CN108490289A - 电子设备测试方法、装置及电子设备 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种电子设备测试方法、装置及电子设备。其中，电子设备测试方法包括：在获取到休眠指令后，首先判断电子设备当前是否处于测试模式，若是，则首先控制电子设备进入休眠状态，并在第一预设的时间间隔后，再控制电子设备进行软关机。由此，实现了在测试过程中，自动控制电子设备进行软关机，从而避免了由于硬关机对电子设备系统的损伤，提高了电子设备的可靠性和寿命。

Description

电子设备测试方法、装置及电子设备

技术领域

本申请涉及电子技术领域，特别涉及一种电子设备测试方法、装置及电子设备。

背景技术

目前，电子设备在组装或出厂前，厂家通常需要对电子设备的各部件及整机进行各种性能测试，以有效的保证电子设备的品质，避免不良品流入市场。

电流测试是电子设备的性能测试中比较重要的一项。测试时，首先将电子设备与测试夹具进行串口连接，再通过测试夹具与电子设备连接的串口，向电子设备发送控制指令，以使电子设备运行在不同状态，进而测试电子设备在各状态下的电流，比如电子设备的充电电流、静态损耗电流等等。通常，为了提高测试速度，电子设备的休眠电流会在最后进行测试。待休眠电流测试结束后，即通过切断电子设备的电源，来控制电子设备关机。

但是，上述通过切断电子设备电源，控制电子设备关机的方式，会对电子设备的系统带来损坏，影响了电子设备的可靠性和寿命。

发明内容

本申请旨在至少在一定程度上解决上述的技术缺陷之一。

为此，本申请的第一方面提出一种电子设备测试方法，该方法实现了在测试过程中，自动控制电子设备进行软关机，从而避免了由于硬关机对电子设备系统的损伤，提高了电子设备的可靠性和寿命。

本申请的第二方面提出一种电子设备测试装置。

本申请的第三方面提出一种电子设备。

本申请的第方面提出一种计算机可读存储介质。

本申请第一方面实施例的提供的电子设备测试方法，包括：获取休眠指令；

判断所述电子设备当前是否处于测试模式；若是，则控制所述电子设备进入休眠状态，并在第一预设的时间间隔后控制所述电子设备进行软关机。

在第一方面的一种可能的实现形式中，所述在第一预设的时间间隔后控制所述电子设备进行软关机之前，还包括：

确定所述休眠测试为所述电子设备的最后一项测试项目。

在第一方面的另一种可能的实现形式中，所述确定所述休眠测试为所述电子设备的最后一项测试项目，包括：

根据所述电子设备的测试规范，确定所述休眠测试为所述电子设备的最后一项测试项目。

或者，

若所述休眠指令中携带预设的标识符，则确定所述休眠测试为所述电子设备的最后一项测试项目。

在第一方面的再一种可能的实现形式中，若确定所述电子设备的测试过程未结束；

所述控制所述电子设备进入休眠状态之后，还包括：

在第二预设的时间间隔后，唤醒所述电子设备。

在第一方面的又一种可能的实现形式中，所述判断所述电子设备当前是否处于工厂模式之前，还包括：

确定所述休眠指令为与所述电子设备通信连接的测试夹具发送的。

在第一方面的一种可能的实现形式中，所述判断所述电子设备当前是否处于测试模式，包括：

判断所述电子设备是否获取到测试模式设置指令；

或者，

判断与所述电子设备通信连接的外部设备是否为测试夹具。

本申请第二方面提供一种电子设备测试装置，包括：

获取模块，用于获取休眠指令；

判断模块，用于判断所述电子设备当前是否处于测试模式；

处理模块，用于若确定电子设备处于测试模式，则控制所述电子设备进入休眠状态，并在第一预设的时间间隔后控制所述电子设备进行软关机。

在第二方面的一种可能实现的形式中，该电子设备测试装置，还包括：

确定模块，用于确定所述休眠测试为所述电子设备的最后一项测试项目。

本申请第三方面提供一种电子设备，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在处理器上运行的计算机程序；

所述处理器执行存储在所述存储器上的计算机程序时，实现如上述第一方面所述的电子设备测试方法。

本申请第四方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时，以实现如第一方面所述的电子设备测试方法。

