CN108663294A - 一种用于玻璃颗粒的测量装置 - Google Patents

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仇杰
陈世林
颜志刚
邱亚峰
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Nanjing University of Science and Technology
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/02Investigating particle size or size distribution
    • G01N15/0205Investigating particle size or size distribution by optical means
    • G01N15/0227Investigating particle size or size distribution by optical means using imaging; using holography

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Abstract

本发明提供了一种用于玻璃颗粒的测量装置,包括滑动导轨、连接装置、测量装置、滚轮装置、光学平板、外形支架;外形支架固定在水平平台上,滚轮装置设置于外形支架上,光学平板设置于滚轮装置上且沿滚轮装置移动,直径分布不均的玻璃颗粒放置于光学平板上,滑动导轨设置于外形支架上且位于光学平板上方,连接装置设置于滑动导轨上且沿滑动导轨移动,测量装置设置于连接装置上用于测量玻璃颗粒的直径。本发明解决了人工测量效率低、出错率高的问题。

Description

一种用于玻璃颗粒的测量装置
技术领域
本发明涉及一种光纤测量技术,特别是一种用于玻璃颗粒的测量装置。
背景技术
玻璃颗粒制品被广泛用来生产中碱、无碱玻璃纤维及其制品,如中、无碱玻璃纤维无捻粗纱、短切原丝、连续毡、针织复合毡和短切毡、乳剂型和粉剂型短切毡、方格布等增强型玻纤产品,以及电子级玻纤纱和玻纤布。
玻璃颗粒的好坏直接影响到纤维产品的质量,通过分析其合格率可以相应的判别出玻璃颗粒产品的质量,而玻璃颗粒的直径分布情况是其合格率的直观表现。对玻璃颗粒的直径测量主要还是依靠人工,但玻璃颗粒由于其本身微小的特性,导致人工测量效率低下、准确率低,然而国内还未曾发现具有测量玻璃颗粒直径的装置。
发明内容
本发明的目的在于提供一种用于玻璃颗粒的测量装置,解决了人工测量效率低、出错率高的问题。
实现本发明目的的技术方案为:一种用于玻璃颗粒的测量装置,包括滑动导轨、连接装置、测量装置、滚轮装置、光学平板、外形支架;外形支架固定在水平平台上,滚轮装置设置于外形支架上,光学平板设置于滚轮装置上且沿滚轮装置移动,直径分布不均的玻璃颗粒放置于光学平板上,滑动导轨设置于外形支架上且位于光学平板上方,连接装置设置于滑动导轨上且沿滑动导轨移动,测量装置设置于连接装置上用于测量玻璃颗粒的直径。
本发明与现有技术相比,其显著优点在于:(1)自动化程度高,大量提高了工作效率;(2)适应力强,可以同时测量大量直径分布不均的玻璃颗粒,通过图像处理来判断一板玻璃颗粒的合格率;(3)国内还没有针对玻璃颗粒的测量与分析装置。
下面结合说明书附图对本发明作进一步描述。
附图说明
图1为本发明用于玻璃颗粒的测量装置的整体结构示意图。
图2为本发明用于玻璃颗粒的测量装置的滑动导轨的结构示意图。
图3为本发明用于玻璃颗粒的测量装置的连接装置的结构示意图。
图4为本发明用于玻璃颗粒的测量装置的滚轮装置的结构示意图。
具体实施方式
结合图1,一种用于玻璃颗粒的测量装置,包括导轨装置1、连接装置2、测量装置3、滚轮装置4、光学平板5、外形支架6。外形支架6固定在水平平台上,滚轮装置4设置于外形支架6上,光学平板5设置于滚轮装置4上且沿滚轮装置4移动,直径分布不均的玻璃颗粒放置于光学平板5上,滑动导轨1设置于外形支架6上且位于光学平板5上方,连接装置2设置于滑动导轨1上且沿滑动导轨1移动,测量装置3设置于连接装置2上用于测量玻璃颗粒的直径。
外形支架6构成了测量装置的整体框架,支架的摆放应当水平。四个滚轮装置4对称固定在外形支架6的中部。导轨装置1通过电机控制来实现对测量装置的移动;测量装置3用于获取当前光学平板上玻璃颗粒的图像,进而传送回上位机进行图像处理;光学平板5用于放置一批玻璃颗粒,玻璃颗粒的摆放事先应当均匀分布在光学平板上,以免重叠放置导致计算误差。上位机处理完之后,依据玻璃直径的分布情况给定合格率,并将产品进行分类,操作人员依据分类情况对玻璃颗粒进行收集,从而实现对一批玻璃颗粒的测量。
正常工作时,先根据待测玻璃颗粒的数量,将其均匀分布在光学平板5上;并将光学平板5通过滚轮装置4送进测量装置3的检测范围;由于光学平板5的面积较大,且其上分布的颗粒较多,因而可以通过导轨装置1控制测量装置3水平移动,进而获取关于玻璃颗粒的多张图像,在上位机完成对图像的处理后,即完成本批玻璃颗粒的测量。
结合图2,所述导轨装置1包括丝杠1-1、导轨座1-2。丝杠1-1是导轨装置的主要部分,其转动由电机控制,相应的可以实现测量装置的左右移动,移动的距离必须确保CCD能够采集到完整的图像,其值可以事先计算出来。在导轨装置1的往复运动期间,测量装置可以实现对两板玻璃颗粒的测量,从而可以提高测量效率。
结合图3,所述连接装置2包括导轨连接件2-1、CCD连接件2-2、十字槽盘头螺钉2-3、CCD固定件2-4。导轨连接件2-1与滑动导轨1通过螺纹相互连接,从而可以通过导轨实现对测量装置的移动功能;CCD连接件2-2位于连接装置的中间,通过十字槽盘头螺钉2-3来和CCD固定件相连;CCD固定件2-4用来固定测量装置CCD。CCD固定件2-4用来放置CCD摄像传感器,且能够保证CCD始终处于水平状态。
结合图4,滚轮装置4包括滚轮4-1、滚轮条4-2、支架连接件4-3,滚轮4-1用来引导载物台-光学平板的进出;滚轮条4-2通过螺钉与滚轮相连,起固定作用;支架连接件4-3用来连接滚轮条,同时与外形支架6通过螺钉连接。
正常工作时,在丝杠1-1的转动下,连接装置2会带动着测量装置3移动,以确保能够采集到完整图像。同时,CCD将采集到的图像传回上位机,在上位机上进行相应的图像处理,对玻璃颗粒进行灰度值检测,计算出玻璃颗粒的直径分布比例,并与程序设定的值进行比较,从而分辨出一批玻璃颗粒的合格率。

