CN108509706B - 摩尔纹模拟方法及装置、存储介质、电子设备 - Google Patents

Abstract

本公开涉及计算机技术领域，尤其涉及一种摩尔纹模拟方法及装置、存储介质、电子设备。该方法可以包括：提供一传感器层图案和一色阻图案；根据所述传感器层图案距所述色阻图案的距离、观测点相对所述传感器层图案的位置，对所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点进行校正；根据校正后的所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点的坐标将所述传感器层图案和所述色阻图案进行叠加，以获取目标图案；对所述目标图案进行处理以得到模拟结果。本公开提高了目标图案的精确度，进而提高了摩尔纹模拟的精准度，从而可以有效改善模拟结果与实际结果不匹配的问题，进而提高传感器层图案的良率，同时也有效的避免了设计风险。

Description

摩尔纹模拟方法及装置、存储介质、电子设备

技术领域

本公开涉及计算机技术领域，尤其涉及一种摩尔纹模拟方法及装置、存储介质、电子设备。

背景技术

摩尔纹为一种常见的光学衍射现象，当两种或多种周期不同的图案叠加时便会产生。例如，对于笔记本电脑、手机、平板电脑、电视等触控产品，由于在面板上方引入了一定周期的传感器层，使得传感器层图案与面板中的色阻图案或者背光阵列发生摩尔纹衍射，从而出现摩尔纹不良。

目前，消除触控产品中的摩尔纹不良的方法可以包括：对于背光阵列与传感器层图案产生的摩尔纹不良可以通过更换背光阵列的方法来解决；对于传感器层图案与色阻图案产生的摩尔纹不良可以通过制作测试光掩模(test mask)的方法寻找最合适的传感器层图案的方法来解决，或者在设计传感器层之前通过matlab(矩阵实验室)软件生成传感器层图案，并对传感器层图案和色阻图案进行摩尔纹模拟以寻找匹配性最好的传感器层图案来解决。

然而，在解决传感器层图案与色阻图案产生的摩尔纹不良的方法中，制作测试光掩模(test mask)的方法虽然风险较小，但是成本较高，且可以验证的图案较少，不能作为长期的设计方案；摩尔纹模拟的方法虽然成本低，且可以验证大量的图案，但是由于与实际的光学过程相差较大，模拟结果并不理想，很难与实际结果相匹配，若以此结果指导设计，风险很大，很难在实际中应用。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种摩尔纹模拟方法及装置、存储介质、电子设备，进而至少在一定程度上克服摩尔纹模拟过程中模拟结果与实际结果不匹配等问题。

根据本公开的一个方面，提供一种摩尔纹模拟方法，包括：

提供一传感器层图案和一色阻图案；

根据所述传感器层图案距所述色阻图案的距离、观测点相对所述传感器层图案的位置，对所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点进行校正；

根据校正后的所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点的坐标将所述传感器层图案和所述色阻图案进行叠加，以获取目标图案；

对所述目标图案进行处理以得到模拟结果。

在本公开的一种示例性实施例中，所述提供一传感器层图案包括：

根据触控产品的类型确定所述触控产品的分辨率，根据所述触控产品的分辨率提供所述传感器层图案。

在本公开的一种示例性实施例中，所述根据所述触控产品的分辨率提供所述传感器层图案包括：

根据所述触控产品的分辨率确定传感器的长度、宽度、角度以及所述传感器之间的间距；

根据所述传感器的长度、宽度、角度以及所述传感器之间的间距提供所述传感器层图案。

在本公开的一种示例性实施例中，所述触控产品的类型包括：单层内嵌型、多层内嵌型、金属网络型。

在本公开的一种示例性实施例中，所述对所述目标图案进行处理以得到模拟结果包括：

对所述目标图案中与所述色阻图案中的黑色矩阵重叠的区域进行黑化，以获取黑化后的所述目标图案；

对黑化后的所述目标图案进行处理以得到模拟结果。

在本公开的一种示例性实施例中，所述观测点相对所述传感器层图案的位置包括：所述观测点距所述传感器层图案的距离和所述观测点与所述传感器层图案的几何中心的夹角。

在本公开的一种示例性实施例中，所述根据所述传感器层图案距所述色阻图案的距离、观测点相对所述传感器层图案的位置，对所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点进行校正包括：