本申请公开的技术方案，具有如下有益效果：

本申请实施例提供的电子设备测试方法、装置及电子设备，在获取到休眠指令后，首先判断电子设备当前是否处于测试模式，若是，则首先控制电子设备进入休眠状态，并在第一预设的时间间隔后，再控制电子设备进行软关机。由此，实现了在测试过程中，自动控制电子设备进行软关机，从而避免了由于硬关机对电子设备系统的损伤，提高了电子设备的可靠性和寿命。

本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

附图说明

本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中，

图1是本申请一个实施例的电子设备测试方法的流程示意图；

图2是本申请的另一个电子设备测试方法的流程示意图；

图3是本申请一个实施例的电子设备测试装置的结构示意图；

图4是本申请一个实施例的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。

本申请实施例为解决现有技术中，对电子设备进行测试时，在电子设备的休眠电流测试结束后，由于电子设备无法响应通信接口发送的控制指令，而只能通过切断电子设备的电源，来控制电子设备关机的方式，会对电子设备的系统带来损坏，影响电子设备的可靠性和寿命的问题，提出一种电子设备测试方法、装置及电子设备。

本申请提供的电子设备测试方法，在获取到休眠指令后，首先判断电子设备当前是否处于测试模式，若是，则首先控制电子设备进行休眠状态，并在第一预设的时间间隔后再控制电子设备进行软关机。由此，实现了在电子设备测试结束后，进行自动软关机，从而避免了测试过程中的硬关机对电子设备系统的损坏，提高了电子设备的可靠性和寿命。

下面参考附图描述本申请实施例的测试方法、装置及设备进行详细说明。

图1是本申请一个实施例的电子设备测试方法流程示意图。本申请实施例提供的电子设备测试方法，可应用于各种电子设备中，以对电子设备测试过程进行控制。

如图1所示，该电子设备测试方法，包括以下步骤：

步骤101，电子设备获取休眠指令。

具体的，本申请实施例提供的电子设备测试方法，可以由本申请提供的电子设备测试装置执行，以下简称测试装置，上述测试装置可被配置于任意电子设备中，以对电子设备的测试过程进行控制。

其中，电子设备可以是任意具有不同工作状态的设备，比如智能手机、个人数字助理(Personal Digital Assistant，简称为PDA)、平板电脑等等，本申请对此不作具体限定。

需要说明的是，上述“休眠”仅用于指代电子设备一种实际工作状态、或者电子设备在测试过程中的一种状态。当电子设备处于该状态时，其通信接口无法从外界接收指令，从而无法通过测试夹具向电子设备发送软关机指令，来控制电子设备进行软关机。

步骤102，判断所述电子设备当前是否处于测试模式，若是，则执行步骤103，否则，执行步骤104。

具体的，测试装置可以通过多种方式，判断电子设备当前是否处于测试模式。

方式一

判断电子设备是否获取到测试模式设置指令，若是，则确定电子设备处于测试模式。

其中，上述测试模式设置指令，可以是用户通过修改电子设备中的配置功能触发的，也可以是电子设备通过通信接口从外部控制设备获取的，本实施例对此不做限定。

方式二

判断与电子设备通信连接的外部设备是否为测试夹具，若是，则确定电子设备处于测试模式。

具体的，由于仅当电子设备与测试夹具连接时，其才有可能处于测试模式下。因此，本实施例中，还可以判断与电子设备通信连接的外部设备是否为测试夹具，来判断电子设备当前是否处于测试模式。

步骤103，控制所述电子设备进入休眠状态，并在第一预设的时间间隔后控制所述电子设备进行软关机。

其中，第一预设的时间间隔，可以根据电子设备“休眠状态”电流测试时长确定。比如为5秒(s)，8s，等等。

步骤104，控制所述电子设备进入休眠状态。

具体的，若电子设备当前并未工作在测试模式，则测试装置，在收到休眠指令后，仅控制电子设备进入休眠状态即可。

具体实现时，由于“休眠指令”可能是测试过程中由与电子设备连接的测试夹具发送的，也可能是电子设备在使用过程中由用户触发的。而若“休眠指令”是由用户触发的，则无需判断电子设备当前是否工作在测试模式，直接控制电子设备进行休眠即可，因此，本申请实施例中，在上述步骤102之前，还可以包括：

确定所述休眠指令为与所述电子设备通信连接的测试夹具发送的。

具体的，测试装置，在获取到“休眠指令”后，可以首先判断“休眠指令”的来源。并仅在确定“休眠指令”的来源为与电子设备连接的测试夹具发送的时，再判断电子设备当前是否处于测试模式，否则可直接根据“休眠指令”，控制电子设备休眠。

