在验布台左、右横梁间的第一横担(8)、第二横担(9)，直尺(7)一端固定套筒，所述套筒沿第一横担(8)滑动。
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吉爱萍 等: ""宾馆用白色床品面料及成品检测评定"", 《纺织检测与标准》 *

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