根据所述传感器层图案距所述色阻图案的距离、所述观测点距所述传感器层图案的距离和所述观测点与所述传感器层图案的几何中心的夹角并结合下述公式对所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点进行校正：

x’＝(1+d/h)*x-d*cot(θ)

y’＝(1+d/h)*y

其中，x、y为所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点在XY平面中的原始坐标，x’、y’为所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点在XY平面中校正后的坐标，d为所述传感器层图案距所述色阻图案的距离，h为所述观测点距所述传感器层图案的距离，θ为所述观测点与所述传感器层图案的几何中心的夹角。

根据本公开的一个方面，提供一种摩尔纹模拟装置，包括：

提供模块，用于提供一传感器层图案和一色阻图案；

校正模块，用于根据所述传感器层图案距所述色阻图案的距离、观测点相对所述传感器层图案的位置，对所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点进行校正；

叠加模块，用于根据校正后的所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点的坐标将所述传感器层图案和所述色阻图案进行叠加，以获取目标图案；

处理模块，用于对所述目标图案进行处理以得到模拟结果。

根据本公开的一个方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项所述的摩尔纹模拟方法。

根据本公开的一个方面，提供一种电子设备，包括：

处理器；以及

存储器，用于存储所述处理器的可执行指令；

其中，所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行上述中任意一项所述的摩尔纹模拟方法。

本公开一种示例实施例提供的摩尔纹模拟方法及装置、存储介质、电子设备。根据所述传感器层图案距所述色阻图案的距离、观测点相对所述传感器层图案的位置，对所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点进行校正，并根据校正后的所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点的坐标将所述传感器层图案和所述色阻图案进行叠加，以获取目标图案，以及对所述目标图案进行处理以得到模拟结果。一方面，根据观测点相对传感器层图案的位置对色阻图案中与传感器层图案中的点对应的点进行校正，即根据实际人眼(即观测点)观测的光学路径对色阻图案中与传感器层图案中的点对应的点进行校正，提高了目标图案的精确度，进而提高了摩尔纹模拟的精准度，从而可以有效改善模拟结果与实际结果不匹配的问题，进而提高传感器层图案的良率，同时也有效的避免了设计风险；另一方面，在未增加成本的基础上，提供了一种新的摩尔纹模拟方法，同时也达到了更加精确的模拟效果。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

通过参照附图来详细描述其示例性实施例，本公开的上述和其它特征及优点将变得更加明显。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1为本公开一相关技术中对摩尔纹进行模拟的示意图；

图2为本公开一种摩尔纹模拟方法的流程图；

图3为本公开一示例性实施例中提供的传感器层图案的结构示意图；

图4为本公开一示例性实施例中提供的基板的结构示意图；

图5为本公开一示例性实施例中提供的对色阻图案中的点进行校正的示意图；

图6为本公开一示例性实施例中提供的从四个不同位置的观测点得到的摩尔纹模拟效果图；

图7为本公开一示例性实施例中提供的摩尔纹模拟结果a和实际产品观测结果b的示意图；

图8为本公开一示例性实施例中提供的获取黑化后的所述目标图案的示意图；

图9为本公开一种摩尔纹模拟装置的框图；

图10为本公开示一示例性实施例中的电子设备的模块示意图。

图11为本公开示一示例性实施例中的程序产品示意图。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施例；相反，提供这些实施例使得本公开将全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。

此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本公开的实施例的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本公开的技术方案而没有所述特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、材料、装置、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构、方法、装置、实现、材料或者操作以避免模糊本公开的各方面。

附图中所示的方框图仅仅是功能实体，不一定必须与物理上独立的实体相对应。即，可以采用软件形式来实现这些功能实体，或在一个或多个软件硬化的模块中实现这些功能实体或功能实体的一部分，或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。