举例来说，若测试装置在收到“休眠指令”时，首先判断“休眠指令”为用户在电子设备中直接触发的，比如用户选择了电子设备中的“休眠”按键，或者通过语音，向电子设备发送了“休眠指令”等等，此时，测试装置即可直接控制电子设备进入休眠状态，而无需再判断电子设备是否处于测试模式。

需要说明的是，本申请实施例提供的电子设备测试方法，主要是针对目前的测试方法中，“休眠电流”的测试过程为测试的最后一步，这一特征而提出的。在具体实现时，可以根据实际使用的测试夹具的测试步骤，对本申请提供的电子设备测试方法进行适应性调整。

比如，若测试夹具的最后一个测试步骤为“充电指令”，那么即可在获取到“充电指令”后，执行判断电子设备是否处于测试模式的步骤，进而在电子设备工作在测试模式时，先控制电子设备工作在充电状态，并在第一预设的时间间隔后控制电子设备进行软关机操作等等。

本申请实施例提供的电子设备测试方法，在获取到休眠指令后，首先判断电子设备当前是否处于测试模式，若是，则首先控制电子设备进入休眠状态，并在第一预设的时间间隔后，再控制电子设备进行软关机。由此，实现了在测试过程中，自动控制电子设备进行软关机，从而避免了由于硬关机对电子设备系统的损伤，提高了电子设备的可靠性和寿命。

通过上述分析可知，本申请提供的电子设备测试方法，在获取到休眠指令时，首先判断电子设备是否工作在测试模式，若是，则在确定休眠测试结束后，控制电子设备进行软关机。在具体实现时，由于休眠电流测试可能并非电子设备测试的最后一个测试步骤，因此在休眠电流测试结束后，直接控制电子设备进行软关机，可能会导致测试过程错误结束。因此，具体实现时，本申请实施中，在控制电子设备进行软关机之前，还可以判断测试过程是否已完成。下面结合图2，对上述过程进行详细说明。

图2是本申请的另一个测试控制方法的流程示意图。

如图2所示，本申请的测试控制方法可以包括以下步骤：

步骤201，获取休眠指令。

步骤202，判断所述休眠指令是否为与所述电子设备通信连接的测试夹具发送的，若是，则执行步骤204，否则执行步骤203。

步骤203，控制所述电子设备进入休眠状态。

步骤204，判断所述电子设备当前是否处于测试模式，若是，则执行步骤 205，否则执行步骤203。

步骤205，判断休眠测试是否为所述电子设备的最后一项测试项目，若是，则执行步骤206，否则执行步骤207。

具体实现时，可以通过多种方式判断休眠测试是否为所述电子设备的最后一项测试项目。

方式一：

根据电子设备的测试规范，判断休眠测试是否为所述电子设备的最后一项测试项目。

其中，电子设备的测试规范，可以为提前预置在所述电子设备中的，或者，也可以是在测试过程中由测试夹具发送给电子设备的，本实施例对此不做限定。

具体的，测试规范中，可以包括电子设备测试过程中所有待测的项目，相应的，对不同的测试项目，测试装置会收到不同的测试指令。进而在测试过程中，测试装置，在获取到休眠指令后，可以判断测试规范中所列的所有待测项目对应的测试指令，是否均已获取到，若是，则可以确定休眠测试为最后一项测试项目。

比如，若电子的测试规范中，除休眠状态测试外，还包括充电状态测试、待机状态测试，飞行状态测试。则在获取到休眠指令时，可以在此之前，判断充电指令、待机指令，飞行指令是否均已获取到，若是，则可以确定休眠测试为最后一项测试项目。

需要说明的是，若电子设备的测试规范中还包括各种测试状态对应的测试次数及测试时长，则测试装置，在判断测试过程是否结束时，还需要考虑各测试状态已完成测试的次数及时长，是否与测试规范匹配等等，本实施例对此不做限定。

方式二

判断所述休眠指令中是否携带预设的标识符，若是，则确定休眠测试为所述电子设备的最后一项测试项目。

具体的，测试夹具也可以在向电子设备发送最后一项测试指令时，在测试指令中携带预设的标识符，以指示测试装置此项测试为最后一项测试内容。进而测试装置在获取到该标识符后，即可确定此项测试结束后，电子设备的测试过程即可结束。

