CN108490223B - 打高压测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种打高压测试装置，用于具有接线端子的电子产品的打高压测试，包括：探针组件，包括多根高压探针和与多根所述高压探针安装适配的基板，多根所述高压探针的探头形成一探测区域，所述探测区域内探测头的密度大于所述电子产品上接线端子的密度；机架；驱动机构，与所述机架和基板连接，所述驱动机构用于驱动所述基板移动，以带动所述高压探针与所述接线端子接触；其中，所述电子产品上接线端子的密度是以与所述探测区域相同的面积来计算的。本发明技术方案能够降低电子产品进行打高压测试的成本。

Description

打高压测试装置

技术领域

本发明涉及打高压测试领域，特别涉及一种打高压测试装置。

背景技术

电子产品一般需要进行打高压测试，而现有打高压测试装置中的高压探针一般都是与电子产品上的接线端子一一对应设置的，如此，在进行打高压测试时，需要将电子产品准确定位，以使高压探针与接线端子准确接触。

而将电子产品进行准确定位需要耗费较多的资源，如需使用精确定位装置或人工进行手动定位，造成测试成本过高和资源的浪费。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种打高压测试装置，旨在降低电子产品进行打高压测试的成本。

为实现上述目的，本发明提供的打高压测试装置包括：

探针组件，包括多根高压探针和与多根所述高压探针安装适配的基板，多根所述高压探针的探头形成一探测区域，所述探测区域内探测头的密度大于所述电子产品上接线端子的密度；

机架；

驱动机构，与所述机架和基板连接，所述驱动机构用于驱动所述基板移动，以带动所述高压探针与所述接线端子接触；

其中，所述电子产品上接线端子的密度是以与所述探测区域相同的面积来计算的。

优选地，多根所述高压探针之间等间距间隔设置。

优选地，多根所述高压探针平行设置，且相邻的两个所述高压探针之间的距离小于等于12mm。

优选地，所述驱动机构包括固定板、移动板和与所述固定板和移动板连接的驱动件，所述固定板与所述机架固定连接，所述移动板与所述基板固定连接，所述驱动件用于驱动所述移动板相对所述固定板移动。

优选地，所述驱动件包括基体和能够相对所述基体移动的伸缩杆，所述基体与所述固定板固定连接，所述伸缩杆远离所述基体的一端与所述移动板固定连接。

优选地，所述打高压测试装置还包括滑动组件，所述滑动组件包括：

第一导轨，沿第一方向设置并与所述机架固定连接；

第一滑块，与所述第一导轨滑动适配；

第二导轨，沿第二方向设置并与所述第一滑块固定连接；

第二滑块，与所述第二导轨滑动适配；

其中，所述第一方向和第二方向不平行；所述固定板与所述第二滑块固定连接。

优选地，所述第一方向和第二方向垂直。

优选地，所述固定板的板面和移动板的板面相对设置，且所述第二滑块位于所述固定板和移动板之间，所述第二导轨从所述固定板和移动板之间形成的空隙穿过。

优选地，所述打高压测试装置还包括第一锁紧件和第二锁紧件，所述第一锁紧件用于锁紧所述第一导轨和第一滑块的连接，所述第二锁紧件用于锁紧所述第二导轨和第二滑块的连接。

优选地，所述打高压测试装置还包括支架和光电阻挡装置，所述支架具有对应多根所述高压探针的支撑面，所述支撑面用于支撑所述电子产品；

所述光电阻挡装置包括光电感应器和电动阻挡块，所述光电感应器在感应到所述电子产品处于所述支撑面时触发所述电动阻挡块动作，以阻挡所述电子产品运动。

本发明技术方案通过采用所述探测区域内探测头的密度大于所述电子产品上接线端子的密度，如此，实现所述探测头相对所述接线端子的“以多对少”，从而在多根所述高压探针的探头朝向所述接线端子后，很大概率会有某一根所述高压探针的探头与所述接线端子接触，而如此，在设置所述电子产品的位置时，就不需要使所述电子产品上的接线端子与所述高压探针的探头一一对应，只需要所述探测区域覆盖住所述接线端子即可，即只需要做到所述电子产品的模糊(大概)定位即可，从而无需使用精确定位装置或人工进行手动进行所述电子产品的定位，以降低打高压测试的成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明打高压测试装置一优选实施例的结构示意图；

图2为图1中所示高压测试装置的侧视图；

图3为图2中所示高压测试装置中A处的放大图；

图4为图1中所示打高压测试装置中探针组件的结构示意图；

图5为图1中所示打高压测试装置中驱动机构和探针组件连接的结构示意图；

图6为图1中所示打高压测试装置中滑动组件和固定板连接的结构示意图。

附图标号说明：

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，若本发明实施例中有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则其仅用于解释在某一特定姿态下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若在本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述，则其仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