图1中示出了相关技术中对摩尔纹进行模拟的示意图。具体的摩尔纹模拟过程包括：在传感器层图案102中的点和色阻图案101中与传感器层图案102中的点对应的点对齐的基础上，将色阻图案101和传感器层图案102进行叠加得到目标图案103，并对目标图案103进行处理以得到模拟结果，从而根据模拟结果寻找匹配性最好的传感器层图案。需要说明的是，此处色阻图案101中与传感器层图案102中的点对应的点为传感器层图案102中的点在色阻图案101中的投射点，即传感器层图案102中的点和色阻图案101中与传感器层图案102中的点对应的点为垂直的一一对应关系。由于在上述模拟过程中，与实际的光学过程相差较大，模拟结果并不理想，很难与实际结果相匹配，若以此结果指导设计，风险很大，很难在实际中应用。

鉴于上述问题，本示例性实施例中首先公开了一种摩尔纹模拟方法，参照图2所示，所述摩尔纹模拟方法可以包括以下步骤：

步骤S210、提供一传感器层图案和一色阻图案；

步骤S220、根据所述传感器层图案距所述色阻图案的距离、观测点相对所述传感器层图案的位置，对所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点进行校正；

步骤S230、根据校正后的所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点的坐标将所述传感器层图案和所述色阻图案进行叠加，以获取目标图案；

步骤S240、对所述目标图案进行处理以得到模拟结果。

根据本示例性实施例中的摩尔纹模拟方法，一方面，根据观测点相对传感器层图案的位置对色阻图案中与传感器层图案中的点对应的点进行校正，即根据实际人眼(即观测点)观测的光学路径对色阻图案中与传感器层图案中的点对应的点进行校正，提高了目标图案的精确度，进而提高了摩尔纹模拟的精准度，从而可以有效改善模拟结果与实际结果不匹配的问题，进而提高传感器层图案的良率，同时也有效的避免了设计风险；另一方面，在未增加成本的基础上，提供了一种新的摩尔纹模拟方法，同时也达到了更加精确的模拟效果。

下面，将参照图2对本示例性实施例中的摩尔纹模拟方法作进一步说明。

在步骤S210中，提供一传感器层图案和一色阻图案。

在本示例性实施例中，触控产品的基板包括色阻图案(RGB Pattern)，在色阻图案之上设置有玻璃层，在玻璃层之上设置有传感器层图案。

所述提供一传感器层图案可以包括：根据触控产品的类型确定所述触控产品的分辨率，根据所述触控产品的分辨率提供所述传感器层图案。所述触控产品的类型可以包括：单层内嵌型(SLOC)、多层内嵌型(MLOC)、金属网络型(Metal Mesh)等，本示例性实施例对此不作特殊限定。如图3所示，所述根据所述触控产品的分辨率提供所述传感器层图案包括：根据所述触控产品的分辨率确定传感器301的长度302、宽度303、角度304以及所述传感器301之间的间距，其中传感器301之间的间距可以包括竖直方向上的传感器301之间的间距305以及水平方向上的传感器301之间的间距306；根据所述传感器301的长度302、宽度303、角度304以及所述传感器301之间的间距(即竖直方向上的传感器301之间的间距305以及水平方向上的传感器301之间的间距306)提供所述传感器层图案。具体的，在确定传感器301的长度302、宽度303、角度304以及所述传感器301之间的间距后，将上述参数输入Matlab软件，以得到传感器层图案。

由上可知，可以根据触控产品的类型确定触控产品的分辨率，进而根据触控产品的分别率提供传感器层图案，即可以根据实际产品调整传感器层图案，使用范围更广。

在步骤S220中，根据所述传感器层图案距所述色阻图案的距离、观测点相对所述传感器层图案的位置对所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点进行校正。