步骤206，控制所述电子设备进入休眠状态，并在第一预设的时间间隔后控制所述电子设备进行软关机。

步骤207，控制所述电子设备进入休眠状态，并在第二预设的时间间隔后，唤醒所述电子设备。

其中，第二预设的时间间隔，可以根据需要设置，比如设置为电子设备休眠测试所需时长，或者，设置为固定的时长，比如8s等等，本实施例对此不做限定。

具体的，本实施例中，在确定电子设备当前处于测试模式、且休眠测试为最后一项测试内容时，即可先控制电子设备进入休眠状态，并在第一预设的时间间隔后直接控制电子设备软关机；而若休眠测试不是最后一项测试内容，即测试过程未结束，那么在控制电子设备进入休眠状态后，即可在第二预设的时间间隔后，再唤醒电子设备，以时电子设备继续进行后续的测试过程。

可以理解的是，唤醒电子设备，是指唤醒电子设备对测试夹具的响应，电子设备唤醒后，测试夹具即可通过通信接口继续向电子设备发送其它指令，以控制电子设备进入其它状态，进而完成相应的测试。由此，使得测试夹具，可以根据需要，调整各种测试项目的顺序，提高了电子设备测试的灵活性。

本申请实施例的电子设备测试方法，在获取到休眠指令时，首先判断该休眠指令是否为与电子设备连接的测试夹具发送的，进而在确定该休眠指令为测试夹具发送的时，再判断休眠测试是否为电子设备的最后一项测试项目，若是，则可以在电子设备休眠测试结束后，直接控制电子设备进行软关机，否则，可以在电子设备休眠测试结束后，唤醒电子设备，以继续进行后续测试。由此，实现了在电子设备进行休眠测试时，可以根据休眠测试是否为电子设备的最后一个测试项目，在休眠测试结束后，对电子设备进行不同的操作，从而不仅实现了测试过程中电子设备软关机，从而避免了由于硬关机对电子设备系统的损伤，提高了电子设备的可靠性和寿命，并且提高了电子设备测试的灵活性。

为了实现上述实施例提供的电子设备测试方法，本申请还提出了一种电子设备测试装置。

图3是本申请一个实施例的电子设备测试装置的结构示意图。

如图3所示，本申请的电子设备测试装置包括：获取模块31、判断模块 32、以及处理模块33。

其中，获取模块31，用于获取休眠指令；

判断模块32，用于判断所述电子设备当前是否处于测试模式；

处理模块33，用于若确定电子设备处于测试模式，则控制所述电子设备进入休眠状态，并在第一预设的时间间隔后控制所述电子设备进行软关机。

在本申请一种可能的实现形式中，该电子设备测试装置，还包括：确定模块，用于确定所述休眠测试为所述电子设备的最后一项测试项目。

具体实现时，该电子设备测试装置可以被配置在任何需要进行测试的电子设备中，以对电子设备的测试过程进行控制。

需要说明的是，前述对电子设备测试方法实施例的解释说明也适用于该实施例的电子设备测试装置，其实现原理类似，此处不再赘述。

本申请实施例提供的电子设备测试装置，在获取到休眠指令后，首先判断电子设备当前是否处于测试模式，若是，则首先控制电子设备进入休眠状态，并在第一预设的时间间隔后，再控制电子设备进行软关机。由此，实现了在测试过程中，自动控制电子设备进行软关机，从而避免了由于硬关机对电子设备系统的损伤，提高了电子设备的可靠性和寿命。

为了实现上述实施例，本申请还提出一种电子设备。

图4是本申请一个实施例的电子设备的结构示意图。图4显示的电子设备 40仅仅是一个示例，不应对本申请实施例的功能和使用范围带来任何限制。

参见图4，电子设备12以通用计算设备的形式表现。本申请电子设备12 的组件可以包括但不限于：一个或者多个处理器或者处理单元16，系统存储器28，连接不同系统组件(包括系统存储器28和处理单元16)的总线18。

总线18表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储器总线或者存储器控制器，外围总线，图形加速端口，处理器或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。举例来说，这些体系结构包括但不限于工业标准体系结构 (Industry StandardArchitecture；以下简称：ISA)总线，微通道体系结构(Micro Channel Architecture；以下简称：MAC)总线，增强型ISA总线、视频电子标准协会(Video Electronics StandardsAssociation；以下简称：VESA)局域总线以及外围组件互连(Peripheral ComponentInterconnection；以下简称：PCI)总线。