Claims (4)

1.一种用于玻璃颗粒的测量装置,其特征在于,包括滑动导轨(1)、连接装置(2)、测量装置(3)、滚轮装置(4)、光学平板(5)、外形支架(6);其中
外形支架(6)固定在水平平台上,
滚轮装置(4)设置于外形支架(6)上,
光学平板(5)设置于滚轮装置(4)上且沿滚轮装置(4)移动,
直径分布不均的玻璃颗粒放置于光学平板(5)上,
滑动导轨(1)设置于外形支架(6)上且位于光学平板(5)上方,
连接装置(2)设置于滑动导轨(1)上且沿滑动导轨(1)移动,
测量装置(3)设置于连接装置(2)上用于测量玻璃颗粒的直径。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述滑动导轨(1)包括丝杠(1-1)、导轨座(1-2),其中
导轨座(1-2)通过与外形支架(6)固连,
丝杠(1-1)设置于导轨座上且通过电机控制转动。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述连接装置(2)包括导轨连接件(2-1)、CCD连接件(2-2)、十字槽盘头螺钉(2-3)、CCD固定件(2-4)、CCD摄像传感器,其中
导轨连接件(2-1)与丝杠(1-1)通过螺纹相互连接,
CCD连接件(2-2)固定于导轨连接件(2-1)上,
CCD固定件(2-4)固定于CCD连接件(2-2)上,
CCD摄像传感器设置于CCD固定件(2-4)上。
4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述滚轮装置(4)包括滚轮(4-1)、滚轮条(4-2)、支架连接件(4-3),其中
滚轮条(4-2)通过支架连接件(4-3)固定于外形支架(6)上,
滚轮(4-1)若干且分别与滚轮条(4-2)转动连接。
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