在本示例性实施例中，图4示出了触控产品中基板的结构示意图，由图可知，传感器层图案102和色阻图案101之间有一玻璃层104，因此传感器层图案102距色阻图案101的距离即为玻璃层104的厚度。所述观测点为人眼的位置。由于观测点相对传感器层图案102的位置不同，因此光线通过色阻图案101中的点和传感器层图案102中的点并非垂直的一一对应关系。如图5所示，若用户从Z轴的正方向向负方向观看时，传感器层图案102中的p点在色阻图案101中对应的点为p点在色阻图案101中的投射点p’点(即光线通过色阻图案101中的点和传感器层图案102中的点为垂直的一一对应关系)，但是若用户从X轴的正方向向负方向观看时，传感器层图案102中的P点在色阻图案101中对应的点并不是p点在色阻图案101中的投射点p’点，而是用户的视角与p点组成的直线与色阻图案101的交点q点(即光线通过色阻图案101中的点和传感器层图案102中的点不是垂直的一一对应关系)。

鉴于此，为了提高摩尔纹模拟结果的准确性，需要通过步骤S220对色阻图案中与传感器层图案中的点对应的点进行校正，即根据观测点相对传感器层图案102的位置和传感器层图案102距色阻图案101的距离将色阻图案101中与传感器层图案102中的p点对应的p’点校正为q点。由于传感器层图案102和色阻图案101中的互为投射点的点在XY平面内的坐标相同，在Z轴方向上的坐标不同。鉴于此，由于q’点为q点在传感器层图案102中的投射点，p点为p’点在传感器层图案102中的投射点，又由于p点在XY平面中的坐标为(x，y)，q’点在XY平面中的坐标为(x’，y’)，因此，p’点在XY平面中的坐标为(x，y)，q点在XY平面中的坐标为(x’，y’)。

综上所述，对所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点进行校正的过程可以转换为根据传感器层图案102距所述色阻图案101的距离、观测点相对所述传感器层图案102的位置以及p’点在XY平面中的坐标(x，y)计算q点在XY平面中的坐标(x’，y’)。

由于所述观测点相对所述传感器层图案102的位置包括：所述观测点距所述传感器层图案102的距离h和所述观测点与所述传感器层图案102的几何中心的夹角θ。

基于此，所述根据所述传感器层图案距所述色阻图案的距离、观测点相对所述传感器层图案的位置，对所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点进行校正可以包括：根据所述传感器层图案102距所述色阻图案101的距离d、所述观测点距所述传感器层图案102的距离h和所述观测点与所述传感器层图案102的几何中心的夹角θ并结合下述公式对所述色阻图案101中与所述传感器层图案102中的点对应的点进行校正：

x’＝(1+d/h)*x-d*cot(θ)

y’＝(1+d/h)*y

其中，x、y为所述色阻图案101中与所述传感器层图案102中的点对应的点在XY平面中的原始坐标，x’、y’为所述色阻图案101中与所述传感器层图案102中的点对应的点在XY平面中校正后的坐标，d为所述传感器层图案102距所述色阻图案101的距离，h为所述观测点距所述传感器层图案102的距离，θ为所述观测点与所述传感器层图案102的几何中心的夹角。

在步骤S230中，根据校正后的所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点的坐标将所述传感器层图案和所述色阻图案进行叠加，以获取目标图案。

在本示例性实施例中，在传感器层图案中的点和与校正后的色阻图案中的与其对应的点对齐的基础上(如在图5中，将p点和q点对齐)，将传感器层图案和色阻图案进行叠加以获取目标图案。

由于在相关技术中未考虑观测点的位置，即在未对色阻图案中的点的坐标进行校正的前提下，在传感器层图案中的点和与其对应的色阻图案中的点对齐的基础上(如在图5中，将p点和p’点对齐)，将传感器层图案和色阻图案进行叠加以获取目标图案，使得基于该目标图案的模拟结果很难与实际结果相匹配，若以此结果指导设计，风险很大，很难在实际中应用。然而，在本示例性实施例中，根据观测点相对传感器层图案的位置对色阻图案中与传感器层图案中的点对应的点进行校正，即根据实际人眼(即观测点)观测的光学路径对色阻图案中与传感器层图案中的点对应的点进行校正，提高了目标图案的精确度，进而提高了摩尔纹模拟的精准度，从而可以有效改善模拟结果与实际结果不匹配的问题，进而提高传感器层图案的良率，同时也有效的避免了设计风险；此外，在未增加成本的基础上，提供了一种新的摩尔纹模拟方法，同时也达到了更加精确的模拟效果。