电子设备12典型地包括多种计算机系统可读介质。这些介质可以是任何能够被电子设备12访问的可用介质，包括易失性和非易失性介质，可移动的和不可移动的介质。

存储器28可以包括易失性存储器形式的计算机系统可读介质，例如随机存取存储器(Random Access Memory；以下简称：RAM)30和/或高速缓存存储器32。电子设备12可以进一步包括其它可移动/不可移动的、易失性/非易失性计算机系统存储介质。仅作为举例，存储系统34可以用于读写不可移动的、非易失性磁介质(图4未显示，通常称为“硬盘驱动器”)。尽管图4中未示出，可以提供用于对可移动非易失性磁盘(例如“软盘”)读写的磁盘驱动器，以及对可移动非易失性光盘(例如：光盘只读存储器(Compact Disc Read OnlyMemory；以下简称：CD-ROM)、数字多功能只读光盘(Digital Video Disc Read OnlyMemory；以下简称：DVD-ROM)或者其它光介质)读写的光盘驱动器。在这些情况下，每个驱动器可以通过一个或者多个数据介质接口与总线 18相连。存储器28可以包括至少一个程序产品，该程序产品具有一组(例如至少一个)程序模块，这些程序模块被配置以执行本申请各实施例的功能。

具有一组(至少一个)程序模块42的程序/实用工具40，可以存储在例如存储器28中，这样的程序模块42包括但不限于操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。程序模块42通常执行本申请所描述的实施例中的功能和/ 或方法。

电子设备12也可以与一个或多个外部设备14(例如键盘、指向设备、显示器24等)通信，还可与一个或者多个使得用户能与该计算机系统/服务器12 交互的设备通信，和/或与使得该计算机系统/服务器12能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如网卡，调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口22进行。并且，电子设备12还可以通过网络适配器20与一个或者多个网络(例如局域网(Local Area Network；以下简称： LAN)，广域网(Wide Area Network；以下简称：WAN)和/或公共网络，例如因特网)通信。如图所示，网络适配器20通过总线18与电子设备12的其它模块通信。应当明白，尽管图中未示出，可以结合电子设备12使用其它硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。

处理单元16通过运行存储在系统存储器28中的程序，从而执行各种功能应用以及数据处理，例如实现前述实施例中提及的方法。

为了实现上述实施例，本申请还提出了一种计算机可读存储介质。

该计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现任一实施例的电子设备测试方法。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“连接”等术语应做广义理解，例如，可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。

流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本申请的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本申请的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

应当理解，本申请的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA) 等。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。

上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本申请的限制，本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种电子设备测试方法，其特征在于，包括：

获取休眠指令；

判断所述电子设备当前是否处于测试模式；

若是，则控制所述电子设备进入休眠状态，并在第一预设的时间间隔后控制所述电子设备进行软关机。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在第一预设的时间间隔后控制所述电子设备进行软关机之前，还包括：

确定所述休眠测试为所述电子设备的最后一项测试项目。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述休眠测试为所述电子设备的最后一项测试项目，包括：

根据所述电子设备的测试规范，确定所述休眠测试为所述电子设备的最后一项测试项目。

或者，

若所述休眠指令中携带预设的标识符，则确定所述休眠测试为所述电子设备的最后一项测试项目。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，若确定所述电子设备的测试过程未结束；

所述控制所述电子设备进入休眠状态之后，还包括：

在第二预设的时间间隔后，唤醒所述电子设备。

5.如权利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，所述判断所述电子设备当前是否处于工厂模式之前，还包括：

确定所述休眠指令为与所述电子设备通信连接的测试夹具发送的。

6.如权利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，所述判断所述电子设备当前是否处于测试模式，包括：

判断所述电子设备是否获取到测试模式设置指令；

或者，

判断与所述电子设备通信连接的外部设备是否为测试夹具。

7.一种电子设备测试装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取休眠指令；

判断模块，用于判断所述电子设备当前是否处于测试模式；

处理模块，用于若确定电子设备处于测试模式，则控制所述电子设备进入休眠状态，并在第一预设的时间间隔后控制所述电子设备进行软关机。

8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，还包括：

确定模块，用于确定所述休眠测试为所述电子设备的最后一项测试项目。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在处理器上运行的计算机程序；

所述处理器执行存储在所述存储器上的计算机程序时，实现如权利要求1-6任一所述的电子设备测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时，以实现如权利要求1-6任一所述的测试方法。