本发明提出一种打高压测试装置，用于具有接线端子41的电子产品40的打高压测试。

如图1至5所示，本发明实施例打高压测试装置包括探针组件30，包括多根高压探针31和与多根所述高压探针31安装适配的基板32，多根所述高压探针31的探头形成一探测区域，所述探测区域内探测头的密度大于所述电子产品40上接线端子41的密度；机架10；驱动机构20，与所述机架10和基板32连接，所述驱动机构20用于驱动所述基板32移动，以带动所述高压探针31与所述接线端子41接触，其中，所述电子产品40上接线端子41的密度是以与所述探测区域相同的面积来计算的。

值得一提的是，上述中的探测区域是指多根所述高压探针31的探头朝向所述电子产品40移动后在所述电子产品40上的探测投影；优选的，设置多根所述高压探针31的探头位于同一平面内，如图4所示。

本发明通过采用所述探测区域内探测头的密度大于所述电子产品40上接线端子41的密度，如此，实现所述探测头相对所述接线端子41的“以多对少”，从而在多根所述高压探针31的探头朝向所述接线端子41后，很大概率会有某一根所述高压探针31的探头与所述接线端子41接触，而如此，在设置所述电子产品40的位置时，就不需要使所述电子产品40上的接线端子41与所述高压探针31的探头一一对应，只需要所述探测区域覆盖住所述接线端子41即可，即只需要做到所述电子产品40的模糊(大概)定位即可，从而无需使用精确定位装置或人工进行手动进行所述电子产品40的定位，以降低打高压测试的成本。

为了提高所述高压探针31与所述接线端子41接触的成功率，如图4所示，设置多根所述高压探针31之间等间距间隔设置，如设置该间距在[3,12]mm范围内，从而避免相邻的所述高压探针31之间的间距过大，而使接线端子41正好对应上述中的间距并错过与所述高压探针31接触的问题。

在本发明的另一实施例中，为了避免相邻的所述高压探针31之间的间距过大，而接线端子41正好对应上述中的间距的问题，设置多根所述高压探针31平行设置，且相邻的两个所述高压探针31之间的距离小于等于12mm。

在其它实施例中，也可设置所述高压探针31的个数范围在[100,200]根(数量越多适应性越强)，上述中探测投影的面积在150平方厘米左右，如设置在[100,200]平方厘米范围内。

在本发明的一优选实施例中，设置多根所述高压探针31通过弹性件与所述基板32连接，如此，即可柔性适应电子产品40外壳的高低不同。其中，所述弹性件可以是直接设置在所述高压探针31内，也可设置在所述高压探针31的外侧；该弹性件优选为弹簧。

在本发明的一实施例中，如图5所示，设置所述驱动机构20包括固定板21、移动板22和与所述固定板21和移动板22连接的驱动件23，所述固定板21与所述机架10固定连接，所述移动板22与所述基板32固定连接，所述驱动件23用于驱动所述移动板22相对所述固定板21移动。更具体的，设置所述驱动件23包括基体231和能够相对所述基体231移动的伸缩杆232，所述基体231与所述固定板21固定连接，所述伸缩杆232远离所述基体231的一端与所述移动板22固定连接，如可通过电动伸缩杆232和气缸实现上述驱动件23的功能。当然，所述驱动机构20也可直接通过“机械手臂”来实现。

进一步地，为了实现所述固定板21和移动板22之间移动的稳定性，如图5所示，设置所述打高压测试装置还包括导向组件80，所述导向组件包括导杆81和导套82，所述导套82与所述固定板21固定连接，所述导杆81的一端与所述移动板22固定连接，所述导杆81的另一端与所述导套滑动适配。

为了实现本发明中的打高压测试装置可以针对不同的电子产品40进行打高压测试，由于不同的电子产品40上的接线端子41的分布会有不同，为了通过移动所述探针组件30实现针对不同电子产品40的打高压测试，如图6所示，设置所述打高压测试装置还包括滑动组件50，所述滑动组件50包括：

第一导轨51，沿第一方向设置并与所述机架10固定连接；

第一滑块52，与所述第一导轨51滑动适配；

第二导轨53，沿第二方向设置并与所述第一滑块52固定连接；

第二滑块54，与所述第二导轨53滑动适配；

其中，所述第一方向和第二方向不平行；所述固定板21与所述第二滑块54固定连接。

如此，通过该滑动组件50，能够实现所述固定板21相对所述机架10的移动，从而带动所述移动板22和所述基板32的移动，最终实现带动多根所述高压探针31移动的目的。进一步地，为了避免在进行打高压测试时，所述探针组件30相对所述机架10滑动，设置所述打高压测试装置还包括第一锁紧件(未图示)和第二锁紧件(未图示)，所述第一锁紧件用于锁紧所述第一导轨51和第一滑块52的连接，所述第二锁紧件用于锁紧所述第二导轨53和第二滑块54的连接。