在步骤S240中，对所述目标图案进行处理以得到模拟结果。

在本示例性实施例中，可以通过模拟软件对目标图案进行处理以得到模拟结果，以基于该模拟结果指导传感器层图案的设计。图6示出了从四个不同位置的观测点得到的摩尔纹模拟效果图，从图中可以看出，从四个不同位置的观测点得到的摩尔纹模拟效果基本相似，且与实际现象一致，需要说明的是，四个不同位置的观测点分别为从X轴的负方向向正方向观测的观测点L、从X轴的正方向向负方向观测的观测点R、从Y轴的正方向向负方向观测的观测点D、从Y轴的负方向向正方向观测的观测点U。图7示出了摩尔纹模拟结果a和实际产品观测结果b的示意图，从上述两个结果中可以发现，结果a和结果b基本一致。

此外，由于色阻图案中包括黑色矩阵，因此，在传感器层图案和色阻图案叠加后，传感器层图案中被黑色矩阵遮住的区域是不可见的，即目标图案中与色阻图案中的黑色矩阵重叠的区域是看不见的。基于此，为了提高目标图案的精确度，所述对所述目标图案进行处理以得到模拟结果可以包括：对所述目标图案中与所述色阻图案中的黑色矩阵重叠的区域进行黑化，以获取黑化后的所述目标图案；对黑化后的所述目标图案进行处理以得到模拟结果。

在本示例性实施例中，如图8所示，可以通过Matlab软件计算目标图案103中与所述色阻图案中的黑色矩阵重叠的区域的位置和面积，并根据与黑色矩阵重叠的区域的位置和面积对与黑色矩阵重叠的区域进行黑化(即通过软件将与黑色矩阵重叠的区域设置成与黑色矩阵相同的元素)，以获取黑化后的目标图案105。需要说明的是，对黑化后的目标图案进行处理以得到模拟结果的原理与步骤S240的原理相同，此处不再赘述。

需要说明的是，尽管在附图中以特定顺序描述了本公开中方法的各个步骤，但是，这并非要求或者暗示必须按照该特定顺序来执行这些步骤，或是必须执行全部所示的步骤才能实现期望的结果。附加的或备选的，可以省略某些步骤，将多个步骤合并为一个步骤执行，以及/或者将一个步骤分解为多个步骤执行等。

在本公开的示例性实施例中，还提供了一种摩尔纹模拟装置，如图9所示，所述摩尔纹模拟装置900可以包括：提供模块901、校正模块902、叠加模块903以及处理模块904，其中：

提供模块901，可以用于提供一传感器层图案和一色阻图案；

校正模块902，可以用于根据所述传感器层图案距所述色阻图案的距离、观测点相对所述传感器层图案的位置，对所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点进行校正；

叠加模块903，可以用于根据校正后的所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点的坐标将所述传感器层图案和所述色阻图案进行叠加，以获取目标图案；

处理模块904，可以用于对所述目标图案进行处理以得到模拟结果。

上述中各摩尔纹模拟装置模块的具体细节已经在对应的摩尔纹模拟方法中进行了详细的描述，因此此处不再赘述。

应当注意，尽管在上文详细描述中提及了用于执行的设备的若干模块或者单元，但是这种划分并非强制性的。实际上，根据本公开的实施方式，上文描述的两个或更多模块或者单元的特征和功能可以在一个模块或者单元中具体化。反之，上文描述的一个模块或者单元的特征和功能可以进一步划分为由多个模块或者单元来具体化。

在本公开的示例性实施例中，还提供了一种能够实现上述方法的电子设备。

所属技术领域的技术人员能够理解，本发明的各个方面可以实现为系统、方法或程序产品。因此，本发明的各个方面可以具体实现为以下形式，即：完全的硬件实施方式、完全的软件实施方式(包括固件、微代码等)，或硬件和软件方面结合的实施方式，这里可以统称为“电路”、“模块”或“系统”。

下面参照图10来描述根据本发明的这种实施方式的电子设备1000。图10显示的电子设备1000仅仅是一个示例，不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。

如图10所示，电子设备1000以通用计算设备的形式表现。电子设备1000的组件可以包括但不限于：上述至少一个处理单元1010、上述至少一个存储单元1020、连接不同系统组件(包括存储单元1020和处理单元1010)的总线1030、显示单元1040。

其中，所述存储单元存储有程序代码，所述程序代码可以被所述处理单元1010执行，使得所述处理单元1010执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本发明各种示例性实施方式的步骤。例如，所述处理单元1010可以执行如图2中所示的步骤S210、提供一传感器层图案和一色阻图案；步骤S220、根据所述传感器层图案距所述色阻图案的距离、观测点相对所述传感器层图案的位置，对所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点进行校正；步骤S230、根据校正后的所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点的坐标将所述传感器层图案和所述色阻图案进行叠加，以获取目标图案；步骤S240、对所述目标图案进行处理以得到模拟结果。

存储单元1020可以包括易失性存储单元形式的可读介质，例如随机存取存储单元(RAM)10201和/或高速缓存存储单元10202，还可以进一步包括只读存储单元(ROM)10203。

存储单元1020还可以包括具有一组(至少一个)程序模块10205的程序/实用工具10204，这样的程序模块10205包括但不限于：操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。

总线1030可以为表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储单元总线或者存储单元控制器、外围总线、图形加速端口、处理单元或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。

电子设备1000也可以与一个或多个外部设备1070(例如键盘、指向设备、蓝牙设备等)通信，还可与一个或者多个使得用户能与该电子设备1000交互的设备通信，和/或与使得该电子设备1000能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如路由器、调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口1050进行。并且，电子设备1000还可以通过网络适配器1060与一个或者多个网络(例如局域网(LAN)，广域网(WAN)和/或公共网络，例如因特网)通信。如图所示，网络适配器1060通过总线1030与电子设备1000的其它模块通信。应当明白，尽管图中未示出，可以结合电子设备1000使用其它硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员易于理解，这里描述的示例实施方式可以通过软件实现，也可以通过软件结合必要的硬件的方式来实现。因此，根据本公开实施方式的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM，U盘，移动硬盘等)中或网络上，包括若干指令以使得一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、终端装置、或者网络设备等)执行根据本公开实施方式的方法。

在本公开的示例性实施例中，还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有能够实现本说明书上述方法的程序产品。在一些可能的实施方式中，本发明的各个方面还可以实现为一种程序产品的形式，其包括程序代码，当所述程序产品在终端设备上运行时，所述程序代码用于使所述终端设备执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本发明各种示例性实施方式的步骤。

参考图11所示，描述了根据本发明的实施方式的用于实现上述方法的程序产品1100，其可以采用便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)并包括程序代码，并可以在终端设备，例如个人电脑上运行。然而，本发明的程序产品不限于此，在本文件中，可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。

所述程序产品可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以为但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。

计算机可读信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了可读程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。可读信号介质还可以是可读存储介质以外的任何可读介质，该可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。

可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于无线、有线、光缆、RF等等，或者上述的任意合适的组合。

可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本发明操作的程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、C++等，还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。在涉及远程计算设备的情形中，远程计算设备可以通过任意种类的网络，包括局域网(LAN)或广域网(WAN)，连接到用户计算设备，或者，可以连接到外部计算设备(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。

此外，上述附图仅是根据本发明示例性实施例的方法所包括的处理的示意性说明，而不是限制目的。易于理解，上述附图所示的处理并不表明或限制这些处理的时间顺序。另外，也易于理解，这些处理可以是例如在多个模块中同步或异步执行的。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其他实施例。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限。

Claims (8)