在其它实施例中，也可通过可拆卸结构实现所述探针组件30和机架10的相对位置移动，如通过螺钉或卡扣结构。

为了方便设置所述探针组件30相对机架10的位置，设置所述第一方向和第二方向垂直，此时，所述第一方向和第二方向可看做相对垂直的XY轴，比较符合人们的操作习惯，其中上述中的垂直包括异面垂直。

在本发明的又一实施例中，如图1所示，设置所述固定板21的板面和移动板22的板面相对设置，且所述第二滑块54位于所述固定板21和移动板22之间，所述第二导轨53从所述固定板21和移动板22之间形成的空隙穿过，该结构设置可实现所述打高压测试装置整体结构的紧密性，以减少其占用的空间。

在本发明的又一实施例中，如图1和2所示，设置所述打高压测试装置还包括支架60和光电阻挡装置，所述支架60具有对应多根所述高压探针31的支撑面，所述支撑面用于支撑所述电子产品40；所述光电阻挡装置包括光电感应器和电动阻挡块70，所述光电感应器在感应到所述电子产品40处于所述支撑面时触发所述电动阻挡块70动作，以阻挡所述电子产品40运动，以实现所述电子产品40的模糊定位，提高所述高压探针31与所述接线端子41接触的成功率。如图1所示，在所述支架60上设置多个并排的滚轴61，以方便电子产品40的移动到位；同时，在所述电子产品40移动方向的前端设置电动阻挡块70，在所述电子产品40处于所述支撑面时会触发所述光电感应器，以使所述电动阻挡块70动作，从而阻挡所述电子产品40继续向前运动。

如图1和2所示，为了降低所述电子产品40和滚轴61之间的摩擦力，在所述电子产品40和滚轴61之间设置一缓冲垫90，如海绵垫或泡沫垫。

优选的，本发明中的打高压测试装置用于电视机的高压测试，当然也可用于电脑或手机等电子产品40的高压测试。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种打高压测试装置，用于具有接线端子的电子产品的打高压测试，其特征在于，包括：

探针组件，包括多根高压探针和与多根所述高压探针安装适配的基板，多根所述高压探针的探头形成一探测区域，所述探测区域内探测头的密度大于所述电子产品上接线端子的密度；

机架；

驱动机构，与所述机架和基板连接，所述驱动机构用于驱动所述基板移动，以带动所述高压探针与所述接线端子接触；

其中，所述探测区域为多根所述高压探针的探头朝向所述电子产品移动后在所述电子产品上的探测投影，所述电子产品上接线端子的密度是以与所述探测区域相同的面积来计算的。

2.如权利要求1所述的打高压测试装置，其特征在于，多根所述高压探针通过弹性件与所述基板连接；

多根所述高压探针之间等间距间隔设置。

3.如权利要求1所述的打高压测试装置，其特征在于，多根所述高压探针平行设置，且相邻的两个所述高压探针之间的距离小于等于12mm。

4.如权利要求1所述的打高压测试装置，其特征在于，所述驱动机构包括固定板、移动板和与所述固定板和移动板连接的驱动件，所述固定板与所述机架固定连接，所述移动板与所述基板固定连接，所述驱动件用于驱动所述移动板相对所述固定板移动。

5.如权利要求4所述的打高压测试装置，其特征在于，所述驱动件包括基体和能够相对所述基体移动的伸缩杆，所述基体与所述固定板固定连接，所述伸缩杆远离所述基体的一端与所述移动板固定连接。

6.如权利要求4所述的打高压测试装置，其特征在于，所述打高压测试装置还包括滑动组件，所述滑动组件包括：

第一导轨，沿第一方向设置并与所述机架固定连接；

第一滑块，与所述第一导轨滑动适配；

第二导轨，沿第二方向设置并与所述第一滑块固定连接；

第二滑块，与所述第二导轨滑动适配；

其中，所述第一方向和第二方向不平行；所述固定板与所述第二滑块固定连接。

7.如权利要求6所述的打高压测试装置，其特征在于，所述第一方向和第二方向垂直。

8.如权利要求6所述的打高压测试装置，其特征在于，所述固定板的板面和移动板的板面相对设置，且所述第二滑块位于所述固定板和移动板之间，所述第二导轨从所述固定板和移动板之间形成的空隙穿过。

9.如权利要求6至8中任一项所述的打高压测试装置，其特征在于，所述打高压测试装置还包括第一锁紧件和第二锁紧件，所述第一锁紧件用于锁紧所述第一导轨和第一滑块的连接，所述第二锁紧件用于锁紧所述第二导轨和第二滑块的连接。

10.如权利要求1所述的打高压测试装置，其特征在于，所述打高压测试装置还包括支架和光电阻挡装置，所述支架具有对应多根所述高压探针的支撑面，所述支撑面用于支撑所述电子产品；

所述光电阻挡装置包括光电感应器和电动阻挡块，所述光电感应器在感应到所述电子产品处于所述支撑面时触发所述电动阻挡块动作，以阻挡所述电子产品运动。

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