1.一种摩尔纹模拟方法，其特征在于，包括：

提供一传感器层图案和一色阻图案；

根据所述传感器层图案距所述色阻图案的距离、观测点相对所述传感器层图案的位置，对所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点进行校正；

根据校正后的所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点的坐标将所述传感器层图案和所述色阻图案进行叠加，以获取目标图案；

对所述目标图案进行处理以得到模拟结果；

其中，所述观测点相对所述传感器层图案的位置包括：所述观测点距所述传感器层图案的距离和所述观测点与所述传感器层图案的几何中心的夹角；

所述根据所述传感器层图案距所述色阻图案的距离、观测点相对所述传感器层图案的位置，对所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点进行校正包括：

根据所述传感器层图案距所述色阻图案的距离、所述观测点距所述传感器层图案的距离和所述观测点与所述传感器层图案的几何中心的夹角并结合下述公式对所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点进行校正：

x’＝(1+d/h)*x-d*cot(θ)

y’＝(1+d/h)*y

其中，x、y为所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点在XY平面中的原始坐标，x’、y’为所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点在XY平面中校正后的坐标，d为所述传感器层图案距所述色阻图案的距离，h为所述观测点距所述传感器层图案的距离，θ为所述观测点与所述传感器层图案的几何中心的夹角。

2.根据权利要求1所述的摩尔纹模拟方法，其特征在于，所述提供一传感器层图案包括：

根据触控产品的类型确定所述触控产品的分辨率，根据所述触控产品的分辨率提供所述传感器层图案。

3.根据权利要求2所述的摩尔纹模拟方法，其特征在于，所述根据所述触控产品的分辨率提供所述传感器层图案包括：

根据所述触控产品的分辨率确定传感器的长度、宽度、角度以及所述传感器之间的间距；

根据所述传感器的长度、宽度、角度以及所述传感器之间的间距提供所述传感器层图案。

4.根据权利要求2所述的摩尔纹模拟方法，其特征在于，所述触控产品的类型包括：单层内嵌型、多层内嵌型、金属网络型。

5.根据权利要求1所述的摩尔纹模拟方法，其特征在于，所述对所述目标图案进行处理以得到模拟结果包括：

对所述目标图案中与所述色阻图案中的黑色矩阵重叠的区域进行黑化，以获取黑化后的所述目标图案；

对黑化后的所述目标图案进行处理以得到模拟结果。

6.一种摩尔纹模拟装置，其特征在于，包括：

提供模块，用于提供一传感器层图案和一色阻图案；

校正模块，用于根据所述传感器层图案距所述色阻图案的距离、观测点相对所述传感器层图案的位置，对所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点进行校正；

叠加模块，用于根据校正后的所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点的坐标将所述传感器层图案和所述色阻图案进行叠加，以获取目标图案；

处理模块，用于对所述目标图案进行处理以得到模拟结果；

其中，所述观测点相对所述传感器层图案的位置包括：所述观测点距所述传感器层图案的距离和所述观测点与所述传感器层图案的几何中心的夹角；

所述根据所述传感器层图案距所述色阻图案的距离、观测点相对所述传感器层图案的位置，对所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点进行校正包括：

根据所述传感器层图案距所述色阻图案的距离、所述观测点距所述传感器层图案的距离和所述观测点与所述传感器层图案的几何中心的夹角并结合下述公式对所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点进行校正：

x’＝(1+d/h)*x-d*cot(θ)

y’＝(1+d/h)*y

其中，x、y为所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点在XY平面中的原始坐标，x’、y’为所述色阻图案中与所述传感器层图案中的点对应的点在XY平面中校正后的坐标，d为所述传感器层图案距所述色阻图案的距离，h为所述观测点距所述传感器层图案的距离，θ为所述观测点与所述传感器层图案的几何中心的夹角。

7.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1～5中任意一项所述的摩尔纹模拟方法。

8.一种电子设备，其特征在于，包括：

处理器；以及

存储器，用于存储所述处理器的可执行指令；

其中，所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行权利要求1～5中任意一项所述的摩尔纹模拟方法。

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